DE60001467T3 - Leistungssensor mit grossem Dynamikbereich für die wahre mittlere Leistung - Google Patents

Leistungssensor mit grossem Dynamikbereich für die wahre mittlere Leistung Download PDF

Info

Publication number
DE60001467T3
DE60001467T3 DE60001467T DE60001467T DE60001467T3 DE 60001467 T3 DE60001467 T3 DE 60001467T3 DE 60001467 T DE60001467 T DE 60001467T DE 60001467 T DE60001467 T DE 60001467T DE 60001467 T3 DE60001467 T3 DE 60001467T3
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
power
diode
sensor
path
signals
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE60001467T
Other languages
English (en)
Other versions
DE60001467D1 (de
DE60001467T2 (de
Inventor
Ajay A. Rohnert Park Prabhu
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Agilent Technologies Inc
Original Assignee
Agilent Technologies Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=23111492&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=DE60001467(T3) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Agilent Technologies Inc filed Critical Agilent Technologies Inc
Publication of DE60001467D1 publication Critical patent/DE60001467D1/de
Publication of DE60001467T2 publication Critical patent/DE60001467T2/de
Application granted granted Critical
Publication of DE60001467T3 publication Critical patent/DE60001467T3/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/08Circuits for altering the measuring range
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R21/00Arrangements for measuring electric power or power factor
    • G01R21/10Arrangements for measuring electric power or power factor by using square-law characteristics of circuit elements, e.g. diodes, to measure power absorbed by loads of known impedance
    • G01R21/12Arrangements for measuring electric power or power factor by using square-law characteristics of circuit elements, e.g. diodes, to measure power absorbed by loads of known impedance in circuits having distributed constants

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
  • Microwave Amplifiers (AREA)

Description

  • Hintergrund der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf einen Leistungssensor mit großem Dynamikbereich mit echtem Mittelwert (TA-WDR = true average wide dynamic range power sensor), der verwendet werden kann, um genaue Leistungsmessungen von –70 dBm bis +20 dBm oder mehr (großer Dynamikbereich) durchzuführen, unabhängig von dem Format des Signals (echter Mittelwert). Echter-Mittelwert-Sensoren werden seit vielen Jahrzehnten getrennt in dem –70 dBm bis –20 dBm-Bereich (auf der Basis der Diode, die in ihrer „quadratischen" Region arbeitet), und –30 dBm bis +20 dBm (auf der Basis von einem Thermoelement- oder Thermistor- oder Dioden-Sensor mit einem Dämpfungsglied an seinem Eingang). Es gibt keinen einzigen Sensor, der den gesamten oben genannten Dynamikbereich abdeckt.
  • Vor kurzem wurden diodenbasierte Sensoren mit großem Dynamikbereich eingeführt, die den gesamten –70 dBm bis +20 dBm-Bereich abdecken, durch Antreiben eines Diodensensors weit über seine Grenze (–20 dBm) zum Messen der Leistung. Weil die Diode weit über ihre Grenze für eine Echter-Mittelwert-Leistungsmessung in dem –20 dBm bis +20 dBm Bereich liegt, können diese Sensoren nur für die genaue Messung der Leistung einer Einzelfrequenz (Gleichwellensignal oder CW-Signal) verwendet werden. Die meisten Anwendungen erfordern Messungen von komplexen Signalen mit vielen Frequenzkomponenten in denselben (die enorme Nachfrage nach solchen Sensoren liegt an dem schnell wachsenden digitalen Kommunikationsmarkt).
  • Die US-A-5266888 beschreibt ein Strahlungsüberwachungsgerät mit großem Leistungsbereich, das ein Paar von Dioden umfaßt, deren Kathoden miteinander verbunden sind und ein zusätzlicher Kondensator derselben ist parallel zu einer der Dioden gekoppelt. Der Detektor des Strahlungsüberwachungs geräts liefert zwei Ausgangssignale: ein Ausgangssignal kleiner Leistung und ein Ausgangssignal großer Leistung, wobei die Ausgangssignale zu den Anoden der Detektordioden gekoppelt werden. Jedes Ausgangssignal wird an einen jeweiligen nichtinvertierten Eingang von zwei Differenzverstärkern geliefert, und einer der beiden Ausgänge der Verstärker wird durch einen Relaisschalter ausgewählt, abhängig von dem gemessenen Ausgangssignal von einem der Verstärker.
  • Die US-A-4873484 beschreibt eine Sonde zum Erfassen von Hochfrequenzleistung, die zwei unabhängig getriebene hochfrequenzempfindliche Dioden umfasst, die durch eine gemeinsame HF-Eingabe getrieben werden. Die Dioden sind ungleichmäßig aufgefüllt, um einen erweiterten Empfindlichkeitsbereich zu liefern. Die Dioden erzeugen zwei jeweilige Ausgaben, die an einen gemeinsamen Leistungsmesser geliefert werden, der zwischen den beiden Ausgaben schaltet.
  • Die EP-A-0412392 beschreibt einen Leistungsverstärker für einen Sender, bei dem die Ausgabe gemessen wird unter Verwendung einer parallelen Anordnung von Ausgabeleitungen, die jeweils eine Diode enthalten, von denen eine auch einen Dämpfungswiderstand enthält. Die gewünschte Ausgabe wird ausgewählt unter Verwendung eines Wechselschalters, der selektiv mit einer der beiden Dioden verbunden ist.
  • Die US-A-4943764 beschreibt einen Hochfrequenzleistungssensor mit großem Dynamikbereich mit einem Sensorabschnitt kleiner Leistung und einem Sensorabschnitt hoher Leistung. Die Hochfrequenzeingabe wird über einen Gleichsignalblockkondensator an den Sensorabschnitt kleiner Leistung geliefert, und über sowohl den Gleichsignalsperrkondensator als auch einen weiteren Kopplungskondensator an den Sensorabschnitt hoher Leistung. Der Sensorabschnitt kleiner Leistung umfasst eine Diode, deren Ausgang mit einem Gleichsignalweg verbunden ist, wobei der Gleichsignalweg über eine Kapazität mit Masse verbunden ist, der Sensor kleiner Leistung auch einen Schalter umfasst, der wirksam ist, um den Gleichsignalweg zu öffnen, wenn die Hochfrequenzsignale die quadratische niedrige Region des Diodensensors kleiner Leistung überschreiten.
  • Zusammenfassung der Erfindung
  • Es wäre wünschenswert, einen Leistungssensor mit großem Dynamikbereich und echtem Mittelwert (TA-WDR) zu schaffen, der verwendet werden kann, um genaue Leistungsmessungen von –70 dBm bis +20 dBm oder mehr (großer Dynamikbereich) durchzuführen, unabhängig von dem Format des Signals (echter Mittelwert).
  • Gemäß der vorliegenden Erfindung ist ein Leistungssensor mit großem Dynamikbereich und echtem Mittelwert gemäß Anspruch 1 geschaffen.
  • Andere Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden von der folgenden detaillierten Beschreibung in Verbindung mit den beiliegenden Zeichnungen offensichtlich werden.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • Die beiliegenden Zeichnungen, die in dieser Beschreibung enthalten sind und einen Teil derselben bilden, und bei denen gleiche Bezugszeichen gleiche Komponenten bezeichnen, stellen Anordnungen von Sensoren dar und dienen zusammen mit der Beschreibung dazu, die Prinzipien der Erfindung zu erklären. Die in 1 bis 7 dargestellten Anordnungen stellen jedoch keine Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung dar.
  • 1 zeigt eine Implementierung eines Leistungssensors mit großem Dynamikbereich und echtem Mittelwert.
  • 2 zeigt eine weitere Implementierung eines Leistungssensors mit großem Dynamikbereich.
  • 3 zeigt einen Leistungssensor mit großem Dynamikbereich mit einem Schalter in dem HF-Weg.
  • 4 zeigt einen Leistungssensor mit großem Dynamikbereich mit einer passiven HF-Schaltung.
  • 5 zeigt einen Leistungssensor mit großem Dynamikbereich mit einem Schalter in dem Gleichstromweg.
  • 6 zeigt ein Schaltbild einer Diodendetektorschaltung.
  • 7 zeigt ein Schaltbild einer Dioden-Dämpfungsglied-Diodenschaltung.
  • 8 zeigt ein Schaltbild, das den Schalter in dem Gleichstromweg zeigt, gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung.
  • 9 zeigt den Effekt des Schalters von 8 auf die Linearität.
  • Detaillierte Beschreibung der bevorzugten Ausführungsbeispiele
  • Nachfolgend wird näher auf Anordnungen von Sensoren Bezug genommen, die dazu dienen, Prinzipien der vorliegenden Erfindung zu er klären, wobei Beispiele derselben in den beiliegenden Zeichnungen dargestellt sind.
  • Die vorliegende Erfindung liefert einen Leistungssensor mit großem Dynamikbereich mit echtem Mittelwert, der in der Lage ist, sehr genaue Leistungsmessungen des großen Dynamikbereichs mit echtem Mittelwert durchzuführen.
  • Obwohl es mehrere Techniken zum Entwerfen von Leistungssensoren mit großem Dynamikbereich mit echtem Mittelwert gibt, bestehen alle diese Ideen aus dem Verwenden einer Diode zum Messen eines Signals kleiner Leistung (–70 dBm bis –20 dBm). Es ist wichtig zu erkennen, daß die Fähigkeit, eine Messung des Signals niedrigster Leistung durchzuführen, ein Beschränkungsfaktor ist. Denn ein Signal höherer Leistung kann immer ohne weiteres gedämpft werden (um einen bekannten Faktor), um es zu einem Pegel herunterzubringen, der durch einen Sensor kleiner Leistung gemessen werden kann. Es gibt jedoch keine einfache Technik zum Messen von Signalen unter –70 dBm (darunter werden die Dioden zu rauschbehaftet). Somit wird bei verschiedenen möglichen Implementierungen eines Leistungssensors mit großem Dynamikbereich mit echtem Mittelwert ein Diodensensor verwendet, um Signale kleiner Leistung zu messen. Um Signale höherer Leistung zu messen, könnte ein Dämpfungsglied in den HF-Signalweg des gleichen Diodensensors geschaltet werden, wie es in 1 gezeigt ist, die das HF-Signal auf dem HF-Signalweg 10 in den Diodensensor niedriger Leistung 12 eingegeben zeigt. Der Diodensensor 12 empfängt HF-Signale kleiner Leistung und das geschaltete Dämpfungsglied 14 entfernt wirksam HF-Signale hoher Leistung durch Reduzieren solcher Signale auf die quadratische Region.
  • Bei einer anderen Anordnung, die in 2 gezeigt ist, wird das ankommende Signal in zwei getrennte Wege 20, 22 geleitet, einen HF-Weg 20, der zu einer Diode 24 geht, die die HF-Signale für eine Messung kleiner Leistung empfängt, und den anderen HF-Weg 22, der zu einem Sensor 26 hoher Leistung geht, der ein Thermistor-, ein Thermoelement- oder ein gedämpfter Dioden-Sensor (der im allgemeinen "als Sensor hoher Leistung" bezeichnet wird) sein könnte, der die HF-Signale empfängt, um das Signal hoher Leistung zu messen.
  • Bei dieser zweiten Anordnung eines Leistungssensors mit großem Dynamikbereich mit echtem Mittelwert wurde bestimmt, daß das Vorliegen des Diodensensors kleiner Leistung sehr nachteilige Effekte hat, wenn ein Signal hoher Leistung in diese Schaltung eingegeben wird, und der Arm hoher Leistung dieser Schaltung versucht, eine genaue Messung durchzuführen.
  • Somit muß man die Effekte des Diodensensors kleiner Leistung von der Schaltung elektrisch isolieren, wenn der Signalpegel über seine quadratische Region hinausgeht. Dies kann unter Verwendung eines Schalters 30 eines bestimmten Typs (elektronisch, mechanisch, mikromechanisch) in dem HF-Signalweg durchgeführt werden, um den Diodensensor kleiner Leistung zu isolieren, wie es in 3 gezeigt ist.
  • Dies könnte auch unter Verwendung einer passiven Schaltung 34 durchgeführt werden, die in 4 gezeigt ist, die eine hohe Isolierung zwischen dem Sensor hoher Leistung und dem Diodensensor kleiner Leistung liefert (beispielsweise unter Verwendung einer hochisolierenden Teilerschaltung oder eines hochisolierenden Richtungskopplers, usw.). Die oben erwähnten Schalter und passiven Schaltungen liegen in dem HF-Signalweg und müssen somit mit höchster Vorsicht entworfen werden. Aufgrund der speziellen Art dieser Schaltungen führen dieselben Frequenzbandbreitenbeschränkungen ein (zumindest mit den Schaltern, die zum aktuellen Zeitpunkt verfügbar sind).
  • Das richtige Funktionieren des Sensors hoher Leistung kann dadurch beeinträchtigt werden, daß der übermäßige Gleichstrom durch die Diode des Wegs kleiner Leistung fließt, wenn der Eingangsanschluß derselben unvermeidlich auf das HF-Signal hoher Leistung trifft, das wirklich durch den Sensor hoher Leistung gemessen werden soll. Die meisten Vorteile des Isolierens des Diodensensors kleiner Leistung von dem HF-Signalweg können einfach erreicht werden durch Abtrennen des Gleichstromwegs von der Diode, wodurch verhindert wird, daß Gleichstrom durch die Diode fließt. Diese Anordnung ist in 5 gezeigt, die den Schalter 38 in dem Gleichstromweg 40 zeigt.
  • Anders als das Abtrennen oder Isolieren des HF-Wegs ist es sehr einfach, die Gleichstromschaltung unter Verwendung von ohne weiteres verfügbaren Schaltern zu trennen (dies könnte jeder geeignete Schalter sein, der die Leistungsfähigkeit des Diodensensors nicht verschlechtert, wenn er in der Tat verwendet wird, um Messungen niedriger Leistung durchzuführen).
  • Dioden werden bei allen Arten von elektronischen Schaltungen sehr häufig verwendet. Die Nicht-Linear-Strom-über-Spannung-Charakteristika (I-V-Charakteristika) der Dioden werden in mehreren Schaltungen genutzt, um sinnvolle Aufgaben durchzuführen. Die Nicht-Linear-I-V-Charakteristik führt zu einer schwankenden Diodenimpedanz, da der Strom durch die Diode schwankt. Bei Mikrowellenschaltungen ist das Anpassen der Impedanz einer Schaltung an die Impedanz einer Quelle von höchster Wichtigkeit, um eine effiziente Signalübertragung mit geringen Signalreflexionspegeln zu erreichen. In vielen Fällen ist die variierende Diodenimpedanz eine unvermeidbare Tatsache, die der Entwurf auszugleichen versuchen sollte. Bei anderen Anwendungen, wo die Diode nicht aktiv verwendet wird, können viele der nachteiligen Effekte der Diodenimpedanzschwankung eliminiert werden, einfach durch Abtrennen des Gleichstromwegs der Diode von der Schaltung unter Verwendung entweder eines mechanischen oder eines elektronischen Schalters. Diese Technik wurde bei dem Leistungssensor mit großem Dynamikbereich mit echtem Mittelwert demonstriert, und hat zu wesentlichen Verbesserungen bei der Genauigkeit und Leistungsfähigkeit dieses Geräts geführt.
  • Der Einfluß des Gleichstroms auf die Diodenimpedanz wird nun beschrieben. Die Beziehung zwischen Spannung und Strom in einer Diode ist I(V) = Is(eaV –1)wobei I der Strom durch die Diode ist, wenn die Spannung V über dieselbe angelegt ist. Is ist der Sättigungsstrom, der bei jeder bestimmten Temperatur eine Konstante ist. Allgemein, falls V aus einer Gleichstromkomponente, Vo, und einer Wechselstromkomponente, v, besteht, gilt folgendes: V = Vo + v
  • Die Diodenimpedanz, die allgemein als Videowiderstandsfähigkeit Rv bekannt ist, ist:
    Figure 00080001
    wobei Io der Vorspannungsstrom aufgrund der Gleichstromspannung Vo ist.
  • Somit ist Rv invers proportional zu Io + Is. Bei einer Nullvorspannung (Io = 0) ist Rv:
  • Figure 00080002
  • Eine HF-Leistungserfassung und Leistungsmessung ist eine der wichtigsten Anwendungen von Dioden bei Mikrowellenschaltungen. Ein Schema einer Detektorschaltung ist in 6 gezeigt. Bei dieser Schaltung wird die HF-Spannung über die parallele Kombination eines Anpassungswiderstands Rm und der Diode D angelegt. Für kleine HF-Signale erscheint eine gleichgerichtete Gleichstromspannung proportional zu dem Quadrat der HF-Spannung an dem Ausgangsanschluß. Unter diesen Bedingungen wird gesagt, daß sich die Diode in ihrer quadratischen Betriebsregion befindet. Der Kondensator Cb schließt das HF-Signal an dem Diodenausgang kurz, und stellt sicher, daß die gesamte HF-Spannung über der Diode D erscheint. Da derselbe ein Gleichstromblock ist, ermöglicht er außerdem, daß die erfaßte Spannung Vd an dem Ausgangsanschluß abgegriffen wird. Der Lastwiderstand RL wirkt als ein Entladungsweg für den Spannungsaufbau über den Kondensator. Für eine gegebene Vd bewirkt der Lastwiderstand einen Gleichstrom gleich Vd/RL, der ebenfalls durch die Diode D fließen muß.
  • Von dem Schaltbild ist klar, daß die HF-Anpassungsimpedanz des Detektors gleich der parallelen Kombination von Rv und Rm ist. Um eine gute Anpassung beizubehalten, ist es erforderlich, daß die Diodenwiderstandsfähigkeit im Vergleich zu Rm hoch bleibt. Rv kann jedoch nicht zu hoch sein, da derselbe die Diodenempfindlichkeit verringert. Ein Kompromiß zwischen einer guten Empfindlichkeit niedriger Leistung und einer Übereinstimmung erfordert, daß Rv in dem Bereich von 1 bis 2 Kiloohm liegt. Die Anpassung bleibt gut, wenn die Diode D in ihrer quadratischen Region ist, wobei die erfaßte Spannung klein ist und der Gleichstrom durch den Lastwiderstand (typischerweise 10 Kiloohm) sehr klein ist.
  • Bis vor kurzem wurden Diodendetektoren in Leistungssensoren immer mit der Diode in ihrer quadratischen Region verwendet. Somit war der sich ändernde Wert von Rv kein Thema. Bei höheren Eingangsleistungspegeln, wo die erfaßte Spannung höher ist, kann der Gleichstrom durch die Diode so hoch sein, daß die Diodenwiderstandsfähigkeit zu klein werden kann, um eine gute Anpassung beizubehalten. In neuesten Leistungssensoren wurde eine Diode verwendet, um HF-Signale bis zu 100 mW zu messen, unter Verwendung im wesentlichen der gleichen Detektorschaltung, wie oben gezeigt ist. In der Region über 10 Mikrowatt, wo sich der Diodendetektor nicht mehr in seiner quadratischen Region befindet, kann jedoch nur ein Gleichwellensignal genau gemessen werden. Dies ist ein großer Nachteil für die Sensoren, da viele Anwendungen, insbesondere Digitalkommunikation, eine genaue Messung von Nicht-CW-Signalen erfordern.
  • Bei der Anordnung von 7 wurden zwei getrennte Detektorschaltungen auf dem gleichen GaAs-Chip integriert. Einer der Detektoren 44 mißt das Signal direkt von der Quelle. Dem anderen Detektor 84 wird ein Abtastwert des Signals vorgelegt, das unter Verwendung eines chipinternen resistiven Teilernetzwerks, einschließlich R1, R2, stark gedämpft ist. Die erfaßten Spannungen von den direkten und den gedämpften Detektoren werden verwendet, um Signale niedriger bzw. hoher Leistung zu messen. Das Schaubild ist in 7 gezeigt.
  • Beide Detektoren 44, 48 messen eine HF-Leistung, wenn die Dioden in der quadratischen Region sind. Wenn die Detektoren jedoch zum Messen von Signalen hoher Leistung verwendet werden, erfährt die Diode D1 in dem direkten Detektor 44 sehr hohe HF-Spannungen über ihre Anschlüsse. Somit ist die erfaßte Spannung in dem direkten Detektor 44 hoch. Dies bewirkt, daß ein hoher Vorspannungsstrom durch diese Diode D1 fließt, wodurch bewirkt wird, daß die Impedanz derselben fällt, und somit die HF-Spannung über den Sensor hoher Leistung 48 geändert wird. Diese Änderung bei der Impedanzanpassung bewirkt eine offensichtliche Nichtlinearität bei der erfaßten Spannung an dem Dämpfungsglieddetektor 48, und beeinträchtigt somit den Zweck dieses neuen Entwurfs.
  • Die vorliegende Erfindung löst dieses Problem. Der Hauptgrund des Problems ist der Gleichstrom, der durch die Diode D1 in dem direkten Detektor 44 fließt, wenn die Erfassung desselben nicht mehr verwendet wird. Somit kann die hohe Impedanz desselben durch Öffnen seines Gleichstromwegs beibehalten werden. Bei einem Ausführungsbeispiel wurde der Entwurf mit einem FET-(Feldeffekttransistor-)Schalter implementiert, der die Schaltungen des Gleichstromwegs in dem direkten Detektor öffnet, sobald die gedämpfte Detektorspannung verwendet wird, um Signale hoher Leistung zu messen. Diese Anordnung ist in 8 gezeigt, die den Schalter 50 in dem Gleichstromweg 40 zeigt. Nun fließt kein Gleichstrom durch die Diode D1 kleiner Leistung. Statt einem FET-Schalter hätte auch ein mechanischer Schalter verwendet werden können. FET-Schalter sind jedoch wiederholbarer und halten viel länger.
  • Diese Technik hat den Dynamikbereich, die Genauigkeit, die Impedanzanpassung und Frequenzantwort des Leistungssensors gemäß der vorliegenden Erfindung wesentlich verbessert. Der wichtigste Leistungsfähigkeitsparameter, die Linearität des Detektors mit und ohne die Verwendung dieser Technik ist in 9 gezeigt, um den Vorteil dieser Technik herauszuheben. 9 zeigt, daß der Fehler bei der Linearität, wenn der Schalter nicht verwendet wird, sehr hoch ist. Der Restfehler bei der Linearität, wenn der Schalter verwendet wird, liegt an dem gedämpften Detektor 48 selbst. Somit wurde die große Mehrzahl der nachteiligen Effekte des Diodensensors kleiner Leistung eliminiert, durch Öffnen des Gleichstromwegs in dieser Schaltung. In 9 ist der Fehler bei der Linearität sehr hoch, wenn die Diode kleiner Leistung einen Gleichstrom leitet. Wenn der Schalter den Gleichstromweg öffnet und verhindert, daß Gleichstrom durch den Diodensensor kleiner Leistung fließt, bleibt die Meßgenauigkeit hoher Leistung intakt.
  • Die vorhergehenden Beschreibungen eines spezifischen Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung wurden zu Darstellungszwecken und Beschreibungszwecken vorgelegt. Sie sollen nicht erschöpfend sein oder die Erfindung auf die genau offenbarte Form begrenzen, und es sollte klar sein, daß viele Modifikationen und Variationen hinsichtlich der obigen Lehre möglich sind. Das Ausführungsbeispiel wurden ausgewählt und beschrieben, um die Prinzipien der Erfindung und deren praktische Anwendbarkeit am besten zu erklären, um es dadurch anderen Fachleuten auf diesem Gebiet zu ermöglichen, die Erfindung und verschiedene Ausführungsbeispiele mit verschiedenen Modifikationen, wie sie für die spezielle in Betracht gezogene Verwendung geeignet sind, am besten zu verwenden.

Claims (8)

  1. Ein Leistungssensor mit großem Dynamikbereich, der folgende Merkmale umfasst: eine Einrichtung zum Empfangen von HF-Signalen mit großen Dynamikleistungsbereichen; einen ersten HF-Weg, der einen Diodensensor kleiner Leistung (44) zum Messen von HF-Signalen umfasst, die kleine Leistungsbereiche aufweisen, wobei der Diodensensor kleiner Leistung eine Diode und einen Anpassungswiderstand (Rm) umfasst, der parallel geschaltet ist zu dem Eingang des Diodensensors kleiner Leistung (44); einen zweiten HF-Weg, der einen Hochleistungssensor zum Messen von HF-Signalen mit hohen Leistungsbereichen umfasst; wobei der Ausgang von der Diode mit einem Gleichstromweg (40) verbunden ist, wobei der Gleichstromweg mit Masse verbunden ist über eine Kapazität, die an einem ersten Knoten benachbart zu der Diode mit dem Gleichstromweg verbunden ist, und über einen Widerstand, der an einem zweiten Knoten benachbart zu dem ersten Knoten und distal zu der Diode mit dem Gleichstromweg verbunden ist, und der Sensor kleiner Leistung außerdem einen Schalter (50) umfasst, der in dem Gleichstromweg zwischen dem ersten und dem zweiten Knoten angeordnet ist, wobei der Schalter wirksam ist, um den Gleichstromweg zu öffnen, wenn die HF-Signale die quadratische Region des Diodensensors kleiner Leistung überschreiten und somit den Gleichstromfluss durch die Diode verhindern und bezüglich des Anpassungswiderstands Rm eine hohe Diodenimpedanz beibehalten.
  2. Ein Leistungssensor gemäß Anspruch 1, bei dem der große Dynamikleistungsbereich von –70 dBm bis +20 dBm oder mehr reicht.
  3. Ein Leistungssensor gemäß Anspruch 1 oder 2, der eine Dämpfungseinrichtung (R1, R2) zum Dämpfen der Hochleistungs-HF-Signale umfasst.
  4. Ein Leistungssensor gemäß Anspruch 3, bei dem die Dämpfungseinrichtung ein resistives Teilernetzwerk (R1, R2) zum Dämpfen der Hochleistungs-HF-Signale in dem zweiten HF-Weg ist.
  5. Ein Leistungssensor gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem der Hochleistungssensor (48) ein Diodensensor ist, dem ein Dämpfungsglied vorausgeht.
  6. Ein Leistungssensor gemäß einem der Ansprüche 1 bis 4, bei dem der Hochleistungssensor (48) ein Thermistorsensor ist.
  7. Ein Leistungssensor gemäß einem der Ansprüche 1 bis 4, bei dem der Hochleistungssensor (48) ein Thermoelementsensor ist.
  8. Ein Leistungssensor gemäß Anspruch 1, bei dem der Gleichstromwegschalter (50) ein FET-Schalter ist.
DE60001467T 1999-04-09 2000-04-03 Leistungssensor mit grossem Dynamikbereich für die wahre mittlere Leistung Expired - Fee Related DE60001467T3 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/289,428 US6291982B1 (en) 1999-04-09 1999-04-09 True average wide dynamic range power sensor
US289428 2005-11-30

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE60001467D1 DE60001467D1 (de) 2003-04-03
DE60001467T2 DE60001467T2 (de) 2004-02-26
DE60001467T3 true DE60001467T3 (de) 2006-11-16

Family

ID=23111492

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE60001467T Expired - Fee Related DE60001467T3 (de) 1999-04-09 2000-04-03 Leistungssensor mit grossem Dynamikbereich für die wahre mittlere Leistung

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6291982B1 (de)
EP (1) EP1043594B2 (de)
JP (1) JP2000329802A (de)
DE (1) DE60001467T3 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008049665A1 (de) * 2008-09-30 2010-04-22 Infineon Technologies Ag Stellen eines Ausgangspegels einer Verstärkervorrichtung

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19913338B4 (de) * 1999-03-24 2005-07-14 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Ein- oder Mehrweg-HF-Diodengleichrichterschaltung
US6331769B1 (en) * 1999-06-18 2001-12-18 Anritsu Company RMS power sensor with 84 dB dynamic range
DE102006032277B4 (de) * 2006-07-12 2017-06-01 Infineon Technologies Ag Magnetfeldsensorbauelement
DE102006032266A1 (de) * 2006-07-12 2008-01-17 Infineon Technologies Ag Sensorbauelement
US20080143320A1 (en) * 2006-10-27 2008-06-19 Agilent Technologies, Inc. Power Sensor with Switched-In Signal Amplification Path
TWI428611B (zh) 2010-09-10 2014-03-01 Ind Tech Res Inst 零偏壓式功率偵測器
CA2984622C (en) * 2015-05-01 2019-12-17 Watlow Electric Manufacturing Company Active grounded thermocouple and method of operation
US20190059133A1 (en) * 2017-08-16 2019-02-21 The Markov Corporation Sensors for Training Data Acquisition in an Intelligent Electronic Oven

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4008610A (en) * 1975-06-05 1977-02-22 The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce Self-balancing D.C.-substitution measuring system
JPS58129706U (ja) * 1982-02-26 1983-09-02 三菱電機株式会社 二乗検波器
US4873484A (en) * 1987-09-03 1989-10-10 Lucas Weinschel, Inc. Extended range composite head power sensor with three circuit branches having a common node
US4943764A (en) 1987-12-11 1990-07-24 Hewlett-Packard Company Wide dynamic range radio-frequency power sensor
GB8918365D0 (en) * 1989-08-11 1989-09-20 Motorola Ltd Amplifier for radio transmitter having controllable output power
US5204613A (en) 1991-05-02 1993-04-20 Wavetek Microwave, Inc. Rf power sensor having improved linearity over greater dynamic range
US5266888A (en) * 1992-02-28 1993-11-30 The Narda Microwave Corp. Wide power range radiation monitor
FI930632A (fi) * 1993-02-12 1994-08-13 Nokia Mobile Phones Ltd Kytkentä lähetinvahvistimen tehon säätämiseksi
US5656929A (en) * 1995-10-25 1997-08-12 Hewlett-Packard Company Method and apparatus for measuring RF power in a test set
US5777530A (en) * 1996-01-31 1998-07-07 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Switch attenuator

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008049665A1 (de) * 2008-09-30 2010-04-22 Infineon Technologies Ag Stellen eines Ausgangspegels einer Verstärkervorrichtung

Also Published As

Publication number Publication date
DE60001467D1 (de) 2003-04-03
DE60001467T2 (de) 2004-02-26
US6291982B1 (en) 2001-09-18
EP1043594A1 (de) 2000-10-11
EP1043594B2 (de) 2006-04-05
JP2000329802A (ja) 2000-11-30
EP1043594B1 (de) 2003-02-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69229692T2 (de) Verfahren zum Erfassen eines Pulssignals in einem Schaltkreis mittels eines passiven Tastkopf mit grosser Bandbreite
DE19710474B4 (de) Übertragungsleistungserfassungsschaltung zum Erfassen einer Übertragungsleistung eines Funksignals
EP3124992A1 (de) Lichtempfänger mit lawinenphotodioden im geiger-modus und verfahren zum auslesen
DE60001467T3 (de) Leistungssensor mit grossem Dynamikbereich für die wahre mittlere Leistung
DE60000048T2 (de) Ein optischer Bezugsempfänger und Ausgangsverstärker ohne getrennten Filter
DE60000467T2 (de) Dioden-Mikrowellenleistungssensor mit geschaltetem Dämpfungsglied
DE68919704T2 (de) Strom-Spannungswandler.
DE60032232T2 (de) FET-Transistor mit Leistungsdetektor
DE69231901T2 (de) Transimpedanz-differenzverstärker
DE102005026928B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Analog-Digital-Wandlung eines Eingangssignals mit hoher Dynamik
WO2015032373A2 (de) Vorrichtung zum betreiben passiver infrarotsensoren
EP0433646B1 (de) Optischer Empfänger
DE3752174T2 (de) Netzwerk mit signalformung
EP2609435B1 (de) Kalibriereinrichtung für einen netzwerkanalysator
DE3615925C2 (de)
DE102006036169B3 (de) Schaltung zur besseren Gleichlaufunterdrückung bei galvanisch direkt gekoppelten Temperaturverstärkern
DE19835130A1 (de) Licht-Meßeinrichtung zur genauen und kontinuierlichen Messung von Lichtintensität
EP2471202B1 (de) Schaltungsanordnung zum einstellen des spannungspotentials am hf-ausgang eines pin- photoempfängers und photoempfängeranordnung
DE19522491C2 (de) Regelvorrichtung
DE3936773C2 (de)
EP4042566A1 (de) Elektrische schaltung
DE2113445C3 (de) Verfahren zur Beeinflussung des Amplitudenverlaufes eines Signals einer elektrischen Schaltungsanordnung sowie Anordnungen zu seiner Durchführung
DE102013022378B3 (de) Vorrichtung zum Betreiben passiver Infrarotsensoren
DE3920836C1 (de)
DE1908119A1 (de) Transistorverstaerker

Legal Events

Date Code Title Description
8363 Opposition against the patent
8366 Restricted maintained after opposition proceedings
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: AGILENT TECHNOLOGIES, INC. (N.D.GES.D. STAATES, US

8339 Ceased/non-payment of the annual fee