DE60114408T2 - Verfahren und Vorrichtung zur Messung eines leistungsschwachen Signals - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zur Messung eines leistungsschwachen Signals Download PDF

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Description

  • Gebiet der Erfindung
  • Diese Erfindung betrifft im Allgemeinen die Messung eines leistungsschwachen Signals und insbesondere ein leistungsschwaches Signal auf der Grundlage eines lichtschwachen Signals, beispielsweise eines lichtschwachen Signals von einer Fotodiode.
  • Grundlagen der Erfindung
  • Eine Anordnung zum Messen von Strom- und Spannungswerten ist aus DE-A1-3322471 bekannt.
  • In vielen Systemen sendet eine Licht empfangende Einheit, beispielsweise eine Fotodiode, eine Avalanche-Fotodiode (photo avalanche diode) oder eine Fotoelektronenvervielfacher-Röhre (photomultiplier tube), ein elektrisches Signal auf der Grundlage der Menge an Licht (Anzahl von Lichtphotonen), die auf einen lichtempfindlichen Teil der Licht empfangenden Einheit fällt. Um anschließend ein brauchbares Signal bereitzustellen, das die Menge des auf die Einheit fallenden Lichts anzeigt, wird das elektrische Signal von der Einheit über festgelegte Zeiträume integriert, gefiltert, in ein digitales Signal umgesetzt und anschließend entsprechend verarbeitet.
  • Eine bekannte Möglichkeit zum Ausführen dieser Verarbeitung ist aus der US-Patentschrift Nr. 5 959 291 (Jensen) bekannt, in der eine Fotodiode zwischen positive und negative Eingangsanschlüsse eines Operationsverstärkers geschaltet wird, wobei der positive Eingangsanschluss des Operationsverstärkers auf Masse gelegt ist und ein Kondensator und ein Feldeffekttransistor parallel zwischen den negativen Eingangsanschluss und den Ausgang des Operationsverstärkers geschaltet werden, wobei durch Ansteuerung des Gate des Transistors ein Rücksetzsignal erzeugt wird. Der Ausgang des Operationsverstärkers ist mit dem Eingang eines Tiefpassfilters (low-pass filter) verbunden, dessen Ausgang mit einem Eingang eines Analog-Digital-(A/D-)Umsetzers verbunden ist. Ein Mikroprozessor empfängt als Eingangssignal das digitalisierte Ausgangssignal des A/D-Umsetzers. Die Lehre dieses Dokuments bildet den Oberbegriff zu Anspruch 4.
  • Die Funktionsweise der obigen Schaltung besteht darin, ein Signal von der Fotodiode zu empfangen und zu integrieren und anschließend die Integrationsschaltung (integrator) zurückzusetzen. Die Schaltung filtert sodann die höheren Frequenzen im integrierten Signal heraus und setzt das analoge, gefilterte, integrierte Signal in digitale Abtastwerte um. Schließlich berechnet die Schaltung eine Integrationssteigung (integration slope) für das Fotodiodensignal, indem eine Kurve den digitalen Abtastwerten angepasst wird. Mit Hilfe der berechneten Steigungen kann die Schaltung das ursprüngliche störungsfreie Signal von der Fotodiode besser ermitteln. Die Schaltung führt pro Integrationsperiode (die eine feststehende, festgelegte Länge hat) viele Messwerterfassungsvorgänge aus und verwendet aufwändige Kurvenberechnungsverfahren, beispielsweise die Kurvenanpassung mit Hilfe der Fehlerquadraturmethode (least-squares curve fitting), um die pro Periode berechneten Steigungen zu erzeugen.
  • Nachteile der obigen Schaltung bestehen darin, dass das Signal bei hohen Lichtstärken gesättigt ist, bevor die festgelegte Integrationszeit vorüber ist, und der Detektor das Signal nach der Sättigung bis zum nächsten Rücksetzvorgang überspringt. Andererseits kann der Rücksetzvorgang bei geringen Lichtstärken häufiger als nötig stattfinden, so dass der gesamte dynamische Bereich des A/D-Umsetzers nicht genutzt wird. Außerdem ist jeder Rücksetzvorgang eine Störung, die wertvolle Messzeit benötigt, bis das System wieder stabil ist (dies kann bis zu 10% der Zeit in Anspruch nehmen).
  • Kurze Zusammenfassung der Erfindung
  • Eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist die Bereitstellung einer verbesserten Messung eines leistungsschwachen Signals, beispielsweise von einer Fotodiode. Dies wird durch die unabhängigen Ansprüche gelöst. Bevorzugte Ausführungsformen werden durch die abhängigen Ansprüche gezeigt.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • Eine Ausführungsform der vorliegenden Erfindung wird nun beispielhaft mit Bezugnahme auf die begleitenden Zeichnungen beschrieben, in denen:
  • 1 eine schematische Zeichnung einer bekannten Schaltung zum Messen eines leistungsschwachen Signals ist;
  • 2 eine schematische Zeichnung einer Vorrichtung zum Messen eines leistungsschwachen Signals gemäß einer ersten Ausführungsform der Erfindung ist;
  • 3 einen Satz von schematischen Signaldiagrammen für die Schaltung von 1 zeigt;
  • 4 einen Satz von schematischen Signaldiagrammen für die Vorrichtung von 2 zeigt;
  • 5 einen Satz von schematischen Signaldiagrammen für die Vorrichtung von 2 mit einer anderen Form der Lichtintensitätsverteilung als diejenige in 4 zeigt; und
  • 6 ein schematisches Flussdiagramm der Funktionsweise der Vorrichtung von 2 zeigt.
  • Ausführliche Beschreibung der Zeichnungen
  • Folglich zeigt 1 eine bekannte Schaltung 1 zur Messung eines leistungsschwachen Signals von einer Fotodiode 2, wenn Licht mit verhältnismäßig geringer Lichtstärke (durch den Pfeil 4 angezeigt) auf die Fotodiode 2 fällt. Die Fotodiode 2 ist zwischen einen negativen Eingang 5 und einen positiven Eingang 6 eines Operationsverstärkers 7 geschaltet. Ein Kondensator 8 ist in einem Rückführungspfad zwischen einen Ausgang 9 des Operationsverstärkers 7 und seinen negativen Eingang 5 geschaltet. Die Source-Elektrode eines Feldeffekttransistors (FET) 10 ist mit dem Ausgang 9 des Operationsverstärkers 7 und seine Drain-Elektrode mit dem negativen Eingang 5 des Operationsverstärkers 7 verbunden, wobei seine Gate-Elektrode zum Empfangen eines Rücksetzsignals zum Zurücksetzen des Operationsverstärkers 7 dient.
  • Der Ausgang 9 des Operationsverstärkers 7 ist mit einem Eingang eines Tiefpassfilters 11 verbunden, dessen Ausgang seinerseits mit einem Eingang eines Analog-Digital-Umsetzers (A/D) 12 verbunden ist. Ein Ausgang des A/D-Umsetzers 12 ist mit einem Eingang eines Mikroprozessors 13 verbunden, dessen Ausgangssignal eine Anzeige des gemessenen Signals und folglich des auf die Fotodiode 2 fallenden Lichts bereitstellt.
  • Der Operationsverstärker 7 empfängt und integriert das Signal von der Fotodiode 2 über eine Integrationsperiode, die durch ein vom FET 10 empfangenes Rücksetzsignal eingestellt wird. Das Rücksetzsignal hat eine festgelegte Frequenz, so dass die Integrationsperioden konstant sind. Das Tiefpassfilter 11 filtert sodann die höheren Frequenzen aus dem integrierten Signal heraus, und der A/D-Umsetzer 12 digitalisiert das gefilterte integrierte Signal. Schließlich berechnet der Mikroprozessor 13 die Integrationssteigung (integration slope) für das Fotodiodensignal, indem eine Kurve an die digitalisierten Abtastwerte angepasst wird, beispielsweise unter Verwendung eines Algorithmus zur Anpassung mit Hilfe der Fehlerquadraturmethode (leastsquares fit algorithm).
  • Im Betrieb und mit Bezugnahme auf 3 zeigt nun das Diagramm von 3(a) einen Verlauf eines Ausgangssignals 30 der Fotodiode, das die Lichtstärke darstellt, die über einen bestimmten Zeitraum auf die Fotodiode fällt. In diesem Fall gibt es einen Hintergrundhelligkeitsgrad 31, der plötzlich auf einen HIGH-Pegel 32 ansteigt, wenn Licht auf die Fotodiode fällt, und anschließend wieder auf den Hintergrundpegel absinkt, wenn kein Licht mehr auf die Fotodiode fällt. Der Operationsverstärker 7 empfängt und integriert das Ausgangssignal von der Fotodiode 2 über eine Integrationsperiode, die durch ein vom FET 10 empfangenes Rücksetzsignal eingestellt wird. Wie in 3(b) zu erkennen ist, stellt der Operationsverstärker ein integriertes Ausgangssignal 33 bereit, das eine kurze Rücksetzperiode enthält. Dies erfolgt durch Laden des Kondensators 8 auf einen anfänglichen Ladepegel, der der in 3(b) gezeigte obere Pegel ist. Wenn kein Licht auf die Fotodiode fällt, entlädt sich der Kondensator langsam durch den Operationsverstärker, was als flache Steigung 35 gezeigt wird, bis das Rücksetzsignal vom FET empfangen und der Kondensator erneut auf den anfänglichen Ladepegel 34 aufgeladen wird. Wenn das Ausgangssignal von der Fotodiode sich auf dem HIGH-Pegel 32 befindet, entlädt sich der Kondensator schneller durch den Operationsverstärker, so dass die Steigung 36 größer ist. Wie zuvor wird der Kondensator erneut auf den anfänglichen Ladepegel 34 aufgeladen, wenn das Rücksetzsignal vom FET empfangen wird. Der A/D-Umsetzer 12 tastet das integrierte Signal mit einer Frequenz ab, die wesentlich höher als die Frequenz der Integrationsperioden ist, und führt dem Mikroprozessor 13 eine Folge dieser Abtastwerte zu.
  • Die Abtastwerte für eine Integrationsperiode werden gespeichert, und anschließend wird während der Rücksetzperioden eine Steigung berechnet, die am besten an die Abtastwerte angepasst ist. Dies wird in 3(c) gezeigt, wo die berechneten Steigungen durch Kreuze angezeigt werden. Wenn wie in diesem Fall, lediglich Hintergrundlicht auf die Fotodiode fällt, sind die flachen Steigungen 35 des integrierten Signals konstant, wie durch die Kreuze 37 gezeigt wird. Wenn das einfallende Licht während einer Integrationsperiode den HIGH-Pegel 32 erreicht, wie in 3(b) gezeigt wird, ändert sich die Steigung während der Periode von flach zu steil, so dass die am besten angepasste Steigung für die Periode ein Mittelwert aus den beiden ist, wie durch das Kreuz 38 in 3(c) gezeigt wird. Wenn das einfallende Licht sich während einer gesamten Integrationsperiode auf dem HIGH-Pegel 32 befindet, hat die berechnete Steigung für die Periode einen hohen Wert, wie durch das Kreuz 39 in 3(c) gezeigt wird. Es ist offensichtlich, dass die Zeitsteuerung und die Rate von Änderungsdaten für den Zeitraum verloren gehen, wenn das auf die Fotodiode einfallende Licht sich ändert.
  • Wie oben erwähnt wurde, wird das Signal in der obigen Schaltung bei hohen Lichtstärken gesättigt, bevor die festgelegte Integrationszeit vorüber ist, und der Detektor überspringt das Signal nach der Sättigung bis zum nächsten Rücksetzvorgang. Andererseits kann der Rücksetzvorgang bei geringen Lichtstärken häufiger als nötig stattfinden, so dass nicht der gesamte dynamische Bereich des A/D-Umsetzers verwendet wird. Außerdem ist jeder Rücksetzvorgang eine Störung, die wertvolle Messzeit benötigt, bis das System wieder stabil ist (dies kann bis zu 10% der Zeit in Anspruch nehmen).
  • 2 zeigt eine Vorrichtung 20 gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. In der Zeichnung haben dieselben Elemente, wie sie in 1 gezeigt werden, dieselben Bezugsziffern. Insbesondere fällt Licht mit einer verhältnismäßig geringen Stärke (durch den Pfeil 4 angezeigt) auf die Fotodiode 2. Die Fotodiode 2 ist zwischen den negativen Eingang 5 und den positiven Eingang 6 des Operationsverstärkers 7 geschaltet. Der Kondensator 8 ist in einem Rückführungspfad zwischen den Ausgang 9 des Operationsverstärkers 7 und dessen negativen Eingang 5 geschaltet. Die Source-Elektrode des Feldeffekttransistors (FET) 10 ist mit dem Ausgang 9 des Operationsverstärkers 7 und seine Drain-Elektrode ist mit dem negativen Eingang 5 des Operationsverstärkers 7 verbunden, wobei seine Gate-Elektrode zum Empfangen eines Rücksetzsignals dient, um den Operationsverstärker 7 zurückzusetzen.
  • Gemäß der vorliegenden Ausführungsform der Erfindung ist der Ausgang 9 des Operationsverstärkers 7 jedoch mit einem Eingang eines Analog-Digital-(A/D-)Umsetzers 21 verbunden. Ein Ausgang des A/D-Umsetzers 21 ist mit einem Eingang eines Mikroprozessors 22 verbunden, dessen Ausgang mit einem Eingang eines Filters 23 verbunden ist. Ein zweiter Ausgang des Mikroprozessors 22 ist mit der Gate-Elektrode des FET 10 verbunden, um dem FET 10 das Rücksetzsignal zuzuführen.
  • Im Betrieb und mit Bezugnahme auf 4 sind die Diagramme der 4(a) und 4(b) identisch mit jenen der 3(a) und 3(b) und zeigen das Ausgangssignal 30 der Fotodiode, das die über einen bestimmten Zeitraum mit einem Hintergrundhelligkeitsgrad 31 und einem HIGH-Pegel 32 auf die Fotodiode fallende Lichtstärke darstellt, sowie das integrierte Ausgangssignal 33. Wie zuvor tastet der A/D-Umsetzer 21 das integrierte Signal mit einer Frequenz ab, die deutlich höher als die Frequenz der Integrationsperioden ist, und führt dem Mikroprozessor 22 einen Strom dieser Abtastwerte zu.
  • Anstatt die Abtastwerte für eine komplette Integrationsperiode zu speichern und anschließend eine den Abtastwerten am besten angepasste Kurve (Steigung) zu berechnen, werden in der Erfindung jedoch Deltawerte zwischen jedem angrenzenden Abtastwert berechnet. Ein Deltawert ist die Differenz zwischen einem Abtastwert und dem nächsten. Ein Verlauf der Deltawerte wird in 4(c) gezeigt, wo zu erkennen ist, dass es für jede der Steigungen 35 und 36 einen anderen Deltawert 40 bzw. 41 gibt. Es wird verstanden, dass die Deltawerte 40 und 41 jeweils konstant sind, da die Steigungen 35 und 36 konstante Steigungen sind, so dass angrenzende Abtastwerte der Steigungen eine konstante Differenz aufweisen.
  • Um dem Filter 23 einen fortlaufenden Strom von Datenabtastwerten zuzuführen, werden die Deltawerte für die Rücksetzperioden interpoliert, was als Lücken im Deltawert-Diagramm von 4(c) gezeigt wird. Der Verlauf 42 der interpolierten Deltawerte wird in 4(d) gezeigt, wo die Lücken mit interpolierten Werten gefüllt sind, die auf der Grundlage irgendeines geeigneten Interpolationsalgorithmus vom Mikroprozessor 22 berechnet wurden. Im vorliegenden Fall wird ein einfaches lineares Interpolationsschema verwendet. Eine solche Schätzung ist im Allgemeinen annehmbar, falls die Anzahl von geschätzten Punkten erheblich geringer (< 10%) als die Anzahl von gemessenen Punkten ist.
  • Der fortlaufende Strom von Datenabtastwerten vom Mikroprozessor 22 wird sodann an das Filter 23 geleitet, das ein gewichtetes Filter sein kann, das die Form des Signals anpasst, beispielsweise kann ein Savitzki-Golay-Filter verwendet werden, wo das Signal Gaußsche Spitzen aufweist. Das Ausgangssignal des Filters 23 wird in 4(e) gezeigt, wo das Signal eine gute Darstellung des ursprünglichen Ausgangssignals 30 der Fotodiode ist, wie zu erkennen ist.
  • Obwohl das obige Beispiel die Integrationsperiode als eine konstante festgelegte Periode zeigt, wobei das Rücksetzsignal mit einer konstanten Frequenz angelegt wird, stört ein Zurücksetzen der Vorrichtung das System unnötigerweise, auch wenn die Integrationsschaltung keine Sättigung erreicht hat, wie oben erwähnt wird.
  • Gemäß der bevorzugten Ausführungsform der Vorrichtung und wie im Flussdiagramm 60 von 6 dargestellt wird, empfängt die Vorrichtung daher zuerst das optische Lichtsignal an der Fotodiode und setzt es in ein elektrisches Stromsignal um (Schritt 61). Das Stromsignal wird sodann integriert (Schritt 62), das integrierte Signal wird vom A/D-Umsetzer mit einer viel höheren Frequenz als die Integrationsperiode abgetastet, um einen Strom von digitalen Datenabtastwerten bereitzustellen (Schritt 63). Der Mikroprozessor 22 vergleicht sodann die Abtastwerte vom A/D-Umsetzer 21 mit einem festgelegten Wert, der in einem Speicher (nicht gezeigt) gespeichert ist, mit dem der Mikroprozessor verbunden ist, und erzeugt das Rücksetzsignal, das an die Gate-Elektrode des FET 10 angelegt wird, wenn es sich herausstellt, dass ein Abtastwert gleich dem festgelegten Wert oder größer als dieser ist (Schritt 64). Auf diese Weise wird die Vorrichtung erst zurückgesetzt, wenn die Integrationsschaltung sich der Sättigung nähert, so dass erstens die Vorrichtung nicht unnötigerweise gestört wird und zweitens die Integrationsperioden bei hohen Helligkeitsgraden kurz sind und das Signal nur für die Rücksetzperiode selbst "verloren geht" anstatt für die gesamte verbleibende Integrationsperiode, nachdem die Integrationsschaltung eine Sättigung erreicht hat, wie in der Schaltung nach dem Stand der Technik mit feststehenden Integrationsperioden.
  • Der Mikroprozessor 22 berechnet außerdem die Differenzen zwischen angrenzenden Abtastwerten, um während der Integrationsperioden Deltawerte zu erzeugen, und interpoliert außerdem die Deltawerte für die Rücksetzperioden, um einen fortlaufenden Strom von Deltawerten zu erzeugen (Schritt 65). Der fortlaufende Strom von Deltawerten wird sodann von einem Savitzki-Golay-Filter gefiltert, um eine Rekonstruktion des ursprünglichen Signals zu erzeugen (Schritt 66).
  • Dies ist in 5 zu erkennen. 5(a) ist ein Diagramm, das ein Ausgangssignal 50 der Fotodiode mit einem Hintergrundhelligkeitsgrad 51, einem mittleren Helligkeitsgrad 52 und einem hohen Helligkeitsgrad 53 zeigt. 5(b) zeigt das integrierte Signal 54 mit dynamisch eingestellten Rücksetzperioden. Wie gezeigt wird, wird eine Fortsetzung der Integrationsperiode bei lediglich vorhandenem Hintergrundlicht ermöglicht, so dass das integrierte Signal mit einer langen flachen Steigung 55 fortgesetzt wird, bis der Operationsverstärker nahezu in die Sättigung geht, bevor der Mikroprozessor das Rücksetzsignal erzeugt und der Kondensator erneut aufgeladen wird. In diesem Fall fällt der Rücksetzvorgang mit einem Anstieg des Helligkeitsgrades auf den mittleren Wert zusammen. Wie zu erkennen ist, fällt das integrierte Signal im Anschluss an die Rücksetzperiode, während der es konstant auf der Ladespannung liegt, sodann mit einer steileren Steigung 56 und wird sodann für eine weitere Periode zurückgesetzt, während der es erneut mit derselben Steigung fällt, wodurch angezeigt wird, dass das einfallende Licht auf dem mittleren Helligkeitsgrad 52 bleibt. Wenn schließlich der Helligkeitsgrad auf den hohen Wert 53 ansteigt, nimmt die Steigung des Integrationssignals einen sehr hohen Wert 57 mit entsprechend kürzeren Integrationsperioden an.
  • Die Deltawerte zwischen den digitalisierten Abtastwerten des Integrationssignals 54 werden in 5(c) gezeigt, wobei die Deltawerte 58, 59 und 60 den Integrationssignalsteigungen 55, 56 bzw. 57 entsprechen. Wie zuvor werden die Lücken in den Deltawerten aufgrund der Rücksetzperioden sodann vom Mikroprozessor interpoliert, um einen fortlaufenden Strom von Datenabtastwerten bereitzustellen, der als das interpolierte Signal 61 in 5(d) gezeigt wird, die sodann vom Filter gefiltert werden, um eine gefilterte Darstellung 62 des ursprünglichen Signals 50 bereitzustellen.
  • Folglich stellt die oben beschriebene Ausführungsform der Erfindung einen dynamischen Rücksetzvorgang, der lediglich vom Signalpegel und nicht von einer feststehenden Zeit abhängt, und das Erreichen eines fortlaufenden Stroms von abstandsgetreuen (equidistant) Daten bereit, indem die Deltawerte für die Rücksetzperioden interpoliert werden, so dass ein gewichtetes Filter verwendet werden kann. Die Vorteile eines dynamischen Rücksetzvorgangs bestehen darin, dass die Zeitintervalle zwischen den Rücksetzvorgängen bei hohen Helligkeitsgraden kurz sind und das Signal nur während der Rücksetzperiode selbst verloren geht, wohingegen der Rücksetzvorgang bei geringen Helligkeitsgraden nur stattfindet, falls die Integrationsschaltung nahezu eine Sättigung erreicht, und dies bedeutet, dass die Rücksetzzyklen bei typischen geringen Lichtstärken etwa um den Faktor 20 verringert werden.
  • Aufgrund des Vorliegens eines abstandsgetreuen fortlaufenden Datenstroms unter allen Lichtbedingungen kann jedes geeignete Filter verwendet und ein feststehender Zeitraum für die Messung vermieden werden. Folglich kann die Filter-Firmware für einen weiten Bereich von Frequenzverhalten des Signals optimiert werden, ohne die Hardware zu ändern. Außerdem werden durch das Abtasten während der gesamten Steigung anstatt des Zurücksetzens nach jedem Punkt, wie dies bei einem Standard-A/D-Umsetzer der Fall ist, durch die Digitalisierung des Signals eingeführte Rundungsfehler durch die folgenden Werten kompensiert, da der integrierende Kondensator Ladung ohne Rundungsfehler aufnimmt. Schließlich wird die Ausgangsdatenrate des Systems unabhängig von der Rücksetzfrequenz, so dass das System bei hohen Helligkeitsgraden nicht für einen erheblichen Prozentsatz der Zykluszeit "blind" ist.
  • Obwohl nur eine bestimmte Ausführungsform der Erfindung oben beschrieben wurde, wird es verstanden, dass Fachleute Änderungen und Verbesserungen vornehmen können, ohne vom Anwendungsbereich der vorliegenden Erfindung abzuweichen, wie durch die angehängten Ansprüche definiert wird.

Claims (11)

  1. Verfahren zum Messen eines leistungsschwachen Signals, wobei das Verfahren die folgenden Schritte umfasst: Empfangen (61) eines leistungsschwachen Signals von einer Signalquelle; Integrieren (62) des empfangenen leistungsschwachen Signals über steuerbare Integrationsperioden, um ein Integrationssignal bereitzustellen; Abtasten (63) des Integrationssignals mit einer Frequenz, die deutlich höher als die Frequenz der Integrationsperioden ist, um digitale Abtastwerte des Integrationssignals bereitzustellen; gekennzeichnet durch Ermitteln (65) von Differenzen zwischen den digitalen Abtastwerten, um einen Strom von Deltawerten bereitzustellen, wobei jeder Deltawert die Differenz zwischen einem Abtastwert und dem nächsten darstellt; und Filtern (66) des Stroms von Deltawerten, um ein gefiltertes Signal bereitzustellen, das im Wesentlichen mit dem empfangenen leistungsschwachen Signal übereinstimmt.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, das außerdem den Schritt des Interpolierens (65) der Deltawerte zwischen Integrationsperioden umfasst, so dass der Strom von Deltawerten fortlaufend ist.
  3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, das außerdem den Schritt des Vergleichens (64) der digitalen Abtastwerte mit einem festgelegten Wert und das Zurücksetzen der Integrationsperiode umfasst, falls ein digitaler Abtastwert einen Wert aufweist, der gleich dem festgelegten Wert oder größer als dieser ist.
  4. Vorrichtung zum Messen eines leistungsschwachen Signals, die Folgendes umfasst: einen Eingangsanschluss (5) zum Empfangen eines leistungsschwachen Signals von einer Signalquelle (2); eine Integrationsschaltung (7, 8, 10), die mit dem Eingangsanschluss (5) verbunden ist und einen Ausgang (9) zum Bereitstellen eines Integrationssignals aufweist, das durch Integrieren des empfangenen leistungsschwachen Signals über steuerbare Integrationsperioden gebildet wird; eine Digitalisiereinrichtung (21), die mit dem Ausgang (9) der Integrationsschaltung (7, 8, 10) verbunden ist, um das Integrationssignal mit einer Frequenz abzutasten, die deutlich höher als die Frequenz der Integrationsperioden ist, um digitale Abtastwerte des Integrationssignals an einem Ausgang bereitzustellen; gekennzeichnet durch: ein Verarbeitungsmittel (22) mit einem Eingang, der mit dem Ausgang der Digitalisiereinrichtung verbunden ist, um Differenzen zwischen den digitalen Abtastwerten festzustellen, um einen Strom von Deltawerten an einem Ausgang bereitzustellen, wobei jeder Deltawert die Differenz zwischen einem Abtastwert und dem nächsten darstellt; und ein Filter (23), das einen mit dem Ausgang des Verarbeitungsmittels (22) verbundenen Eingang aufweist, um den Strom von Deltawerten zu filtern, um ein gefiltertes Signal an einem Ausgang bereitzustellen, das im Wesentlichen mit dem empfangenen leistungsschwachen Signal übereinstimmt.
  5. Vorrichtung nach Anspruch 4, wobei das Verarbeitungsmittel (22) ein Interpolationsmittel zum Interpolieren der Deltawerte zwischen Integrationsperioden enthält, so dass der Strom von Deltawerten fortlaufend ist.
  6. Vorrichtung nach Anspruch 4 oder 5, wobei die Integrationsschaltung (7, 8, 10) Folgendes umfasst: einen Operationsverstärker (7), der einen ersten mit dem ersten Anschluss (5) verbundenen Eingang und einen Ausgang (9) aufweist, einen zwischen den ersten Eingang und den Ausgang (9) des Operationsverstärkers (7) geschalteten Kondensator (8) und einen Transistor (10) mit Stromelektroden, die zwischen den ersten Eingang und den Ausgang (9) des Operationsverstärkers (7) geschaltet sind, und eine Steuerelektrode zum Empfangen eines Rücksetzsignals zur Steuerung der Integrationsperioden.
  7. Vorrichtung nach Anspruch 6, wobei der Transistor (10) ein Feldeffekttransistor ist.
  8. Vorrichtung nach Anspruch 6 oder 7, wobei das Verarbeitungsmittel (22) ein Vergleichsmittel zum Vergleichen der digitalen Abtastwerte mit einem festgelegten Wert und zum Bereitstellen des Rücksetzsignals zum Zurücksetzen der Integrationsperiode enthält, falls ein digitaler Abtastwert einen Wert aufweist, der gleich dem festgelegten Wert oder größer als dieser ist.
  9. Vorrichtung nach irgendeinem der Ansprüche 4 bis 8, wobei die Digitalisiereinrichtung (21) einen Analog-Digital-Umsetzer umfasst.
  10. Vorrichtung nach irgendeinem der Ansprüche 4 bis 9, wobei das Filter (23) der Form des leistungsschwachen Signals angepasst ist.
  11. Vorrichtung nach Anspruch 10, wobei das Filter (23) ein Savitzki-Golay-Filter ist.
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