DE60112361T2 - Vorrichtung zur Aberrationskorrektur, optische Abtastvorrichtung und Aufnahme/ Wiedergabevorrichtung - Google Patents

Vorrichtung zur Aberrationskorrektur, optische Abtastvorrichtung und Aufnahme/ Wiedergabevorrichtung Download PDF

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Description

  • HINTERGRUND DER ERFINDUNG
  • Gebiet der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Aberrations-Korrektureinheit gemäß dem Oberbegriff von Anspruch 1.
  • Beschreibung der verwandten Technik
  • EP-A-0446949 beschreibt eine Aberrations-Korrektureinheit, umfassend ein Flüssigkristallelement mit Elektrodenschichten, welche einen Flüssigkristall dazwischen sandwichartig aufnehmen, wobei der Flüssigkristall als ein Polarisationsfilter funktioniert, welcher Licht durchtritt entlang einer Ebene ermöglicht.
  • US-A-5787061 beschreibt eine Korrektureinheit, umfassend ein die Polarisationsrichtung änderndes Element, eine Linse und einen Polarisationsfilter.
  • US-A-4572616 beschreibt eine Flüssigkristalllinse, welche elektrisch für externe Aberrationen korrigiert werden kann, wobei eine erste Zelle angeordnet ist, um ein erstes Richtungs-polarisiertes Licht zu beeinflussen, während eine zweite Zelle das zweite Richtungs-polarisierte Licht beeinflusst.
  • Es gibt optische Scheiben, wie eine CD (Compact Disc) und eine DVD (Digital Video Disc oder Digital Versatile Disc) als wohlbekannte Informations-Aufzeichnungsmedien für optische Aufzeichnung und Reproduktion von Information. Ferner sind die optischen Scheiben von verschiedenen Arten, beispielsweise optische Scheiben nur für Wiedergabe, einmal beschriebene optische Scheiben, auf welchen nur zusätzliche Aufzeichnung ausgeführt werden kann, und wieder beschreibbare optische Scheiben, auf welche Information gelöscht und wieder auf gezeichnet werden kann. Ein Aufzeichnungsmedium mit einer Mehrzahl von Aufzeichnungsschichten auf derselben Aufzeichnungsoberfläche, wie eine 2-Schicht-pro-Seite-DVD wurde ebenfalls entwickelt.
  • Zusätzlich sind Forschung und Entwicklung im Gang zur Erzeugung einer hochdichten optischen Scheibe und optischen Aufnehmervorrichtung und Informations-Aufzeichnungs- und/oder -Wiedergabevorrichtung (nachfolgend als Aufzeichnungs-/Wiedergabe-Vorrichtung bezeichnet), welche auf die hochdichten optischen Scheiben anwendbar sind.
  • Um mit den hochdichten optischen Scheiben zurechtzukommen, gibt es ein Verfahren des Abstrahlens eines Laserstrahls kleinen Durchmessers auf die optische Scheibe durch Erhöhen einer numerischen Apertur (NA) einer Objektivlinse, welche auf der optischen Aufnehmervorrichtung vorgesehen ist. Ein anderes Verfahren ist es, einen Lichtstrahl mit einer kürzeren Wellenlänge zu verwenden.
  • Die Aberration des Lichtstrahls, welche durch die optische Scheibe bewirkt wird, wird jedoch vergrößert, wenn die numerische Apertur NA der Objektivlinse erhöht wird oder ein Lichtstrahl mit einer kürzeren Wellenlänge verwendet wird. Dies macht es schwierig, die Genauigkeit der Informations-Aufzeichnungs-/Wiedergabe-Funktion zu verbessern.
  • Wenn zum Bespiel eine Objektivlinse mit einer großen numerischen Apertur NA verwendet wird, wird die Menge von Doppelbrechungsverteilung, welche von dem Einfallswinkel abhängt, an der Pupillenoberfläche der optischen Scheibe vergrößert, da der Bereich des Einfallswinkels des Lichtstrahls auf die optische Scheibe vergrößert wird. Dies bewirkt ein Problem von Aberration infolge der Doppelbrechung, welche einflussreicher wird. Außerdem ist, wenn eine Objektivlinse mit einer großen numerischen Apertur und ein Lichtstrahl mit einer kürzeren Wellenlänge verwendet werden, der Einfluss von Koma-Aberration nicht vernachlässigbar, wenn der Einfallswinkel des Lichtstrahls zu der Normalrichtung (Neigungswinkel) der optischen Scheibe während der Aufzeichnung oder während der Wiedergabe sich neigt.
  • Obwohl die Aberration auch in Abhängigkeit von einer Dicke eines transparenten Substrats (oder einer transparenten Schicht) geändert wird, durch welche der Laserstrahl hindurchtritt, ändert sich, da die Dicke einer transparenten Substratschicht im Allgemeinen eine Verteilung in der Ebene (in-plane distribution) aufweist, die Aberration während der Aufzeichnung oder der Wiedergabe der optischen Scheibe. Insbesondere unterscheidet sich die Dicke der transparenten Schicht zwischen der Scheibenoberfläche und der Aufzeichnungsschicht in Übereinstimmung mit den Aufzeichnungsschichten in der optischen Scheibe, welche eine Mehrzahl von Aufzeichnungsschichten auf derselben Aufzeichnungsoberfläche aufweist. Deshalb ändert sich nicht nur eine Magnitude bzw. ein Betrag der Aberration, sondern auch die Verteilungsform der Aberration in der Ebene senkrecht zu der optischen Achse erheblich, wenn die Leseposition oder die Aufzeichnungsposition von einer Aufzeichnungsschicht zu einer anderen geändert wird.
  • Eine Aberrations-Flüssigkristall-Korrektureinheit mit einem Flüssigkristall, wie einem nematischen Flüssigkristall oder dergleichen, wurde vorgeschlagen, um den Einfluss der Aberration auf die Aufzeichnung oder die Wiedergabe der optischen Scheibe, wie vorstehend beschrieben, zu reduzieren. Es wurde ein Flüssigkristall beispielsweise in der japanischen Patentanmeldung Kokai H10-20263 als die Flüssigkristalleinheit für Aberrations-Korrekturen, wie vorstehend erwähnt, offenbart.
  • 1 zeigt schematisch ein Beispiel der Aberrations-Korrektureinheit. Die Aberrations-Korrektureinheit weist einen Aufbau derart auf, dass ein Flüssigkristall C, wie ein nematischer Flüssigkristall oder dergleichen, zwischen transparenten Elektrodenschichten A und B gehalten wird, welche einander gegenüberliegen. Der Orientierungszustand des Flüssigkristalls C kann durch Einstellen einer Spannung geändert werden, welche entlang der transparenten Elektrodenschichten A und B angelegt wird. Eine Änderung der Doppelbrechung gemäß dem Orientierungszu stand wird für ein Licht bereitgestellt, wenn das von einer transparenten Elektrode A (oder B) eintretende Licht durch den Flüssigkristall C hindurchtritt, und das Licht zu der anderen transparenten Elektrode B (oder A) austritt.
  • Ferner sind die transparenten Elektrodenschichten A und B in geteilter Weise ausgebildet, beispielsweise ist jede in eine Mehrzahl von transparenten Elektroden (a1, a2 und a3) und (b1, b2 und b3) geteilt. Die transparenten Elektroden a1, a2 und a3 werden elektrisch voneinander getrennt, und die transparenten Elektroden b1, b2 und b3 werden ebenso elektrisch voneinander getrennt.
  • Der Flüssigkristall C kann derart eingestellt werden, dass dieser eine Mehrzahl von unterschiedlichen Orientierungszuständen in sich aufweist, indem unterschiedliche Spannungen entlang den transparenten Elektroden angelegt werden, welche einander gegenüberliegen, beispielsweise jeweils zwischen den transparenten Elektroden a1 und b2, a2 und b2 bzw. a3 und b3. Änderungen der Doppelbrechung entsprechend den Orientierungszustands-Änderungen innerhalb des Flüssigkristalls C werden simultan mit dem einfallenden Licht vorgesehen. Eine in einem optischen Pfad bewirkte Aberration kann somit durch ordnungsgemäßes Einstellen der Mehrzahl der Orientierungszustände des Flüssigkristallelements korrigiert werden.
  • Wie vorstehend erwähnt, wird die Aberration in Abhängigkeit von der Position in der Ebene (in-plane position) senkrecht zu der optischen Achse infolge der Änderung der Dicke der transparenten Schicht auf bzw. bei Aufzeichnung oder Reproduktion geändert. Zusätzlich wird die Aberration geändert, wenn die Aufzeichnungsschicht geändert wird.
  • Gemäß der herkömmlichen Aberrations-Korrektureinheit, wie sie vorstehend genannt wird, wird die in dem optischen Pfad eines optischen Systems bewirkte Aberration durch Ändern der Spannung korrigiert, welche an jede Elektrode des Flüssigkristalls angelegt wird. Es ist jedoch schwierig, die Aberration mit hoher Geschwindigkeit bei Aufzeichnung oder Wiedergabe zu korrigieren, da eine Ant wortgeschwindigkeit (response speed) eines Flüssigkristalls, wie einem nematischen Flüssigkristall oder dergleichen, niedrig ist, welcher für eine Aberrations-Korrektur verwendet wird.
  • AUFGABEN UND ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
  • Die vorliegende Erfindung wurde gemacht, um die vorstehend beschriebenen Probleme zu lösen und es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Aberrations-Korrektureinheit, eine optische Aufnehmervorrichtung und eine Aufzeichnungs-/Wiedergabe-Vorrichtung von hoher Leistungsfähigkeit bereitzustellen, durch welche eine Hochgeschwindigkeits-Korrektur der Aberration durchgeführt werden kann.
  • Diese Aufgabe wird durch die in dem kennzeichnenden Teil von Anspruch 1 genannten Merkmale erzielt.
  • Gemäß einem anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung wird die Aberrations-Korrektureinheit bereitgestellt, welche ferner ein Steuergerät zum Steuern des die Polarisationsrichtung drehenden Elements umfasst, um die Polarisationsrichtung des Lichtstrahls bei vorbestimmter Zeiteinteilung zu drehen.
  • Gemäß einem anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung ist eine optische Aufnehmervorrichtung bereitgestellt, welche die Aberrations-Korrektureinheit aufweist, welche umfasst: eine Lichtquelle zum Emittieren des Lichtstrahls; einen Fotodetektor zum Erfassen des Lichtstrahls, welcher durch das Aufzeichnungsmedium reflektiert wurde und durch die Aberrations-Korrektureinheit hindurch getreten ist.
  • Gemäß einem anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung ist eine Aufzeichnungs-/Wiedergabe-Vorrichtung bereitgestellt, welche die optische Aufnehmervorrichtung aufweist und aufgezeichnete Information von einem Aufzeichnungsmedium liest, welche eine Mehrzahl von Aufzeichnungsschichten aufweist, um eine Wiedergabe auszuführen, wobei die Aufzeichnungs-Wiedergabevorrichtung umfasst: Zwi schenschichtsprungmittel zum Durchführen eines Zwischenschichtsprungs um eine Abstrahlung des Lichtstrahls aus einer Aufzeichnungsschicht zu einer anderen Aufzeichnungsschicht durchzuführen; und ein Steuergerät zum Steuern des die Polarisationsrichtung drehenden Elements, um die Polarisationsrichtung des Lichtstrahls bei dem Ausführen des Zwischenschichtsprungs zu drehen.
  • Gemäß einem anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung ist die Aberrations-Korrektureinheit zum Korrigieren einer Aberration, welche in einem optischen Pfad eines optischen Systems bewirkt wird, vorgesehen, welche einen Lichtstrahl auf ein Aufzeichnungsmedium abstrahlt und Reflexionslicht, welches von dem Aufzeichnungsmedium reflektiert wird, führt, welche umfasst: ein erstes Flüssigkristallelement mit ersten Elektrodenschichten, welche einander gegenüberliegen und ein Flüssigkristall, welches zwischen den ersten Elektrodenschichten sandwichartig aufgenommen ist, wobei das erste Flüssigkristallelement eine erste vorbestimmte Orientierungsrichtung aufweist, und einen dort hindurch tretenden Lichtstrahl mit einer Phasenänderung versieht, indem eine Spannung entlang den ersten Elektrodenschichten angelegt wird; ein zweites Flüssigkristallelement mit zweiten Elektrodenschichten, welche einander gegenüberliegen und ein Flüssigkristall, welcher zwischen den zweiten Elektrodenschichten sandwichartig aufgenommen ist, wobei das zweite Flüssigkristallelement eine zweite vorbestimmte Orientierungsrichtung aufweist, welche im Wesentlichen senkrecht zu der ersten Orientierungsrichtung ist, und ein dort hindurch tretendes Licht mit einer Phasenänderung versieht, indem eine Spannung entlang den zweiten Elektrodenschichten angelegt wird; und ein die Polarisationsrichtung drehendes Element, welches in dem optischen Pfad zwischen einer Lichtquelle des Lichtstrahls und den ersten und zweiten Flüssigkristallelementen angeordnet ist, um eine Polarisationsrichtung des Lichtstrahls zu drehen.
  • Gemäß einem anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung ist eine optische Aufnehmervorrichtung mit der Aberrations-Korrektureinheit vorgesehen, welche umfasst: eine Lichtquelle zum Emittieren des Lichtstrahls; und einen Fotodetektor zum Erfassen des Lichtstrahls, welcher durch das Aufzeichnungsmedium reflektiert wird und durch die Aberrations-Korrektureinheit hindurch tritt.
  • Gemäß einem anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung ist eine Aufzeichnungs-/Wiedergabe-Vorrichtung bereitgestellt, welche die optische Aufnehmervorrichtung aufweist und Information auf/von einem Aufzeichnungsmedium mit einer Mehrzahl von Aufzeichnungsschichten aufzeichnet und/oder wiedergibt, wobei die Aufzeichnungs-/Wiedergabe-Vorrichtung umfasst: Instruktionsmittel zum Erzeugen eines Zwischenschichtsprungbefehls zum Ändern einer Aufzeichnungsschicht, auf welche der Lichtstrahl abgestrahlt wird, von einer Aufzeichnungsschicht auf eine andere Aufzeichnungsschicht auf der Grundlage eines Lesesignals von dem Aufzeichnungsmedium; Zwischenschichtsprungmittel zum Durchführen eines Zwischenschichtsprungs in Antwort auf den Zwischenschichtsprungbefehl; und ein Steuergerät zum Steuern des die Polarisationsrichtung drehenden Elements zum Drehen der Polarisationsrichtung des Lichtstrahls zur Zeit der Durchführung des Zwischenschichtsprungs.
  • KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • 1 ist ein Diagramm, welches ein Beispiel einer herkömmlichen Aberrations-Korrektureinheit zeigt;
  • 2 ist ein Blockdiagramm, welches eine Konfiguration einer Aberrations-Korrekturvorrichtung zeigt, welche in einer Informations-Aufzeichnungs-/Wiedergabe-Vorrichtung vorgesehen ist;
  • 3 ist eine Explosionsansicht, welche schematisch eine Konfiguration einer Aberrations-Korrektureinheit in Übereinstimmung mit der ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt;
  • 4 ist eine Querschnittsansicht, welche schematisch eine Konfiguration eines Flüssigkristallelements 20 zeigt, welches in 3 gezeigt ist;
  • 5 ist eine Querschnittsansicht, welche schematisch einen Aufbau einer 2-Schicht-Scheibe zeigt;
  • 6 ist ein Diagramm, welches Verteilungskurven der sphärischen Aberration in einer Ebene senkrecht zu einer optischen Achse bezüglich L0- und L1-Schichten der 2-Schicht-Scheibe zeigt;
  • 7 ist eine Draufsicht, welche schematisch ein Beispiel eines Elektrodenaufbaus zur Korrektur einer sphärischen Aberration zeigt, welche bewirkt wird, wenn ein Laserstrahl auf eine Schicht L0 gestrahlt wird;
  • 8 ist eine Querschnittsansicht, welche schematisch eine Konfiguration eines die Polarisationsrichtung ändernden Elements zeigt;
  • 9 ist ein Flussdiagramm, welches eine Prozedur einer Aberrations-Korrektur-Servosteuerung zeigt, wenn die 2-Schicht-Scheibe beschrieben oder abgespielt wird; und
  • 10 ist eine Explosionsansicht, welche eine Konfiguration einer Aberrations-Korrektureinheit gemäß der zweiten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt.
  • GENAUE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
  • Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung werden unter Bezugnahme auf die Zeichnungen im Detail beschrieben.
  • Erste Ausführungsform
  • 2 ist ein Diagramm, welches schematisch eine Konfiguration einer Aberrations-Korrekturvorrichtung 10 zeigt, welche in einer Informations-Aufzeichnungs- /Wiedergabe-Vorrichtung vorgesehen ist. Die Aberrations-Korrekturvorrichtung 10 zur Aufzeichnung oder zur Wiedergabe einer 2-Schicht-Scheibe mit zwei Aufzeichnungsschichten auf derselben Oberfläche oder Aufzeichnungsseite wird nun als ein Beispiel nachfolgend beschrieben.
  • In 2 enthält ein optischer Aufnehmer (PU): eine Lichtquelle 1 zur Emission eines Laserstrahls H1; eine Kollimatorlinse 2; einen Strahlteiler 3; eine Aberrations-Korrektureinheit 4; eine Objektivlinse 5; eine Kondensorlinse 6; und einen Fotodetektor 7. Die optischen Elemente 1 bis 7 sind entlang einer optischen Achse OA angeordnet.
  • Der Laserstrahl H1, welcher von der Laserlichtquelle 1 in dem optischen Aufnehmer emittiert wird, wird durch eine optische Scheibe 9 reflektiert. Das Reflexionslicht wird durch den Fotodetektor 7 erfasst, so dass ein RF-Signal erzeugt wird. Das erzeugte RF-Signal wird an einen RF-Umhüllungs-Amplitudendetektor (nachfolgend einfach als ein RF-Amplitudendetektor bezeichnet) 11 gesandt. Der RF-Amplitudendetektor 11 erfasst eine Umhüllende des empfangenen RF-Signals, um es als ein RF-Amplitudensignal zu einem Steuergerät 12 zu senden. Das Steuergerät 12 führt ein Steuersignal zu einem Flüssigkristalltreiber 14 zum Betreiben einer Aberrations-Korrektureinheit 4 auf der Grundlage des empfangenen RF-Amplitudensignals. Der Flüssigkristalltreiber 14 erzeugt eine Antriebsspannung, welche zu der Aberrations-Korrektureinheit 4 in Übereinstimmung mit dem Steuersignal zuzuführen ist, und führt sie der Aberrations-Korrektureinheit 4 zu. Ein optischer Aufnehmertreiber 8 führt eine Fokussierungs-/Spurtührungs-Servosteuerung des optischen Aufnehmers auf der Grundlage eines Steuersignals aus dem Steuergerät 12 durch. Das Steuergerät 12 umfasst einen Polarisationsrichtungs-Änderungsdiskriminator 13 auf und steuert den Flüssigkristalltreiber 14 und den Treiber 8 für den optischen Aufnehmer auf der Grundlage eines Diskriminations- bzw. Unterscheidungsergebnisses durch den Polarisationsrichtungs-Änderungsdiskriminator 13.
  • Eine Konfiguration der Aberrations-Korrektureinheit 4 wird nun nachfolgend unter Bezugnahme auf die Zeichnungen beschrieben. 3 ist eine Explosionsansicht, welche schematisch die Konfiguration der Aberrations-Korrektureinheit 4 zeigt. Wie in dem Diagramm gezeigt, ist die Aberrations-Korrektureinheit 4 mit Flüssigkristallelementen 20, 30 und einem Polarisationsrichtungs-Änderungselement 40 aufgebaut. Der Bestrahlungslaserstrahl, welcher aus der Lichtquelle 1 emittiert und in den Strahlteiler 3 übertragen wird, tritt durch das die Polarisationsrichtung ändernde Element 40 und durch die Flüssigkristallelemente 20, 30, und wird zu der Objektivlinse 5 geführt.
  • Das Flüssigkristallelement 20 enthält einen Flüssigkristall, welcher einen elektrooptischen Effekt durch ein angelegtes elektrisches Feld bewirkt, wie in der Querschnittsansicht von 4 gezeigt ist. Genauer enthält das Flüssigkristallelement 20 einen Flüssigkristall 21 wie einen nematischen Flüssigkristall oder dergleichen, welcher eine Änderung der Doppelbrechung in Übereinstimmung mit einer Magnitude einer angelegten Spannung durch den Flüssigkristalltreiber 14 bereitstellt. Wie in den 3 und 4 gezeigt, weist das Flüssigkristallelement 20 eine Konfiguration derart auf, dass der Flüssigkristall 21 zwischen zwei Elektrodenabschnitten 22A und 22B sandwichartig zwischengelegt und abgedichtet wird, welcher einander gegenüberliegen. Genauer sind Flüssigkristall-Orientierungsfilme 23A und 23B, Isolierschichten 24A und 24B, Elektroden 25A und 25B, und Isoliersubstrate 26A und 26B, wie transparente Glassubstrate oder dergleichen, nacheinander auf beiden Seiten des Flüssigkristalls 21 jeweils ausgebildet. Wie in 3 gezeigt, ist das Flüssigkristallelement 20 derart ausgebildet, dass dies eine Orientierungsrichtung (P1) in annähernd derselben Richtung wie die Polarisationsrichtung des einfallenden Laserstrahls (P) in die Aberrations-Korrektureinheit 4 (d.h. P1//P) aufweist. Es sollte bemerkt werden, dass die "Orientierungsrichtung" des Flüssigkristallelements dahingehend definiert ist, die Richtung der Flüssigkristallorientierung zu enthalten, welche auf eine Ebene senkrecht zu der optischen Achse projiziert wird.
  • Zumindest eine der Elektroden 25A und 25B ist dahingehend aufgebaut, eine Mehrzahl von Teilungs- oder unterteilten Elektroden zur Korrektur der Aberration aufzuweisen, welche in dem optischen Pfad bewirkt wird. Eine Spannung gemäß einer Magnitude und einer Verteilungsform der Aberration wird an jede Teilungselektrode angelegt. Wie vorstehend erwähnt, ändert sich die Magnitude von Aberration und/oder eine Verteilungsform in der Ebene senkrecht zu der optischen Achse erheblich, wenn die Aufzeichnungsschicht von/auf welcher der Lese- oder Aufzeichnungsvorgang durchgeführt wird, sich ändert (nachfolgend als Zwischenschichtsprung (inter-layer jump) bezeichnet), da die Dicke der transparenten Schicht zwischen der Scheibenoberfläche und der Aufzeichnungsschicht in Abhängigkeit von der Aufzeichnungsschicht differiert.
  • 5 ist eine Querschnittsansicht, welche schematisch einen Aufbau einer 2-Schicht-Scheibe 50 zeigt. Die 2-Schicht-Scheibe 50 weist einen Aufbau derart auf, dass zwei spritzgegossene Substrate derart verbunden sind, dass diese aufeinander weisen. Von der Leseseite aus gesehen wird die erste Schicht als Schicht 0 (L0) genannt und die zweite Schicht wird als Schicht 1 (L1) bezeichnet. Genauer sind ein L0-Substrat 52, ein L0-Reflexionsfilm 53, eine Abstandsschicht 54, ein L1-Reflexionsfilm 55 und ein L1-Substrat 56 hintereinander in Reihenfolge von der Leseseite aus ausgebildet.
  • Der L0-Reflexionsfilm 53 ist als ein semitransparenter Film derart ausgebildet, dass der Laserstrahl durch die Schicht 0 (L0) hindurchgeht und ein Signal der Schicht 1 (L1) gelesen werden kann. Der L0-Reflexionsfilm 53 ist aus Gold (Au), einer dielektrischen Substanz, oder dergleichen hergestellt. Andererseits weist der L1-Reflexionsfilm 55 eine hohe Reflektanz auf und ist beispielsweise aus Aluminium (Al) oder dergleichen in einer Weise ähnlich zu einer 1-Schicht-Scheibe hergestellt. Die Abstandsschicht 54 ist zwischen der Schicht L0 und der Schicht L1 vorgesehen, um die Signaloberflächen mit einer vorbestimmten Dicke oder einem vorbestimmten Abstand zu trennen. Die Abstandsschicht 54 ist aus einem Material mit hoher Transmittanz in einem Wellenlängenband von Lese-/Schreib-Licht und einem Brechungsindex in der Nähe eines Brechungsindex des Substrats, bei spielsweise aus einem Ultraviolett-härtenden Kunststoffmaterial, hergestellt, da das Lese-/Schreib-Licht durch die Abstandsschicht 54 hindurchtritt. Beide Signale von L0 und L1 können daher durch Bewegen eines Fokuspunkts (Zwischenschichtsprung) des Laserstrahls in der Tiefenrichtung ausgelesen werden.
  • 6 zeigt Verteilungskurven der sphärischen Aberration in einer Ebene senkrecht zu einer optischen Achse bezüglich der Substratdicke (d.h. der Tiefe der Aufzeichnungsschicht). Die sphärische Aberration ist eine Haupt-Aberration unter den Aberrationen, welche durch die optische Scheibe bewirkt wird, wenn eine Aufzeichnung oder Wiedergabe auf/von der 2-Schicht-Scheibe 50 durchgeführt wird. Die Aberration ist in dem mittleren Abschnitt des optischen Pfads klein und vergrößert sich, sowie die radiale Position sich dem Äußeren nähert, mit Ausnahme des äußersten Randabschnitts, wenn der Laserstrahl auf den L1-Reflexionsfilm 55 abgestrahlt wird (d.h. wenn das Substrat dick ist). Andererseits sinkt die Aberration, sowie sich die radiale Position dem Äußeren von dem mittleren Abschnitt des optischen Pfads nähert, wenn der Laserstrahl auf den L0-Reflexionsfilm 53 abgestrahlt wird (d.h. wenn das Substrat dünn ist).
  • Die Elektrode 25A des Flüssigkristallelements 20 ist geteilt, um so die sphärische Aberration zu korrigieren, welche bewirkt wird, wenn der Laserstrahl auf die Schicht L0 gestrahlt wird, und es kann eine vorbestimmte Spannung an jede Teilungselektrode angelegt werden.
  • 7 ist eine Draufsicht, welche schematisch ein Beispiel der Elektrode 25A zur Korrektur der sphärischen Aberration zeigt, welche bewirkt wird, wenn der Laserstrahl auf die Schicht L0 der optischen Scheibe 9 gestrahlt wird. Die Elektrode 25A weist eine Mehrzahl von transparenten Elektroden A1 bis Ai entsprechend Aberrations-Korrekturbereichen (AR1 bis ARi) auf. Die Elektrode 25A weist einen Aufbau mit den transparenten Elektroden A1 bis Ai auf, welche derart ausgebildet sind, dass diese elektrisch voneinander isoliert sind und eine Mehrzahl von Spalten Wj (j = 1 bis i) jeweils zwischen den transparenten Elektroden (d.h. zwischen Aj und Aj+1), wie in 4 und 8 gezeigt, vorliegen. Genauer ist die transparente Elektrode A1 in einer Form (Kreisform in 7) gemäß dem Aberrations-Korrekturbereich AR1 ausgebildet. Die transparenten Elektroden A2 bis Ai sind in Formen (Ringformen in 7) gemäß den Aberrations-Korrekturbereichen AR2 bis ARi ausgebildet. Die Spalten W1 bis Wi, welche die transparenten Elektroden A1 bis Ai trennen, sind in Ringformen ausgebildet. Jede der transparenten Elektroden A1 bis Ai können beispielsweise aus einer ITO (indium tin oxide = Indium/Zinn-Oxid)-Schicht hergestellt sein.
  • Die Elektrode 25B weist einen ebenso ähnlichen Aufbau auf, welcher transparente Elektroden B1 bis Bi aufweist, welche derart ausgebildet sind, dass diese elektrisch voneinander isoliert sind und mit einer Mehrzahl von Spalten W'j (j = 1 bis i), welche alle zwischen den transparenten Elektroden (d.h. zwischen Bj und Bj+1) vorliegen.
  • Durch Anlegen einer Antriebsspannung VN1 (= VN1(j), j = 1 bis i) an die Elektroden 25A und 25B ändert sich ein Orientierungszustand von Flüssigkristallmolekülen in dem Flüssigkristall 21 in Übereinstimmung mit dem elektrischen Feld EN1, welches durch die angelegte Antriebsspannung VN1 erzeugt wird. Das durch den Flüssigkristall 21 durchtretende Licht wird somit einer Doppelbrechung unterzogen und die Phase des Lichts wird geändert. Die Phase des Laserstrahls, welche durch den Flüssigkristall 21 hindurchtritt, kann durch die Antriebsspannung VN1 gesteuert werden, welche an den Flüssigkristall 21 angelegt wird. Das Flüssigkristallelement 20 weist eine bidirektionale Lichtpermeabilität bzw. -durchlässigkeit und doppelbrechende Eigenschaften auf, so dass jedes der Isoliersubstrate 26A und 26B auf die Objektivlinse 5 weisend angeordnet werden kann.
  • Wenn eine der Elektroden, beispielsweise die Elektrode 25A, dahingehend ausgebildet ist, eine Mehrzahl von Teilelektroden aufzuweisen, muss die Elektrode 25B nicht geteilt werden. Beispielsweise kann sie als eine "Gesamt"-Elektrode ausgebildet werden, wobei sich die Elektrode über die gesamte Oberfläche erstreckt, oder sie kann in einer erforderlichen Form ausgebildet werden, oder in eine erforderliche Anzahl von Teilelektroden in Übereinstimmung mit der Charakteristik und/oder der Verteilungsform von zu kompensierender Aberration.
  • Ein Flüssigkristallelement 30 weist eine Konfiguration ähnlich der des Flüssigkristallelements 20 auf. Genauer weist das Element 30 eine Konfiguration derart auf, dass der Flüssigkristall 31 wie ein nematischer Flüssigkristall oder dergleichen zwischen zwei Elektrodenabschnitten 32A und 32B sandwichartig zwischengelegt und abgedichtet wird, welche einander gegenüberliegen. Zumindest eine der Elektroden 32A und 32B weist eine Mehrzahl von Teilelektroden zur Korrektur der Aberration auf, welche in dem optischen Pfad bewirkt wird. Die Elektroden 32A und 32B des Flüssigkristallelements 30 sind mit einer Mehrzahl von Teilelektroden ausgebildet, welche zur Korrektur der sphärischen Aberration geeignet sind, welche bewirkt wird, wenn der Laserstrahl auf die Schicht L1 abgestrahlt wird. Eine vorbestimmte Spannung kann an jede Teilelektrode angelegt werden. Wenn eine Antriebsspannung VN2 (= VN2(j)), j = 1 bis k) auf die Elektrode 32A und 32B angelegt wird, ändert sich daher ein Orientierungszustand der Flüssigkristallmoleküle in dem Flüssigkristall 31 in Übereinstimmung mit einem elektrischen Feld EN2, welche durch die Antriebsspannung VN2 bewirkt wird. Der Laserstrahl, welcher durch den Flüssigkristall 31 hindurchtritt, wird somit einer Doppelbrechung des Flüssigkristalls 31 unterzogen, und die Phase des Lichts wird geändert. Die Phase des Laserstrahls, welcher durch den Flüssigkristall 21 hindurchtritt, kann durch die Antriebsspannungen VN2 gesteuert werden, welche an den Flüssigkristall 31 angelegt werden.
  • Ein Flüssigkristallelement 30 wird angeordnet, um so eine Orientierungsrichtung (P2) senkrecht zu der Polarisationsrichtung des einfallenden Laserstrahls (P) in der Aberrations-Korrektureinheit 4, somit senkrecht zu der Orientierungsrichtung des Flüssigkristallelements 20 (P1) aufzuweisen, wie in 3 gezeigt ist (d.h. P1 P1). Deshalb ist es beispielsweise möglich, ein Flüssigkristallelement zu verwenden, welches dem Flüssigkristallelement 20 ähnlich ist, wobei das Flüssigkristallelement um etwa 90° um die optische Achse (OA) des optischen Pfads bezüglich des Flüssigkristallelements 20 rotiert wird.
  • Wie in einer Querschnittsansicht von 8 gezeigt, weist das die Polarisationsrichtung ändernde Element 40 einen Flüssigkristall 41 auf, welcher zwischen zwei Elektrodenabschnitten 42A und 42B gehalten wird, welche einander gegenüberliegen. Der Flüssigkristall 41 ändert die Polarisationsrichtung des einfallenden Laserstrahls, wenn ein elektrisches Feld angelegt wird. Der Flüssigkristall 41 ist ein ferrodielektrischer Flüssigkristall, dessen Antwortgeschwindigkeit höher als die des nematischen Flüssigkristalls oder dergleichen ist, welcher in den Flüssigkristallelementen 20 und 30 verwendet wird. Flüssigkristall-Orientierungsfilme 43A und 43B, Isolierschichten 44A und 44B, Elektroden 45A und 45B und Isoliersubstrate 46A und 46B, wie transparente Glassubstrate oder dergleichen, werden nacheinander auf dem ferrodielektrischen Flüssigkristall 41 jeweils ausgebildet. Die Elektroden 45A und 45B sind durchgehende Elektroden, welche in Bereichen ausgebildet sind, welche sich über die gesamte Oberfläche des Flüssigkristalls 41 erstrecken.
  • Das die Polarisationsrichtung ändernde Element 40 ist dahingehend konstruiert, dass die Polarisationsrichtung des einfallenden Laserstrahls um etwa 90° durch Anlegen einer vorbestimmten Spannung (VF) entlang den Elektroden 45A und 45B gedreht wird. Genauer wird die Polarisationsrichtung des Laserstrahls, welcher in das die Polarisationsrichtung ändernde Element 40 eingetreten ist, nicht geändert, wenn keine Spannung auf die Elektroden 45A und 45B angelegt wird. Der Laserstrahl tritt durch das die Polarisationsrichtung ändernde Element 40, so wie er ist, hindurch. Andererseits wird die Polarisationsrichtung des einfallenden Laserstrahls, welcher durch das die Polarisationsrichtung ändernde Element 40 hindurchtritt, um ungefähr 90° gedreht, wenn die vorbestimmte Spannung VF auf die Elektroden 45A und 45B angelegt wird.
  • Die Aberrations-Korrektur der Ausführungsform wird nun im Detail, unter Bezugnahme auf das in 9 gezeigte Flussdiagramm, beschrieben.
  • Das Flussdiagramm zeigt eine Prozedur für eine Aberrations-Korrektur-Servosteuerung in einem Aufzeichnungs- oder Wiedergabebetrieb einer 2-Schicht-Scheibe. Die Prozedur wird unter Steuerung des Steuergeräts 12 beispielsweise nach dem Ende eines Set-up auf eine Aufzeichnung oder Wiedergabe der optischen Scheibe 9 durchgeführt. Zur Erleichterung der Erläuterung wird ein Fall des Startens der Servosteuerung von der Schicht 0 (L0) als ein Beispiel beschrieben.
  • Das Steuergerät 12 legt die vorbestimmten Spannungen VN1 (= VN1(j), J 0 1 bis i) und VN2 (= VN2 (j), j = 1 bis k) an die Flüssigkristallelemente 20 bzw. 30 (Schritt S11).
  • Anschließend wird die Aberrations-Korrektureinheit 4 so eingestellt, dass diese für die Servosteuerung der Schicht L0 angepasst ist (Schritt S12). Genauer wird die Spannung, welche an das die Polarisationsrichtung ändernde Element 40 angelegt wird, ausgeschaltet (VF = 0). Der Laserstrahl (der Laserstrahl, welcher auf der Laserlichtquelle emittiert wird), welcher in das die Polarisationsrichtung ändernde Element 40 eintritt, tritt wie es ist durch das die Polarisationsrichtung ändernde Element 40 hindurch, ohne der Rotation der Polarisationsrichtung unterzogen zu werden.
  • Durch das vorstehende Einrichten (Set-up) tritt der reflektierte Laserstrahl von der optischen Scheibe, ohne einer Phasenänderung durch das Flüssigkristallelement 30 unterzogen zu werden, welches in der Richtung annähernd senkrecht zu der Polarisationsrichtung angeordnet ist, durch. Der reflektierte Laserstrahl, welcher durch das Flüssigkristallelement 30 hindurch getreten ist, wird einer Phasenänderung durch das Flüssigkristallelement 20 unterzogen, welches in der Richtung angeordnet ist, welche annähernd die gleiche wie die Polarisationsrichtung ist, so dass die Aberration des Laserstrahls korrigiert wird. Deshalb wird die Aberration, welche durch die Reflexion an der Schicht L0 bewirkt wird, durch das Flüssigkristallelement 20 korrigiert, welches so konfiguriert oder eingestellt ist, dass dieses an die Aberrationskorrektur für die Schicht L0 angepasst ist.
  • Anschließend wird ein RF-Amplitudenwert von dem RF-Amplitudendetektor 11 (Schritt S13) eingefangen und eine Fokussierungssteuerung und eine Spurführungssteuerung werden auf der Grundlage einer Magnitude der eingefangenen RF-Amplitudenwerte durchgeführt (Schritt S14).
  • Der Polarisationsrichtungs-Änderungsdiskriminator 13, welcher in dem Steuergerät 12 vorgesehen ist, bestimmt auf der Basis von Daten aus einer (nicht gezeigten) RF-Signalverarbeitungseinheit zur Verarbeitung des RF-Datensignals, welches aus der optischen Scheibe ausgelesen wurde, ob ein Zwischenschichtsprung durchgeführt wurde oder nicht (Schritt S15). Wenn durch den Polarisationsrichtungs-Änderungsdiskriminator 13 festgestellt wird, dass der Zwischenschichtsprung nicht durchgeführt wurde, bestimmt das Steuergerät 12 weiter, ob die Servosteuerung beendet ist oder nicht (Schritt S16). Wenn die Servosteuerung nicht beendet ist, wird die Steuerung zu Schritt S13 zurückgeleitet und die Fokussierungssteuerung und die Spurführungssteuerung werden wiederholt. Diese Verarbeitungsroutine wird übersprungen, wenn die Servosteuerung beendet wird. Es ist hinreichend, dass der Polarisationsrichtungs-Änderungsdiskriminator 13 ein Mittel ist, welches eine Fähigkeit zur Bestimmung einer Zeiteinteilung für den Zwischenschichtsprung aufweist. Zum Beispiel ist es möglich, die Zeiteinteilung des Zwischenschichtsprungs auf der Grundlage von Daten zu bestimmen, welche zuvor als TOC (Table of Contents = Inhaltstabelle) Information oder als Daten, welche den Zwischenschichtsprung aufscheinend in dem gelesenen Datensignal anzeigen, gelesen und gespeichert werden.
  • Wenn in Schritt S15 festgestellt wird, dass der Zwischenschichtsprung durchgeführt wird, dann wird bestimmt, ob der Zwischenschichtsprung von der Schicht L0 zu der Schicht L1 ist oder nicht (Schritt S17). Wenn festgestellt wird, dass der Zwischenschichtsprung von der Schicht L0 zu der Schicht L1 geht, wird die Aberrations-Korrektureinheit 4 so eingestellt, dass sie an die Servosteuerung für die Schicht L1 angepasst ist (Schritt S18). Spezieller wird die Polarisationsrichtung des Laserstrahls, welcher in das die Polarisationsrichtung ändernde Element 40 eintritt, um etwa 90° durch Anlegen einer vorbestimmten Spannung an das die Polarisationsrichtung ändernde Element 40 gedreht (VF: EIN). Der reflektierte Laserstrahl von der optischen Scheibe, welcher die Polarisationsrichtung annähernd senkrecht zu der Richtung des Laserstrahls aufweist, wird daher der Phasenänderung durch das Flüssigkristallelement 30 unterzogen und die Aberration wird korrigiert. Der durch Aberration korrigierte Laserstrahl tritt durch, ohne der Phasenänderung durch das Flüssigkristallelement 20 unterzogen zu werden. Die infolge der Reflexion des Lichts von der Schicht L1 bewirkte Aberration wird durch das Flüssigkristallelement 30 korrigiert, welches so konfiguriert oder eingestellt ist, dass dieses an die Korrektur der Aberration angepasst ist.
  • Wenn in Schritt S17 bestimmt wird, dass der Sprung nicht der Zwischenschichtsprung von der Schicht L0 zu der Schicht L1 ist (d.h. es ist der Zwischenschichtsprung von der Schicht L1 zu der Schicht L0), wird die Steuerung zu Schritt S12 zurückgeführt. Die nachfolgenden Verarbeitungsschritte werden wiederholt.
  • Gemäß der vorstehend beschriebenen Prozedur kann Hochgeschwindigkeit-Aberrations-Korrektur durch Umschalten der Polarisationsrichtung des abgestrahlten Laserstrahls in Übereinstimmung mit dem Zwischenschichtsprung durchgeführt werden.
  • Zweite Ausführungsform
  • 10 ist eine Explosionsansicht, welche schematisch eine Konfiguration einer Aberrations-Korrektureinheit gemäß der zweiten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt. Wie in dem Diagramm gezeigt ist, enthält die Aberrations-Korrektureinheit 4 das die Polarisationsrichtung ändernde Element 40 und ein Flüssigkristallelement 60.
  • Das Flüssigkristallelement 60 weist eine Konfiguration ähnlich der des Flüssigkristallelements 20 auf. Genauer wird ein Flüssigkristall 61, wie ein nematischer Flüssigkristall oder dergleichen, zwischen den zwei Elektrodenabschnitten 62a und 62b gehalten, welche einander gegenüberliegen. Zumindest eine der Elektroden 62a und 62b weist eine Polarität von Teilelektroden auf, welche zur Korrektur der Aberration angepasst sind, welche in dem optischen Pfad bewirkt wird. Es ist ausreichend, dass die Teilelektroden in Formen gemäß einer Charakteristik einer gewünschten zu korrigierenden Aberration ausgebildet sind, oder in die notwendige Anzahl von Elektroden mit gewünschten Formen unterteilt sind. Der Flüssigkristall 61 des Flüssigkristallelements 60 weist eine Orientierungsrichtung (PN) annähernd senkrecht zu der Polarisationsrichtung (P) des einfallenden Laserstrahls auf.
  • Eine Hochgeschwindigkeits-Aberrations-Korrektur kann durch Falten der vorbestimmten Spannung (VF) zu dem die Polarisationsrichtung ändernden Element 40 zwischen dem AUS- und EIN-Zustand durchgeführt werden, während Spannungen an die Teilelektroden des Flüssigkristallelements 60 zur Korrektur der gewünschten Aberration angelegt werden.
  • Gemäß der Ausführungsform ist eine Vorrichtung bereitgestellt, in welcher die Steuerung 12 das die Polarisationsrichtung ändernde Element 40 steuert, um die Polarisationsrichtung des Lichtstrahls zu der Richtung zu ändern, welche im Wesentlichen senkrecht zu der Polarisationsrichtung ist, bevor der Zwischenschichtsprung durchgeführt wird. In diesem Fall stoppt das Steuergerät 12 in Antwort auf den Zwischenschichtsprung eine Zufuhr der an das Flüssigkristallelement angelegten Spannung, welches eine Orientierungsrichtung aufweist, welche im Wesentlichen identisch zu der Polarisationsrichtung des Laserstrahls ist, bevor der Zwischenschichtsprung durchgeführt wird, und legt eine Spannung an das andere Flüssigkristallelement.
  • In den vorstehend beschriebenen Ausführungsformen sind, obwohl die Schichten in einem Bereich von der Oberfläche der Leseseite zu der Aufzeichnungsschicht "transparentes Substrat" oder lediglich "Substrate" für die DVD-optische Scheibe als ein Beispiel genannt werden, sind die Schichten generell nicht auf Substrate beschränkt. Mit anderen Worten, bezeichnet "Substrat" in der Beschreibung Schichten, wie eine Abdeckschicht, eine transparente Schicht und dergleichen, welche auf der Aufzeichnungsschicht auf der Leseseite der optischen Scheibe ausgebildet sind, insbesondere die Schichten, durch welche der Laserstrahl auf seine Abstrahlung hin durchtritt.
  • Wie aus der vorstehenden Beschreibung offensichtlich verstanden wird, kann gemäß der vorliegenden Erfindung die Aberrations-Korrektureinheit, die optische Aufnehmervorrichtung und die Aufzeichnungs-(Wiedergabe-Vorrichtung mit hoher Leistungsfähigkeit, welche die Fähigkeit des Durchführens von Hochgeschwindigkeits-Aberrations-Korrektur aufweist, realisiert werden.
  • Die Erfindung wurde unter Bezugnahme auf bevorzugte Ausführungsformen derselben beschrieben. Es sollte durch Fachleute verstanden werden, dass eine Vielzahl von Änderungen und Modifikationen an den vorstehend beschriebenen Ausführungsformen durchgeführt werden können. Es ist daher beabsichtigt, dass die anliegenden Ansprüche alle derartige Änderungen und Modifikationen umfassen.

Claims (16)

  1. Aberrations-Korrektureinheit (4) zum Korrigieren einer Aberration, welche in einem optischen Pfad eines optischen Systems bewirkt wird, welches einen polarisierten Lichtstrahl auf ein Aufzeichnungsmedium abstrahlt und reflektiertes Licht führt, welches durch das Aufzeichnungsmedium reflektiert wurde, umfassend: ein Aberrations-Korrekturelement, welches zumindest ein Flüssigkristallelement (20, 30) enthält, welches Elektrodenschichten (22A, 22B, 32A, 32B), welche einander gegenüberliegen, und einen Flüssigkristall (21, 31) aufweist, welcher zwischen den Elektrodenschichten sandwichartig zwischengelagert ist, wobei das Flüssigkristallelement eine vorbestimmte Orientierungsrichtung aufweist und ein dort hindurch tretendes Licht mit einer Phasenänderung durch Anlegen einer Spannung entlang der Elektrodenschichten versieht; gekennzeichnet durch ein Polarisationsrichtungs-Rotationselement (40), welches in einem optischen Pfad zwischen einer Lichtquelle (1) des Lichtstrahls und dem Flüssigkristallelement (20, 30) angeordnet ist, um die Polarisationsrichtung des polarisierten Lichtstrahls derart zu drehen, dass diese in Ausrichtung mit der Orientierung des Flüssigkristalls (31) ist, wenn eine Antriebsspannung dort angelegt ist.
  2. Aberrations-Korrektureinheit gemäß Anspruch 1, des Weiteren umfassend: ein Steuergerät (12) zum Steuern des Polarisationsrichtungs-Rotationselements (40) zum Rotieren der Polarisationsrichtung des Lichtstrahls mit vorbestimmter Zeitsteuerung.
  3. Einheit gemäß Anspruch 2, wobei das Aufzeichnungsmedium (50) eine Mehrzahl von Aufzeichnungsschichten (L0, L1) aufweist und die vorbestimmte Zeitsteuerung eine Zeitsteuerung des Änderns der Aufzeichnungsschichten ist, auf welche der Lichtstrahl abgestrahlt wird.
  4. Einheit gemäß irgendeinem der vorhergehenden Ansprüche, wobei zumindest eine der Elektrodenschichten (22A, 22B), welche einander gegenüber liegen, derart geteilt ist, dass die Aberration des Lichtstrahls korrigiert wird, welcher eine Polarisationsrichtung aufweist, welche im Wesentlichen der vorbestimmten Orientierungsrichtung identisch ist.
  5. Aufnehmervorrichtung mit einer Aberrations-Korrektureinheit gemäß Anspruch 4, umfassend: Spannungs-Anlegemittel (14) zum Anlegen einer unterschiedlichen Spannung an jede der Unterteilungselektroden.
  6. Aberrations-Korrektureinheit (4) gemäß Anspruch 1, umfassend: ein erstes Flüssigkristallelement (20) mit ersten Elektrodenschichten (22A, 22B), welche einander gegenüberliegen, und mit einem Flüssigkristall (21), welcher zwischen den ersten Elektrodenschichten sandwichartig zwischengelagert ist, wobei das erste Flüssigkristallelement eine erste Orientierungsrichtung (P1) aufweist, welche einer Polarisationsrichtung (P) des polarisierten Lichtstrahls parallel ist und ein dorthin durchtretendes Licht mit einer Phasenänderung durch Anlegen einer Spannung entlang der ersten Elektrodenschichten versieht; und ein zweites Flüssigkristallelement (30) mit zweiten Elektrodenschichten (32A, 32B), welche einander gegenüberliegen, und mit einem Flüssigkristall (31), welches zwischen den zweiten Elektrodenschichten sandwichartig zwischengelagert ist, wobei das zweite Flüssigkristallelement eine zweite Orientierungsrichtung (P2) aufweist, welche orthogonal zu der Polarisationsrichtung des polarisierten Lichtstrahls ist und ein dorthin durchtretendes Licht mit einer Phasenänderung durch Anlegen einer Spannung entlang der zweiten Elektrodenschichten versieht; wobei das Polarisationsrichtungs-Rotationselement (40) die Polarisationsrichtung des polarisierten Lichtstrahls derart rotiert, dass diese in Ausrichtung mit einer der ersten und zweiten Orientierungsrichtung ist, wenn eine Antriebsspannung dort angelegt wird.
  7. Einheit gemäß Anspruch 6, wobei das erste Flüssigkristallelement (20) ein dorthin durchtretendes Licht mit einer Phasenänderung zur Korrektur einer ersten Aberration versieht, welche in Folge der Reflexion des Lichts von dem Aufzeichnungsmedium (50) bewirkt wird, und das zweite Flüssigkristallelement (30) ein dorthin durchtretendes Licht mit einer Phasenänderung zur Korrektur einer zweiten Aberration versieht, welche sich von der ersten Aberration unterscheidet.
  8. Einheit gemäß irgendeinem der Ansprüche 2 bis 3, 6 und 7, wobei das Polarisationsrichtungs-Rotationselement (40) eine ferrodielektrische Substanz enthält und die Polarisationsrichtung des Lichtstrahls in Übereinstimmung mit einer Änderung der auf die ferrodielektrische Substanz angelegten Spannung geändert wird.
  9. Einheit gemäß Anspruch 7, wobei zumindest eine Schicht der ersten Elektrodenschichten (22A, 22B), welche einander gegenüberliegen, derart unterteilt ist, dass die erste Aberration korrigiert wird, und zumindest eine Schicht der zweiten Elektrodenschichten, welche einander gegenüberliegen, derart unterteilt ist, dass die zweite Aberration korrigiert wird.
  10. Einheit gemäß irgendeinem der Ansprüche 6 und 7, wobei das Aufzeichnungsmedium (50) eine Mehrzahl von Aufzeichnungsschichten (L0, L1) aufweist, und die ersten und zweiten Flüssigkristallelemente (21, 31) Phasenänderungen in dem dorthin durchtretenden Licht zur Korrektur einer ersten Aberration, welche durch eine der Mehrzahl von Aufzeichnungsschichten bewirkt wird, und einer zweiten Aberration, welche durch eine andere Aufzeichnungsschicht bewirkt wird, bewirken.
  11. Optische Aufnehmervorrichtung mit der Aberrations-Korrektureinheit (4) gemäß Anspruch 2, 3, 4 und 6 bis 8, umfassend: eine Lichtquelle (1) zum Emittieren des Lichtstrahls; und einen Photodetektor (7) zum Detektieren des Lichtstrahls, welcher durch das Aufzeichnungsmedium (50) reflektiert wurde und in der Aberrations-Korrektureinheit (4) hindurch tritt.
  12. Aufzeichnungs-/Wiedergabe-Vorrichtung (10), welche die optische Aufnehmervorrichtung gemäß Anspruch 11 aufweist und aufgezeichnete Information von einem Aufzeichnungsmedium (50) liest, welches eine Mehrzahl von Aufzeichnungsschichten (L0, L1) aufweist, um eine Wiedergabe durchzuführen, umfassend: Zwischenschichtsprungmittel zum Durchführen eines Zwischenschichtsprungs, um eine Bestrahlung des Lichtstrahls von einer Aufzeichnungsschicht zu einer anderen Aufzeichnungsschicht hin zu ändern; und ein Steuergerät (12) zur Steuerung des Polarisationsrichtungs-Rotationselements (40), um die Polarisationsrichtung des Lichtstrahls zu der Zeit des Durchführens des Zwischenschichtsprungs zu rotieren.
  13. Optische Aufnehmervorrichtung mit der Aberrations-Korrektureinheit gemäß Anspruch 9, aufweisend: Spannungsanlegemittel (14) zum Anlegen einer unterschiedlichen Spannung an jede der Unterteilungselektroden der ersten Elektrodenschichten (22A, 22B), welche einander gegenüberliegen, und an jede der Unterteilungselektroden der zweiten Elektrodenschichten (32A, 32B), welche einander gegenüberliegen.
  14. Aufzeichnungs-/Wiedergabe-Vorrichtung (10), welche die optische Aufnehmervorrichtung gemäß Anspruch 11 aufweist und Information aufzeichnet und/oder wiedergibt, dies auf ein/von einem Aufzeichnungsmedium (50) mit einer Mehrzahl von Aufzeichnungsschichten (L0, L1), umfassend: Anweisungsmittel (S15) zum Erzeugen eines Zwischenschichtsprungbefehls zum Ändern einer Aufzeichnungsschicht, auf welche der Lichtstrahl von einer Auf zeichnungsschicht zu der anderen Aufzeichnungsschicht auf der Grundlage eines Lesesignals von dem Aufzeichnungsmedium abgestrahlt wird; Zwischenschichtsprungmittel (S17) zum Durchführen des Zwischenschichtsprungs in Antwort auf den Zwischenschichtsprungbefehl; und ein Steuergerät (12) zum Steuern des Polarisationsrichtungs-Rotationselements (40) zum Rotieren der Polarisationsrichtung des Lichtstrahls zu der Zeit des Durchführens des Zwischenschichtsprungs.
  15. Vorrichtung gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das Steuergerät (12) das Polarisationsrichtungs-Rotationselement (40) dahingehend steuert, die Polarisationsrichtung des Lichtstrahls zu der Richtung zu rotieren, welche im Wesentlichen senkrecht zu der Polarisationsrichtung ist, bevor der Zwischenschichtsprung durchgeführt wird.
  16. Vorrichtung gemäß Anspruch 15, wobei das Steuergerät (12) in Antwort auf den Zwischenschichtsprungbefehl eine Zufuhr der Spannung unterbricht, welche dem Flüssigkristallelement (21, 31) zugeführt wird, welches eine Orientierungsrichtung aufweist, welche im Wesentlichen identisch mit der Polarisationsrichtung des Lichtstrahls ist, bevor der Zwischenschichtsprung durchgeführt wird, und eine Spannung an das andere Flüssigkristallelement (21, 31) anlegt.
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