DE60207261T2 - Bereitstellung einer kontrollierbaren Impedanz an einer Referenzebene in einer Schaltung - Google Patents

Bereitstellung einer kontrollierbaren Impedanz an einer Referenzebene in einer Schaltung Download PDF

Info

Publication number
DE60207261T2
DE60207261T2 DE60207261T DE60207261T DE60207261T2 DE 60207261 T2 DE60207261 T2 DE 60207261T2 DE 60207261 T DE60207261 T DE 60207261T DE 60207261 T DE60207261 T DE 60207261T DE 60207261 T2 DE60207261 T2 DE 60207261T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
input
output port
transmission line
line loop
reference plane
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE60207261T
Other languages
English (en)
Other versions
DE60207261D1 (de
Inventor
Jan Verspecht
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Agilent Technologies Inc
Original Assignee
Agilent Technologies Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Agilent Technologies Inc filed Critical Agilent Technologies Inc
Application granted granted Critical
Publication of DE60207261D1 publication Critical patent/DE60207261D1/de
Publication of DE60207261T2 publication Critical patent/DE60207261T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31903Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
    • G01R31/31908Tester set-up, e.g. configuring the tester to the device under test [DUT], down loading test patterns
    • G01R31/3191Calibration

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
  • Microwave Amplifiers (AREA)

Description

  • Technisches Gebiet
  • Diese Erfindung bezieht sich auf Verfahren und Vorrichtungen zum Schaffen einer steuerbaren Impedanz auf einer Referenzebene in einer Schaltung, z. B. um eine Last mit einer gewünschten beliebigen Impedanz auf Funk- oder Mikrowellen-Frequenzen zu bilden, oder um einen Signalgenerator mit einer gewünschten Ausgangsimpedanz zu schaffen.
  • Hintergrund der Technik
  • Kontinuierliche Entwicklungen bei Funk- und Mikrowellen-Frequenz-Komponenten (z. B. Leistungstransistoren und monolithischen integrierten Mikrowellen-Schaltungen – MMICs (MMIC = monolithic microwave integrated circuits) haben zu dem Wunsch nach einer Ausführung von on-wafer Last-Zug-Messungen geführt, um die Entwicklung solcher Vorrichtungen zu beschleunigen. Eine Last-Zug-Technik umfasst die Bereitstellung einer beliebigen (gesteuerten) Impedanz an einer vorbestimmten Position (der Referenzebene) in einer Schaltung, z. B. der Position, wo ein Testobjekt (DUT; DUT = device under test) angeschlossen ist.
  • Ein entsprechender Bedarf besteht für die Bereitstellung eines Signalgenerators mit einer beliebigen gesteuerten Ausgangsimpedanz auf einer Referenzebene (bekannt als Quellen-Zug).
  • Bestehende Techniken zum Implementieren von Last-Zug-Messungen werden beschrieben z. B. in dem US6297649 oder in dem US20020130667 und zusammengefasst und überprüft z. B. in „Comparison of active versus passive on-wafer load-pull characterization of microwave-and mm-wave power devices" von J.-E. Müller und B. Gyselinckx, IEEE MTT-S Digest, 1994, Seiten 1077–1080 (WE3F-40). Diese Techniken können klassifiziert werden entweder als:
    • – Passive Lasten, wie z. B. mechanische Schraubschieber- oder Festkörper-Abstimmeinrichtungen. Diese haben viele Vorteile, einschließlich einem niedrigen Oszillationsrisiko, einer hohen Leistungshandhabungsfähigkeit und einer einfachen und präzisen Steuerbarkeit. Sie weisen jedoch auch einen bedeutend eingeschränkten maximalen Lastreflexionseffizienten an der Sondenspitze auf, die mit dem DUT verbunden ist, aufgrund von Leistungsverlusten bei den Kabeln und Verbindern. Dies schränkt den Bereich von Impedanzen ein, die erzeugt werden können, und ist eine ernsthafte Einschränkung für eine waferintegrierte Charakterisierung von Leistungstransistoren.
    • – Aktive Lasten, die einen Verstärker und entweder einen Leistungs-Teiler, um zwei Signalwege zu schaffen, um beide Tore eines DUT zu treiben, oder eine Rückkopplungsanordnung, die einen einzelnen Richtkoppler oder Zirkulator umfasst, einlagern. Der Lösungsansatz mit zwei Signalwegen hat ein niedriges Oszillationsrisiko, aber ein Leistungs-Wobbeln in der nicht-linearen Betriebsweise des DUT erfordert eine komplizierte Sequenz von Einstellungen von einstellbaren Komponenten auf jeder Leistungsebene, um den Reflexionskoeffizienten konstant zu halten. Die Rückkopplungsanordnung vermeidet dieses Problem, hat jedoch ein höheres Oszillationsrisiko, besonders wenn ein Breitbandverstärker in dem Rückkopplungsweg umfasst ist, sowie andere Einschränkungen.
  • Offenbarung der Erfindung
  • Gemäß einem Aspekt dieser Erfindung wird eine Vorrichtung geschaffen zum Liefern einer steuerbaren Impedanz auf einer Referenzebene in einer Schaltung, die folgende Merkmale aufweist:
    eine unidirektionale Übertragungsleitungsschleife, die einen ersten und einen zweiten Eingangs-/Ausgangs-Anschluss aufweist, wobei der erste Eingangs-/Ausgangs-Anschluss mit der Referenzebene verbunden ist;
    eine Verstärkungseinrichtung, die in der Übertragungsleitungsschleife angeordnet ist, um Signale zu verstärken, die in einer Richtung von dem zweiten Eingangs-/Ausgangs-Anschluss zu dem ersten Eingangs-/Ausgangs-Anschluss fließen; und
    eine variable abgestimmte Schaltung, die den zweiten Eingangs-/Ausgangs-Anschluss mit einer Abschlussvorrichtung koppelt.
  • Gemäß einem anderen Aspekt dieser Erfindung wird ein Verfahren zum Liefern einer steuerbaren Impedanz auf einer Referenzebene in einer Schaltung geschaffen, das folgende Schritte aufweist:
    Verbinden der Referenzebene mit einem ersten Eingangs-/Ausgangs-Anschluss einer unidirektionalen Übertragungsleitungsschleife, die ferner einen zweiten Eingangs-/Ausgangs-Anschluss aufweist;
    Verstärken von Signalen, die durch die Übertragungsleitungsschleife in einer Richtung von dem zweiten Eingangs-/Ausgangs-Anschluss zu dem ersten Eingangs-/Ausgangs-Anschluss fließen; und
    Steuern einer variablen abgestimmten Schaltung, die den zweiten Eingangs-/Ausgangs-Anschluss mit einer Abschlussvorrichtung koppelt.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • Ein Verfahren und eine Vorrichtung gemäß dieser Erfindung zum Schaffen einer steuerbaren Impedanz auf einer Referenzebene in einer Schaltung werden nun beispielhaft Bezug nehmend auf die beiliegenden Zeichnungen beschrieben, in denen:
  • 1 ein Ausführungsbeispiel der Erfindung zeigt; und
  • 2 eine modifizierte Form dieses Ausführungsbeispiels zeigt.
  • Detaillierte Beschreibung
  • Bezug nehmend auf 1 ist eine Vorrichtung 10 gezeigt zum Liefern einer steuerbaren Impedanz eines beliebigen Werts auf einer Kalibrierungsreferenzebene 12. Diese Referenzebene ist z. B. die Position der Schnittstelle zwischen Messsonden einer Funk- oder Mikrowellen-Frequenz-Testausrüstung, die die Vorrichtung 10 und ein DUT einlagert, wie z. B. einen Leistungstransistor oder eine Leistungs-MMIC. Die Vorrichtung 10 ist mit der Referenzebene 12 durch eine „passive Struktur" 14 gekoppelt, die üblicherweise eine Wafersonde (deren Spitzen die Referenzebene definieren), mehrere Adapter und Verbinder und Koppler eines Reflektometer-Testsatzes enthält.
  • Die passive Struktur 12 ist innerhalb der Vorrichtung 10 mit einem ersten Eingangs-/Ausgangs-Anschluss 16 einer Übertragungsleitungsschleife 18 gekoppelt, die zwei Zirkulatoren 20 und 22 aufweist. Jeder Zirkulator weist drei Tore auf (nummeriert von 1 bis 3 in 1) und arbeitet, um einen Fluss einer elektromagnetischen Energie, eingegeben an einem Tor, hin zu dem nächsten Tor ausschließlich in Reihenfolge zu ermöglichen, die Tor 1 zu Tor 2, Tor 2 zu Tor 3 und Tor 3 zu Tor 1 ist. Der Eingangs-/Ausgangs- Anschluss 16 ist mit Tor 1 des Zirkulators 20 verbunden. Tor 2 dieses Zirkulators wird als ein Ausgangstor verwendet und ist mit Tor 3 des Zirkulators 22 verbunden, das als ein Eingangstor verwendet wird. Diese Verbindung ermöglicht einen Fluss von elektromagnetischer Energie durch die Übertragungsleitungsschleife 18 von ihrem Eingangs-/Ausgangs-Anschluss 16 zu einem zweiten Eingangs-/Ausgangs-Anschluss 24, der mit Tor 1 des Zirkulators 22 verbunden ist. Auf ähnliche Weise ist Tor 2 des Zirkulators 22 mit Tor 3 des Zirkulators 20 verbunden, für einen Fluss von elektromagnetischer Energie durch die Übertragungsleitungsschleife 18 in der Rückwärtsrichtung über einen Verstärker 26, der zwischen den Zirkulatoren 22 und 20 positioniert ist. Dementsprechend, wie in 1 ersichtlich ist, ist der Fluss von Energie um die Übertragungsleitungsschleife im Wesentlichen unidirektional (bei diesem Beispiel gegen den Uhrzeigersinn, wie in 1 gezeigt ist).
  • Der zweite Eingangs-/Ausgangs-Anschluss 24 ist mit einer Abstimmeinrichtung 28 verbunden (die z. B. eine Schraubenschieberabstimmeinrichtung sein kann), die wiederum durch eine Last 30 abgeschlossen ist. In dem Fall von Last-Zug-Anwendungen weist die Last 30 eine angepasste Impedanz (z. B. 50 Ohm) auf; in dem Fall von Quellen-Zug-Anwendungen ist die Last 30 ein Signalgenerator.
  • Die Abstimmeinrichtung 28 erzeugt intern eine Reflexion eines Teils der einfallenden Spannungswelle mit präzise gesteuerter Amplitude und Phase. Der Rest der Spannungswelle (der nicht reflektiert wird) fährt fort zu Last 30, die diesen nicht-reflektierten Teil absorbiert. Wäre die Last 30 nicht vorhanden, würde eine sekundäre Reflexion von dem Ende der Übertragungsleitung auftreten und würde ein Stehwellen-Muster innerhalb der Abstimmeinrichtung 28 erzeugen. Dies würde Kontrollierbarkeitsprobleme verursachen und würde es schwer machen, Echtkomponententeile der Impedanz nahe an 50 Ohm zu synthetisieren.
  • Die Synthese einer gewünschten Impedanz auf der Referenzebene 12 wird erreicht durch die Erzeugung eines entsprechenden Wanderspannungswellen-Reflexionskoeffizienten. Eine Wanderspannungswelle, die in die Referenzebene 12 eintritt (z. B. von einem DUT) überquert die passive Struktur 14 und tritt in den Zirkulator 20 ein, der die Welle entlang des unteren Arms (ersichtlich in 1) der Übertragungsleitungsschleife 18 leitet. Die Wanderwelle tritt in den Zirkulator 22 ein, wo sie zu dem Eingang der Abstimmeinrichtung 28 geleitet wird. Diese Abstimmeinrichtung ermöglicht die Erzeugung einer modifizierten (reflektierten) Version der Wanderspannungswelle mit einer präzisen, steuerbaren Phasen- und Amplituden-Beziehung zu der einfallenden Wanderwelle.
  • Diese reflektierte Welle, die durch die Abstimmeinrichtung 28 erzeugt wird, tritt in den Zirkulator 22 ein, der sie entlang des oberen Arms der Übertragungsleitungsschleife 18 leitet, durch den Verstärker 26. Die resultierende, verstärkte Version der reflektierten Spannungswelle an dem Ausgang des Verstärkers 26 verläuft durch den Zirkulator 20 und überquert die passive Struktur 14, um die Referenzebene 12 zu erreichen. Eine Einstellung der Abstimmeinrichtung 28 ermöglicht, dass das komplexe Verhältnis zwischen der ursprünglichen Wanderspannungswelle, die in die Referenzebene 12 eintritt (von der DUT), und der reflektierten Spannungswelle, die zu der Referenzebene 12 über die passive Struktur 14 zurückkehrt, präzise gesteuert wird. Reflexionskoeffizienten mit einer Amplitude von Eins (und Werten sogar noch höher als Eins) können ohne weiteres erhalten werden, vorausgesetzt, dass der Gewinn des Verstärkers 26 ausreichend ist, um die Verluste zu kompensieren, die in der Schaltungsanordnung zwischen der Referenzebene 12 und der Abstimmeinrichtung 28 auftreten.
  • 1 zeigt eine grundlegende Form dieses Ausführungsbeispiels der Erfindung. In der Praxis und wie in 2 gezeigt ist, kann es als wünschenswert erachtet werden, ein Bandpassfilter 32 an dem Eingang zu dem Verstärker 26 und/oder eine Dämpfungseinrichtung 34 in dem unteren Arm der Übertragungsleitungsschleife 18 zu integrieren. Das Bandpassfilter 32 kann umfasst sein, um die Stabilität der Operation der Übertragungsleitungsschleife zu verbessern, um Signalkomponenten an Frequenzen zu dämpfen, für die die Schleife ansonsten instabil werden würde. Das Integrieren eines Bandpassfilters reduziert das Risiko von Oszillationen. Das Passband des Filters 32 ist empirisch ausgewählt, abhängig von dem Ausmaß, zu dem eine Instabilität auftritt, um Geschlossene-Schleife-Gewinne über Eins außerhalb des Frequenzsatzes von Interesse zu vermeiden, für den die gewünschte Impedanz auf der Referenzebene 12 erzeugt wird. Die Frequenzgrenzen des Passbandes hängen von der bestimmten Gesamtheit von Charakteristika der Testkonfiguration ab, einschließlich der Eigenschaften der DUT.
  • Die Dämpfungseinrichtung 34 kann umfasst sein, um jeglichen überschüssigen Gewinn des Verstärkers 26 in bestimmten Testsituationen zu kompensieren. Der Wert der Dämpfungseinrichtung 34 ist derart ausgewählt, dass der Gesamtgewinn der Übertragungsleitungsschleife 18 (der Gewinn des Verstärkers 26 minus die Dämpfung der Dämpfungseinrichtung 34) ausreichend ist, um die Schaltungsverluste zu kompensieren, aber nicht übermäßig groß ist. Mit einem Gesamtgewinn, der zu groß ist, ergibt sich eine Potential-Instabilität und Oszillationen, und dies kann ferner eine übermäßige Empfindlichkeit des synthetisierten Reflexionskoeffizienten gegenüber geringen Änderungen bei der Einstellung der Abstimmeinrichtung 28 verursachen.
  • Die Integration des Bandpassfilters 32 und des Dämpfers 34 ermöglicht eine Kompensation von Abweichungen bei den Betriebscharakteristika der Schaltung, die eingebracht werden durch Änderungen bei dem Testaufbau und suboptimale Eigenschaften der Komponenten (z. B. übermäßiger Gewinn des Verstärkers 26 oder frequenzabhängige Verluste bei Verbindungskabeln). In spezifischen Situationen kann es machbar und kosteneffektiv sein, Komponenten und Ausrichtung auszuwählen, um auf integrierte Weise in Wechselwirkung zu treten und die gewünschte Stabilität und Leichtigkeit der Operation bereitzustellen, ohne den Bandpassfilter 32 oder den Dämpfer 34 einzuschließen. Spezifische Positionen des Filters 32 und des Dämpfers 34 in der Übertragungsleitungsschleife 18 sind nicht kritisch, vorausgesetzt, jeder derselben ist in der Schleife.
  • Andere Modifikationen können an den oben beschriebenen Schaltungen durchgeführt werden. Zum Beispiel können Koppler anstelle von Zirkulatoren verwendet werden, um die Übertragungsleitungsschleife 18 zu erzeugen, obwohl dies wahrscheinlich den erforderlichen Gewinn und die Ausgangsleistungsfähigkeit des Verstärkers 26 wesentlich erhöhen würde.

Claims (11)

  1. Vorrichtung zum Liefern einer steuerbaren Impedanz auf einer Referenzebene in einer Schaltung, die folgende Merkmale aufweist: eine unidirektionale Übertragungsleitungsschleife (18), die einen ersten (16) und einen zweiten (24) Eingangs-/Ausgangs-Anschluss aufweist, wobei der erste Eingangs-/Ausgangs-Anschluss mit der Referenzebene (12) verbunden ist; eine Verstärkungseinrichtung (26), die in der Übertragungsleitungsschleife angeordnet ist, um Signale zu verstärken, die in einer Richtung von dem zweiten Eingangs-/Ausgangs-Anschluss (24) zu dem ersten Eingangs-/Ausgangs-Anschluss (16) fließen; und eine variable abgestimmte Schaltung (28), die den zweiten Eingangs-/Ausgangs-Anschluss (24) mit einer Abschlussvorrichtung (30) koppelt.
  2. Die Vorrichtung gemäß Anspruch 1, bei der die Abschlussvorrichtung (30) eine Angepasste-Impedanz-Last aufweist.
  3. Die Vorrichtung gemäß Anspruch 1, bei der die Abschlussvorrichtung (30) einen Signalgenerator aufweist.
  4. Die Vorrichtung gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, bei der die Übertragungsleitungsschleife zwei Zirkulatoren (20, 22) aufweist, wobei jeder derselben zwei benachbarte Tore aufweist, die mit zwei benachbarten Toren des anderen Zirkulators gekoppelt sind.
  5. Die Vorrichtung gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, bei der ein Bandpassfilter (32) in der Übertragungsleitungsschleife angeordnet ist.
  6. Die Vorrichtung gemäß Anspruch 5, bei der das Bandpassfilter (32) in Reihe mit der Verstärkungseinrichtung (26) angeordnet ist.
  7. Die Vorrichtung gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, bei der eine Dämpfungseinrichtung (34) in der Übertragungsleitungsschleife angeordnet ist.
  8. Die Vorrichtung gemäß Anspruch 7, bei der die Dämpfungseinrichtung (34) angeordnet ist, um Signale zu dämpfen, die in einer Richtung von dem ersten Eingangs-/Ausgangs-Anschluss (16) zu dem zweiten Eingangs-/Ausgangs-Anschluss (24) fließen.
  9. Ein Verfahren zum Liefern einer steuerbaren Impedanz auf einer Referenzebene in einer Schaltung, das folgende Schritte aufweist: Verbinden der Referenzebene (12) mit einem ersten Eingangs-/Ausgangs-Anschluss (16) einer unidirektionalen Übertragungsleitungsschleife (18), die ferner einen zweiten Eingangs-/Ausgangs-Anschluss (24) aufweist; Verstärken (26) von Signalen, die durch die Übertragungsleitungsschleife in einer Richtung von dem zweiten Eingangs-/Ausgangs-Anschluss (24) zu dem ersten Eingangs-/Ausgangs-Anschluss (16) fließen; und Steuern einer variabel abgestimmten Schaltung (28), die den zweiten Eingangs-/Ausgangs-Anschluss (24) mit einer Abschlussvorrichtung (30) koppelt.
  10. Das Verfahren gemäß Anspruch 9, das den Schritt des Bandpassfilterns (32) der Signale umfasst, die durch die Übertragungsleitungsschleife in der Richtung von dem zweiten Eingangs-/Ausgangs-Anschluss (24) zu dem ersten Eingangs-/Ausgangs-Anschluss (16) fließen.
  11. Das Verfahren gemäß Anspruch 9 oder Anspruch 10, das den Schritt des Dämpfens (34) der Signale umfasst, die in einer Richtung von dem ersten Eingangs-/Ausgangs-Anschluss (16) zu dem zweiten Eingangs-/Ausgangs-Anschluss (24) fließen.
DE60207261T 2002-10-30 2002-10-30 Bereitstellung einer kontrollierbaren Impedanz an einer Referenzebene in einer Schaltung Expired - Lifetime DE60207261T2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP02257530A EP1416289B1 (de) 2002-10-30 2002-10-30 Bereitstellung einer kontrollierbaren Impedanz an einer Referenzebene in einer Schaltung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE60207261D1 DE60207261D1 (de) 2005-12-15
DE60207261T2 true DE60207261T2 (de) 2006-06-01

Family

ID=32088057

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE60207261T Expired - Lifetime DE60207261T2 (de) 2002-10-30 2002-10-30 Bereitstellung einer kontrollierbaren Impedanz an einer Referenzebene in einer Schaltung

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6930564B2 (de)
EP (1) EP1416289B1 (de)
DE (1) DE60207261T2 (de)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7548069B2 (en) 2005-06-10 2009-06-16 Maury Microwave, Inc. Signal measurement systems and methods
US7777509B2 (en) * 2008-04-25 2010-08-17 Freescale Semiconductor, Inc. Method and apparatus for electrical testing
US9804226B2 (en) * 2012-10-12 2017-10-31 National Instruments Ireland Resources Limited Device for actively improved impedance synthesis
US9900060B1 (en) 2015-05-12 2018-02-20 Superlative Semiconductor, LLC Tunable microwave network and application to transmit leakage cancellation circuit in an RFID interrogator
US10972150B2 (en) 2017-12-04 2021-04-06 Superlative Semiconductor, LLC Low-cost software-defined RFID interrogator with active transmit leakage cancellation

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3789301A (en) 1971-12-30 1974-01-29 Ibm Method and apparatus for measuring the parameters of a transistor or other two-port device at microwave frequencies
US4205281A (en) * 1975-05-10 1980-05-27 Tsukasa Nagao Ferrite composite circulator
JPS5251875A (en) 1975-10-23 1977-04-26 Nec Corp Method and apparatus for measuring characteristics of super high frequ ency transistors
US5034708A (en) 1989-05-16 1991-07-23 Automatic Testing And Networking, Inc. Programmable broadband electronic tuner
US5276411A (en) 1992-06-01 1994-01-04 Atn Microwave, Inc. High power solid state programmable load
JP3560836B2 (ja) * 1998-12-14 2004-09-02 株式会社東芝 半導体装置
US6335665B1 (en) 1999-09-28 2002-01-01 Lucent Technologies Inc. Adjustable phase and delay shift element
US6297649B1 (en) * 1999-09-30 2001-10-02 Focus Microwaves Inc. Harmonic rejection load tuner
US6486676B2 (en) * 2001-03-19 2002-11-26 Agilent Technologies, Inc. Reflection measurement method and apparatus for devices that are accessed through dispersive elements
US7970811B2 (en) * 2003-04-04 2011-06-28 Shen David H Continuous-time multi-gigahertz filter using transmission line delay elements
US7145413B2 (en) * 2003-06-10 2006-12-05 International Business Machines Corporation Programmable impedance matching circuit and method
KR100583636B1 (ko) * 2003-08-19 2006-05-26 삼성전자주식회사 단일의 기준 저항기를 이용하여 종결 회로 및 오프-칩구동 회로의 임피던스를 제어하는 장치

Also Published As

Publication number Publication date
EP1416289A1 (de) 2004-05-06
EP1416289B1 (de) 2005-11-09
DE60207261D1 (de) 2005-12-15
US20040085136A1 (en) 2004-05-06
US6930564B2 (en) 2005-08-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69534036T2 (de) Architektur für automatische RF-Signal Testanordnung
DE3715083C2 (de) Verstärkeranordnung mit parallel arbeitenden Signalverstärkern
DE69633548T2 (de) Radiofrequenzverstärker mit verbesserten zusammengesetzten dreifachen Schwebungs- und Kreuzmodulationscharakteristiken
DE2944642C2 (de) Symmetrische Mischstufe
DE102014114200A1 (de) System und Verfahren für einen Hochfrequenzkoppler
DE69835996T2 (de) Breitbandiger Gegentakthalbleiterverstärker
DE2637889C2 (de) Hochfrequenzleistungskombinator und Hochfrequenzleistungsteiler
DE2706373C3 (de) Mischstufe
DE112012002969T5 (de) Messsystem zur Charakterisierung einer testenden Vorrichtung
DE2255207A1 (de) Anordnung zum ableiten des fehlersignals in einem system zum selbsttaetigen nachfuehren einer mikrowellenantenne
DE60207261T2 (de) Bereitstellung einer kontrollierbaren Impedanz an einer Referenzebene in einer Schaltung
DE10120718A1 (de) Oszillator und Kommunikationsvorrichtung
DE102006052611A1 (de) Leistungsbreitbandverstärker
DE102007055533A1 (de) Leistungsverstärker mit Leistungs-Kombinator
DE19722471A1 (de) Impedanz- und Strommeßeinrichtung
DE2816915C2 (de)
DE69730600T2 (de) Anordnung und verfahren in einem fernmeldesystem
DE69531702T2 (de) Squid magnetometer
DE69830760T2 (de) Dielektrische integrierte Planarschaltung
DE3004019C2 (de) Einrichtung zur Frequenzumwandlung für einen Mikrowellen-Empfänger oder -Sender
DE60037125T2 (de) Radiofrequenz-Verstärkerschaltung
DE10000225B4 (de) Integrierte Mikrowellen/Millimeterwellenschaltung
DE3114598C2 (de) Anordnung zur Erzeugung, Verstärkung oder Synchronisierung von Hochfrequenzleistung, insbesondere im Millimeterwellenbereich
CH307494A (de) Elektrische Hohlleiter-Übertragungsanlage.
DE102015107729A1 (de) Combiner-Anordnung

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: AGILENT TECHNOLOGIES, INC. (N.D.GES.D. STAATES, US