DE511167C

DE511167C - Verfahren zur Messung der Schwaerzung photographischer Schichten

Info

Publication number: DE511167C
Application number: DENDAT511167D
Authority: DE
Original assignee: OTTO REEB DR
Current assignee: OTTO REEB DR
Publication date: 1930-10-27

Description

Verfahren zur Messung der Schwärzung photographischer Schichten Die Messung der Schwärzung photographischer Schichten erfolgt bisher auf dem Wege, daß man die durch den Silberniederschlag in der Schicht hervorgerufene Schwächung eines die Schicht durchdringenden Lichtbündels photometrisch mißt. Diese optische Messung der Stärke des Silberniederschlages in photographischen Schichten hat den Nachteil, daß .die gefundenen Werte von der Farbe der benutztem Lichtquelle abhängig sind.
Die vorliegende Erfindung gibt nun die Möglichkeit, sich von dem Einfluß der Lichtfarbe dadurch freizumachen, daß man auf eine optische Messung der Schwärzung verzichtet und die Dichte des Silberniederschlages bzw. die Menge der für eine bestimmte Flächeneinheit niedergeschlagenen Silberpartikelchen aus dem Einfluß auf die elektrischen Eigenschaften eines Kondensators ermittelt. Bringt man nämlich in den zwischen den Platten eines Kondensators befindlichen Raum das Dielektrikum, eine Substanz, deren Dielektrizitätskon.stante sich von der des Dielektrikums unterscheidet, so wird dadurch: die Kapazität des Kondensators geändert. Die Größe dieser Änderung ist dann ein Maß für die Menge der in das Dielektrikuün eingebrachten Substanz. Sie kann mit Hilfe einer der bekannten Methoden zur Messung von Kapazitäten bestimmt werden.
Die Abbildung zeigt beispielsweise im Querschnitt eine derartige Anordnung zur Messung der Schwärzung photographischer Platten. In den zwischen den beiden Kondensatorplatten a, a' befindlichen Zwischenraum b ,ist eine photographische Platte eingebracht, die in üblicher Weise aus einer Glasplatte c als Träger der belichteten Schicht d besteht. In letzterer sind metallische Silberkörner e eingebettet, die je nach ihrer Häufung die Schwärzung der Schicht bedingen. Durch die eingebrachte photographische Platte ist das Dielektrikum und damit die Kapazität des Kondensators verändert. Schiebt man die Platte c, d zwischen den Kondensatorplatten a, a' hindurch, so wird die Größe der Kapazitätsänderung durch die jeweils zwischen den Kondensatorplatten befindliche Silbermenge der photographischen Schicht bestimmt.
Zweckmäßigerweise paßt man - Form und Größe der Kondensatorplatten dem zu messenden Objekt an. Sind z. B. Stellen verschiedener Schwärzung in einer photographiscben Platte verhältnismäßig klein und eng benachbart, so wird man die Kondensatorplatten entsprechend klein wählen; sie können dabei die Form von Spitzen oder Schneiden annehmen.
Die Träger der photographischen Schicht können sowohl lichtdurchlässig (Platten, Filme) oder undurchsichtig (z. B. photographische Papiere) sein; das Meßverfahren ist in beiden Fällen .das gleiche im Gegensatz zur bisher üblichen optischen Ausmessung, bei der sich die Schwärzungsmessung an photographischen Papieren wesentlich von der an lichtdurchlässigen Schichten unterscheidet.

Claims

PATENTANSPRUCH: Verfahren 'zur Messung der Schwärzung photographischer Schichten, dadurch gekennzeichnet daß die photographische Schicht in den Zwischenraum zweier feststehender Kondensatorplatten eingebracht und die durch das Metall der photographischen Schicht hervorgerufene Veränderung des Dielektrikums und damit der Kapazität des Kondensators für die Erinittlung der das Maß -der Schwärzung bestimmenden Menge des eingebetteten Metalls ausgenutzt wird.