DE69122001T2 - Integrierte Schaltung mit einer Standardzelle, einer Anwendungszelle und einer Prüfzelle - Google Patents

Integrierte Schaltung mit einer Standardzelle, einer Anwendungszelle und einer Prüfzelle

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DE69122001T2
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Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine integrierte Schaltung mit einer Standardzelle, einer Anwendungszelle und einer Testzelle, wobei letztere insbesondere die Signale zwischen den beiden erstgenannten Zellen überwachen soll.
  • Die derzeit üblichen elektronischen Vorrichtungen, insbesondere zur Verarbeitung von digitalen Signalen, enthalten oft ein programmierbares Organ wie einen Mikroprozessor mit einem Programmspeicher, sowie eine Anwendungsschaltung, die periphere Schaltungen des programmierbaren Organs und für die von diesen Vorrichtungen zu erfüllenden Aufgaben spezifische logische Schaltungen zusammenfaßt. Sie liegen oft auf einer Druckschaltungskarte, auf der das programmier bare Organ und sein Speicher zwei Standardbauelemente sind, während die Anwendungsschaltung im allgemeinen ein spezifischer Anwendungs-IC ist. Alle Verbindungen zwischen diesen drei Bauelementen liegen daher auf der Karte, und eine Testoder Emulationseinrichtung hat Zugang zu diesen Verbindungen, um die verschiedenen Test- und Abstimmungsphasen durchzuführen, die bei der Entwicklung solcher Vorrichtungen auftreten.
  • Die technologische Entwicklung der Mikroelektronik bietet die Möglichkeit, die verschiedenen Elemente, die vorher auf einer solchen Karte angeordnet waren, in ein gemeinsames Bauelement zu integrieren. Das programmierbare Organ ist meist eine Standardzelle, die vom Hersteller eines solchen Bauelements definiert ist, während die Anwendungsschaltung vom Hersteller des Bauelements spezifiziert wird. Der Programmspeicher, der oft auch eine Standarduntereinheit ist, wird hier willkürlich mit der Anwendungsschaltung kombiniert und bildet nun die Anwendungszelle. In dieser Ausführungsform ist die Anzahl der zugänglichen Anschlüsse der Vorrichtung, d.h. der Außenkontakte des Bauelements, im Vergleich zu einer Realisierung auf einer Druckschaltungskarte verringert, da die meisten Verkehrsverbindungen zwischen der Standardzelle und der Anwendungszelle nicht an Außenkontakte führen.
  • Man möchte nämlich die Anzahl der Außenkontakte nicht deutlich erhöhen, da dadurch die Abmessungen des Bauelements und seine Kosten erhöht werden. Es kann sogar vorkommen, daß die Technologie dies verbietet. Daher können die Tests und die Emulation des Bauelements nicht gemäß der bekannten Methode durchgeführt werden. Die aufeinanderfolgenden Verfahrensschritte der Entwicklung der Anwendungszelle, der Entwicklung der Software für den Programmspeicher, des Tests dieser Software und schließlich des Tests der ganzen Vorrichtung können nicht mehr voneinander getrennt werden.
  • Es ist möglich, mit Hilfe eines von einem Rechner unterstützten Entwurfswerkzeugs die Wechselwirkung der Standardzelle und der Anwendungszelle zu simulieren. Dadurch kann man im wesentlichen den Betrieb der Nachrichtenverbindungen zwischen diesen Zellen überprüfen. Derartige Simulierungen erfordern jedoch eine lange Zeit und sind teuer wegen der Rechenleistung für die Simulationswerkzeuge. Die Zeit für die Entwicklung und Überprüfung des Bauelements läßt sich nicht mit den Bedürfnissen einer industriellen Fertigung vereinbaren.
  • Es ist auch möglich, bei manchen Herstellern einen Satz von Bauelementen zu bekommen, in dem das programmierbare Organ und die Anwendungszelle diskrete Elemente sind. In der Testphase wird die Vorrichtung daher in Form eines Modells realisiert, dessen Verbindungen zwischen den beiden Elementen zugänglich sind und das ähnlich behandelt werden kann wie die elektronischen Druckschaltungskarten. In diesem Fall kommen die Kosten für die Entwicklung des Modells zu den Kosten des vollständig integrierten Bauelements. Außerdem sind die Betriebseigenschaften der Vorrichtung in Form des Modells, insbesondere hinsichtlich der Arbeitsgeschwindigkeit, deutlich schlechter als die derselben Vorrichtung in Form einer integrierten Schaltung. Es ist also unmöglich, diese Schaltung insgesamt im Modell zu reproduzieren. Das Problem der Geschwindigkeitsbegrenzung wird besonders deutlich, wenn das programmierbare Organ ein Signalprozessor ist.
  • Außerdem ist eine Technik des Tests und der Emulation unter dem englischen Begriff "Boundary Scan" bekannt, die insbesondere in der IEEE-Norm 1149.1 beschrieben ist (IEEE Institute of Electrical and Electronics Engineers). Diese Technik ist auf ein vollständig als IC realisiertes Bauelement anwendbar. Gemäß dieser Technik liegt eine Testzelle zwischen der Standardzelle und der Anwendungszelle. Sie enthält für jede Nachrichtenverbindung eine Abfrageeinheit mit einem Elementarspeicher, wobei diese Elementarspeicher so verbunden sind, daß sie ein Schieberegister bilden, das an Außenkontakte des Bauelements angeschlossen ist. So ist es möglich, durch Hinzufügung einer beschränkten Anzahl von Zugangskontakten die Nachrichtensignale zu registrieren und zu verändern, die auf den Nachrichtenverbindungen übertragen werden. Diese Technik erlaubt es, die Anwendungszelle zu testen. Sie besitzt jedoch den Nachteil, daß sie die Nachrichtenverbindung während des Umlaufs der gespeicherten Informationen im Schieberegister aufgrund der Verbindungen zwischen diesen Elementen stört.
  • Bei der Test- und Emulationsprozedur ist es außerdem notwendig, die Testzelle aufgrund eines bestimmten Zustands der verschiedenen Zugangssignale zur Standardzelle steuern zu können.
  • So hat die amerikanische Gesellschaft Motorola für den Signalprozessor DSP 96000 eine Emulationstechnik definiert, die im englischen "On chip emulation" heißt. Gemäß dieser Technik wird der Signalprozessor, der eine Standardzelle ist, durch eine serielle Schnittstelle ergänzt, die die Ausführung nach einem Haltepunkt wieder starten kann und einen Befehl mit Hilfe einer Gruppe von an die Busleitungen dieser Zelle angeschlossenen Registern und Adressenkomparatoren laden kann, die solche Haltepunkte erzeugen soll. Es ist vorgesehen, den Zustand dieser Busleitungen über die serielle Schnittstelle erneut zu lesen. Diese Lösung betrifft nicht den Fall einer Schaltung, die auch eine Anwendungszelle enthält, sondern nur den Fall, daß die Standardzelle ein offener Prozessor ist, d.h. ein Prozessor, dessen Befehlsbus zugänglich ist, oder daß der Programmspeicher ein überschreibbarer RAM-Speicher ist. Diese Lösung erlaubt auch nicht ein erneutes Lesen der auf den Busleitungen vorliegenden Informationen unabhängig vom Betrieb der Standardzelle.
  • Aus der Patentanmeldung EP-A-0 358 376 ist eine Testzelle mit einem Schieberegister bekannt, in dem die gespeicherten Informationen umlaufen können, ohne die Nachrichtenverbindungen zu stören. Diese Testzelle kann auch abhängig vom Zustand der Zugangssignale zur Standardzelle gesteuert werden.
  • Wenn jedoch die integrierte Schaltung durch den Hersteller geliefert wurde, kann es vorkommen, daß ein Fehler im Programmspeicher, der meist ein Festspeicher vom Typ ROM ist, verblieben ist. Dieser Fehler kann daher im Speicher nicht mehr korrigiert werden. Um diesen Mangel zu beheben, schlagen manche Hersteller vor, der Schaltung einen zusätzlichen überschreibbaren Speicher z.B. vom Typ EPROM oder EEPROM hinzuzufügen. Dieser zusätzliche Speicher verwendet eine besondere Technologie, die eine Begrenzung der Betriebseigenschaften der Schaltung hinsichtlich der Verarbeitungsgeschwindigkeit zur Folge haben kann und die nicht unbedingt mit der für die übrige Schaltung verwendeten Technologie kompatibel ist.
  • Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, eine integrierte Schaltung mit einer Standardzelle, einer Anwendungszelle und einer Testzelle vorzuschlagen, bei der es möglich ist, einen Fehler des Programmspeichers zu korrigieren, ohne die Betriebseigenschaften zu verschlechtern, und zwar mit Hilfe einer Technik, die mit der Herstellung dieser integrierten Schaltung kompatibel ist.
  • Ziel der Erfindung ist es also, die Mittel anzugeben, die der integrierten Schaltung mit einer Standardzelle und einer Anwendungszelle hinzugefügt werden müssen, um deren Test und Emulation unter den gleichen Bedingungen zu erlauben, als wenn diese Schaltung in Form von diskreten Bauelementen auf einer Druckschaltungskarte vorläge.
  • Die erfindungsgemäße integrierte Schaltung enthält eine Standardzelle, eine Anwendungszelle und eine Testzelle, insbesondere um den Wert von Nachrichtensignalen, die zwischen der Standardzelle und der Anwendungszelle übertragen werden, zu registrieren oder von außerhalb der integrierten Schaltung zu verändern, wobei die Standardzelle Befehle ausführt, die auf einem Befehlsbus von einem in der Anwendungszelle liegenden Programmspeicher aufgrund einer Befehlsadresse geliefert werden, die über einen Befehlsadressenbus übermittelt wird, wobei die Leiter dieser Busleitungen die Nachrichtenverbindungen bilden und ist dadurch gekennzeichnet, daß die Testzelle Ableitungsmittel aufweist, um mindestens einen fehlerhaften Befehl im Programmspeicher durch einen Ersatzbefehl zu ersetzen, der vorher in der integrierten Schaltung aufgrund eines bestimmten Zustands zumindest einiger der Nachrichtenverbindungen gespeichert wurde.
  • Vorzugsweise enthält die integrierte Schaltung eine Standardzelle, eine Anwendungszelle und eine Testzelle, wobei die Testzelle für jede der Nachrichtenverbindungen eine Abfrageeinheit mit einem Elementarspeicher enthält, die zumindest in gewissen Augenblicken an diese Verbindungen angeschlossen ist, wobei die Elementarspeicher miteinander verbunden ein Schieberegister bilden und die Testzelle weiter ein zweites Schieberegister mit mindestens einem ersten Steuerregister aufweist, dessen Ausgänge je an einen Leiter einer ersten Steuerbusleitung angeschlossen sind. Die integrierte Schaltung weist dann einen Vergleichsmodul auf, an den einerseits der Steuerbus und andererseits zumindest einige der Nachrichtenverbindungen angeschlossen sind, um ein Koinzidenzsignal im Fall der Identität der dem Modul gelieferten Signale zu erzeugen.
  • Außerdem enthält die Standardzelle in der integrierten Schaltung mit einer Standardzelle, einer Anwendungszelle und einer Testzelle, wobei die Standardzelle auf ein Betriebsmodussignal anspricht, eine Umleitungsschaltung, die ein Umleitungssignal für einen bestimmten Zustand des Betriebsmodussignals erzeugt, wenn das Koinzidenzsignal vorliegt.
  • In einer ersten Ausführungsform der integrierten Schaltung mit einer Standardzelle, einer Anwendungszelle und einer Testzelle enthalten die Ableitungsmittel einen Ersatzspeicher, dessen letzter ausführbarer Befehl eine Rückkehr zum Programmspeicher ist, und einen Umleitungsmultiplexer, dessen Ausgang anstelle der Befehlsbusleitung in der Standardzelle angeschlossen ist, dessen erster Eingang, der vom Umleitungssignal ausgewählt wird, einen Abzweigungsbefehl in Richtung zum Ersatzspeicher empfängt und dessen zweiter Eingang, der bei Abwesenheit des Umleitungssignals ausgewählt wird, mit dem Befehlsbus verbunden ist.
  • Gemäß einer ersten Variante der integrierten Schaltung mit einer Standardzelle, einer Anwendungszelle und einer Testzelle hat der Befehlsadressenbus über eine Dekodierschaltung Zugang zum Ersatzspeicher, wobei das Lesen und das Schreiben über die dem Befehlsbus zugeordneten Abfrageeinheiten des ersten Schieberegisters erfolgen.
  • Gemäß einer zweiten Variante der integrierten Schaltung mit einer Standardzelle, einer Anwendungszelle und einer Testzelle hat die Standardzelle zum Ersatzspeicher unmittelbar Zugang, wobei das Lesen und das Schreiben durch zwei neue Zustände des Betriebsmodussignals gesteuert werden.
  • In einer zweiten Ausführungsform der integrierten Schaltung mit einer Standardzelle, einer Anwendungszelle und einer Testzelle enthalten die Abfrageeinheiten, die dem Befehlsbus zugeordnet sind, dessen Nachrichtenverbindungen je aus einem Eingangskanal und einem Ausgangskanal bestehen, je einen ersten Multiplexer, dessen erster Eingang an den Eingangskanal, dessen Ausgang an den Ausgangskanal angeschlossen ist und dessen Steuereingang das Umleitungssignal empfängt, und einen zweiten Multiplexer, dessen zweiter Eingang an den Eingangskanal und dessen Ausgang an den Eingang eines Elementarspeichers angeschlossen ist, wobei dieser Elementarspeicher mit seinem Ausgang an den zweiten Eingang des ersten Multiplexers angeschlossen ist und das erste Schieberegister die Folge der je an den ersten Eingang des zweiten Multiplexers der nächstfolgenden Abfrageeinheit angeschlossenen Elementarspeicher enthält, wobei die Ausgangssignale der Elementarspeicher, die vorher mit Hilfe des ersten Schieberegisters geladen wurden, den Ersatzbefehl bilden und den fehlerhaften Befehl ersetzen, wenn das Umleitungssignal auftritt.
  • Außerdem enthält in der integrierten Schaltung mit einer Standardzelle, einer Anwendungszelle und einer Testzelle die Abfrageeinheit eine Speicherschaltung, deren Dateneingang an den Ausgang des Elementarspeichers ange schlossen ist und deren Synchronisationseingang ein Auslösesignal empfängt, während der zweite Eingang des ersten Multiplexers nicht mehr an den Ausgang des Elementarspeichers, sondern an den Ausgang der Speicherschaltung angeschlossen ist.
  • Die verschiedenen Gegenstände und Merkmale der Erfindung werden nun anhand eines nicht beschränkend zu verstehenden Ausführungsbeispiels und der beiliegenden Zeichnungen näher erläutert.
  • Figur 1 zeigt ein Blockschaltbild der integrierten Schaltung gemäß der Erfindung.
  • Figur 2 zeigt diese Schaltung, in der die Testzelle genauer ausgeführt ist.
  • Figur 3 zeigt einen Abfragemodul dieser Testzelle.
  • Figur 4 zeigt eine erste Ausführungsform einer Abfrageeinheit in einem Abfragemodul.
  • Figur 5 zeigt eine zweite Ausführungsform einer Abfrageeinheit in einem Abfragemodul.
  • Figur 6 zeigt eine dritte Ausführungsform einer Abfrageeinheit in einem Abfragemodul.
  • Figur 7 zeigt ein Blockschaltbild der erfindungsgemäße integrierten Schaltung, deren Testzelle zusätzliche Merkmale aufweist.
  • Figur 8 zeigt die Register dieser Testzelle.
  • Figur 9 zeigt eine bekannte Standardzelle.
  • Figur 10 zeigt eine erfindungsgemäß veränderte Standardzelle.
  • Figur 11 zeigt eine erfindungsgemäße Variante der Standardzelle.
  • Figur 12 zeigt ein Detail der erfindungsgemäßen integrierten Schaltung.
  • Elemente, die in mehreren Figuren auftauchen, tragen das gleiche Bezugszeichen.
  • Vor der Beschreibung der eigentlichen Erfindung wird die Struktur der verschiedenen bekannten Elemente der integrierten Schaltung erläutert, um die Erfindung besser verstehen zu können.
  • Die integrierte Schaltung 1, die schematisch in Figur 1 gezeigt ist, enthält im wesentlichen eine Anwendungszelle 2, eine Testzelle 3 und eine Standardzelle 4, wobei letztere insbesondere programmierbar ist und einen Mikroprozessor, einen Signalprozessor oder eine noch weiter entwickelte Schaltung besitzt, die üblicherweise als Mikrokontrollorgan bezeichnet wird. Die Testzelle 3 liegt zwischen den beiden anderen Zellen und kontrolliert die verschiedenen zwischen ihnen ausgetauschten Signale. Die beiden letztgenannten Zellen empfangen ein gleiches Taktsignal Ck.
  • Die Anwendungszelle 2 ist über einen Anschluß 21 mit dem Umfeld des Bauelements 1 verbunden. Dieser Anschluß bildet die Gruppe der Eingänge und Ausgänge dieser Zelle bezüglich der Vorrichtung, in der das Bauelement enthalten ist. Diese Zugänge entsprechen also Außenkontakten. Die Zelle ist auch an die Testzelle 3 über eine erste Nachrichtenaustauschverbindung L1 angeschlossen, die ohne die Erfindung unmittelbar zur Standardzelle 2 führen würde. Diese erste Nachrichtenaustauschverbindung bildet also eine Gruppe von Verbindungen zwischen der Standardzelle und der Anwendungszelle, die überwacht werden müssen. Es kann sich insbesondere um einen Kontrollbus, um Schreib- oder Leseverbindungen, Synchronisationsanschlüsse, Unterbrechungsanschlüsse usw. handeln.
  • Die Standardzelle 4 ist an die Testzelle 3 über eine zweite Nachrichtenaustauschverbindung L2 angeschlossen, die ohne die Erfindung mit der ersten Nachrichtenaustauschverbindung L1 eine gemeinsame Verbindung bilden würde.
  • Die Testzelle 3 empfängt Steuersignale und Veränderungsinformationen über eine Testverbindung 31 und liefert Informationen über den Zustand der auf den Nachrichtenaustauschverbindungen verlaufenden Nachrichtensignalen an eine Beobachtungsverbindung 32. Im normalen Betriebsmodus der integrierten Schaltung 1 stellt die Testzelle den Anschluß zwischen diesem Austauschverbindungen her und hat die Möglichkeit, die Nachrichtensignale zu registrieren, ohne sie zu verändern. Der Ablauf ist so, als existiere es die Testzelle für die Standardzelle und für die Anwendungszelle nicht. Im Testmodus oder Emulationsmodus der integrierten Schaltung hat die Testzelle die Möglichkeit, Daten, die sie auf der Testverbindung 31 empfängt, in eine der beiden Nachrichtenaustauschverbindungen L1, L2 einzuspeisen.
  • Nun wird die Testzelle 3 genauer anhand der Figur 2 beschrieben. In diesem Ausführungsbeispiel gehört der Programmspeicher der Standardzelle 4 zur Anwendungszelle 2 und liefert den Befehl, der an der durch eine Befehlsadresse identifizierten Stelle liegt.
  • Die beiden Nachrichtenaustauschverbindungen L1 und L2, die die Nachrichtensignale übertragen, bestehen aus mehreren Nachrichtenbusleitungen.
  • Abfragemoduln verbinden einen Bus der ersten Nachrichtenaustauschverbindung L1 mit dem entsprechenden Bus der zweiten Nachrichtenaustauschverbindung L2. Die verschiedenen Abfragemoduln und die verschiedenen Nachrichtenbusleitungen sind in der nachfolgenden Tabelle aufgeführt. Mit Ausnahme der Datenbusleitungen 3D2, 3D4, die in beiden Richtungen wirksam sind, sind alle anderen Busleitungen nur in einer Richtung wirksam.
  • Die Abfragemoduln enthalten für jeden Leiter der Busleitung, der sie zugeordnet sind, einen Elementarspeicher. Diese Elementarspeicher sind in Form eines Schieberegisters angeordnet, dessen Eingang ein Ersatzsignal 39 über die Testverbindung 31 empfängt und dessen Ausgang an die Beobachtungsverbindung 32 angeschlossen ist. Die Abfragemoduln empfangen außerdem ein Synchronisationssignal 34, das auch auf der Testverbindung 31 übertragen wird.
  • Die Verbindungen zwischen den verschiedenen Abfragemoduln, die ein Schieberegister ergeben, nämlich die Verbindungen 3AB, 3BC, 3CD, 3DE, 3EF, sind mit drei Zeichen identifiziert, wobei das erste Zeichen die Ziffer 3 ist, das zweite ein Bezugsbuchstabe für den vorliegenden Abfragemodul und das dritte ein Bezugsbuchstabe für den nachfolgenden Abfragemodul.
  • Für jeden Impuls des Synchronisationssignals 34 schreiten alle im Schieberegister gespeicherten Daten um ein Bit weiter und ein neues Bit wird vom Ersatzsignal an den Eingang geliefert, während das austretende Bit auf die Beobachtungsverbindung 32 gelangt.
  • Die Abfragemoduln, deren Struktur später erläutert wird, werden nun hinsichtlich ihrer Funktionen beschrieben.
  • Der erste Abfragemodul 3A gibt eine Befehlsadresse vor, indem in den Befehlsadressenbus 3A2 der ersten Austauschverbindung L1 die in den Elementarspeichern dieses Moduls enthaltenen Daten übertragen werden. Außerdem kann dieser Modul in den gleichen Speichern die Befehlsadresse registrieren, die von der Standardzelle 4 über den entsprechenden Befehlsadressenbus 3A4 geliefert wird.
  • Der zweite Abfragemodul 3B gibt eine Befehl vor, indem in dem Befehlsbus 3B4 der zweiten Austauschverbindung L2 die in seinen Elementarspeichern enthaltenen Daten eingespeist werden. Dieser Modul kann auch in den gleichen Speichern den Befehl speichern, der von der Anwendungszelle 2 über den entsprechenden Befehlsbus 3B2 geliefert wird.
  • Der dritte Abfragemodul 3C gibt ein Kontrolisignal vor, indem in den Kontrolleingangsbus 3C4 der zweiten Austauschverbindung L2 die in den Elementarspeichern dieses Moduls enthaltenen Daten eingespeist werden. Er kann auch in den gleichen Speichern die Kontrollsignale speichern, die von der Anwendungszelle 2 über den entsprechenden Kontrolleingangsbus 3C2 geliefert werden. Die Kontrollsignale können beispielsweise Unterbrechungen, Angaben, Busanfragen oder Nullsetzungen sein.
  • Der vierte Abfragemodul 3D, der den in beiden Richtungen wirksamen Datenbusleitungen 3D2 und 3D4 zugeordnet ist, gibt die Daten auf jeder dieser Busleitungen mit Hilfe seiner Elementarspeicher vor bzw. kann diese Daten speichern.
  • Der fünfte Abfragemodul 3E gibt ein Kontrollsignal vor, indem in den Kontrollausgangsbus 3E2 der ersten Austauschverbindung L1 die in den Elementarspeichern dieses Moduls gespeicherten Daten eingespeist werden. Er kann auch in denselben Speichern die von der Standardzelle auf dem entsprechenden Kontrollausgangsbus 3E4 erzeugten Kontrollsignale speichern. Die Kontrollsignale können beispielsweise Schreibsignale, Lesesignale, Aktivierungssignale für andere Busleitungen usw. sein.
  • Der sechste Abfragemodul 3F gibt eine Datenadresse vor, indem in den Datenadressenbus 3F2 der ersten Austauschverbindung L1 die in den Elementarspeichern dieses Moduls enthaltenen Informationen eingespeist werden. Er kann auch in denselben Speichern die Datenadresse speichern, die von der Standardzelle 4 auf dem entsprechenden Datenadressenbus 3F4 erzeugt wird.
  • Diese sechs Abfragemoduln sind so ausgebildet, daß die Weitergabe der Informationen im Schieberegister ohne irgendeine Veränderung der auf den verschiedenen Busleitungen vorliegenden Signale erfolgt, was genauer aus der nachfolgenden Beschreibung hervorgeht.
  • Der erste Abfragemodul 3A wird nun genauer anhand von Figur 3 erläutert. Die beiden Befehlsadressenbusleitungen 3A2, 3A4 der beiden Austauschverbindungen L1 und L2 enthalten je acht Leiter, deren Bezugszeichen dem der zugehörigen Busleitung gleicht und einen Index trägt, der eine Ziffer zwischen 1 und 8 ist, also 3A4&sub1; bis 3A4&sub8; und 3A2&sub1; bis 3A2&sub8;. Dieser Abfragemodul 3A enthält für jedes Paar von Leitern mit gleichen Indices eine Abfrageeinheit. Die acht Abfrageeinheiten werden durch ein Bezugszeichen identifiziert, das sich aus dem Buchstaben A und einer nachfolgenden Ziffer entsprechend dem Index der Busleiter zusammensetzt, denen sie zugeordnet sind. Jede Abfrageeinheit empfängt das Synchronisationssignal 34. Die erste Einheit A1 empfängt das Ersatzsignal 39 und erzeugt für die zweite Einheit ein erstes Transfersignal A12. Die zweite Einheit A2 erzeugt für die dritte ein zweites Transfersignal A23 usw. bis zur achten Einheit, die ein siebtes Transfersignal A78 empfängt und an einen zweiten Abfragemodul 3B über die erste Zirkulationsverbindung 3AB angeschlossen ist.
  • Die erste Abfrageeinheit A1 ist in Figur 4 in einer besonderen Ausführungsform dargestellt, die nicht als eine Beschränkung der Erfindung interpretiert werden sollte. Sie enthält einen ersten Multiplexer M1, dessen Eingang 0 an einen Eingangskanal dieser Einheit angeschlossen ist, der vom ersten Leiter 3A4&sub1; der Befehlsadressenbusleitung 3A4 in der zweiten Austauschverbindung L2 gebildet wird. Der Eingang 1 ist mit dem Ausgang einer Speicherschaltung R ver bunden, während der Steuereingang ein erstes Selektionssignal 35 über die Testverbindung 31 empfängt und der Ausgang an einen ersten Leiter 3A2&sub1; der Befehlsadressenbusleitung 3A2 der ersten Austauschverbindung L1 angeschlossen ist, die den Ausgangskanal dieser Einheit bildet. Die Einheit enthält einen zweiten Multiplexer M2, dessen Eingang das Ersatzsignal 39 empfängt, dessen Eingang 1 an den Eingang 0 des ersten Multiplexers Ml angeschlossen ist, dessen Steuereingang ein zweites Selektionssignal 38 empfängt und dessen Ausgang mit dem Eingang eines Elementarspeichers DFF verbunden ist. Dieser Elementarspeicher ist beispielsweise eine bekannte Kippstufe vom Typ D. Er erzeugt ein Ausgangssignal, das den Wert angibt, den das an den Dateneingang während der zuletzt vorhergehenden Anstiegsflanke am Synchronisationseingang angelegte Signal gehabt hatte. Der Synchronisationseingang empfängt das Synchronisationssignal 34, während der Ausgang dieses Elementarspeichersdas erste Transfersignal A12 erzeugt. Die Abfrageeinheit enthält weiter eine Speicherschaltung R, die beispielsweise ein unter dem englischen Begriff "latch" bekanntes Element ist. Es überträgt unmittelbar den Eingangspegel an den Ausgang während der Zeitspanne, in der der Synchronisationseingang auf niedrigem Pegel ist, während die Speicherschaltung an ihrem Ausgang den Wert überträgt, den das an den Dateneingang angelegte Signal bei der letzten vorhergehenden Anstiegsflanke am Synchronisationseingang hatte und hält diesen Wert während der Zeitspanne, in der dieser Synchronisationseingang auf hohem Pegel liegt. An ihrem Dateneingang empfängt die Schaltung R das erste Transfersignal A12, an ihrem Synchronisationseingang ein Auslösesignal 37, das auf der Testverbindung 31 übertragen wird, und ihr Ausgang ist an den Eingang 1 des ersten Multiplexers Ml angeschlossen, wie dies bereits erwähnt wurde.
  • Das Auslösesignal 37 erlaubt die Reproduktion des Ausgangs des Elementarspeichers DFF am Ausgang der Speicherschaltung R.
  • Abhängig vom Wert der beiden Selektionssignale 35 und 38 ergeben sich folgende Operationen:
  • - Wenn beide Multiplexer M1 und M2 auf ihre Eingänge 0 eingestellt sind, kann der Elementarspeicher DFF, der das erste Element des Schieberegisters ist, wie nachfolgend klar wird, das Ersatzsignal 39 auf seinen Ausgang abhängig vom Synchronisationssignal 34 übertragen. Die ersten Leiter 3A4&sub1; und 3A2&sub1; sind miteinander verbunden und von der übrigen Abfrageeinheit isoliert. So ist es möglich, das Schieberegister fortschreiten zu lassen, ohne den Betrieb der Standardzelle 4 und der Anwendungszelle 2 zu verändern.
  • - Wenn der erste Multiplexer M1 auf seinen Eingang 0 und der zweite Multiplexer M2 auf seinen Eingang 1 eingestellt ist, kann der Elementarspeicher DFF das auf dem ersten Leiter 3A4&sub1; der Befehlsadressenbusleitung 3A4 in der zweiten Austauschverbindung L2 vorliegende Signal abhängig vom Synchronisationssignal 34 speichern. Die ersten Leiter 3A4&sub1; und 3A4&sub2; sind wie im vorhergehenden Fall miteinander verbunden, und die Speicherung erfolgt somit ohne Störung.
  • - Wenn der erste Multiplexer M1 auf seinen Eingang 1 und der zweite Multiplexer M2 auf seinen Eingang 0 eingestellt sind, ist der erste Leiter 3A2&sub1; der Befehlsadressenbusleitung 3A2 in der zweiten Austauschverbindung mit dem Ausgang der Speicherschaltung R verbunden. Der Elementarspeicher DFF kann wie im ersten Fall das Ersatzsignal an den Ausgang beim Auftreten des Synchronisationssignals 34 übertragen.
  • - Wenn beide Multiplexer M1 und M2 auf ihre Eingänge 1 eingestellt sind, ist der erste Leiter 3A2&sub1; der Befehlsadressenbusleitung 3A2 in der ersten Austauschverbindung L1 mit dem Ausgang der Speicherschaltung R verbunden und der Elementarspeicher DFF kann das auf dem ersten Leiter 3A4&sub1; der Befehlsadressenbusleitung 3A4 in der zweiten Austauschverbindung L2 vorliegende Signal registrieren.
  • Es sei bemerkt, daß nur der letztgenannte Fall die Speicherschaltung R rechtfertigt, da zwei Informationen gespeichert zur verfügung stehen müssen. In allen anderen Fällen wird nur eine gespeicherte Information benötigt und der Elementarspeicher reicht somit aus. Die Erfindung ist also auch anwendbar, wenn diese Speicherschaltung entfällt, da dann der Eingang 1 des ersten Multiplexers M1 unmittelbar an den Ausgang des Elementarspeichers DFF angeschlossen ist.
  • Die zweite Abfrageeinheit gleicht der ersten mit Ausnahme nur einiger Anschlüsse wie folgt:
  • - der Eingang 0 und der Ausgang des ersten Multiplexers sind mit den zweiten Leitern 3A4&sub2; bzw. 3A2&sub2; der Befehlsadressenbusleitungen 3A4 und 3A2 in der zweiten Austauschverbindung L2 bzw. der ersten Austauschverbindung L1 verbunden;
  • - der Eingang 0 des zweiten Multiplexers empfängt das erste Transfersignal A12,
  • - der Elementarspeicher erzeugt als Ausgangssignal das zweite Transfersignal A23.
  • Der Fachmann ist in der Lage, die obigen Änderungen zu transponieren, um die Anschlüsse der nachfolgenden Abfrageeinheiten zu definieren. So unterscheidet sich die n-te Abfrageeinheit von der ersten nur durch die folgenden Punk-
  • - der Eingang 0 und der Ausgang des ersten Multiplexers sind mit den n-ten Leitern 3A4n bzw. 3A2n der Befehlsadressenbusleitungen 3A4, 3A2 verbunden;
  • - der Eingang 0 des zweiten Multiplexers empfängt das (n-1)te Transfersignal A(n-1)(n);
  • - der Elementarspeicher erzeugt als Ausgangssignal das n-te Transfersignal A(n)(n+1), abgesehen von der achten Abfrageeinheit, in der dieses Ausgangssignal in die erste Zirkulationsverbindung 3AB eingespeist wird.
  • Der zweite Abfragemodul 3B gleicht dem ersten 3A abgesehen davon, daß die Befehlsadressenbusleitungen 3A4, 3A2 der beiden Austauschverbindungen L2 und L1 durch die Befehlsbusleitungen 3B2, 3B4 der beiden Austauschverbindungen L1 und L2, das Ersatzsignal 39 durch das an der ersten Zirkulationsverbindung 3AB vorliegende Signal und diese erste Zirkulationsverbindung durch die zweite Zirkulationsverbindung 3BC ausgetauscht wurde.
  • Der Fachmann kann leicht diese Veränderungen umsetzen, um eine vollständige Definition der nachfolgenden Abfragemoduln zu erhalten, wobei der vierte Modul 3D an in beiden Richtungen wirksame Busleitungen angeschlossen ist.
  • Der sechste Abfragemodul 3F besitzt andererseits die Besonderheit, daß er an die Beobachtungsverbindung 32 und nicht an eine Zirkulationsverbindung angeschlossen ist.
  • Es sei nun zuerst davon ausgegangen, daß die Datenbusleitungen 3D2, 3D4 in einer Richtung wirksam sind, was zur Folge hat, daß der vierte Abfragemodul 3D den anderen gleicht. In diesem Fall besteht das Schieberegister aus der Serienschaltung aller Elementarspeicher der Testzelle 3 entlang eines Zirkulationsweges mit Hilfe der Transfersignale, die innerhalb einer Abfrageeinheit umlaufen, und mit Hilfe von Zirkulationsverbindungen, die diese Einheiten verbinden, wenn das zweite Selektionssignal 3B den zweiten Multiplexer jeder Abfrageeinheit auf den Eingang 0 schaltet. In diesem Fall ist der Zirkulationsweg elektrisch von jedem Busleiter der beiden Austauschverbindungen L1 und L2 iso liert. Dieses Schieberegister wird vom Synchronisationssignal 34 gesteuert.
  • Nun wird der besondere Fall des vierten Abfragemoduls 3D untersucht. Dieser Modul ist an zwei in beiden Richtungen wirksame Datenbusleitungen 3D2, 3D4 der beiden Austauschver bindungen L1 und L2 angeschlossen, die je 16 Leiter enthalten, nämlich 8 Eingangsleiter mit den Bezugszeichen der zugehörigen Busleitung, gefolgt von einem Buchstaben I und einem Index, der eine Ziffer zwischen 1 und 8 ist, also 3D21&sub1; bis 3D2I&sub8; und 3D4I&sub1; bis 3D4I&sub8;, und 8 Ausgangsleiter, die das gleiche Bezugszeichen wie der zugehörige Bus, gefolgt von einem Buchstaben 0 und einem Index mit einer Ziffer zwischen 1 und 8 tragen, also 3D2O&sub1; bis 3D2O&sub8; und 3D4O&sub1; bis 3D4O&sub8;. Der Abfragemodul enthält eine Abfrageeinheit für jede Vierergruppe von Leitern mit gleichem Index.
  • Die erste Abfrageeinheit D1, die den Leitern mit dem Index 1 zugeordnet und in Figur 5 dargestellt ist, enthält einen ersten Multiplexer M10, dessen Eingang 0 an einen ersten Eingangskanal der Einheit, nämlich den ersten Eingangsleiter 3D4I&sub1; der Datenbusleitung 3D4 in der zweiten Austauschverbindung L2 angeschlossen ist, dessen Eingang 1 an den Ausgang einer Speicherschaltung RO gleich der oben beschriebenen angeschlossen ist und dessen Steuereingang das erste Selektionssignale 35 empfängt, während der Ausgang an den ersten Eingangsleiter 3D2I&sub1; der Datenbusleitung 3D2 in der einen zweiten Ausgangskanal dieser Einheit bildenden ersten Austauschverbindung L1 angeschlossen ist. Diese Einheit enthält weiter einen zweiten Multiplexer M20, dessen Eingänge 0 und 2 an die dritte Zirkulationsverbindung 3CD, dessen Eingang 1 an den Eingang 0 des ersten Multiplexers MlO und dessen Eingang 3 an einen zweiten Eingangskanal dieser Einheit, nämlich den Ausgangsleiter 3D2O&sub1; der Datenbusleitung 3D2 in der ersten Austauschverbindung L1 angeschlossen sind, während die beiden Steuereingänge das zweite Selektionssignal 38 und ein drittes Selektionssignal 36 empfangen und der Ausgang an den Eingang eines Elementarspeichers DFF0 gleich dem oben beschriebenen angeschlossen ist. Weiter enthält diese Einheit einen dritten Multiplexer M30, dessen Eingang 0 an den Eingang 3 des zweiten Multiplexers M20, dessen Eingang 1 an den Ausgang der Speicherschaltung RO angeschlossen ist, dessen Steuereingang das erste Selektionssignal 35 empfängt und dessen Ausgang mit dem ersten Ausgangsleiter 3D4O&sub1; der Datenbusleitung 3D4 in der den ersten Ausgangskanal dieser Einheit bildenden zweiten Austauschverbindung L2 verbunden ist.
  • Der Elementarspeicher DFF0 dieser Abfrageeinheit D1, dessen Eingang an den Ausgang des zweiten Multiplexers M20 angeschlossen ist, empfängt das Synchronisationssignal 34 an seinem Synchronisationseingang und erzeugt am Ausgang ein erstes Transfersignal D12 für die zweite Abfrageeinheit D2.
  • Die Speicherschaltung R0 der ersten Abfrageeinheit D1 ist mit ihrem Dateneingang an den Ausgang des Elementarspeichers DFF0 angeschlossen, empfängt über ihren Synchronisationseingang das Auslösesignal 37 und ist mit ihrem Ausgang an die Eingänge 1 des ersten bzw. dritten Multiplexers M10, M30 angeschlossen.
  • Das dritte Selektionssignal 36 kann entweder auf die Eingangsleiter oder auf die Ausgangsleiter einwirken, indem entweder die Gruppe von Eingängen 0 und 1 oder die Gruppe von Eingängen 2 und 3 des zweiten Multiplexers M20 ausgewählt werden. Im ersten Fall wählt das zweite Auswahlsignal 38 den Eingang 0 oder 1 genauso wie für die zweiten Multiplexer der Abfragemoduln aus, während es im zweiten Fall den Eingang 2 oder den Eingang 3 auswählt, wenn der Eingang oder der Eingang 1 für die ersten Multiplexer dieser anderen Moduln ausgewählt werden.
  • Der dritte Multiplexer M30 hat eine vollkommen symmetrische Aufgabe gegenüber dem Ausgangsleiter wie der erste Multiplexer M10 gegenüber dem Eingangsleiter. Daher wird der Betrieb dieses Multiplexers nicht im einzelnen erläutert.
  • Da die Elemente einer Abfrageeinheit des vierten Abfragemoduls 3D, die zu einer Abfrageeinheit eines der anderen Abfragemoduln hinzugefügt wurden, nun beschrieben sind, braucht ihr Betrieb nicht mehr im einzelnen erläutert zu werden, da er dem oben erwähnten Betrieb gleicht. Außerdem ist auch die obige Bemerkung hinsichtlich der Speicherschaltung RO hier anwendbar. Ohne den Rahmen der Erfindung zu verlassen, kann man auf diese Schaltung verzichten, indem die Eingänge 1 des ersten Multiplexers und des dritten Multiplexers M10 und M30 unmittelbar an den Ausgang des Elementarspeichers DFFO angeschlossen werden.
  • Die zweite Abfrageeinheit D2 dieses vierten Abfragemoduls D3 gleicht der ersten D1 mit Ausnahme von einigen Anschlüssen:
  • - Der Eingang 0 und der Ausgang des ersten Multiplexers sind an den zweiten Eingangsleiter 3D4I&sub2; der Datenbusleitung 3D4 in der zweiten Austauschverbindung L2 bzw. an den zweiten Eingangsleiter 3D2I&sub2; der Datenbusleitung 3D2 in der ersten Austauschverbindung L1 angeschlossen.
  • - Der Eingang 0 und der Ausgang des dritten Multiplexers sind an den zweiten Ausgangsleiter 3D2O&sub2; der Datenbusleitung 3D2 in der ersten Austauschverbindung L1 bzw. an den zweiten Ausgangsleiter 3D4O&sub2; der Datenbusleitung 3D4 in der zweiten Austauschverbindung L2 angeschlossen.
  • - Die Eingänge 0 und 2 des zweiten Multiplexers empfangen das erste Transfersignal D12.
  • - Der Elementarspeicher erzeugt als Ausgangssignal ein zweites Transfersignal D23.
  • Der Fachmann kann leicht diese oben erwähnten Veränderungen transponieren, um die Anschlüsse der nachfolgenden Abfrageeinheiten zu definieren. So unterscheidet sich die n-te Abfrageeinheit von der ersten durch folgende Punkte:
  • - Der Eingang 0 und der Ausgang des ersten Multiplexers sind an den n-ten Eingangsleiter 3D4In der Datenbusleitung 3D4 in der zweiten Austauschverbindung L2 bzw. an den n-ten Eingangsleiter 3D2In der Datenbusleitung 3D2 in der ersten Austauschverbindung L1 angeschlossen.
  • - Der Eingang 0 und der Ausgang des dritten Multiplexers sind an den n-ten Ausgangsleiter 3D20n der Datenbusleitung 3D2 in der ersten Austauschverbindung L1 bzw. an den n- ten Ausgangsleiter 3D40n der Datenbusleitung 3D4 der zweiten Austauschverbindung L2 angeschlossen.
  • - Die Eingänge 0 und 2 des zweiten Multiplexers empfangen das (n-1)te Transfersignal D(n-1)n.
  • - Der Elementarspeicher erzeugt als Ausgangssignal das n-te Transfersignal D(n)(n+1) außer im Fall der achten Abfrageeinheit, in der dieses Ausgangssignal in die vierte Zirkulationsverbindung 3DE eingespeist wird.
  • So ergibt sich, daß der Ersatz eines Abfragemoduls vom in einer Richtung wirksamen Typ, wie z.B. des ersten Moduls 3A, durch einen Modul, den man als in beiden Richtungen wirksam qualifizieren kann, wie z.B. den vierten Modul 3D, das Schieberegister überhaupt nicht verändert, das die auf den Austauschverbindungen L1 und L2 übertragenen Signale speichern und modifizieren kann.
  • Es mag interessant sein, einen in zwei Richtungen wirksamen Bus in der ersten Austauschverbindung L1 zu definieren, während der entsprechende Bus in der zweiten Aus tauschverbindung in einer Richtung wirksam ist. Dies ist beispielsweise der Fall für die Befehlsbusleitungen 3B2, 3B4, wenn der Programmspeicher, in dem diese Befehle enthalten sind, ein überschreibbarer Speicher, insbesondere vom RAM-Typ ist. Es ist nämlich möglich, in diesem Fall den Inhalt dieses Speichers mit Hilfe der Testzelle 3 zu verändern.
  • Ein Beispiel für eine Abfrageeinheit entsprechend dieser Anwendung ist in Figur 6 gezeigt. Man geht davon aus, daß es sich um die erste Abfrageeinheit B1 des zweiten Abfragemoduls 3B handelt. Der Befehlsbus 3B4 der zweiten Austauschverbindung L2 ist in einer Richtung wirksam, während der Bus 3B2 der ersten Austauschverbindung L1 in beiden Richtungen wirksam ist. Die oben verwendeten Begriffe werden hier wieder verwendet. Diese Abfrageeinheit B1 enthält einen ersten Multiplexer M11, dessen Eingang 0 an einen Eingangskanal dieser Einheit angeschlossen ist, nämlich den ersten Ausgangsleiter 3B20&sub1; der Befehlsbusleitung 3B2 in der ersten Austauschverbindung, dessen Eingang 1 an den Ausgang einer Speicherschaltung R1 gleich den oben beschriebenen Speicherschaltungen angeschlossen ist, dessen Steuereingang das erste Selektionssignal 35 empfängt und dessen Ausgang mit dem ersten Leiter 3B4&sub1; der Befehlsbusleitung 3B4 in der zweiten Austauschverbindung L2 verbunden ist, die ein Ausgangskanal dieser Einheit ist. Die Einheit enthält einen zweiten Multiplexer M21, dessen Eingang 0 an die erste Zirkulationsverbindung 3AB und dessen Eingang 1 an den Eingang 0 des ersten Multiplexers M11 angeschlossen ist, während der Steuereingang das zweite Selektionssignal 38 empfängt und der Ausgang an den Dateneingang eines Elementarspeichers DFF1 gleich den oben beschriebenen Elementarspeichern angeschlossen ist. Der Elementarspeicher DFF1 empfängt an seinem Synchronisationseingang das Synchronisationssignal 34 und erzeugt am Ausgang ein erstes Transfersignal B12. Die Speicherschaltung R1 empfängt an ihrem Dateneingang dieses erste Transfersignal B12, an ihrem Synchronisationseingang das Auslösesignal 37 und ist mit ihrem Ausgang an den ersten Eingangsleiter 3B2I&sub1; der Befehlsbusleitung 3B2 in der ersten Austauschverbindung L1 angeschlossen, die ein Hilfskanal für diese Einheit ist.
  • Der Betrieb dieser Abfrageeinheit B1 wird nicht im einzelnen beschrieben, da er sich ohne weiteres aus dem der beiden oben erläuterten Einheiten ergibt.
  • Außerdem sind die obigen Bemerkungen hinsichtlich der Speicherschaltung R1 auch hier anwendbar. Ohne den Rahmen der Erfindung zu verlassen, kann man auf diese Schaltung verzichten und dafür unmittelbar den Eingang 1 des ersten Multiplexers M11 und den Eingangsleiter 3B2I&sub1; der Befehlsbusleitung 3B2 in der ersten Austauschverbindung L1 mit dem Ausgang des Elementarspeichers DFF1 verbinden.
  • Die verschiedenen erforderlichen Anschlüsse für eine komplette Realisierung der Testzelle werden hier nicht erläutert, da der Fachmann ohne weiteres aufgrund der obigen Erläuterungen hinsichtlich der anderen Typen von Abfragemoduln diese definieren kann.
  • So ist eine Testzelle 3 definiert, die die verschiedenen auf den Austauschverbindungen L1 und L2 verlaufenden Signale mit Hilfe eines Schieberegisters registrieren und verändern kann, wobei der Umlauf der in diesem Register gespeicherten Informationen im Einklang mit dem Austausch von Signalen zwischen der Standardzelle 4 und der Anwendungszelle 2 erfolgen kann.
  • Es sei außerdem bemerkt, daß man überprüfen kann, ob die vom Ersatzsignal 39 gelieferten Informationen durch die verschiedenen Abfragemoduln nicht verändert wurden, indem man sie auf der Beobachtungsverbindung 32 im Verlauf ihres Wegs durch das Schieberegister analysiert.
  • Gemäß einem zusätzlichen Merkmal kann die integrierte Schaltung 1 auch den Betrieb der Standardzelle 4 ändern, falls es sich um ein programmierbares Organ wie einen Mikroprozessor handelt. Diese Unterbrechung erfordert die Lieferung einer Haltebedingung und einer Halteadresse an die Standardzelle 4, was nachfolgend erläutert wird.
  • Die beiden Informationen werden von Steuerregistern erzeugt, wie dies aus Figur 7 hervorgeht.
  • Die Testzelle 3 enthält hier die folgenden zusätzlichen Elemente:
  • - ein Haltebedingungsregister 3G, das eingangsseitig das Ersatzsignal 39 empfängt und ausgangsseitig an eine Übertragungsverbindung 3GH angeschlossen ist;
  • - ein Halteadressenregister 3H, dessen Eingang an diese Übertragungsverbindung 3GH und dessen Ausgang an eine Überwachungsverbindung 30 angeschlossen ist;
  • - einen Taktumschalter 3I, der das Synchronisationssignal 34 entweder an die verschiedenen Abfragemoduln 3A bis 3F oder an die beiden Register 3G, 3H anlegt, je nachdem, ob ein Schaltsignal 33, das auf der Testverbindung 31 übertragen wird, sich in einem ersten oder zweiten Zustand befindet,
  • - einen Ausgangsmultiplexer 3J, der ein Zertifikationssignal 302 mit dem Wert seines an die Beobachtungsverbindung 32 angeschlossenen Eingangs oder mit dem Wert seines an die Überwachungsverbindung 30 angeschlossenen Eingangs erzeugt, je nachdem, ob das Schaltsignal 33 sich in seinem ersten oder seinem zweiten Zustand befindet.
  • In diesem Fall ist natürlich das Zertifikationssignal 302 außerhalb der integrierten Schaltung 1 und nicht die Beobachtungsverbindung 32 verfügbar. Wenn also das Schaltsignal 33 sich in seinem ersten Zustand befindet, reduziert sich die Testzelle auf die oben beschriebene, während im zweiten Zustand des Schaltsignais die Testzelle durch die Gruppe der beiden Register 3G und 3H gebildet wird.
  • Die beiden Register 3G und 3H sind in einer besonders einfachen Ausführungsform in Figur 8 dargestellt. Das Register für die Haltebedingung 3G besteht aus einer Gruppe von acht Elementarspeichern ME1 bis ME8 der gleichen Art wie oben beschrieben. Die Ausgänge dieser Speicher sind je an einen Leiter einer Haltebedingungsbusleitung 3G4 angeschlossen, die mit der Standardzelle 4 verbunden ist. Der Dateneingang des ersten Elementarspeichers ME1 empfängt das Ersatzsignal 39, während der Dateneingang jedes der weiteren Elementarspeicher an den Ausgang des vorhergehenden Elementarspeichers angeschlossen ist. Die Synchronisationseingänge dieser Elementarspeicher empfangen alle das Synchronisationssignal 34.
  • Das Halteadressenregister 3H hat die gleiche Struktur wie das vorher erwähnte Register. Die Ausgänge dieser Elementarspeicher ME9 bis ME16 sind je an einen Leiter einer Halteadressenbusleitung 3H4 angeschlossen, die mit der Standardzelle 4 verbunden ist. Der Eingang des ersten Elementarspeichers ME9 ist an den Ausgang des achten Elementarspeichers ME8 des Haltebedingungsregisters 3G über die Übertragungsverbindung 3GH angeschlossen. Der Ausgang des achten Elementarspeichers ME16 dieses Registers ist mit der Überwachungsverbindung 30 verbunden. Die Synchronisations eingänge aller dieser Elementarspeicher empfangen auch das Synchronisationssignal 34.
  • Der Haltebedingungsbus 3G4 und der Halteadressenbus 3H4 sind Steuerbusleitungen.
  • Die Folge der Elementarspeicher dieser beiden Regi ster definiert ein zweites Schieberegister der gleichen Art, wie es von den Abfragemoduln gebildet wird. Es arbeitet genauso und mit den gleichen Steuerungen abwechselnd mit diesem, je nach dem Zustand des Schaltsignals 33. Dieses zweite Register kann Informationen an die Standardzelle 4 übermitteln, die in Figur 9 gezeigt ist. Man erkennt weiter, daß man überprüfen kann, ob die vom Ersatzsignal 39 gelieferten Informationen nicht durch die Register verändert wurden, indem diese Informationen auf der Überwachungsverbindung 30 bei ihrem Durchlauf durch das zweite Schieberegi ster analysiert werden.
  • Diese Standardzelle 4 besteht aus einem Operationsmodul 4A und einem Befehlsmodul 4B mit einer Folgeschaltung und einem Befehlsdekoder, wobei diese Struktur unter dem Namen "Harvard" bekannt ist.
  • Der Befehlsmodul 4B empfängt über den Befehlsbus 3B4 einen Befehl vom Programmspeicher, der an der auf dem Befehlsadressenbus 3A4 erzeugten Adresse liegt. Außerdem ist dieser Modul an den Kontrolleingangsbus 3C4 angeschlossen. Die Folgeschaltung arbeitet synchron mit dem Taktsignal Ck. Mit Hilfe der Datenadressenbusleitung 3F4 und der Datenkontrollbusleitung 3E4 ermöglicht diese Folgeschaltung einen Datenaustausch zwischen einem Datenspeicher, der sich in der Anwendungszelle 2 befindet, und dem Operationsmodul 4A über den Datenbus 3D4. Der Befehlsdekoder bildet in jedem Zyklus ein Steuersignal 4BA des Operationsmoduls, der seinerseits ein Situationssignal 4AB an die Folgeschaltung sendet.
  • Die Veränderungen, denen die Standardzelle 4 unterworfen wurde, werden nun anhand von Figur 10 erläutert. Der Operationsmodul 4A dieser Zelle gleicht denen in bekannten Vorrichtungen, was ein Vorteil für die Erfindung ist.
  • Der Befehlsmodul 4B, der an sich auch bekannt ist, hat Zugang zum Befehlsadressenbus 3A4, zum Befehlsbus 3B4, zum Kontrolleingangsbus 3C4, zum Kontrollausgangsbus 3E4 und zum Datenadressenbus 3F4 und besitzt einen Unterbrechungs zugang, mit dem sein Betrieb angehalten werden kann. Im Rahmen der Erfindung ist dieser Modul außerdem in der Lage, ein Zustandssignal 4BD zu liefern, das eine Information über den Zustand der Folgeschaltung bietet, sowie ein Fortschrittszustandssignal 43, das angibt, wie weit der gerade ausgeführte Befehl schon fortgeschritten ist. Diese Information ist besonders nützlich, wenn der Befehl mehrere Zyklen der Folgeschaltung benötigt, was beispielsweise bei Datentransfers der Fall ist, wenn diese Daten in mehreren Etappen auf den Datenbus gebracht werden. Der Modul kann auch ein Betriebsmodulsignal 4CBF empfangen, das seinen Betrieb bestimmt. Diese Operation ergibt sich ohne weiteres bei der Spezifizierung der Folgeschaltung und stellt den Fachmann daher nicht vor besondere Probleme. Daher wird der Betrieb dieses Moduls in Bezug auf dieses Betriebsmodussignal 4CBF analysiert, nachdem die anderen Elemente der Standardzelle 4 erläutert worden sind.
  • Diese Standardzelle 4 enthält einen Dekodiermodul 4C, der ein Signal 42 über den Betriebstyp von außerhalb der integrierten Schaltung 1 über z.B. vier Drähte empfängt und es in das Betriebsmodussignal 4CBF umwandelt, damit dieses sich in dem für den Befehlsmodul 4B richtigen Format befindet. Dieser Dekodiermodul ist eine einfache Schnittstelle.
  • Die Standardzelle 4 enthält auch einen Vergleichsmodul 4F, der den Vergleich zwischen aus dem Befehlsmodul 4B kommenden Signalen und den vom Haltebedingungsregister 3G und dem Halteadressenregister 3H kommenden Signalen durchführt und ein Koinzidenzsignal 41 im Fall der Gleichheit für bestimmte der Zustände des Betriebsmodussignals 4CBF erzeugt. Dieses Koinzidenzsignal 41 gelangt an den Unterbrechungszugang des Befehlsmoduls 4B. In dem die Erfindung nicht einschränkenden Ausführungsbeispiel enthält dieser Vergleichsmodul einen ersten Komparator 4D, der das Zustandssignal 4BD empfängt und es mit dem Zustand der Haltebedingungsbusleitung 3G4 vergleicht, und einen zweiten Komparator 4E, der den Vergleich der auf dem Befehisadressenbus 3A4 und auf dem Halteadressenbus 3H4 vorliegenden Signale durchführt.
  • Das Betriebsmodussignal 4CBF kann unterschiedliche Zustände annehmen, von denen die nachfolgend erläuterten einen bestimmten Betrieb der Standardzelle 4 ergeben:
  • - erster Zustand: Normalbetrieb. Die Standardzelle wird dabei zu einer bekannten Zelle und ihr Betrieb wird nicht verändert.
  • - zweiter Zustand: Transfer der auf dem Haltebedingungsbus 3G4 und dem Halteadressenbus 3H4 vorhandenen Daten auf den Vergleichsmodul 4F.
  • - dritter Zustand: Erzeugung des Koinzidenzsignals 41, wenn die beiden Komparatoren 4D und 4E eine Identität festgestellt haben.
  • - vierter Zustand: Erzeugung des Koinzidenzsignals 41 unter den gleichen Bedingungen und Unterbrechung des Betriebs des Befehlsmoduls 4B.
  • - fünfter Zustand: Unterbrechung des Betriebs des Befehlsmoduls 4B mit dem nächsten Befehl nach dem Auftreten dieses Zustands.
  • - sechster Zustand: Betrieb Schritt für Schritt und Unterbrechung des Betriebs des Befehlsmoduls 4B nach der Ausführung jedes Befehls.
  • - siebter Zustand: Ausführung des auf dem Befehlsbus 3B4 vorliegenden Befehls und Unterbrechung des Betriebs des Befehlsmoduls 4B.
  • - achter Zustand: Rückkehr zum Betrieb des Befehlsmoduls 4B nach einer durch einen anderen Zustand erzeugten Unterbrechung.
  • Gemäß einem möglichen Merkmal erzeugt der vergleichsmodul 4F nicht das Koinzidenzsignal 41, wenn das Auslösesignal 37 vorliegt, sofern das Betriebsmodussignal sich in einem der Zustände 4 bis 7 befindet, was dazu führt, daß eine Unterbrechung des Befehlsmoduls 4B verhindert wird. Die oben dargelegten Veränderungen der Standardzelle geben aufgrund des Fortschrittszustandssignals 43 und des Koinzidenzsignals 41 der Test- und Emulationseinrichtung die Möglichkeit, auf die Testzelle 3 abhängig vom Zustand der Signale einzuwirken, zu denen der Befehlsmodul 4B Zugang hat. Diese Einrichtung kann insbesondere die verschiedenen Signale erzeugen, die auf der Testverbindung 31 übertragen werden, wie die drei Selektionssignale 35, 36 und 38 und das Auslösesignal 37 abhängig vom Koinzidenzsignal 41. Da das Koinzidenzsignal zu Beginn der Ausführung eines Befehls erzeugt wird, kann die Test- und Emulationseinrichtung die Speicherung der auf den verschiedenen die Standardzelle 4 mit der Anwendungszelle 2 verbindenden Busleitungen vorliegenden Signale während dieses Befehls oder an dessen Ende auslösen und die Unterbrechung des Betriebs der Standardzelle am Ende dieses Befehis hervorrufen.
  • So ist es möglich, wenn das im Programmspeicher gespeicherte Programm einen nicht normalen Betrieb ergibt und den vorgesehenen Haltepunkt nicht erreicht, die Ausführung dieses Programms durch Erzeugung des Betriebsmodus signals 4CBF in seinem fünften Zustand zu unterbrechen. Der Zustand der verschiedenen Busleitungen und insbesondere derjenige der Befehlsadressenbusleitung 3A4 ist dann zugänglich, was nicht möglich ist, wenn man nach dem Stand der Technik eine Nullsetzung des Bauelements vornimmt.
  • Es ist auch möglich, in der Testzelle 3 den Zustand aller Busleitungen zwischen der Standardzelle 4 und der Anwendungszelle 2 ohne Veränderung des Betriebs des Befehlsmoduls 4B abhängig vom Koinzidenzsignal 41 zu speichern.
  • Die Erfindung ist natürlich auf eine beliebige Anzahl von Steuerregistern und Steuerbusleitungen anwendbar, wenn der Vergleichsmodul 4F entsprechend ausgebildet ist.
  • Der Programmspeicher der Standardzelle 4 ist üblicherweise ein nicht mehrfach beschreibbarer Speicher, z.B. vom Typ ROM. In diesem Fall ist es nicht möglich, einen Programmfehler zu korrigieren. In einer Ausführungsvariante der integrierten Schaltung kann man diesen Speicher um einen beschreibbaren Ersatzspeicher, z.B. vom Typ RAM ergänzen, um einen eventuellen Fehler zu korrigieren. Die Ersatzmittel, die eine Reihe von Befehlen aus dem Programmspeicher durch eine Reihe von Befehlen im Ersatzspeicher ersetzen, gehen aus Figur 11 hervor.
  • Sie enthalten eine Umleitungsschaltung 4H, die ein Umleitungssignal 4HG für einen neunten Zustand des Betriebsmodussignals 4CBF erzeugt, wenn das Koinzidenzsignal 41 vorliegt. Weiter enthalten sie einen Umleitungsmultiplexer 4G, der auf einem zusätzlichen Befehlsbus 4GB, der anstelle der Befehlsbusleitung 3B4 an den Befehlsmodul 4B angeschlossen ist, einen Abzweigungsbefehl 4G1 erzeugt, wenn das Umleitungssignal 4HG vorliegt, und der den Befehlsbus 3B4 direkt an den zusätzlichen Befehisbus 4GB im gegenteiligen Fall anschließt. In dem dargestellten Ausführungsbeispiel, das die Erfindung nicht einschränkt, ist der Verzweigungsbefehl 4G1 ein absoluter Verzweigungsbefehl, der von einer verdrahteten Schaltung kommt.
  • Der Ersatzspeicher, der in der Figur nicht zu sehen ist, kann in einer ersten Konfiguration durch den Befehlsadressenbus 3A4 über eine Dekodierschaltung erreicht werden, die die Befehlsadresse entweder zum Programmspeicher oder zu diesem Ersatzspeicher lenkt, je nach dem Format der Adresse. Diese technischen Mittel, die dem Fachmann vertraut sind, werden hier nicht näher erläutert. Das Schreiben und das Lesen kann dann mit Hilfe des zweiten Abfragemoduls bei B der Testzelle 3 erfolgen. In einer zweiten Konfiguration kann dieser Ersatzspeicher unmittelbar über den Befehlsmodul 4B in Schreib- und Leserichtung für einen zehnten und einen elften Zustand des Betriebsmodussignals 4B zugreifen. In allen Fällen ist der letzte ausführbare Befehl des Speichers ein Rücksprung zum Programmspeicher.
  • Es ist klar, daß man unter Verwendung ähnlicher Mittel wie die oben dargestellten und der Kenntnisse des Fachmanns auch eine Umleitungsvorrichtung realisieren kann, die mehrere Fehler im Programmspeicher korrigiert, ohne den Rahmen der Erfindung zu verlassen.
  • Beschränkt sich der Fehler im Programmspeicher auf einen einzigen Befehl, dann kann dieser Fehler einfacher korrigiert werden, wie dies aus Figur 12 hervorgeht. In diesem Fall ist der zweite Abfragemodul 3B folgendermaßen zu einem Hilfsmodul 3Ba verändert. Der erste Multiplexer jeder Abfrageeinheit B1 bis B8 dieses Moduls wird nicht vom ersten Selektionssignal 35, sondern von einem Signal gesteuert, das die logische Summe dieses ersten Selektionssignals und des Umleitungssignals 4HG ist, wobei diese Summe beispielsweise durch einen logischen ODER-Operator erzielt wird.
  • Außerdem entfällt der Umleitungsmultiplexer 4G, da der Befehlsbus 3B4 und der zusätzliche Befehlsbus 4GB unmittelbar verbunden sind.
  • So ist es möglich, einen fehlerhaften Befehl durch die am Ausgang der Elementarspeicher dieses Hilfsabfragemo duls 3Ba vorhandene Information zu ersetzen.
  • Die Erfindung wurde in Verbindung mit einer integrierten Schaltung erläutert, die fünf in einer Richtung wirksame Busleitungen mit acht Leitern und einen in zwei Richtungen wirksamen Bus mit sechzehn Leitern enthält, die die Standardzelle 4 und die Anwendungszelle 2 miteinander verbinden. Die Erfindung ist nicht auf diesen besonderen Fall begrenzt. Wenn man eine elementare Verbindung zwischen diesen beiden Zellen als Nachrichtenverbindung definiert, d.h. einen Leiter einer in einer Richtung wirksamen Busleitung oder ein Paar von Leitern in einer in beiden Richtungen wirksamen Busleitung, dann ist die Erfindung unabhängig von der Anzahl dieser Nachrichtenverbindungen und unabhängig von der Art, wie sie aufgebaut sind, durchführbar.
  • Selbstverständlich betrifft die Erfindung auch den Fall von integrierten Schaltungen mit mehreren Standardzellen und/oder mehreren Anwendungszellen, so daß diese Begriffe ganz allgemein zu verstehen sind.

Claims (8)

1. Integrierte Schaltung (1) mit einer Standardzelle (4), einer Anwendungszelle (2) und einer Testzelle (3), insbesondere um den Wert von Nachrichtensignalen, die zwischen der Standardzelle und der Anwendungszelle übertragen werden, zu registrieren oder von außerhalb der integrierten Schaltung zu verändern, wobei die Standardzelle Befehle ausführt, die auf einem Befehlsbus (3B4) von einem in der Anwendungszelle liegenden Programmspeicher aufgrund einer Befehlsadresse geliefert werden, die über einen Befehlsadressenbus (3A4) übermittelt wird, wobei die Leiter dieser Busleitungen die Nachrichtenverbindungen bilden, dadurch gekennzeichnet, daß die Testzelle Ableitungsmittel aufweist, um mindestens einen fehlerhaften Befehl im Programmspeicher durch einen Ersatzbefehl zu ersetzen, der vorher in der integrierten Schaltung aufgrund eines bestimmten Zustands zumindest einiger der Nachrichtenverbindungen gespeichert wurde.
2. Integrierte Schaltung mit einer Standardzelle, einer Anwendungszelle und einer Testzelle nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Testzelle (3) für jede der Nachrichtenverbindungen eine Abfrageeinheit mit einem Elementarspeicher (DFF) enthält, die zumindest in gewissen Augenblicken an diese Verbindungen angeschlossen ist, daß die Elementarspeicher miteinander verbunden ein Schieberegister bilden, daß die Testzelle (3) weiter ein zweites Schieberegister mit mindestens einem ersten Steuerregister (3H) aufweist, dessen Ausgänge je an einen Leiter einer ersten Steuerbusleitung (3H4) angeschlossen sind, und daß die integrierte Schaltung einen Vergleichsmodul (4F) aufweist, an den einerseits der Steuerbus und andererseits zumindest einige der Nachrichtenverbindungen angeschlossen sind, um ein Koinzidenzsignal (41) im Fall der Identität der dem Modul gelieferten Signale zu erzeugen.
3. Integrierte Schaltung mit einer Standardzelle, einer Anwendungszelle und einer Testzelle nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Standardzelle (4) von einem Betriebsmodussignal (4CBF) gesteuert wird und eine Umleitungsschaltung (4H) enthält, die ein Umleitungssignal (4HG) für einen bestimmten Zustand des Betriebsmodussignals erzeugt, wenn das Koinzidenzsignal (41) vorliegt.
4. Integrierte Schaltung mit einer Standardzelle, einer Anwendungszelle und einer Testzelle nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Ableitungsmittel einen Ersatzspeicher, dessen letzter ausführbarer Befehl eine Rückkehr zum Programmspeicher ist, und einen Umleitungsmultiplexer (4G) enthält, dessen Ausgang anstelle der Befehlsbusleitung (3B4) in der Standardzelle (4) angeschlossen ist, dessen erster Eingang, der vom Umleitungssignal (4HG) ausgewählt wird, einen Abzweigungsbefehl (4GI) in Richtung zum Ersatzspeicher empfängt und dessen zweiter Eingang, der bei Abwesenheit des Umleitungssignals (4HG) ausgewählt wird, mit dem Befehlsbus (3B4) verbunden ist.
5. Integrierte Schaltung mit einer Standardzelle, einer Anwendungszelle und einer Testzelle nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Befehlsadressenbus (3A4) über eine Dekodierschaltung Zugang zum Ersatzspeicher hat, wobei das Lesen und das Schreiben über die dem Befehlsbus (3B2, 3B4) zugeordneten Abfrageeinheiten (B1) des ersten Schieberegisters erfolgen.
6. Integrierte Schaltung mit einer Standardzelle, einer Anwendungszelle und einer Testzelle nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Standardzelle (4) unmittelbar zum Ersatzspeicher Zugang hat, wobei das Lesen und das Schreiben durch zwei neue Zustände des Betriebsmodussignals (4CBF) gesteuert werden.
7. Integrierte Schaltung mit einer Standardzelle, einer Anwendungszelle und einer Testzelle nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Abfrageeinheiten (B1), die dem Befehlsbus (3B4) zugeordnet sind, dessen Nachrichtenverbindungen je aus einem Eingangskanal (3B2O&sub1;) und einem Ausgangskanal (3B4&sub1;) bestehen, je einen ersten Multiplexer (M11), dessen erster Eingang an den Eingangskanal (3B2O&sub1;), dessen Ausgang an den Ausgangskanal (3B4) angeschlossen ist und dessen Steuereingang das Umleitungssignal (4HG) empfängt, und einen zweiten Multiplexer (M21) enthalten, dessen zweiter Eingang an den Eingangskanal (3B2O&sub1;) und dessen Ausgang an den Eingang eines Elementarspeichers (DFF1) angeschlossen ist, wobei dieser Elementarspeicher mit seinem Ausgang an den zweiten Eingang des ersten Multiplexers (M11) angeschlossen ist und das erste Schieberegister die Folge der je an den ersten Eingang des zweiten Multiplexers der nächstfolgenden Abfrageeinheit angeschlossenen Elementarspeicher enthält, wobei die Ausgangssignale der Elementarspeicher, die vorher mit Hilfe des ersten Schieberegisters geladen wurden, den Ersatzbefehl bilden und den fehlerhaften Befehl ersetzen, wenn das Umleitungssignal auftritt.
8. Integrierte Schaltung mit einer Standardzelle, einer Anwendungszelle und einer Testzelle nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Abfrageeinheit (B1) außerdem eine Speicherschaltung (R1) enthält, deren Dateneingang an den Ausgang des Elementarspeichers (DFF1) angeschlossen ist und deren Synchronisationseingang ein Auslösesignal (37) empfängt, während der zweite Eingang des ersten Multiplexers (M11) nicht mehr an den Ausgang des Elementarspeichers (DFF1), sondern an den Ausgang der Speicherschaltung (R1) angeschlossen ist.
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