DE60114408D1 - Verfahren und Vorrichtung zur Messung eines leistungsschwachen Signals - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zur Messung eines leistungsschwachen Signals

Info

Publication number
DE60114408D1
DE60114408D1 DE60114408T DE60114408T DE60114408D1 DE 60114408 D1 DE60114408 D1 DE 60114408D1 DE 60114408 T DE60114408 T DE 60114408T DE 60114408 T DE60114408 T DE 60114408T DE 60114408 D1 DE60114408 D1 DE 60114408D1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
measuring
low
power signal
signal
power
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE60114408T
Other languages
English (en)
Other versions
DE60114408T2 (de
Inventor
Volker Brombacher
Fritz Bek
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Agilent Technologies Inc
Original Assignee
Agilent Technologies Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Agilent Technologies Inc filed Critical Agilent Technologies Inc
Application granted granted Critical
Publication of DE60114408D1 publication Critical patent/DE60114408D1/de
Publication of DE60114408T2 publication Critical patent/DE60114408T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M3/00Conversion of analogue values to or from differential modulation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • G01J1/46Electric circuits using a capacitor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
DE60114408T 2001-08-01 2001-08-01 Verfahren und Vorrichtung zur Messung eines leistungsschwachen Signals Expired - Fee Related DE60114408T2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP01118467A EP1281943B1 (de) 2001-08-01 2001-08-01 Verfahren und Vorrichtung zur Messung eines leistungsschwachen Signals

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE60114408D1 true DE60114408D1 (de) 2005-12-01
DE60114408T2 DE60114408T2 (de) 2006-08-03

Family

ID=8178203

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE60114408T Expired - Fee Related DE60114408T2 (de) 2001-08-01 2001-08-01 Verfahren und Vorrichtung zur Messung eines leistungsschwachen Signals

Country Status (3)

Country Link
US (2) US6660991B2 (de)
EP (1) EP1281943B1 (de)
DE (1) DE60114408T2 (de)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE60114408T2 (de) * 2001-08-01 2006-08-03 Agilent Technologies, Inc. (n.d.Ges.d.Staates Delaware), Palo Alto Verfahren und Vorrichtung zur Messung eines leistungsschwachen Signals
EP1445922A1 (de) * 2003-02-06 2004-08-11 Dialog Semiconductor GmbH Monolithisch integrierte optische Leseschaltung
US7271378B2 (en) * 2003-12-15 2007-09-18 Eastman Kodak Company Ambient light detection circuit with control circuit for integration period signal
US7136005B1 (en) * 2005-05-05 2006-11-14 Analog Devices, Inc. Accurate low noise analog to digital converter system
DE102007062161A1 (de) * 2007-12-21 2009-06-25 Hella Kgaa Hueck & Co. Schaltungsanordnung zum Messen von Licht mit einer Fotodiode
DE102009015586A1 (de) 2009-03-30 2010-10-14 Perkinelmer Optoelectronics Gmbh & Co.Kg Sensorausleseschaltung, Sensor und Verfahren zum Auslesen eines Sensorelements
CN103763031A (zh) * 2014-01-27 2014-04-30 惠州Tcl移动通信有限公司 采用可见光实现通信的无辐射通信终端和通信系统

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3322471A1 (de) * 1983-06-22 1985-01-03 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Messanordnung zur erfassung von strom- oder spannungswerten
EP0529176B1 (de) * 1991-08-26 1995-02-22 Gretag Imaging Ag Verfahren und Vorrichtung zur Messung kleiner Lichtmengen
US5343033A (en) * 1993-06-22 1994-08-30 Apache Technology Inc. Method and apparatus for detecting laser light having a plurality of pulse integrator and automatic gain control circuits
US5773816A (en) * 1996-10-07 1998-06-30 Lucid Technologies Inc. Photodetector integrator circuit having a window comparator
US5959291A (en) * 1997-06-27 1999-09-28 Caliper Technologies Corporation Method and apparatus for measuring low power signals
US6348682B1 (en) * 1999-11-12 2002-02-19 Institute Of Microelectronics Photodetector circuit and methods
DE60114408T2 (de) * 2001-08-01 2006-08-03 Agilent Technologies, Inc. (n.d.Ges.d.Staates Delaware), Palo Alto Verfahren und Vorrichtung zur Messung eines leistungsschwachen Signals

Also Published As

Publication number Publication date
EP1281943B1 (de) 2005-10-26
US20030025069A1 (en) 2003-02-06
USRE39527E1 (en) 2007-03-27
EP1281943A1 (de) 2003-02-05
US6660991B2 (en) 2003-12-09
DE60114408T2 (de) 2006-08-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE50207563D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur überwachung eines signals
DE60222493D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur kontaktlosen Messung einer Spannung, und zugehörige Detektionssonde
DE59911384D1 (de) Vorrichtung und verfahren zur messung der winkellage eines drehbaren körpers
ATA21132000A (de) Verfahren und vorrichtung zur optoelektronischen entfernungsmessung
DE60142289D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung von radstellungswerten
DE60143788D1 (de) Gerät und Verfahren zur Messung eines Schallfeldes
DE50109562D1 (de) Vorrichtung und verfahren zur winkelmessung
DE59908978D1 (de) Verfahren und sensor zur messung eines massenflusses
DE60109833D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Tintenpegels
DE60121123D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung von refraktiven fehlern eines auges
DE60211112D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Wellenformung eines optischen Signals
DE602004011785D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung der reifengleichförmigkeit
DE60109209D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung des radstandes
DE60124647D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Abstandsmessung
ATA93299A (de) Verfahren und vorrichtung zur ermittlung eines von respiratorischen messdaten abhängigen indikators
DE60045597D1 (de) Verfahren und Schaltung zur Erfassung eines Signals
DE60129691D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung der fluoreszenz
DE60126751D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Wellenform eines optischen Signals
DE59900196D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Funktionsüberwachung eines Sensorbausteins
DE60130132D1 (de) Verfahren und system zur messung einer quellenimpedanz mindestens eines elektronischen herzsignals eines säugetiers
DE60139193D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung der schmelzenhöhe
DE50204178D1 (de) Verfahren zur auswertung eines messsignals und zugehörige schaltungsanordnung
DE69906310D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung eines flüssigkeitströpfchen
DE10231153B8 (de) Verfahren zur Messung einer Charakteristik eines kapazitiven Sensors, Vorrichtung zur Messung einer Sensorcharakteristik, kapazitiver Sensor und IC-Chip zur Messung einer Sensorcharakteristik
DE60231036D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung von wellenfrontaberrationen

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: AGILENT TECHNOLOGIES, INC. (N.D.GES.D. STAATES, US

8339 Ceased/non-payment of the annual fee