DE69018518T2 - Einrichtung zur Verarbeitung eines durch einen Elektronenvervielfacher empfangenen Signals. - Google Patents
Einrichtung zur Verarbeitung eines durch einen Elektronenvervielfacher empfangenen Signals.Info
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- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims abstract description 13
- 239000001307 helium Substances 0.000 claims abstract description 14
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 14
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 claims abstract description 5
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 4
- 238000003672 processing method Methods 0.000 claims description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 6
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 4
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 4
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- -1 helium ions Chemical class 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012886 linear function Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/022—Circuit arrangements, e.g. for generating deviation currents or voltages ; Components associated with high voltage supply
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/28—Measuring radiation intensity with secondary-emission detectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J43/00—Secondary-emission tubes; Electron-multiplier tubes
- H01J43/04—Electron multipliers
- H01J43/06—Electrode arrangements
- H01J43/18—Electrode arrangements using essentially more than one dynode
- H01J43/24—Dynodes having potential gradient along their surfaces
- H01J43/246—Microchannel plates [MCP]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J43/00—Secondary-emission tubes; Electron-multiplier tubes
- H01J43/04—Electron multipliers
- H01J43/30—Circuit arrangements not adapted to a particular application of the tube and not otherwise provided for
Landscapes
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Measurement Of Velocity Or Position Using Acoustic Or Ultrasonic Waves (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Control Of Amplification And Gain Control (AREA)
Description
- Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Verarbeitung eines von einem Elektronenvervielfacher empfangenen Signals.
- Die Elektronenvervielfacher sind Bauteile mit einer Verstärkungsfunktion. Ihr Verstärkungsgrad ist im allgemeinen sehr erheblich und kann bis zu 10&sup4; oder 10&sup5; reichen. Sie werden in verschiedenen Anwendungen eingesetzt, wo sehr schwache Signale behandelt werden sollen. Unter anderen seien hier die Messung der Lichtenergie (Photovervielfacher) im sichtbaren oder nicht sichtbaren Frequenzbereich, die Bildverstärker, die Messung von Nuklearstrahlung (Ionisationskammern), die Massenspektrometrie und insbesondere die Helium-Lecksuche genannt.
- Bei diesen Anwendungen weisen die zu verarbeitenden Signale in manchen Fällen eine Dynamik in der Größenordnung von 10&sup8; auf. Es ist also notwendig, eine Meßkette zu verwenden, die den Elektronenvervielfacher und einen Signalverstärker- Kompressor enthält. Dieses Element kann die Ausgangsdynamik nicht alleine hinreichend verringern. Es ist also notwendig, auf den Verstärkungsgrad des Elektronenvervielfachers einzuwirken, um eine zusätzliche Kompression zu erreichen. Dies erfolgt durch Einwirkung auf dessen Speisespannung. In bekannten Vorrichtungen wird der Verstärkungsgrad der Meßkette, insbesondere durch Einwirkung auf die Speisespannung diskontiuierlich gesteuert, d.h. entweder von Hand durch Verwendung eines Umschalters, oder in moderneren Systemen durch elektronische automatische Umschaltung oder mit Hilfe von Vielfach- Meßketten. Diese diskontinuierliche Steuerung der Übertragungsfunktion erzeugt unerwünschte Effekte, wie z.B. erhebliche Verzögerungszeiten oder Instabilitäten, wenn das Signal an der Grenze zweier Verstärkungsbereiche liegt, oder unkorrekte Kennlinienanschlüsse.
- Ziel der vorliegende Erfindung ist also eine verbesserte Vorrichtung zur Verarbeitung des von einem Elektronenvervielfacher empfangenen Signals, die diese Nachteile behebt.
- Gegenstand der Erfindung ist also eine Vorrichtung zur Verarbeitung des von einem Elektronenvervielfacher empfangenen Signals, die eine kontinuierliche Messung dieses Signals in einem großen Dynamikbereich unter Verwendung nur einer Verarbeitungsmethode erlaubt, wobei der Elektronenvervielfacher einen abhängig von der Speisespannung exponential variablen Verstärkungsgrad besitzt und das Eingangssignal empfängt, wobei die Vorrichtung eine Hochspannungsspeisung für den Vervielfacher enthält, die von einem linearen Verstärker mit negativer Kennlinie gesteuert wird, wobei die Parameter des Verstärkungsgrads und der Bezugsgröße den Meßbereich definieren, wobei der lineare Verstärker eingangsseitig das Ausgangssignal eines logarithmischen Kompressorverstärkers empfängt, der auf den linearen Verstärker einwirkt und so den Verstärkungsgrad des Elektronenvervielfachers kontinuierlich über den ganzen Meßdynamikbereich abhängig vom in einem Elektronenkollektor empfangenen Ausgangssignal des Elektronenvervielfachers variiert, wobei der Ausgang des logarithmischen Verstärkers das Ausgangssignal der Vorrichtung bildet.
- In einer Ausführungsform der Erfindung besteht der Elektronenvervielfacher aus einer Scheibe mit Mikrokanälen.
- Die Erfindung läßt sich insbesondere in der Massenspektrometrie und dort besonders bei der Heliumlecksuche anwenden.
- Die verschiedenen Gegenstände und Merkmale der Erfindung gehen aus der nachfolgenden Beschreibung eines nicht beschränkend zu verstehenden Ausführungsbeispiels anhand der beiliegenden Figuren hervor.
- Figur 1 zeigt einen bekannten Elektronenvervielfacher vom Scheibentyp mit Mikrokanälen.
- Figur 2 zeigt einen Teilschnitt durch die in Figur 1 gezeigte Scheibe mit Mikrokanälen.
- Figur 3 zeigt ein Diagramm der erfindungsgemäßen Signalverarbeitungsvorrichtung.
- Die in verschiedenen Figuren dargestellten Elemente tragen gleiche Bezugszeichen.
- Die Scheibe 1 mit Mikrokanälen gemäß den Figuren 1 und 2 wandelt einen Fluß von Teilchen oder Photonen in einen ankommenden Elektronenfluß um und wirkt auf diesen ankommenden Elektronenfluß als Elektronenvervielfacher. Sie kann also leicht durch eine Einheit ersetzt werden, die aus einer Zelle zur Umwandlung des Flusses von Teilchen oder Photonen in einen ankommenden Elektronenfluß und einem nachfolgenden Elektronenvervielfacher mit Dynoden besteht.
- Die Scheibe mit Mikrokanälen enthält zahlreiche Kanäle 2, die angenähert entlang der Achse des ankommenden Flusses verlaufen. Jeder Kanal ist ein elementarer Elektronenvervielfacher.
- Er wird von einer Schicht großen spezifischen Widerstands bedeckt, dessen Sekundäremissionskoeffizient größer als 1 ist. Eine hohe Spannung wird zwischen die beiden Enden des Kanals angelegt. So erzeugt ein ankommendes Elektron durch aufeinanderfolgende Stöße und beim Fortschreiten durch den Mikrokanal am Ausgang der Scheibe eine große Zahl von Elektronen. Diese Zahl von Elektronen entspricht dem Verstärkungsgrad. Die verschiedenen Kanäle sind elektrisch durch die Beschichtung mit einer Metallschicht 3 auf jeder der beiden ebenen Seiten der Scheibe miteinander verbunden. Die an die Scheibe angelegte hohe Spannung liegt üblicherweise zwischen 400 und 1500 V. Sie bestimmt den Verstärkungsgrad des Elektronenvervielfachers.
- Die erfindungsgemäße Vorrichtung wird nun anhand von Figur 3 erläutert. Der Elektronenvervielfacher 1, wie z.B. eine Scheibe mit Mikrokanälen, empfängt den Fluß 10 von Teilchen und wird von einem Elektronenkollektor 4 gefolgt, der einen Elektronenstrom 5 erzeugt. Dieser Strom gelangt an einen Kompressorverstärker 6, der das Signal verstärkt und eine Kompression durchführt, um die Dynamik zu verringern. Das Ausgangssignal 7 dieses Kompressorverstärkers wird dann insbesondere zu Anzeigezwecken ausgewertet. Vorzugsweise enthält der Kompressorverstärker einen logarithmischen Verstärker, der eine wirksame Kompression durchführt.
- Die Hochspannungsteilchen 8 des Elektronenvervielfachers wird durch eine Steuerschaltung 9 moduliert, die das Ausgangssignal 7 empfängt. Diese Speisung erzeugt eine Spannung, die vom Signal am Steuereingang abhängt, wobei diese Spannung am größten ist, wenn der Elektronenstrom 5 am kleinsten oder Null ist, und am kleinsten, wenn der Elektronenstrom seinen Höchstwert hat. Daraus ergibt sich eine zusätzliche Kompression der Dynamik der Meßkette. Da der Kompressorverstärker 6 ein logarithmischer Verstärker ist, bildet die Steuerschaltung 9 zur Speisung des Vervielfachers einen linearen Verstärker derart, daß die von der Speisung erzeugte Hochspannung eine lineare Funktion des Ausgangssignals 7 ist und eine zwischen zwei Grenzen variierende negative Kennlinie besitzt. Unter Verwendung einer Scheibe mit Mikrokanälen, deren Verstärkungsgrad eine exponentiale Funktion der angelegten Hochspannung ist, ist in diesem Fall das Ausgangssignal 7 eine logarithmische Funktion des ankommenden Teilchenflusses.
- Es ist natürlich möglich, andere Arten von Rückkopplung in Betracht zu ziehen, ohne den Rahmen der Erfindung zu verlassen. Das wesentliche Element besteht darin, daß die Transferfunktion der Vorrichtung (Verhältnis zwischen dem Wert des Ausgangssignals 7 und dem ankommenden Elektronenfluß) eine bekannte und eindeutige Beziehung zwischen dem Ausgang und dem Eingang der Vorrichtung bildet, um auswertbar zu sein.
- Die so hergestellte Vorrichtung kann also ein Eingangssignal großer Dynamik verarbeiten.
- Die erfindungsgemäße Signalverarbeitungsvorrichtung läßt sich insbesondere in einem Sondergebiet der Massenspektrometrie anwenden, nämlich der Heliumlecksuche. Es handelt sich darum, den Heliumpartialdruck zu messen, der in der Restatmosphäre eines auf Dichtheit zu untersuchenden Behälters enthalten ist. Zwei Fälle treten dann üblicherweise auf. Ist der Behälter großvolumig, dann verwendet man eine Pumpe, um den Behälter zu evakuieren, worauf man eine mit Helium als Testgas angereicherte Atmosphäre um den Behälter herum erzeugt und schließlich das aus dem Behälter gepumpt Gas analysiert, um festzustellen, ob dieses auch mit Helium angereichert ist. Ist der Behälter klein, beispielsweise ein Gehäuse, dann beginnt man damit, dieses Gehäuse in einer Kammer unter Heliumüberdruck zu bringen und anschließend in eine zweite Kammer einzusetzen, die evakuiert wird. Man analysiert das abgepumpte Gas, um festzustellen, ob es mit Helium angereichert ist.
- Ein Leckdetektor enthält also ein Massenspektrometer, das ein Filter enthält, der die vorher ionisierten Gasmoleküle abhängig von ihrem Verhältnis m/q räumlich ablenkt, wobei m die Masse des Moleküls und q seine Ladung ist. Das Spektrometer ist auf Helium eingestellt. Am Ausgang dieses räumlichen Filters befindet sich eine Zelle, die die ankommenden Heliumionen in Elektronen verwandelt. Die Elektronen werden dann in einem Elektronenvervielfacher verstärkt, um einen Elektronenstrom 5 zu erzeugen.
- Im betrachteten Beispiel ist die Umwandlungszelle ein Bestandteil des Elektronenvervielfachers, der eine Scheibe mit Mikrokanälen ist. Die Vorrichtung zur Verarbeitung des Signals gemäß der Erfindung kann also einen ankommenden Heliumionenfluß mit einer Dynamik von 10&sup8; (mit einer Variationsbreite von etwa 10&supmin;¹&sup6; bis 10&supmin;&sup8; Ampere) in einen Elektronenstrom umwandeln und diesen Elektronenstrom verstärken, um ein Ausgangssignal 7 zu erzeugen, das insbesondere angezeigt werden soll.
- Die Anwendung der Vorrichtung auf einen Heliumleckdetektor ist leicht auf ein beliebiges anderes Anwendungsfeld übertragbar, das einen Elektronenvervielfacher verwendet, indem einfach die Umwandlungszelle ersetzt wird, deren Aufgabe die Umwandlung eines Teilchenflusses oder Photonenflusses in einen Elektronenfluß ist.
Claims (4)
1. Vorrichtung zur Verarbeitung des von einem
Elektronenvervielfacher (1) empfangenen Signals (10), die eine
kontinuierliche Messung dieses Signals in einem großen Dynamikbereich
unter Verwendung nur einer Verarbeitungsmethode erlaubt, wobei
der Elektronenvervielfacher (1) einen abhängig von der
Speisespannung exponential variablen Verstärkungsgrad besitzt und
das Eingangssignal (10) empfängt, wobei die Vorrichtung eine
Hochspannungsspeisung (8) für den Vervielfacher (1) enthält,
die von einem linearen Verstärker (9) mit negativer Kennlinie
gesteuert wird, wobei die Parameter des Verstärkungsgrads und
der Bezugsgröße den Meßbereich definieren, wobei der lineare
Verstärker (9) eingangsseitig das Ausgangssignal eines
logarithmischen Kompressorverstärkers (6) empfängt, der auf den
linearen Verstärker (9) einwirkt und so den Verstärkungsgrad
des Elektronenvervielfachers kontinuierlich über den ganzen
Meßdynamikbereich abhängig vom in einem Elektronenkollektor
(4) empfangenen Ausgangssignal (5) des
Elektronenvervielfachers variiert, wobei der Ausgang (7) des logarithmischen
Verstärkers (6) das Ausgangssignal der Vorrichtung bildet.
2. Vorrichtung zur Verarbeitung des Signals nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß der Elektronenvervielfacher eine
Scheibe mit Mikrokanälen ist.
3. Anwendung der Vorrichtung zur Verarbeitung des von einem
Elektronenvervielfacher empfangenen Signals nach einem der
Ansprüche 1 oder 2 auf die Massenspektrometrie.
4. Anwendung der Vorrichtung zur Verarbeitung des von einem
Elektronenvervielfacher empfangenen Signals nach einem
beliebigen der Ansprüche 1 bis 3 auf die Lecksuche, bei der Helium
als Testgas verwendet wird.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR8908047A FR2648616B1 (fr) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | Dispositif de traitement du signal recu par un multiplicateur d'electrons |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE69018518D1 DE69018518D1 (de) | 1995-05-18 |
DE69018518T2 true DE69018518T2 (de) | 1995-08-10 |
Family
ID=9382833
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE69018518T Expired - Fee Related DE69018518T2 (de) | 1989-06-16 | 1990-06-11 | Einrichtung zur Verarbeitung eines durch einen Elektronenvervielfacher empfangenen Signals. |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5115667A (de) |
EP (1) | EP0402827B1 (de) |
JP (1) | JPH0364843A (de) |
AT (1) | ATE121219T1 (de) |
DE (1) | DE69018518T2 (de) |
ES (1) | ES2070955T3 (de) |
FR (1) | FR2648616B1 (de) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2698529B2 (ja) * | 1993-04-06 | 1998-01-19 | 浜松ホトニクス株式会社 | イメージインテンシファイア装置 |
US5694211A (en) * | 1995-12-19 | 1997-12-02 | Laboratory Of Molecular Biophotonics | Light measuring apparatus for quantizing photon |
GB9604655D0 (en) * | 1996-03-05 | 1996-05-01 | Fisons Plc | Mass spectrometer and detector apparatus therefor |
US5866901A (en) * | 1996-12-05 | 1999-02-02 | Mks Instruments, Inc. | Apparatus for and method of ion detection using electron multiplier over a range of high pressures |
AUPO663497A0 (en) * | 1997-05-07 | 1997-05-29 | Varian Australia Pty Ltd | Detector system for mass spectrometer |
US6895096B1 (en) * | 1999-04-21 | 2005-05-17 | Deluca John P. | Microchannel plate audio amplifier |
CA2571206A1 (en) * | 2004-07-01 | 2006-01-19 | Ciphergen Biosystems, Inc. | Non-linear signal amplifiers and uses thereof in a mass spectrometer device |
FR2941065B1 (fr) * | 2009-01-12 | 2011-02-11 | Alcatel Lucent | Dispositif de mesure et de traitement d'un signal d'entree de grande dynamique, detecteur de fuites et procede de mesure et de traitement correspondants |
US8637811B2 (en) | 2011-07-15 | 2014-01-28 | Bruker Daltonics, Inc. | Stabilized electron multiplier anode |
CN112782547A (zh) * | 2020-12-11 | 2021-05-11 | 兰州空间技术物理研究所 | 一种铯原子钟电子倍增器使用寿命的预测方法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3247373A (en) * | 1962-12-18 | 1966-04-19 | Gca Corp | Mass spectrometer leak detector with means for controlling the ion source output |
US3666957A (en) * | 1971-01-25 | 1972-05-30 | Bendix Corp | Brightness limiter for image intensifiers |
FR2353133A1 (fr) * | 1977-03-24 | 1977-12-23 | Trt Telecom Radio Electr | Dispositif d'alimentation pour tube a micro-canaux |
JPS61170652A (ja) * | 1985-01-25 | 1986-08-01 | Hitachi Ltd | 質量分析法 |
JPS6316233A (ja) * | 1986-07-09 | 1988-01-23 | Rigaku Keisoku Kk | 二次電子増倍管駆動装置 |
US4823004A (en) * | 1987-11-24 | 1989-04-18 | California Institute Of Technology | Tunnel and field effect carrier ballistics |
JP2735222B2 (ja) * | 1988-06-01 | 1998-04-02 | 株式会社日立製作所 | 質量分析計 |
-
1989
- 1989-06-16 FR FR8908047A patent/FR2648616B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
1990
- 1990-06-11 AT AT90110995T patent/ATE121219T1/de not_active IP Right Cessation
- 1990-06-11 US US07/535,621 patent/US5115667A/en not_active Expired - Fee Related
- 1990-06-11 EP EP90110995A patent/EP0402827B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-06-11 DE DE69018518T patent/DE69018518T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1990-06-11 ES ES90110995T patent/ES2070955T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1990-06-13 JP JP2154974A patent/JPH0364843A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0402827B1 (de) | 1995-04-12 |
FR2648616A1 (fr) | 1990-12-21 |
DE69018518D1 (de) | 1995-05-18 |
JPH0364843A (ja) | 1991-03-20 |
FR2648616B1 (fr) | 1991-12-13 |
US5115667A (en) | 1992-05-26 |
ES2070955T3 (es) | 1995-06-16 |
ATE121219T1 (de) | 1995-04-15 |
EP0402827A1 (de) | 1990-12-19 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |