DE4445002A1 - Hochfrequenzfilter - Google Patents

Hochfrequenzfilter

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Description

Die Erfindung betrifft ein Hochfrequenzfilter für bei­ spielsweise ein tragbares Kommunikationsgerät.
Der Bedarf nach kompakteren und zuverlässigeren portablen Kommunikationsgeräten einschließlich tragbarer Telefone (cellular telephone) und Autotelefone steigt. Somit ist es wünschenswert, daß ein in einem solchen Gerät verwendetes Hochfrequenzfilter kleiner, selektiver und leistungswider­ standsfähiger ist.
Bekannte Hochfrequenzfilter umfassen solche mit einem di­ elektrischen Resonator (japanische nichtgeprüfte Patentver­ öffentlichung Nr. 110503/1989) und solche mit einem Aku­ stik-Oberflächenwellen-Resonator (japanische ungeprüfte Pa­ tentveröffentlichung Nr. 260911/1989).
Fig. 7 ist eine Perspektivdarstellung eines Hochfrequenz­ filters, das einen dielektrischen Resonator (im Folgenden als "dielektrisches Filter" bezeichnet) verwendet. Das di­ elektrische Filter ist aus zwei dielektrischen Resonatoren 11 aufgebaut, die auf einem Aluminiumoxid-Substrat 12 (alu­ mina) befestigt sind. Das dielektrische Filter ist ferner mit Eingangs-/Ausgangs-Elektroden 13 und 14 an einer Seite des Aluminiumoxid-Substrats 12 versehen, um Hochfrequenzsi­ gnale zu empfangen oder auszugeben.
Fig. 8 ist eine schematische Aufsicht auf einen zusammenge­ setztes Hochfrequenzfilter mit einem Akustik-Oberflächen­ wellen-Resonator (im Folgenden als "Akustik-Oberflächenwel­ len-Filter") bezeichnet.
Fig. 9 ist ein Schaltungsdiagramm einer Einheit mit Filter­ funktion in dem Akustik-Oberflächenwellen-Filter.
Das Akustik-Oberflächenwellen-Filter hat serielle Akustik- Oberflächenwellen-Resonatoren 16 und parallele Akustik- Oberflächenwellen-Resonatoren 17, die sich voneinander hin­ sichtlich der Resonanzfrequenz unterscheiden und auf einem piezoelektrischen Substrat 15 angeordnet und elektrisch miteinander verbunden sind, und es verwendet einen Unter­ schied der Impedanz bezüglich der Frequenz zwischen den se­ riellen Akustik-Oberflächenwellen-Resonatoren 16 und den parallelen Akustik-Oberflächenwellen-Resonatoren 17, um ein Bandpaßfilter zu schaffen. Die Akustik-Oberflächenwellen- Resonatoren 16 und 17 haben ihre jeweiligen IDTs (Inter-Di­ gital-Transducer) 16a und 17a und Paare von Reflektorele­ menten 16b und 17b auf entgegengesetzten Seiten jedes der IDTs.
Das dielektrische Filter hat einen Nachteil hinsichtlich der verschlechterten Selektivität aufgrund seiner Frequenz­ charakteristik der Übertragungsrate, wie durch die Strich- Punkt-Linie in Fig. 5 dargestellt ist. Dies beruht im we­ sentlichen auf der Miniaturisierung des dielektrischen Re­ sonators. Insbesondere gibt es eine Beziehung zwischen der Resonanzschärfe (Q-Wert) des dielektrischen Resonators und seiner Form dahingehend, daß je kleiner die Form ist, desto größer die Selektivität wird, und somit muß die Form ver­ größert werden, um die Selektivität zu steigern.
Die in einem (Cellular)-Telefon enthaltenen Komponenten ha­ ben eine Dicke von etwa 1-4 mm, und ein dielektrisches Filter einer solchen Dicke erreicht lediglich eine Reso­ nanzschärfe von etwa einigen Hundert. Das dielektrische Filter ist jedoch exzellent hinsichtlich der Leistungswiderstandsfähigkeit und zeichnet sich dadurch aus, daß seine Filtercharakteristik kaum durch eine Lei­ stung von einigen Watt oder so beeinflußt wird.
Das Akustik-Oberflächenwellen-Filter hat eine Frequenzcha­ rakteristik der Übertragungsrate, die durch die unterbro­ chene Linie in Fig. 5 dargestellt ist, und es ist somit ex­ zellent hinsichtlich der Selektivität, das heißt es er­ reicht einige Tausend bei der Resonanzschärfe und kann wei­ ter als das dielektrische Filter miniaturisiert werden.
Das Akustik-Oberflächenwellen-Filter hat jedoch den Nach­ teil des verschlechterten Leistungswiderstandes. Bei einem mit hoher Leistung geladenen Akustik-Oberflächenwellen-Fil­ ter oszillieren seine IDTs in großem Maße und können bre­ chen, und zusätzlich dazu kann es durch Wärme, die durch den elektrischen Widerstand erzeugt wird, zerstört werden, da die feinen Elektroden mit einer hohen Leistung beauf­ schlagt sind.
Das oben beschriebene zusammengesetzte Akustik-Oberflächen­ wellen-Filter arbeitet nach einigen Minuten bei einer hohen Leistung von 5 W nicht mehr. Dies ergibt sich daraus, daß die IDTs sich aufgrund von Migration verschlechtern. Da die Frequenz, bei der die hohe Leistung zugeführt wird, inner­ halb des Bereichs des Paßbandes ist, sind die Resonatoren in den seriellen Armen im Resonanzzustand (serielle Reso­ nanz), während die Resonatoren in den parallelen Armen im Antiresonanzzustand (parallele Resonanz) sind.
Dies bedeutet, daß die Resonatoren in den seriellen Armen in einen Ein-Zustand gelangen, während die Resonatoren in den parallelen Armen in einen Aus-Zustand gelangen. In ei­ ner solchen Situation erreicht die den IDTs 16a in den Re­ sonatoren in den seriellen Armen zugeführte Spannung den Unterwert, während die den IDTs 17a in den Resonatoren in den parallelen Armen die Spitze erreichen. Folglich wird die Migration bei den Resonatoren in den parallelen Armen größer, und aufgrund dessen bewirkt eine geringe Leistung, daß die Resonatoren in den parallelen Armen zerstört wer­ den.
Es wurde festgestellt, daß das dielektrische Filter und das Akustik-Oberflächenwellen-Filter vorteilhaft in einem Aspekt und nachteilig im anderen Aspekt im Widerspruch zu­ einander sind, und beide Filter können nicht alle Anforde­ rungen für Miniaturisierung, Selektivität und Leistungswi­ derstandsfähigkeit erfüllen.
Dementsprechend ist eine Aufgabe der Erfindung ein Hochfre­ quenzfilter zu schaffen, das alle Anforderungen hinsicht­ lich Miniaturisierung, hoher Selektivität und hoher Lei­ stungswiderstandsfähigkeit erfüllt.
Das erfindungsgemäße Hochfrequenzfilter hat eine oder meh­ rere Einheiten mit Filterfunktion, von denen jede einen Re­ sonator in den seriellen Armen aufweist, dessen Eingangs- /Ausgangs-Anschlüsse mit Signalleitungen in Reihe geschal­ tet sind, und einen Resonator in den parallelen Armen, des­ sen einer Eingangs-/Ausgangs-Anschluß mit der Signalleitung und dessen anderer Eingangs-/Ausgangs-Anschluß geerdet ist, wobei der Resonator in den seriellen Armen durch einen Aku­ stik-Oberflächenwellen-Resonator gebildet ist, während der Resonator in den parallelen Armen durch einen dielektri­ schen Resonator gebildet ist.
Ein derartiges Hochfrequenzfilter arbeitet ähnlich dem be­ kannten zusammengesetzten Hochfrequenzfilter, das nur durch Akustik-Oberflächenwellen-Resonatoren gebildet ist, während er eine eigene Filtercharakteristik zeigt.
Falls der Resonanzpunkt des Resonators in den seriellen Ar­ men und der Antiresonanzpunkt des Resonators in den paral­ lelen Armen miteinander übereinstimmen, werden Signale in der Nähe der Frequenz durchgelassen, da der Resonator in den seriellen Armen in einen EIN-Zustand gelangt, während der Resonator in den parallelen Armen in einen AUS-Zustand gelangt. Andererseits kommt der Resonator in den seriellen Armen am Antiresonanzpunkt in den AUS-Zustand, und auf­ grund dessen erscheint ein Dämpfungspol auf der Seite der Frequenzen, die höher als das Paßband sind. Desweiteren ge­ langt der Resonator in den Parallelarmen in einen EIN- Zu­ stand im Resonanzpunkt und aufgrund dessen erscheint ein Dämpfungspol selbst auf der Seite der Frequenzen, die nied­ riger als das Paßband sind.
Die Frequenz, bei der Hochleistung zugeführt wird, ist nor­ malerweise innerhalb des Bereichs des Paßbandes, und die einem IDT (Inter-Digital-Transducer) im Akustik-Oberflä­ chenwellen-Resonator zugeführte Spannung geht nach unten, da der Resonator in den seriellen Armen im Paßband in den EIN-Zustand gelangt. Da der Akustik-Oberflächenwellen-Reso­ nator als Resonator in den seriellen Armen verwendet wird, besteht eine extrem geringe Möglichkeit, daß der Akustik- Oberflächenwellen-Resonator zerstört wird.
Der dielektrische Resonator des Resonators in den paral­ lelen Armen gelangt in einen AUS-Zustand in der gleichen Situation, hohe Spannung wird ihm zugeführt. Da jedoch der dielektrische Resonator hinsichtlich des Leistungswider­ standsverhaltens exzellent ist, wird der Resonator in den parallelen Armen nicht zerstört. Somit ist seine Leistungs- Widerstandsfähigkeit deutlich erhöht, verglichen für den Fall, indem beide, der Resonator in den seriellen Armen und der Resonator in den parallelen Armen, Akustik-Oberflächen­ wellen-Resonatoren sind.
Desweiteren kann der als Resonator in den parallelen Armen verwendete Akustik-Oberflächenwellen-Resonator eine hohe Selektvität wie das zusammengesetzte Filter aus Akustik- Oberflächenwellen-Resonatoren aufweisen.
Das Patent Nr. 5254962 der Vereinigten Staaten beschreibt eine kombinierte Akustikwellen-Vorrichtung und eine Kera­ mikblock-Filterstruktur. Eine Akustikwellen-Vorrichtung kann, wie andere elektronische Vorrichtungen, in den Seiten von Keramikblocks, die eine Keramikblock-Filtervorrichtung bilden, montiert werden. Die Akustik-Oberflächenwellenvor­ richtung, die in dem Filterblock montiert ist, erfordert oder verlagert kein Volumen, das zum Montieren der Akustik- Oberflächenwellen-Vorrichtungen in ihren eigenen Gehäusen erforderlich wäre.
Bei der obengenannten Struktur ist jedoch die Akustikwel­ lenvorrichtung in Keramikblöcke eingefügt, die die Keramik­ block-Filtervorrichtung bilden, um das Gesamtvolumen zu re­ duzieren, und die Keramikblock-Filtervorrichtung oder Aku­ stikwellenvorrichtung bildet nicht den Resonator in den se­ riellen Armen oder den parallelen Armen.
Die vorstehenden Aufgaben, Merkmale, Aspekte und Vorteile der Erfindung werden aus der folgenden detaillierten Be­ schreibung in Verbindung mit den beigefügten Zeichnungen deutlich.
Fig. 1 ist eine Perspektivdarstellung eines Hochfrequenz­ filters gemäß der Erfindung,
Fig. 2 ist eine Perspektivdarstellung eines dielektrischen Koaxialresonators,
Fig. 3 ist eine schematische Aufsicht auf einen Akustik- Oberflächenwellen-Resonator,
Fig. 4 ist eine Aufsicht auf ein Montagesubstrat,
Fig. 5 ist ein Graph zur Erläuterung der Frequenzcharakte­ ristika der Übertragungsrate des Hochfrequenzfilters gemäß der Erfindung und des bekannten Hochfrequenzfilters,
Fig. 6 ist ein Graph zur Erläuterung der Beziehung einer Zufuhrleistung mit der Lebensdauer des Hochfrequenzfilters gemäß der Erfindung und des bekannten Akustik-Oberflächen­ wellen-Hochfrequenzfilters,
Fig. 7 ist eine Perspektivdarstellung eines dielektrischen Filters,
Fig. 8 ist eine schematische Aufsicht eines zusammengesetz­ ten Hochfrequenzfilters mit einem Akustik-Oberflächenwel­ len-Resonator (Akustik-Oberflächenwellen-Filter), und
Fig. 9 ist ein Schaltungsdiagramm einer Einheit mit Filter­ funktion in dem Akustik-Oberflächenwellen-Filter.
Wie Fig. 1 zeigt, umfaßt ein erfindungsgemäßes Hochfre­ quenzfilter ein Montagesubstrat 1, drei dielektrische Ko­ axialresonatoren 2 und zwei Akustik-Oberflächen-Resonatoren 3. Die Akustik-Oberflächenwellen-Resonatoren 3 bilden die Resonatoren in den seriellen Armen und sind mit Signal-Ein­ gangs-/Ausgangs-Leitungen 4 in Reihe geschaltet. Die di­ elektrischen Koaxialresonatoren 2 bilden die Resonatoren in den parallelen Armen und jeweils an einem der Eingangs- /Ausgangs-Anschlüsse (später beschriebene Elektrodenmuster 4d bis 4f) mit der Signal-Eingangs-/Ausgangs-Leitung 4 ver­ bunden und mit dem anderen (später beschriebene Kurz­ schlußelektroden) mit einem Masseelement 5.
Das Hochfrequenzfilter hat eine Größe von 6,0×7,5×3,1 mm³ (0,14 cc) und hat im wesentlichen das gleiche Volumen wie das bekannte dielektrische Filter. Fig. 2 ist eine Per­ spektivdarstellung des dielektrischen Koaxialresonators 2. Der dielektrische Koaxialresonator 2 ist als rechtwinkliges Parallelepiped mit etwa 2,5 mm Länge mal etwa 2,5 mm Breite mal etwa 5,0 mm Dicke ausgebildet. Ein dielektrischer Block 2a, der den dielektrischen Koaxialresonator 2 bildet, ist beispielsweise aus Keramiken des Li₂O-CaO-SrO-Sm₂O₃-TiO₂- Systems zusammengesetzt (dielektrische Konstante εr = 110).
Der dielektrische Block 2a hat ein Durchgangsloch von 0,8 mm Durchmesser in Längsrichtung in seinem Mittenteil. Die innere Umfangsfläche des Durchgangslochs ist mit einem inneren Leitungselement 2b mittels elektrolosem Kupferplat­ tieren beschichtet, während die Außenumfangsfläche des di­ elektrischen Blocks 2a entsprechend mit einem Außenlei­ tungselement 2c mittels elektrolosem Kupferplattieren be­ schichtet ist.
Eine der beiden Flächen, die senkrecht zu dem Durchgangs­ loch verlaufen (Vorderfläche in Fig. 2), ist geöffnet, wäh­ rend die andere Endfläche kurzgeschlossen ist. Insbesondere ist eine Kurzschlußelektrode auf der Rückfläche (nicht sichtbare versteckte Fläche des dielektrischen Blocks 2a) ausgebildet, um den Koaxialresonator 2 kurzzuschließen.
Fig. 3 ist eine schematische Aufsicht auf die Oberfläche des Akustikwellenresonators 3. Der Akustik-Oberflächen­ wellen-Resonator 3 hat ein piezoelektrisches Substrat 3a aus LiNbO₃ oder dgl., ein IDT (Inter-Digital-Transducer) 3b darauf und ein paar Reflektoren 3c auf gegenüberliegenden Seiten des IDT. Der IDT 3b hat eine Elektrodenfingerbreite von 0,7 µm, einen Elektrodenfingerzyklus von 1,4 µm und eine Elektrodenfingerlänge von 40 µm, und es sind 180 Elek­ trodenfinger vorhanden. Der Reflektor 3c umfaßt 300 Reflek­ torelemente.
Fig. 4 ist eine Aufsicht auf das Montagesubstrat 1. Das Montagesubstrat ist aus Aluminiumoxid mit 0,635 mm Dicke gebildet. Auf dem Montagesubstrat sind Elektrodenmuster 4a, 4b und 4c ausgebildet, die als Signal-Eingangs-/Ausgangs- Leitung 4 arbeiten. Da die Akustik-Oberflächenwellen- Resonatoren 3 jeweils zwischen den Elektrodenmustern 4a und 4b und zwischen den Elektrodenmustern 4b und 4c auszubilden sind, liegen Bereiche 1a und 1b in den entsprechenden Flä­ chen. Desweiteren sind Elektrodenmuster 4d, 4e und 4f ausgebildet, die sich jeweils von den Elektrodenmustern 4a, 4b und 4c in Richtung auf die Bereiche 1c, 1d und 1e er­ strecken, in denen die dielektrischen Koaxialresonatoren 2 anzuordnen sind.
Wie aus Fig. 4 ersichtlich ist, sind die Elektrodenmuster in drei T-Formen angeordnet, d. h. die Elektrodenmuster 4a und 4d, 4b und 4e und 4c und 4f sind jeweils in T-förmigen Mustern gepaart.
Diese T-förmigen Muster sind Seite an Seite miteinander an­ geordnet, und die Akustik-Oberflächenwellen-Resonatoren 3 sind in den Bereichen 1a und 1b zwischen aneinandergren­ zende seitliche Schenkel der T-Formen angeordnet (zwischen den Elektrodenmustern 4a und 4b, 4b und 4c). Die Längs­ schenkel der T-förmigen Muster (Elektrodenmuster 4d, 4e und 4f) sind zur kapazitiven Kopplung mit den dielektrischen Koaxialresonatoren 2 angeordnet. Die Akustik- Oberflächenwellen-Resonatoren 3 sind mit leitfähigem Mate­ rial verlötet, während die dielektrischen Koaxialresonato­ ren 2 durch ein isolierendes Haftmittel verbunden sind.
Die einen Enden der entsprechenden seitlichen Schenkel der T-förmigen Muster an entgegengesetzten Enden (Elektrodenmu­ ster 4a und 4c) auf dem Montagesubstrat 1 zu den Seiten des Montagesubstrats 1. Das Massenelement 5 ist auf den gegen­ überliegenden Seiten des Montagesubstrats 1 ausgebildet.
Wie vorstehend bemerkt, erlaubt die Kopplung der dielektri­ schen Koaxialresonatoren 2 durch das isolierende Haftmit­ tel, daß eine Kapazität, die zwischen dem inneren Leitungs­ element 2b des dielektrischen Koaxialresonators 2 und den Elektrodenmustern 4d, 4e und 4f erzeugt wird, wobei die dielektrischen Resonatoren 2 eine Doppelresonanzcharakteri­ stik aufweisen, in der die Resonanzfrequenz (serielle Resonanzfrequenz) geringfügig höher ist als die Antireso­ nanzfrequenz (parallele Resonanzfrequenz), ähnlich den Aku­ stik-Oberflächenwellen-Resonatoren 3.
Der Resonanzpunkt des Akustik-Oberflächenwellen-Resonators 3, der die Resonatoren in den seriellen Armen bildet, und der Antiresonanzpunkt des dielektrischen Koaxialresonators 2, der den Resonator in den parallelen Armen bildet, stim­ men miteinander überein, und aufgrund dessen werden Signale in der Nähe der Frequenz durchgelassen, da der Akustik- Oberflächenwellen-Resonator 3 in den EIN-Zustand gelangt, während der dielektrische Koaxialresonator 2 in den AUS-Zu­ stand gelangt. Da andererseits der Akustik-Oberflächenwel­ len-Resonator 3 einen AUS-Zustand am Antiresonanzpunkt ein­ nimmt, erscheint ein Dämpfungspol auf der Seite der Fre­ quenzen, die höher als die im Paßband sind. Desweiteren nimmt der dielektrische Koaxialresonator 2 einen EIN- Zu­ stand am Resonanzpunkt ein, und aufgrund dessen erscheint ein Dämpfungspol auch auf der Seite der Frequenzen, die niedriger als das Paßband sind.
Die Frequenz, bei der hohe Leistung zugeführt wird, ist normalerweise innerhalb des Bereichs des Paßbandes, und die Spannung, die dem IDT 3b im Akustik-Oberflächenwellen-Reso­ nator 3 zugeführt wird, geht nach unten, da der Akustik- Oberflächenwellen-Resonator 3 den EIN-Zustand im Paßband einnimmt. Da der Akustik-Oberflächenwellen-Resonator 3 als der Resonator in den seriellen Armen verwendet wird, be­ steht eine extrem geringe Möglichkeit, daß der Akustik- Oberflächenwellen-Resonator 3 zerstört wird. Obwohl eine hohe Spannung dem dielektrischen Koaxialresonator 3 zuge­ führt wird, da er in derselben Situation einen AUS-Zustand einnimmt, ist der dielektrische Koaxialresonator 2 derartig exzellent hinsichtlich des Leistungswiderstandes, daß er nicht zerstört wird.
Fig. 6 ist ein Graph zur Erläuterung einer Beziehung zwi­ schen der zugeführten Leistung und der Lebensdauer, wobei die Lebensdauer des bekannten zusammengesetzten Filters aus Akustik-Oberflächenwellen-Resonatoren durch die unterbro­ chene Linie dargestellt ist, während die Lebensdauer des erfindungsgemäßen Hochfrequenzfilters durch eine durchgezo­ gene Linie wiedergegeben ist. Wie aus dem Graphen ersicht­ lich ist, ist die Erhöhung der Leistungswiderstandsfähig­ keit von etwa einer Größenordnung oder mehr Erhöhung der Lebensdauer begleitet. Da desweiteren der Akustik-Oberflä­ chenwellen-Resonator 2, der den Resonator in den seriellen Armen bildet, verwendet wird, hat das Hochfrequenzfilter, wie durch die durchgezogene Linie in Fig. 5 dargestellt ist, eine Selektivität, die so hoch wie bei dem zusammenge­ setzten Filter mit Akustik-Oberflächenwellen-Resonator vor­ handen ist (unterbrochene Linie).
Somit kann das erfindungsgemäße Hochfrequenzfilter alle Forderungen der erhöhten Miniaturisierung, Selektivität und Leistungswiderstandsfähigkeit erfüllen.
Da desweiteren die Akustik-Oberflächenwellen-Resonatoren 3 und die dielektrischen Koaxialresonatoren 2 auf demselben Montagesubstrat 1 angeordnet sind, kann das Hochfrequenz­ filter steigend miniaturisiert werden, verglichen mit dem Fall, bei dem diese Komponenten auf separaten Substraten ausgebildet sind.
Die Akustik-Oberflächenwellen-Resonatoren 3 und die dielek­ trischen Koaxialresonatoren 2 sind durch die auf dem Monta­ gesubstrat 1 gebildeten Elektrodenmuster 4a bis 4f verbun­ den, und dies erleichtert die Herstellung, verglichen mit den Fall, in dem die Verbindungen dieser Komponenten durch Verdrahtungen od. dgl. gebildet werden.
Desweiteren bringen die Elektrodenmuster 4a bis 4f, die ge­ mäß Fig. 4 angeordnet sind, ein optimales Layout der Reso­ natoren 2 und 3, und somit kann die Fläche des Montagesub­ strats 1 für eine gesteigerte Miniaturisierung des Hochfre­ quenzfilters reduziert werden. Die seitlichen Schenkel der T-förmigen Muster an entgegengesetzten Enden des Montage­ substrats 1 (Elektrodenmuster 4a und 4c) sind jeweils zu den Seiten des Montagesubstrats 1 verlängert, und dies er­ leichtert die elektrische Verbindung anderer Schaltungen zu den Seiten durch Löten oder andere Mittel. Der gleiche Ef­ fekt kann weiter erhöht werden, da das Masseelement 5 an den Seiten des Montagesubstrats ausgebildet ist.

Claims (6)

1. Hochfrequenzfilter mit einer oder mehreren Einheiten mit Filterfunktion, von denen jede aus einem Resonator in den seriellen Armen gebildet ist, dessen Eingangs-/Ausgangs-An­ schlüsse mit einer Signalleitung in Reihe verbunden sind, und einem Resonator in den parallelen Armen, dessen einer Eingangs-/Ausgangs-Anschluß mit der Signalleitung und des­ sen anderer mit einem Massenelement verbunden ist, wobei der Resonator in den seriellen Armen ein Akustik-Oberflä­ chenwellen-Resonator ist, während der Resonator in den par­ allelen Armen ein dielektrischer Resonator ist.
2. Hochfrequenzfilter nach Anspruch 1, wobei der Akustik-Oberflächenwellen-Resonator und der di­ elektrische Resonator auf einem einzelnen Montagesubstrat angeordnet sind.
3. Hochfrequenzfilter nach Anspruch 2, wobei der Akustik-Oberflächenwellen-Resonator und der di­ elektrische Resonator durch ein Elektrodenmuster, das auf dem Montagesubstrat ausgebildet ist, verbunden sind.
4. Hochfrequenzfilter mit einer oder mehreren Einheiten mit Filterfunktion, von denen jede einen Resonator in den seri­ ellen Armen aufweist, dessen Eingangs-/Ausgangs-Anschluß mit einer Signalleitung in Reihe geschaltet ist und einem Resonator in den parallelen Armen, dessen einer Eingangs- /Ausgangs-Anschluß mit der Signalleitung und dessen anderer mit einem Massenelement verbunden ist, wobei der Resonator in den seriellen Armen ein Akustik-Oberflächenwellen-Reso­ nator ist, während der Resonator in den parallelen Armen ein dielektrischer Resonator ist, wobei der Akustik-Ober­ flächenwellen-Resonator und der dielektrische Resonator auf einem einzelnen Montagesubstrat angeordnet sind, der Aku­ stik-Oberflächenwellen-Resonator und der dielektrische Re­ sonator über ein Elektrodenmuster, das auf dem Montagesub­ strat ausgebildet ist, verbunden sind, wobei das Elektro­ denmuster eine Anzahl T-förmiger Muster, die seitlich an­ einander angeordnet sind, aufweist, der Akustik-Oberflä­ chenwellen-Resonator zwischen seitlichen Schenkeln aneinan­ dergrenzender T-förmiger Muster derart angeordnet ist, daß er elektrisch mit den seitlichen Schenkeln verbunden ist, und der dielektrische Resonator zur Kapazitätskopplung mit irgendeinem der Längsschenkel der T-förmigen Muster ange­ ordnet ist.
5. Hochfrequenzfilter nach Anspruch 4, wobei die seitlichen Schenkel der T-förmigen Muster an ent­ gegengesetzt gelegenen Enden des Montagesubstrats zu den Seiten des Montagesubstrats verlängert sind.
6. Hochfrequenzfilter nach Anspruch 4, wobei das Massenelement an den Seiten des Montagesubstrats ausgebildet ist.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19619750A1 (de) * 1996-05-15 1997-11-20 Thomson Brandt Gmbh Verstärkerschaltung mit Filter für digitale und analoge Signale
EP0813298A2 (de) * 1996-06-14 1997-12-17 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd Hochfrequenzfilter
US6542725B2 (en) 1996-05-15 2003-04-01 Thomson Licensing S.A. Amplifier circuit arrangement for alternatively processing a digital or an analog signal

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1035648A3 (de) * 1999-03-10 2000-12-27 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Bereichsumschaltbares Filter mit einem Oberflächenwellenresonator und Antennenduplexer mit solch einem Filter
NO323325B1 (no) * 2005-08-11 2007-03-19 Norspace As Elektronisk filter
US10283830B2 (en) * 2017-01-23 2019-05-07 Nokia Solutions And Networks Oy Hybrid TM-TE-TM triple-mode ceramic air cavity filter

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0541284A1 (de) * 1991-10-28 1993-05-12 Fujitsu Limited Akustisches Oberflächenwellenfilter
US5254962A (en) * 1992-06-19 1993-10-19 Motorola, Inc. Combined acoustic wave device and ceramic block filter structure

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5896351U (ja) * 1981-12-22 1983-06-30 日本電気株式会社 アンテナ共用器
FI93503C (fi) * 1993-03-03 1995-04-10 Lk Products Oy Radiotaajuussuodatin

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0541284A1 (de) * 1991-10-28 1993-05-12 Fujitsu Limited Akustisches Oberflächenwellenfilter
US5254962A (en) * 1992-06-19 1993-10-19 Motorola, Inc. Combined acoustic wave device and ceramic block filter structure

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
S.K. Mitra, C.F. Kurth, Miniaturized and integrated Filters, 1989, John Wiley & Sons, Toronto, S. 280-287 *

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19619750A1 (de) * 1996-05-15 1997-11-20 Thomson Brandt Gmbh Verstärkerschaltung mit Filter für digitale und analoge Signale
US6542725B2 (en) 1996-05-15 2003-04-01 Thomson Licensing S.A. Amplifier circuit arrangement for alternatively processing a digital or an analog signal
EP0813298A2 (de) * 1996-06-14 1997-12-17 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd Hochfrequenzfilter
EP0813298A3 (de) * 1996-06-14 1998-09-02 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd Hochfrequenzfilter
US5894251A (en) * 1996-06-14 1999-04-13 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. High frequency filter having saw and dielectric filters with different frequency temperature characteristic signs

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