DE69217051T2 - Mikroprobe für einen oberflächen-rastermikroskop - Google Patents

Mikroprobe für einen oberflächen-rastermikroskop

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Description

  • Die Erfindung betrifft eine neuartige und verbesserte Ausführungsform einer Sonde in Mikrobauweise, die für Oberflächen- Rastermikroskope, wie etwa Tunnel-Rastermikroskope (scanning tunnelling microscopes - STM) und Atommikroskope (atomic force microscopes - AFM), verwendet wird.
  • Derartige Mikroskope umfassen eine Sonde, die im allgemeinen als federnder Arm oder Ausleger ausgeführt ist, der an einem Ende abgestützt ist und an seinem anderen freien Ende eine scharfe Spitze oder Nadel aufweist, die über eine zu untersuchende Oberfläche eine Rasterabtastung durchführt. Derartige Sonden wurden aus verschiedenen Materialien, wie etwa Siliziumoxid und Siliziumnitrid, hergestellt, es wurden auch verschiedene Herstellungstechniken angewandt, darunter auch Siliziummikrobearbeitungstechniken, die aus der Herstellung von elektronischen Mikrochipbauteilen und -schaltkreisen wohlbekannt sind. Die EP-A-0 413 042 offenbart beispielsweise. ein Siliziumätzverfahren zur Herstellung von AFM- / STM-Mikrosonden.
  • Bei der Verwendung eines Tunnel-Rastermikroskops oder eines Atommikroskops wurde es bislang als erwünscht angesehen, daß der Sondenarm, obwohl er federnd sein muß, so daß die Nadel Bewegungen zur zu untersuchenden Oberfläche hin und von ihr weg ausführen kann, eine erhöhte Steifheit aufweist, um Bewegungen der Nadel in Richtungen parallel zur Oberfläche entgegenzuwirken. Aus diesem Grund wurden Sonden vorteilhafterweise in Mikrobauweise aus dünnen Folien aus beispielsweise Siliziumoxid hergestellt, um eine hohe Steifheit (und eine entsprechend hohe Resonanzfrequenz) in "x"- und "y"-Richtung, parallel zur abgetasteten Oberfläche, bereitzustellen, während eine wesentlich geringere Steifheit (die nach Belieben während der Herstellungsphase ausgewählt werden kann) in bezug auf die Bewegung der Sondenspitze in "z"-Richtung, senkrecht zur Oberfläche, bereitgestellt wird.
  • Insbesondere im Zusammenhang mit der Atommikroskopie besteht jedoch die Möglichkeit, das tribologische Verhalten (d.h. das Reibungsverhalten) von Oberflächen zu untersuchen, indem die Kräfte, die auf die Sondennadel wirken, nicht nur in z-Richtung, sondern auch in zumindest einer weiteren Richtung, beispielsweise der y-Richtung, parallel zur zu untersuchenden Oberfläche, gemessen werden. Dies erfordert jedoch eine Sonde, deren Steifheit in beiden Richtungen vergleichbar ist. Ein Auslegerarm mit einem quadratischen Querschnitt wäre ideal, es ware jedoch nicht zweckmäßig, einen derartigen Arm aus einer dünnen Folie herzustellen, da ihre maximale Dicke, die bei einer Größenordnung von 1 Mikrometer liegt, eine unrealistische Begrenzung für die Breite des Armes darstellen würde.
  • Eine Aufgabe eine Erfindung besteht daher darin, eine neuartige und verbesserte Sonde für ein Oberflächen-Rastermikroskop bereitzustellen, die in jeder der beiden unterschiedlichen Richtungen eine vergleichbare Steifheit aufweist.
  • Erfindungsgemäß ist eine Oberflächen-Rastermikroskopsonde bereitgestellt, die einen Stützkörper und einen federnden Arm oder Ausleger umfaßt, der an einem Ende durch den Stützkörper abgestützt ist und auf dessen anderem freien Ende eine scharfe Spitze oder Nadel angeordnet ist, wobei der Arm oder Ausleger mäanderförmig ist.
  • Der mäanderförmige Arm oder Ausleger kann aus einer Mehrzahl von gewölbten Abschnitten geformt sein, die in einer gemeinsamen Ebene angeordnet sind und an den Enden integral miteinander verbunden sind, wobei wechselseitig benachbarte gewölbte Abschnitte eine entgegengesetzte Krümmung aufweisen; oder er kann aus einer Mehrzahl von geraden Abschnitten geformt sein, die in einer gemeinsamen Ebene angeordnet sind und an den Enden integral miteinander verbunden sind, wobei wechselseitig benachbarte Abschnitte in einem solchen Winkel zueinander angeordnet sind, daß eine Zickzack-Mäanderform gebildet wird. Bei einem anderen Ausführungsbeispiel kann der mäanderförmige Arm oder Ausleger eine Mehrzahl von geraden Abschnitten umfassen, die sich in einer gemeinsamen Ebene im allgemeinen parallel zueinander und quer zu der vom abgestützten Ende zum freien Ende des Arms verlaufenden Richtung erstrecken, wobei die Querabschnitte an ihren Enden integral miteinander durch die Endverbindungsabschnitte verbunden sind, die integral mit den Enden der Querabschnitte ausgeführt sind.
  • Eine derartige Sonde ist bevorzugt aus monokristallinem Silizium hergestellt. Die Abschnitte des Auslegerarms weisen außerdem bevorzugt einen im wesentlichen quadratischen und gleichen Querschnitt auf, obgleich, sofern er eine Mehrzahl von im allgemeinen parallelen Querabschnitten aufweist, diese unterschiedliche Längen aufweisen können.
  • Ein geeignetes Verfahren zur Herstellung einer derartigen Sonde, inklusive ihres Stützkörpers und ihrer Spitze oder Nadel als integral ausgeführte Teile der Sonde, aus einer Scheibe aus einem kristallinen Material mit entgegengesetzten ersten und zweiten Oberflächen kann folgendes umfassen:
  • - Bereitstellen eines Maskenflecks auf der ersten Oberfläche der Scheibe an der Stelle, an der die Spitze der Sonde ausgeformt werden soll;
  • - Bereitstellen einer Maske auf der ersten Oberfläche der Scheibe, die den Maskenfleck abdeckt und die eine Form aufweist, die dem Stützkörper und dem Auslegerarm der Sonde entspricht;
  • - anschließendes oder vorhergehendes Wegätzen des Bereiches der zweiten Oberfläche, der dem Maskenabschnitt der ersten Oberfläche entgegengesetzt ist, wodurch die Scheibendicke in diesem Bereich verringert wird;
  • - Wegätzen der ersten Oberfläche, mit Ausnahme des durch die Masken abgedeckten Bereichs, bis zu einer Tiefe nahe der verringerten Dicke der Scheibe in dem Bereich, der auf ihrer zweiten Oberfläche geätzt wurde;
  • - Entfernen der Masken mit Ausnahme des Maskenflecks von der ersten Oberfläche der Scheibe; und
  • - Fortführen des Wegätzens der ersten Oberfläche der Scheibe mit einer Ätzflüssigkeit, die den Maskenfleck an seinen Kanten unterätzt, um darunter die Sondenspitze aus dem Scheibenmaterial als geätzte Spitze auszuformen, während außerdem durch den Bereich der verringerten Dicke peripherisch um das den Auslegerarm der Sonde bildende Material geätzt wird.
  • Bei einem bevorzugten Beispiel dieses Verfahrens ist die Scheibe eine < 100> -Scheibe aus monokristallinem Silizium, wobei der Maskenfleck durch thermisches Erzeugen einer Schicht aus Siliziumoxid auf der ersten Oberfläche bereitgestellt wird, und die Maske, die dann auf der ersten Oberfläche bereitgestellt wird und den Maskenfleck abdeckt, ein Photolackmuster ist, das in der gewünschten Form belichtet und entwickelt wurde. Das Wegätzen der Bereiche der ersten Oberfläche, die nicht durch die Masken abgedeckt sind, wird dann bevorzugt durch Reaktivionenätzen unter Verwendung eines C&sub2;CIF&sub5;/SF&sub6;-Gasgemisches durchgeführt, und das anschließende Wegätzen der ersten Oberfläche nach Entfernen der Masken von der Oberfläche wird bevorzugt entweder durch Trockenplasmaätzen unter Verwendung eines SF&sub6;/O&sub2;-Gasgemisches oder ein Naßätzverfahren unter Verwendung eines Gemisches aus Salpeter-, Essig- und Fluorwasserstoffsäure und Wasser, bevorzugt in einem Verhältnis von zumindest ungefähr 35:10:10:1, durchgeführt.
  • Ein Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Sonde und ein geeignetes Verfahren zur Herstellung einer derartigen Sonde sind nachfolgend genauer unter Bezugnahme auf die begleitenden Zeichnungen beschrieben und offenbart, wobei:
  • Fig. 1 eine idealisierte Draufsicht einer erfindungsgemäßen Oberflächen-Rastermikroskopsonde zeigt;
  • Fig. 2 ein Diagramm zeigt, das die Biegung der in Figur 1 gezeigten Sonde darstellt, wenn ihre Spitze oder Nadel einer Querkraft ausgesetzt ist; und
  • Fig. 3a bis 3c schematisch die Schritte eines geeigneten Verfahrens zur Herstellung der in Figur 1 gezeigten Sonden zeigen.
  • Die in Figur 1 gezeigte Sonde umfaßt einen Stützkörper 11, einen zusammengesetzten Auslegerarm 12 und eine scharfe Spitze oder Nadel 13, wobei alle diese Teile, wie nachfolgend beschrieben, monolithisch oder integral miteinander ausgeformt sind. Der Arm 12 weist ein Ende 12a auf, das integral mit dem Stützkörper 11 ausgeformt und durch ihn abgestüzt ist, wobei auf seinem anderen freien Ende 12b die Spitze 13 ausgeformt ist.
  • Zwischen seinen zwei Enden 12a und 12b ist der Arm 12 mäanderförmig und aus einer Mehrzahl von Querabschnitten 12c geformt, die in einer gemeinsamen Ebene parallel zueinander liegen, wobei die Endverbindungsabschnitte 12d integral mit den Querabschnitten 12c ausgeführt sind und deren benachbarte Enden miteinander verbinden. Bei einem praktischen Ausführungsbeispiel können die Abschnitte 12a, 12b, 12c und 12d des Arms 12, aus monokristallinem Silizium, alle einen quadratischen Querschnitt von 14 µm x 14 µm aufweisen, wobei die Länge des Arms 12 vom Stützkörper 11 zur Spitze 13 700 µm betragen kann. Jeder der Abschnitte 12d kann eine Länge von 65 µm und die anschließenden Abschnitte 12c Längen von 270, 405, 340, 275, 200, 130 bzw. 65 µm aufweisen. Wie aus Figur 2 deutlicher hervorgeht, können die Abschnitte 12a und 12b um ungefähr 65 µm nicht miteinander ausgerichtet sein und der gesamte mäanderförmige Aufbau kann geringfügig asymmetrisch sein.
  • Figur 2 zeigt schematisch wie sich die Sonde aus Figur 1 verformt, wenn ihre Spitze 13 einer Kraft ausgesetzt wird, die parallel zur Ebene der Sonde und in "y"-Richtung, senkrecht zur "x"-Richtung, der Längsrichtung 14 des Arms 12, wirkt. Die Stellungen der Abschnitte des Arms 12 in Abwesenheit einer Deformationskraft sind durch die unterbrochenen Linien dargestellt, wobei die Deformationsstellung unter Einfluß einer Kraft F in y-Richtung durch die ununterbrochene Linie dargestellt ist. Die Bewegung der Spitze 13 in y-Richtung aufgrund der Kraft F lag bei ungefähr 0,775 bezogen auf ihre Bewegung in z-Richtung (senkrecht zur Ebene in Figur 2) aufgrund einer Kraft gleicher Größe in z-Richtung. Dies entspricht einer Federsteifheit in y- Richtung, die dem 1,29-fachen der Federsteifheit in z-Richtung entspricht. Im Gegensatz dazu beträgt die Federsteifheit des Arms 12 in x-Richtung mehr als das 25-fache der Federsteifheit in z-Richtung. Dementsprechend lagen die Resonanzfrequenzen der Sonde in x-, y- und z-Richtung bei 29 kHz, 14 kHz bzw. 12 kHz. Wenn die Abschnitte 12a und 12b des Arms 12 miteinander ausgerichtet waren, wurde festgestellt, daß ein unerwünschter Kopplungsgrad zwischen den Kräften und Bewegungen in y- und x- Richtung auftrat; wenn jedoch die Abschnitte 12a und 12b nicht auf einer Linie lagen, wie dargestellt, wurde festgestellt, daß sich diese Kopplung zufriedenstellend auf nicht mehr als 15 % verringerte.
  • Die zuvor beschriebene Sonde wird bevorzugt, als ein Stück aus einer Serie solcher Sonden, aus einer < 100> -Scheibe aus monokristallinem Silizium hergestellt, die 280 µm dick sein kann und auf beiden Seiten poliert ist. Zunächst wird, wie in Figur 3a gezeigt, auf der oberen Oberfläche 16 der Scheibe 17, von der nur ein Teilstückgezeigt ist, eine 1,5 µm dicke Schicht aus thermischem SiO&sub2; in Form eines 8 µm x 8 µm großen, quadratischen Flecks 18 an jeder Stelle, an der eine Spitze 13 geformt werden soll, erzeugt. Eine ähnliche Schicht aus SiO&sub2; wird ebenfalls auf der unteren Oberfläche der Scheibe (nicht gezeigt) erzeugt, wobei die Bereiche der Scheibe nicht abgedeckt werden, deren Scheibendicke auf eine Membran von einer Dicke von ungefähr 30 µm verringert werden soll, und zwar an jeder Stelle, an der der mäanderförmige Ausleger der Sonde geformt werden soll. Während die gesamte obere Oberfläche durch eine mechanische Abdekkung oder ein mechanisches Futter (nicht gezeigt) geschützt ist, wird die untere Oberfläche dann anisotrop mit 40 %igem KOH bei 60ºC geätzt, um die Membranbereiche 19 verringerter Dicke zu formen. Vor oder nach diesem ersten Ätzschritt wird ein 6,5 µm dickes Muster aus AZ 4562-Photolack 20 auf die obere Oberfläche der Scheibe aufgebracht, belichtet und entwickelt, um die mäanderartige Form jeder Sonde zu definieren, wobei jedes Photolackmuster außerdem, wie in Figur 3a gezeigt, einen der quadratischen SiO&sub2;-Flecken 18, wo später die Sondennadel geformt wird, abdeckt.
  • Nach der Ausbildung der Membranbereiche 19 verringerter Dicke dient das Photolackmuster 20 während des Schritts des Reaktivionenätzens (reactive ion etching - RIE) als Maske, welches als nächstes auf die obere Oberfläche 16 der Scheibe 17 unter Verwendung eines C&sub2;CIF&sub5;/SF&sub6;-Gasgemisches angewendet wird, wodurch relativ senkrechte Seitenwände 21 für die Teile 22 des durch den Photolack 20 geschützten Siliziums geformt werden, wie in Figur 3b gezeigt. Der RIE-Schritt wird fortgeführt bis die obere Oberfläche der Scheibe 17 so weit weggeätzt ist, daß die Membranbereiche 19 (mit Ausnahme der Teile 22) nur noch als äußerst dünne Restbänder 23 vorhanden sind, die die Teile 22 mit dem Rest der Scheibe 17 verbinden.
  • Der Photolack 20 wird dann entfernt, wobei die SiO&sub2;-Flecken 18 immer noch an ihren Plätzen verbleiben, sie dienen dann während eines weiteren Ätzschritts, der ein Trockenplasmaätzschritt unter Verwendung von SF&sub6;/O&sub2; sein kann, als Masken. Dieses Gasgemisch sorgt für eine starke Unterätzung, wodurch die erforderliche scharfe Siliziumspitze 13 (von der sich der Maskenfleck 18 dann ablöst) auf der oberen Oberfläche, wie in Figur 3c gezeigt, hergestellt wird, darüber hinaus werden die Bänder 23 weggeätzt, um den so erhaltenen, integralen, in Figur 1 gezeigten Sondenaufbau, auszulösen. Alternativ kann dieses abschließende Ätzen zum Formen der Spitze 13 auch durch ein isotropes Naßätzverfahren unter Verwendung einer geeigneten Ätzflüssigkeit, wie etwa einem Gemisch aus Salpeter-, Essig- und Fluorwasserstoffsäure und Wasser, beispielsweise in einem Verhältnis von zumindest ungefähr 35:10:10:1, erreicht werden.
  • Es versteht sich, daß, auch wenn Figur 1 eine Sonde mit einem Ausleger, der eine spezifische Mäanderform aufweist, zeigt, innerhalb des Rahmens der Erfindung auch andere Mäanderformen möglich sind. Der Ausleger kann beispielsweise aus einer Mehrzahl von gewölbten Abschnitten, die in einer gemeinsamen Ebene liegen und an den Enden integral miteinander verbunden sind, wobei wechselseitig benachbarte Abschnitte eine entgegengesetzte Wölbung aufweisen, oder aus einer Mehrzahl von geraden Abschnitten geformt sein, die in einer gemeinsamen Ebene liegen und an den Enden integral miteinander verbunden sind, wobei wechselseitig benachbarte Abschnitte in einem solchen Winkel zueinander angeordnet sind, daß eine Zickzack-Mäanderform geformt wird.

Claims (6)

1. Oberflächen-Rastermikroskopsonde mit einem Stützkörper (11) und einem federnden Arm oder Ausleger (12), der an einem Ende (12a) durch den Stützkörper (11) abgestützt ist und auf dessen anderem freien Ende (12b) eine scharfe Spitze oder Nadel (13) angeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, daß der Arm oder Ausleger (12) mäanderförmig ist.
2. Sonde nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der mäanderförmige Arm oder Ausleger (12) aus einer Mehrzahl von gewölbten Abschnitten geformt ist, die in einer gemeinsamen Ebene liegen und an den Enden integral miteinander verbunden sind, wobei wechselseitig benachbarte Abschnitte eine entgegengesetzte wölbung aufweisen.
3. Sonde nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der mäanderförmige Arm oder Ausleger (12) aus einer Mehrzahl von geraden Abschnitten geformt ist, die in einer gemeinsamen Ebene liegen und an den Enden integral miteinander verbunden sind, wobei wechselseitig benachbarte Abschnitte in einem solchen Winkel zueinander angeordnet sind, daß eine Zickzack-Mäanderform gebildet wird.
4. Sonde nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der mäanderförmige Arm oder Ausleger (12) eine Mehrzahl von geraden Abschnitten (12c) aufweist, die sich in einer gemeinsamen Ebene im allgemeinen parallel zueinander und quer zu der vom abgestützten Ende (12a) zum freien Ende (12b) des Arms verlaufenden Richtung (14) erstrecken, wobei die Querabschnitte (12c) an ihren Enden integral miteinander durch die Endverbindungsabschnitte (12d) verbunden sind, die integral mit den Enden der Querabschnitte ausgeführt sind.
5. Sonde nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Abschnitte (12a, 12b, 12c, 12d) des Arms oder Auslegers (12) einen im wesentlichen quadratischen und gleichen Querschnitt aufweisen.
6. Sonde nach einem der Ansprüche 1 bis 5, die aus monokristallinem Silizium hergestellt ist.
DE69217051T 1991-06-13 1992-06-12 Mikroprobe für einen oberflächen-rastermikroskop Expired - Fee Related DE69217051T2 (de)

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