DE69330669D1 - Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen eines Substrates mit aktiver Matrix - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen eines Substrates mit aktiver Matrix

Info

Publication number
DE69330669D1
DE69330669D1 DE69330669T DE69330669T DE69330669D1 DE 69330669 D1 DE69330669 D1 DE 69330669D1 DE 69330669 T DE69330669 T DE 69330669T DE 69330669 T DE69330669 T DE 69330669T DE 69330669 D1 DE69330669 D1 DE 69330669D1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
testing
substrate
active matrix
matrix
active
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE69330669T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69330669T2 (de
Inventor
Naofumi Kondo
Mikio Katayama
Masaya Okamoto
Makoto Miyago
Kiyoshi Nakazawa
Yuzuru Kanemori
Makoto Tachibana
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP31541792A external-priority patent/JP2915725B2/ja
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Publication of DE69330669D1 publication Critical patent/DE69330669D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE69330669T2 publication Critical patent/DE69330669T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/10—Dealing with defective pixels

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
DE69330669T 1992-11-25 1993-11-24 Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen eines Substrates mit aktiver Matrix Expired - Lifetime DE69330669T2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31541792A JP2915725B2 (ja) 1992-07-13 1992-11-25 アクティブマトリクス基板の検査方法、検査装置及び欠陥修正方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69330669D1 true DE69330669D1 (de) 2001-10-04
DE69330669T2 DE69330669T2 (de) 2002-07-04

Family

ID=18065136

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69330669T Expired - Lifetime DE69330669T2 (de) 1992-11-25 1993-11-24 Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen eines Substrates mit aktiver Matrix

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5532615A (de)
EP (1) EP0599623B1 (de)
KR (1) KR0125465B1 (de)
DE (1) DE69330669T2 (de)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100294682B1 (ko) * 1994-12-21 2001-09-17 구본준, 론 위라하디락사 액정표시소자의결함검사방법
JP3544572B2 (ja) * 1995-02-01 2004-07-21 株式会社日立製作所 液晶パネルおよび液晶表示装置
JPH08320466A (ja) * 1995-03-17 1996-12-03 Sharp Corp アクティブマトリクス基板及びその欠陥修正方法
US5694053A (en) * 1995-06-07 1997-12-02 Xerox Corporation Display matrix tester
US6613650B1 (en) 1995-07-31 2003-09-02 Hyundai Electronics America Active matrix ESD protection and testing scheme
JP3251474B2 (ja) * 1995-09-06 2002-01-28 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板
JPH09159997A (ja) * 1995-12-07 1997-06-20 Sharp Corp 液晶パネルの欠陥候補箇所検出方法
JP4147594B2 (ja) 1997-01-29 2008-09-10 セイコーエプソン株式会社 アクティブマトリクス基板、液晶表示装置および電子機器
US6088474A (en) * 1997-07-23 2000-07-11 Texas Instruments Incorporated Inspection system for micromechanical devices
JP4156115B2 (ja) * 1998-12-25 2008-09-24 シャープ株式会社 マトリクス配線基板及び液晶表示装置用基板
JP2004021067A (ja) * 2002-06-19 2004-01-22 Sanyo Electric Co Ltd 液晶表示装置、液晶表示装置の調整方法
JP5103560B2 (ja) * 2002-11-06 2012-12-19 奇美電子股▲分▼有限公司 Ｌｅｄマトリクス表示器の検査方法及び装置
JP4262521B2 (ja) * 2003-05-28 2009-05-13 シャープ株式会社 表示装置及びその検査方法
US7872720B2 (en) * 2007-03-01 2011-01-18 Seiko Epson Corporation Liquid crystal device and projector
US7974805B2 (en) * 2008-10-14 2011-07-05 ON Semiconductor Trading, Ltd Image sensor and method
TWI581154B (zh) 2016-03-09 2017-05-01 友達光電股份有限公司 觸控顯示裝置
CN108169935A (zh) * 2017-12-19 2018-06-15 武汉华星光电技术有限公司 拦截显示面板的漏电像素的方法及显示面板

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58184758A (ja) * 1982-04-19 1983-10-28 Seiko Epson Corp マトリツクスアレ−の欠陥修正方法
JPH0726993B2 (ja) * 1987-01-23 1995-03-29 松下電器産業株式会社 液晶表示装置の検査装置
JPH01144092A (ja) * 1987-11-30 1989-06-06 Nippon Micronics:Kk 液晶表示パネル用プローバ
JPH0272392A (ja) * 1988-09-07 1990-03-12 Hitachi Ltd アクティブマトリクス型表示装置の検査及び修正方法
US5081687A (en) * 1990-11-30 1992-01-14 Photon Dynamics, Inc. Method and apparatus for testing LCD panel array prior to shorting bar removal
US5258705A (en) * 1990-12-21 1993-11-02 Sharp Kabushiki Kaisha Active matrix substrate inspecting device
US5235272A (en) * 1991-06-17 1993-08-10 Photon Dynamics, Inc. Method and apparatus for automatically inspecting and repairing an active matrix LCD panel
EP0526734A3 (en) * 1991-07-04 1993-03-03 Advantest Corporation Noncontact probe and active matrix array inspection apparatus using the same

Also Published As

Publication number Publication date
KR940013189A (ko) 1994-06-25
EP0599623A2 (de) 1994-06-01
EP0599623A3 (de) 1995-08-02
US5532615A (en) 1996-07-02
EP0599623B1 (de) 2001-08-29
KR0125465B1 (ko) 1998-04-10
DE69330669T2 (de) 2002-07-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69221684T2 (de) Verfahren zum Untersuchen eines Substrates mit aktiver Matrix
DE69330669T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen eines Substrates mit aktiver Matrix
DE59000959D1 (de) Verfahren und vorrichtung zum beschichten eines schichttraegers.
DE69411223D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Eliminieren des Übersprechens in einer Flüssigkristall-Anzeigeeinrichtung mit aktiver Matrix
DE69521531T2 (de) Verfahren und vorrichtung zum beschichten mit einer dünnen flüssigen beschichtung
DE69629420D1 (de) Verfahren und Einrichtung zum Einstellen eines elektronischen Geräts
DE69220572D1 (de) Verfahren und vorrichtung zum testen von venenklappen
DE3767063D1 (de) Verfahren und vorrichtung zum dynamischen testen eines duennfilm-leiters.
DE69519930D1 (de) Verfahren und gerät zum befestigen von kugelförmigen körpern an einer folienmatrix
DE69724915D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Waschen eines Substrats
DE59605638D1 (de) Vorrichtung zum Greifen und Halten eines flachen Substrats
DE69220322D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Steuern eines Flüssigkristallanzeigegeräts mit aktiver Matrix
DE3878213T2 (de) Verfahren und vorrichtung zum pruefen eines transparenten behaelters.
DE68923453D1 (de) Vorrichtung und verfahren zum trocken eines bandes.
DE3484059D1 (de) Verfahren und vorrichtung zum beschichten eines substrats.
DE69624009T2 (de) Verfahren und vorrichtung zur platzierung eines fadens auf einem substrat
DE69425221T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Beschichten von flächigen Trägern unter Verwendung eines oszillierenden Futters
DE69217070D1 (de) Vorrichtung und verfahren zum prüfen einer aktiven pixelmatrix-anzeigevorrichtung
DE59108911D1 (de) Vorrichtung zum Beschichten eines Substrats
DE68906710T2 (de) Verfahren und Apparat zum Verkapseln einer elektronischen Anordnung.
DE69422770T2 (de) Verfahren und vorrichtung zum beschichten eines glassubstrates
DE19882796T1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Ebenhalten eines Substrats in der Mikrolithographie
DE69417168T2 (de) Verfahren zum Aufbringen eines Bauteiles auf einen bandförmigen Träger und Vorrichtung zum Aufbringen eines Bauteiles auf einen bandförmigen Träger
DE58901502D1 (de) Verfahren und vorrichtung zum adaptieren der kennlinie eines leerlaufstellers.
DE68921303D1 (de) Verfahren und Einrichtung zum Steuern eines Anzeigegeräts.

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition