DE485412T1 - Massenspektometrie mit plasma-quelle. - Google Patents

Massenspektometrie mit plasma-quelle.

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DE485412T1
DE485412T1 DE1990910833 DE90910833T DE485412T1 DE 485412 T1 DE485412 T1 DE 485412T1 DE 1990910833 DE1990910833 DE 1990910833 DE 90910833 T DE90910833 T DE 90910833T DE 485412 T1 DE485412 T1 DE 485412T1
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DE
Germany
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collector
axis
detector
electrode
mass
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Pending
Application number
DE1990910833
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English (en)
Inventor
Neil Edward Sandiway Cheshire Cw8 2Jt Sanderson
Christopher Thomas Cheadle Cheshire Sk8 3Ej Tye
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fisons Ltd
Original Assignee
Fisons Ltd
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  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Claims (20)

  1. Pater.icnweite
    Dipl.-!nq. H. Weidmann, Dipl.-Fhvs. Dr. K Finde 3 Q, Mäi'Z
    DipL-liu. F. A. Weidmann, Dipi.-Chirr 3. '.-!über Dr.-Ing. H. Liska. Dipl.-Phys. Dr. J. Frechtel n/.pC/ 4
    Diol.-Chein. Dr. B. B5:;m1 W*rüU^|
    hg Kopernikus'straBe 9 · 3000 München 80
    DEU 2336
    Übersetzung der ursprünglich
    eingereichten Patentansprüche
    der PCT-Anmeldung PCT/GB90/01100
    Fisons plc,
    Fison House,
    Princes Street,
    Ipswich
    IPl IQH,
    England
    Plasmaquellen-Massenspektroskopie
    Patentansprüche
    1. Verfahren zur inassenspektroskopischen Analyse einer Probe, umfassend: Induzieren eines Plasmas (15) in einem Gas bei im wesentlichen Atmosphärendruck; Einführen der Probe in das Plasma und damit Ionisieren wenigstens eines Teils der Probe zur Bildung von Probenionen (17) ; überfüh-
    OQ ren wenigstens einiger der Probenionen in eine evakuierte Kammer (24) mit einem darin angeordneten Massenfilter (26), und Auswählen von Probenionen innerhalb eines ausgewählten Massenbereichs mittels des Massenfilters; Erfassen, im wesentlichen ohne Ladungsvervielfachung wenigstens einiger
    der nach Masse ausgewählten Ionen mittels eines einen Ionenkollektor (59,70,37) umfassenden Ionendetektors (58, 69,27); und Verhindern, daß der Ionendetektor auf elektrisch neutrale Teilchen anspricht.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1 und umfassend: Anlegen einer Elektronen abstoßenden Spannung an eine Entstör-Elektrode (63,74,41), die ein Teil des Detektors (58,69,27) ist, und hierdurch Rückführen aller daraus durch Teilchenstöße freigesetzten Elektronen zu dem Kollektor und Schützen der Entstör-Elektrode vor den neutralen Teilchen.
  3. 3. Verfahren nach Anspruch 1 oder Anspruch 2 und weiter umfassend Ablenken der nach Masse ausgewählten Ionen zu dem Kollektor (70,53) hin.
  4. 4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche und weiter umfassend Erzeugen eines radialen elektrischen Feldes, um Ionen von einer Achse (40) des Detektors (27) weg zu einer um die Achse herum angeordneten, Ionen-sammelnden Fläche (53) hin zu beschleunigen.
  5. 5. Massenspektrometer, umfassend Mittel (16) zur Erzeugung eines Plasmas (15) in einem Gas bei im wesentlichen Atmosphärendruck; Mittel (4) zum Einführen einer Probe in das Plasma, wobei die Probe zur Bildung von Probenionen (17) ionisiert wird; Mittel (19,23) zum Überführen der Ionen aus dem Plasma in eine evakuierte Kammer (24) ; einen in der evakuierten Kammer angeordneten Massenfilter (26), und einen im wesentlichen nicht vervielfältigenden, einen Ionenkollektor (59,70,37) umfassenden Ionendetektor (58,69, 27), wobei der Detektor auf die Ladung wenigstens einiger der durch den Massenfilter hindurchgehenden Probenionen anspricht; und Mittel, um das Ansprechen des Detektors auf elektrisch neutrale Teilchen zu verhindern.
  6. 6. Massenspektrometer nach Anspruch 5 und umfassend: ein Entstörglied (63,74,41) und Mittel (64,75,42), um das Entstörglied relativ zum Kollektor mit einer negativen Entstör-Spannung vorzuspannen, um davon abgegebene Sekundär-Elektronen zum Kollektor hin zu reflektieren; und eine Blende (61,73,100), die zum Schutz des Entstörglieds vor den neutralen Teilchen angeordnet ist.
  7. 7. Massenspektrometer nach Anspruch 5, bei welchem der Detektor (58) eine zu dem Kollektor (59) führende Achse (96) aufweist und umfaßt: eine ringförmige Entstör-Elektrode (63), die eine im wesentlichen auf der Achse zentrierte Öffnung (93) festlegt; und eine ringförmige Blenden-Elektrode (61), die eine ebenfalls im wesentlichen auf der Achse zentrierte Öffnung (92) festlegt; bei welchem die Entstör-Elektrode axial zwischen dem Kollektor und der Blenden-Elektrode angeordnet ist, wobei die Blenden-Elektrode zum Schutz der Entstör-Elektrode vor den neutralen Teilchen angeordnet ist; und das Spektrometer weiter Mittel (64) umfaßt, um das Entstörglied relativ zum Kollektor mit einer negativen Entstör-Spannung vorzuspannen, um davon abgegebene Sekundär-Elektronen zum Kollektor hin zu reflektieren.
  8. 8. Massenspektrometer nach Anspruch 7, bei welchem: die Achse (96) eine im wesentlichen lineare Achse zylinderförmiger Symmetrie ist; der Kollektor (59) allgemein Topfförmig ist, im wesentlichen auf der Achse ausgerichtet ist und einen im wesentlichen kreisförmigen, auf der Detektorachse angeordneten Eingang (67) aufweist zur Aufnahme der Probenionen von dem Massenfilter (26) ; die Entstör-Elektrode axial zwischen dem Eingang und der Blenden-Elektrode angeordnet ist; und die Öffnung (92) der Blenden-Elektrode einen Durchmesser aufweist, der kleiner ist als jener der öffnung (93) der Entstör-Elektrode.
  9. 9. Massenspektrometer nach Anspruch 7 oder Anspruch 8 und weiter umfassend eine dritte ringförmige Abschirm-Elektrode (62), die axial zwischen dem Eingang (67) und der Entstör-Elektrode (63) angeordnet ist und eine dritte auf der Achse zentrierte öffnung (94) festlegt, und bei welchem die Blende (61), der Kollektor (59) und die dritte Elektrode (62) im wesentlichen auf dem gleichen Potential zueinander gehalten sind.
  10. 10. Massenspektrometer nach Anspruch 5 oder Anspruch 6, bei welchem der Detektor (27) eine Achse (40) im wesentlichen zylinderförmiger Symmetrie aufweist und bei welchem der Detektor umfaßt: den Kollektor (37) in der Form eines an den Enden offenen, auf der Detektorachse zentrierten Hohlzylinders, eine im wesentlichen zylinderförmige, mit Löchern versehene, innere Entstör-Elektrode (41), die koaxial innerhalb des Kollektors angeordnet ist; und das Spektrometer Mittel (42) aufweist, um die Entstör-Elektrode (41) mit einer Entstör-Spannung relativ zum Kollektor (37) negativ vorzuspannen.
  11. 11. Massenspektrometer nach Anspruch "10 und umfassend eine ringförmige Blenden-Elektrode (100), die in der Nähe eines Eingangs (38) des Kollektors angeordnet ist, eine im wesentlichen auf der Detektorachse (40) zentrierte öffnung festlegt und durch die die Ionen hindurchtreten können, und zum Schutz der Entstör-Elektrode (41) vor den neutralen Teilchen.
  12. 12. Massenspektrometer nach einem der Ansprüche 5 bis 11 und mit einer Achse (32), auf welcher wenigstens der Massenfilter (26) ausgerichtet ist, und bei welchem der Detektor (58,27) eine Achse (96,40) aufweist, entlang der und um die herum die nach Masse ausgewählten Ionen auf ihrem Weg zu dem Kollektor (59,37) vorbeilaufen, wobei die Achse des Detektors im wesentlichen zur Spektrometerachse (32) ausgerichtet ist.
  13. 13. Massenspektrometer nach einem der Ansprüche 5 bis 11 und mit einer Achse (32), auf der der Massenfilter (26) ausgerichtet ist, bei welchem der Ionenkollektor (70,37) von der Spektrometerachse (32) beabstandet ist, und das Spektrometer Mittel (77,41) umfaßt zum Ablenken von Ionen zu dem Kollektor hin.
  14. 14. Massenspektrometer nach einem der Ansprüche 6 bis 13, bei welchem die Kollektor-Elektrode (59,70,37) und die
    Blenden-Elektrode (61,73,100) jeweils im wesentlichen auf Massepotential sind und die Entstör-Spannung im wesentlichen im Bereich von -50V bis -500V liegt.
  15. 15. Massenspektrometer nach einem der Ansprüche 5 bis 14
    und weiter umfassend im wesentlichen geerdete, elektrostatische Abschirm-Mittel (60,71,99), die um wenigstens
    einen Teil des Kollektors herum angeordnet sind.
  16. 16. Massenspektrometer nach einem der Ansprüche 5 bis 15, bei welchem der Massenfilter (26) einen Quadrupolfilter
    (33,34,35,36) umfaßt.
  17. 17. Massenspektrometer nach einem der Ansprüche 5 bis 16, bei welchem sich Ionen von dem Plasma zu dem Kollektor entlang einer im wesentlichen ungestörten Flugbahn bewegen.
  18. 18. Massenspektrometer nach einem der Ansprüche 5 bis 17, bei welchem keine geradlinige Bahn vorhanden ist, entlang der sich die Ionen von dem Plasma zu dem Detektor bewegen können, und umfassend Mittel zum Ablenken der Probenionen von dem Massenfilter zu dem Kollektor hin.
  19. 19. Detektor (27) für aus einem Quadrupol-Massenfilter (26) kommende Ionen, wobei der Detektor eine Achse (40) im wesentlichen zylinderförmiger Symmetrie aufweist und umfassend: einen Ionenkollektor (37) in der Form eines an den
    Enden offnenen, auf der Achse (40) zentrierten Hohlzylinders, eine im wesentlichen zylinderförmige mit Löchern
    versehene, innere Entstör-Elektrode (41), die koaxial
    innerhalb des Kollektors angeordnet ist; wobei die innere Elektrode relativ zum Kollektor negativ vorgespannt sein
    kann.
  20. 20. Detektor nach Anspruch 19 und weiter umfassend Mittel (100) zum Schutz der Entstör-Elektrode (41) vor neutralen von dem Massenfilter (26) kommenden Teilchen.
DE1990910833 1989-08-01 1990-07-17 Massenspektometrie mit plasma-quelle. Pending DE485412T1 (de)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
GB898917570A GB8917570D0 (en) 1989-08-01 1989-08-01 Plasma source mass spectrometry
PCT/GB1990/001100 WO1991002376A1 (en) 1989-08-01 1990-07-17 Plasma source mass spectrometry

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE485412T1 true DE485412T1 (de) 1992-09-24

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Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1990910833 Pending DE485412T1 (de) 1989-08-01 1990-07-17 Massenspektometrie mit plasma-quelle.

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