DE69018273D1 - Integrierte Schaltung mit einer Austestumgebung. - Google Patents

Integrierte Schaltung mit einer Austestumgebung.

Info

Publication number
DE69018273D1
DE69018273D1 DE69018273T DE69018273T DE69018273D1 DE 69018273 D1 DE69018273 D1 DE 69018273D1 DE 69018273 T DE69018273 T DE 69018273T DE 69018273 T DE69018273 T DE 69018273T DE 69018273 D1 DE69018273 D1 DE 69018273D1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
integrated circuit
test environment
test
environment
integrated
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE69018273T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69018273T2 (de
Inventor
Yasuhiro Kunioka
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Chemi Con Corp
Original Assignee
Nippon Chemi Con Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Chemi Con Corp filed Critical Nippon Chemi Con Corp
Publication of DE69018273D1 publication Critical patent/DE69018273D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE69018273T2 publication Critical patent/DE69018273T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/36—Preventing errors by testing or debugging software
    • G06F11/3664—Environments for testing or debugging software
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26—Functional testing
    • G06F11/261—Functional testing by simulating additional hardware, e.g. fault simulation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Microcomputers (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
DE1990618273 1989-01-13 1990-01-13 Integrierte Schaltung mit einer Austestumgebung. Expired - Lifetime DE69018273T2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1004783A JPH02186448A (ja) 1989-01-13 1989-01-13 デバッグ環境を備えた集積回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69018273D1 true DE69018273D1 (de) 1995-05-11
DE69018273T2 DE69018273T2 (de) 1995-12-21

Family

ID=11593409

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1990618273 Expired - Lifetime DE69018273T2 (de) 1989-01-13 1990-01-13 Integrierte Schaltung mit einer Austestumgebung.

Country Status (3)

Country Link
EP (1) EP0378242B1 (de)
JP (1) JPH02186448A (de)
DE (1) DE69018273T2 (de)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU649476B2 (en) * 1991-09-18 1994-05-26 Alcatel N.V. Integrated circuit comprising a standard cell, an application cell and a test cell
JP3671667B2 (ja) 1998-03-31 2005-07-13 セイコーエプソン株式会社 マイクロコンピュータ、電子機器及びデバッグシステム
US6938244B1 (en) * 1999-05-11 2005-08-30 Microsoft Corp. Interlaced protocol for smart card application development
JP2002202900A (ja) 2000-12-28 2002-07-19 Seiko Epson Corp デバッグ装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58105366A (ja) * 1981-12-16 1983-06-23 Fujitsu Ltd デバツグ機能を持つマイクロコンピユ−タ
JPS58129559A (ja) * 1982-01-26 1983-08-02 Nec Corp デバツガ
JPS58129557A (ja) * 1982-01-27 1983-08-02 Hitachi Ltd デ−タ処理システムにおけるプログラムのデバツグ用デ−タ収集処理方法
US4527234A (en) * 1982-08-02 1985-07-02 Texas Instruments Incorporated Emulator device including a semiconductor substrate having the emulated device embodied in the same semiconductor substrate
JPS59186448A (ja) * 1983-04-08 1984-10-23 Fujitsu Ltd 計算機網における状態情報管理制御方式
JPS6041140A (ja) * 1983-08-16 1985-03-04 Nec Corp 半導体集積回路内蔵ｒｏｍのデバツグ装置
US4796258A (en) * 1986-06-23 1989-01-03 Tektronix, Inc. Microprocessor system debug tool

Also Published As

Publication number Publication date
EP0378242B1 (de) 1995-04-05
EP0378242A2 (de) 1990-07-18
EP0378242A3 (de) 1991-07-24
JPH0550016B2 (de) 1993-07-27
JPH02186448A (ja) 1990-07-20
DE69018273T2 (de) 1995-12-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE68921269D1 (de) Integrierte Prüfschaltung.
DE3583629D1 (de) Integrierte schaltung mit einer schmelzsicherungsschaltung.
DE69019705D1 (de) Multimeter mit automatischer Funktionswahl.
DE69010034D1 (de) Halbleiteranordnung mit einer Schutzschaltung.
DE58907795D1 (de) Baugruppe mit einer Leiterplatte.
DE69016509T2 (de) Integrierte Halbleiterschaltungsanordnung mit Testschaltung.
DE59007707D1 (de) Verbundanordnung mit leiterplatte.
DE68927984T2 (de) Logikschaltung mit einer Prüffunktion
DE69116663T2 (de) Integrierter Schaltkreis mit Peripherieprüfungssteuerung
DE69023696T2 (de) Ein elektronisches Bauteil mit einer Halterung.
DE3883504T2 (de) Integrierte Halbleiterschaltung mit einer Gleichstromprüfungsfunktion.
DE68925656T2 (de) Integrierte Schaltung mit einer Verbindungsverdrahtung
DE59001475D1 (de) Isolierendes gehaeuseteil mit einer leiterdurchfuehrung.
DE69022614T2 (de) Einrichtung mit einer Einführungsöffnung einer Standardgrösse.
DE69015512D1 (de) Integrierte Schaltung mit einer Feststellung des Sättigungszustandes.
DE69014840D1 (de) Digitalschaltung zur Überprüfung einer Bewegung.
DE68910705D1 (de) Integrierte Halbleiterschaltung mit einer Pegelumsetzungsschaltung.
DE69018273T2 (de) Integrierte Schaltung mit einer Austestumgebung.
DE69109230D1 (de) Messvorrichtung mit einem Normierungskreis.
DE69121612D1 (de) Halbleiterintegrierte Schaltungsvorrichtung mit einer Prüfschaltung
DE69128513D1 (de) Logische Schaltung mit einer Fehlererfassungsschaltung
DE3889714D1 (de) Integrierte Schaltungsanordnung mit einer Kapazität.
DE68919377D1 (de) Wegmessschaltung.
DE3888231T2 (de) Videoausarbeitung mit einer Software-Lineartastschaltung.
DE3685950T2 (de) Halbleiterspeicher mit einer pruefschaltung.

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8330 Complete disclaimer