DE69033893D1 - Verfahren zur Analyse des Betriebes eines Halbleiterbausteins, Verfahren zur Analyse eines spezifischen physischen Phänomenes und Gerät zur Durchführung dieser Verfahren - Google Patents

Verfahren zur Analyse des Betriebes eines Halbleiterbausteins, Verfahren zur Analyse eines spezifischen physischen Phänomenes und Gerät zur Durchführung dieser Verfahren

Info

Publication number
DE69033893D1
DE69033893D1 DE69033893T DE69033893T DE69033893D1 DE 69033893 D1 DE69033893 D1 DE 69033893D1 DE 69033893 T DE69033893 T DE 69033893T DE 69033893 T DE69033893 T DE 69033893T DE 69033893 D1 DE69033893 D1 DE 69033893D1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
analyzing
carrying
methods
specific physical
physical phenomenon
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE69033893T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69033893T2 (de
Inventor
Mamoru Kurata
Shin Nakamura
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP1331109A external-priority patent/JP3001917B2/ja
Priority claimed from JP4948490A external-priority patent/JPH03253056A/ja
Priority claimed from JP18775290A external-priority patent/JPH0473941A/ja
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Application granted granted Critical
Publication of DE69033893D1 publication Critical patent/DE69033893D1/de
Publication of DE69033893T2 publication Critical patent/DE69033893T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
    • G06F30/20—Design optimisation, verification or simulation
    • G06F30/23—Design optimisation, verification or simulation using finite element methods [FEM] or finite difference methods [FDM]
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2111/00—Details relating to CAD techniques
    • G06F2111/10—Numerical modelling

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Evolutionary Computation (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Complex Calculations (AREA)
DE69033893T 1989-09-29 1990-09-28 Verfahren zur Analyse des Betriebes eines Halbleiterbausteins, Verfahren zur Analyse eines spezifischen physischen Phänomenes und Gerät zur Durchführung dieser Verfahren Expired - Fee Related DE69033893T2 (de)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25218989 1989-09-29
JP1331109A JP3001917B2 (ja) 1989-09-29 1989-12-22 半導体デバイスの動作解析法およびそのために使用する装置
JP4948490A JPH03253056A (ja) 1990-03-02 1990-03-02 半導体デバイスの動作解析法、所定の物理現象の解析法およびそのために使用する装置
JP18775290A JPH0473941A (ja) 1990-07-16 1990-07-16 半導体デバイスの動作解析法およびそのために使用する装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69033893D1 true DE69033893D1 (de) 2002-02-14
DE69033893T2 DE69033893T2 (de) 2002-09-12

Family

ID=27462359

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69033893T Expired - Fee Related DE69033893T2 (de) 1989-09-29 1990-09-28 Verfahren zur Analyse des Betriebes eines Halbleiterbausteins, Verfahren zur Analyse eines spezifischen physischen Phänomenes und Gerät zur Durchführung dieser Verfahren

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6041424A (de)
EP (1) EP0421684B1 (de)
DE (1) DE69033893T2 (de)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100265525B1 (ko) * 1994-09-09 2000-09-15 가네꼬 히사시 반도체 디바이스 시뮬레이션의 초기 포텐셜 값 추정 방법
JP4743944B2 (ja) * 2000-08-25 2011-08-10 鎮男 角田 シミュレーションモデル作成方法及びそのシステムと記憶媒体
FI20055347A0 (fi) * 2005-06-23 2005-06-23 Nokia Corp Menetelmä kohinan ja häiriön kovarianssimatriisin estimoimiseksi, vastaanotin ja radiojärjestelmä
JP7447368B2 (ja) * 2018-11-15 2024-03-12 浩志 渡辺 電子デバイスのシミュレーション方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2578668B1 (fr) * 1985-03-08 1989-06-02 Hennion Bernard Systeme de simulation d'un circuit electronique
US4734879A (en) * 1985-09-24 1988-03-29 Lin Hung C Analog computing method of solving a second order differential equation
JP2695160B2 (ja) * 1987-04-30 1997-12-24 株式会社日立製作所 任意形状抵抗体の端子間抵抗計算方法
US4918643A (en) * 1988-06-21 1990-04-17 At&T Bell Laboratories Method and apparatus for substantially improving the throughput of circuit simulators

Also Published As

Publication number Publication date
EP0421684B1 (de) 2002-01-09
EP0421684A3 (en) 1993-09-22
DE69033893T2 (de) 2002-09-12
US6041424A (en) 2000-03-21
EP0421684A2 (de) 1991-04-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69021659D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur reihenweisen Parallelprogrammfehlersuche.
DE69030647D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Untersuchung eines Halbleiters
ATA163290A (de) Vorrichtung zur wiederholten automatischen durchführung eines thermischen zyklusses zur behandlung von proben
DE69013203T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Überbringen von Plättchen.
DE69004453T2 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Einziehen von Dosenrümpfen.
DE69018838T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Oberflächenanalyse.
DE69017950T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Sichtbarmachung der Blutströmung.
DE69028180T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum kontinuierlichen Ätzen
DE58906917D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Leckprüfung.
DE416894T1 (de) Verfahren und vorrichtung zum verschluesseln und entschluesseln von zeitgebietssignalen.
DE69002726T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Granulieren und Überziehen.
DE59002138D1 (de) Verfahren zur stroemungsmessung und vorrichtung hierzu.
DE69016818T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Aufwickeln.
DE69023079D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Gebrauch bei der Analyse von Flüssigkeitseinschlüssen.
DE3776222D1 (de) Verfahren und vorrichtung zum nachweis eines gegebenen teilchenmaterials.
DE69002045D1 (de) Verfahren und vorrichtung zum dekantieren von suspensionen.
DE59001618D1 (de) Verfahren und vorrichtung zum orten von unterseeboote.
DE69007363T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Löten von Gegenständen.
DE69033893T2 (de) Verfahren zur Analyse des Betriebes eines Halbleiterbausteins, Verfahren zur Analyse eines spezifischen physischen Phänomenes und Gerät zur Durchführung dieser Verfahren
ATA37990A (de) Vorrichtung und verfahren zum schlingen von brezeln
DE69009744D1 (de) Sonden, ausrüstungen und verfahren zum nachweis und zur differenzierung von mycobakterien.
DE3780686T2 (de) Verfahren und vorrichtung zum desodorisieren von luft.
DE3863525D1 (de) Verfahren und vorrichtung zum verpacken eines gegenstandes.
DE59000016D1 (de) Verfahren und vorrichtung zum kuehlen von partialoxidationsgas.
DE69217703T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Analysieren von Probenlösungen

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee