DE4436784A1 - Absolutes Positionsmeßsystem - Google Patents

Absolutes Positionsmeßsystem

Info

Publication number
DE4436784A1
DE4436784A1 DE4436784A DE4436784A DE4436784A1 DE 4436784 A1 DE4436784 A1 DE 4436784A1 DE 4436784 A DE4436784 A DE 4436784A DE 4436784 A DE4436784 A DE 4436784A DE 4436784 A1 DE4436784 A1 DE 4436784A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
measuring system
division
position measuring
lines
detector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE4436784A
Other languages
English (en)
Other versions
DE4436784B4 (de
Inventor
Peter Vogt
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Zeiss SMT GmbH
Carl Zeiss AG
Original Assignee
Carl Zeiss SMT GmbH
Carl Zeiss AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Zeiss SMT GmbH, Carl Zeiss AG filed Critical Carl Zeiss SMT GmbH
Priority to DE4436784A priority Critical patent/DE4436784B4/de
Publication of DE4436784A1 publication Critical patent/DE4436784A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE4436784B4 publication Critical patent/DE4436784B4/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/26Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
    • G01D5/32Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
    • G01D5/34Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
    • G01D5/347Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells using displacement encoding scales
    • G01D5/34776Absolute encoders with analogue or digital scales
    • G01D5/34792Absolute encoders with analogue or digital scales with only digital scales or both digital and incremental scales
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/22Analogue/digital converters pattern-reading type
    • H03M1/24Analogue/digital converters pattern-reading type using relatively movable reader and disc or strip
    • H03M1/28Analogue/digital converters pattern-reading type using relatively movable reader and disc or strip with non-weighted coding

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Optical Transform (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft ein absolutes Positionsmeßsystem mit einem Teilungsträger, der eine Strichteilung trägt, die von einer Detektoreinrichtung abgetastet wird, um ein die Stel­ lung des Teilungsträgers relativ zum Detektor charakteri­ sierende Signal zu erzeugen. Solche absoluten Positions­ meßsysteme sind an sich bekannt.
So ist beispielsweise in der US-PS 5 235 181 ein absolutes photoelektrisches Längen­ meßsystem beschrieben, dessen Maßstab zwei Strichteilungen trägt: eine erste, inkrementale Strichteilung, die mit Hilfe eines Gegengitters und eines einfachen photoelek­ trischen Detektors abgetastet wird, und eine zweite Strich­ teilung, die einen binären Code darstellt. Diese Strich­ teilung wird auf einen CCD-Detektor abgebildet, der den Code liest und daraus ein die absolute Position des Maß­ stabs charakterisierendes Signal bildet.
Das bekannte System erfordert also einen Maßstab mit zwei unterschiedlichen Teilungsspuren und ist damit aufwendig und teuer. Das gleiche gilt auch für das in der US-PS 4 736 187 dargestellte Winkelmeßsystem, bei dem neben der inkremen­ talen Strichteilung auf dem Teilkreis eine weitere Spur mit einem absoluten Strichcode aufgebracht ist.
In der US-PS 4 901 073 sowie in der DD-PS 2 19 566 sind Positionsmeßsysteme beschrieben, bei denen der Maßstab bzw. Teilkreis unter Verzicht auf eine inkrementale Teilung nur eine Folge von Code-Feldern trägt, die beispielsweise auf eine CCD-Zeile abgebildet werden. Bei diesen Code-Feldern handelt es sich um sogenannte "bar codes", wie sie u. a. in Supermärkten zur Identifizierung von Preis und Typ von Waren eingesetzt werden. Diese "bar codes" bestehen aus einer Folge von dünnen und breiten Strichen in unter­ schiedlichem Abstand.
Natürlich lassen sich mit einem derartigen bar code auch absolute Lageinformationen codieren und entsprechend aus­ lesen. Ein allein auf diesen bar code abgestütztes Posi­ tionsmeßsystem erlaubt jedoch keine hohen Verschiebe­ geschwindigkeiten für den Maßstab. Außerdem lassen sich derartige rein absolut codierten Maßstäbe mit herkömmlichen Leseköpfen für inkrementale Längenmeßsysteme nicht mehr abtasten.
In der DE-OS 30 35 012 ist ein absolutes Längenmeßsystem beschrieben, bei dem ein die absolute Lageinformation verkörpernder Code auf einem Maßstab dadurch hergestellt wird, daß einzelne Teilungsstriche des inkremental geteilten Maßstabs entfernt werden. Ein derartiger Maßstab kann jedoch dann nicht mehr ohne weiteres inkremental abgetastet werden und unterliegt damit den Beschränkungen von absoluten Längenmeßsystemen hinsichtlich Auflösungs­ vermögen und Meßgeschwindigkeit.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein einfach herzustellendes und genau arbeitendes absolutes Positions­ meßsystem zu schaffen.
Ausgehend von einem Positionsmeßsystem der eingangs genannten Art löst die Erfindung die Aufgabe damit, daß die Strichteilung aus einer Folge von Strichen unterschied­ licher Breite aber mit konstantem gegenseitigen Abstand besteht, die einen die Absolutposition des Teilungsträgers beschreibenden Code darstellt.
Die Strichteilung gemäß der Erfindung kann deshalb wie herkömmliche inkrementale Längenmeßsysteme als Gitter­ teilung mit fester Gitterkonstante (k) betrachtet werden.
Die absolute Lageinformation ist über das Steg/Lücke- Verhältnis der Teilungsstriche codiert. Das bietet mehrere Vorteile: zum einen wird wie bei inkrementalen Meßsystemen nur eine einzige Strichteilung auf dem Maßstab benötigt. Zum andern kann diese Teilung auch durch Leseköpfe für herkömmliche inkrementale Meßsysteme abgetastet werden, so daß die Vorteile von inkrementalen Systemen in Bezug auf Meßgeschwindigkeit und Auflösung beibehalten werden. Dennoch ist wegen der absoluten Codierung der Position über das Steg/Lücke-Verhältnis die absolute Stellung des Maß­ stabes bzw. Teilkreises immer auslesbar, so daß keine "Nullimpulsfahrten" zur Initialisierung des System oder Endlagenschalter benötigt werden, wie sie für inkrementale Systeme erforderlich sind.
Wenn die Teilung gleichzeitig von zwei verschiedenen Typen von Detektoren, einem inkrementalen Lesekopf und einem z. B. CCD-Array abgetastet wird, lassen sich die inkrementale und die absolute Positionsinformation optimal miteinander verbinden. Man erhält damit ein redundantes System, das höchstmögliche Sicherheit bei Störungen wie z. B. dem Aus­ fall eines Detektors bietet. Solche redundanten Systeme werden insbesondere in der Medizintechnik bzw. Roboter­ technik gefordert.
Die Striche der Teilung bestehen vorteilhaft aus zwei Gruppen von Strichen unterschiedlicher Breite. Zwei verschiedene Breiten sind für die absolute Codierung der Lageinformation völlig ausreichend.
Wenn der Teilungsträger des Positionsmeßsystems photo­ elektrisch abgetastet werden soll ist es vorteilhaft, wenn jeweils eine Anzahl von Strichen der Teilung ein erstes Code-Feld bildet und diesem ersten Code-Feld ein zweites, dazu komplementäres Code-Feld zugeordnet ist. Dann ist es nämlich möglich, die Transparenz des Teilungsträgers über jeweils zwei Code-Felder konstant zu halten. Das ist für den Fall wichtig, daß die Teilung von einem inkrementalen Lesekopf abgetastet wird, damit der Gleichlichtpegel des Meßsignals nicht schwankt.
Die Erfindung kann in Längenmeßsystemen und in Winkelmeß­ systemen Verwendung finden. Auch und gerade für letzteres, für das Winkelmeßsystem, ist es vorteilhaft, zwei unter­ schiedliche Detektoren, einen inkrementalen Geber und einen absoluten Detektor für die Auslesung der Strichteilung einzusetzen. Denn dann kann der Exzenterfehler sehr einfach mit Hilfe des inkrementalen Gebers korrigiert werden, während die absolute Position des Teilkreises mit dem anderen Detektor festgestellt wird.
Weitere Vorteile der Erfindung ergeben sich aus der Beschreibung von Ausführungsbeispielen anhand der Fig. 1-6 der beigefügten Zeichnungen.
Fig. 1 ist eine Prinzipskizze, die ein absolutes Längenmeßsystem im Schnitt zeigt;
Fig. 2a u. 2b stellen den Teilungsträger (1) aus Fig. 1 und den Detektor (4) aus Fig. 1 jeweils in Aufsicht dar;
Fig. 3 ist eine stark vergrößerte Darstellung der Strichteilung (11) des Teilungsträgers (1) aus Fig. 1 und 2;
Fig. 4a ist eine Prinzipskizze, die den Teilungsträger (1) des Meßsystems aus Fig. 1-3 in Verbindung mit einem inkrementellen Lesekopf im Schnitt senkrecht zur Ebene des Teilungsträger zeigt;
Fig. 4b stellt das Gegengitter (5) des inkrementellen Lesekopfs aus Fig. 4a in Aufsicht dar;
Fig. 5 zeigt den zeitlichen Verlauf des vom Lesekopf nach Fig. 4 abgegebenen elektrischen Signals.
Fig. 6 ist eine Prinzipskizze, die ein mit der erfindungsgemäßen Gitterteilung versehenes Winkelmeßsystem zeigt.
Das in Fig. 1 dargestellte absolute Längenmeßsystem besteht aus einem Teilungsträger (1), der von einer Licht­ quelle (2) beleuchtet wird. Auf der der Lichtquelle (2) abgewandten Seite trägt der Teilungsträger (1), d. h. der Maßstab eine Strichteilung, die von einer Linse (3) auf die lichtempfindliche Fläche eines CCD-Arrays (4) abgebildet wird.
Das CCD-Array (4) ist in der Aufsicht nach Fig. 2b noch­ mals dargestellt und man erkennt, daß die lichtempfindliche Fläche dieses Arrays aus einer Vielzahl einzelner photo­ elektrischen Elemente besteht.
Die Strichteilung (11) des Maßstabs (1) besteht aus einer Folge von Code-Feldern A, B, A¹, B¹, A², B² etc., wobei die Striche in den Code-Feldern des Typs A wie in der stark vergrößerten Abbildung nach Fig. 3 näher dargestellt zwei verschiedene Breiten (a) und (b) besitzen. Die Abfolge der schmalen Striche (a) und der breiten Striche (b) wechselt von einem Feld des Typs A zum nächsten und verkörpert die absolute Lageinformation in Form eines 16-Bit-Codes.
Auf jedes Code-Feld des Typs A folgt ein Code-Feld des Typs B. Dieses Code-Feld des Typs B trägt jeweils ein zum Code- Feld A komplementäres Muster derart, daß anstelle der schmalen Striche im Feld A an der jeweiligen Stelle im Feld B breite Striche gesetzt sind und umgekehrt. In Fig. 3 ist der Deutlichkeit halber das auf das erste Code-Feld A folgende, nächste Code-Feld B nochmals direkt unter das Code-Feld A gezeichnet worden. Auf diese Weise bleibt der integrale Lichtfluß durch die zwei benachbarten Code-Felder A und B konstant.
Da der Abstand (k) zwischen den Strichen der Code-Felder konstant ist und von der digitalen Codierung unbeeinflußt bleibt, die ja allein die Strichbreite betrifft, kann die Gitterteilung (11) des Maßstabs (1) wie in Fig. 4 dar­ gestellt auch von einem herkömmlichen inkrementalen Lese­ kopf abgetastet werden. Dieser besitzt ein Gegengitter (5), (siehe auch die Aufsicht nach Fig. 4b), oder aus ent­ sprechend mehr Gegengittern, die jeweils um ein Viertel der Gitterkonstante gegeneinander verschoben sind, wie das für inkrementale Meßsysteme zur Erzeugung von Gegentaktsignalen und zur Ableitung der Richtungsinformation der Verschiebung des Maßstabs (1) üblicherweise der Fall ist. Das Gegen­ gitter (5) ist im Abstand D = nd²/lambda hinter der Maß­ stabs-Gitterteilung (11) angeordnet, der dem ersten Talbot′schen Streifenabstand entspricht. Hierbei ist n = 1, d die Gitterkonstante des Maßstabgitters und lambda die Wellenlänge des Lichtes der Lichtquelle (2). Das durch die Strichteilung des Maßstabs (1) und das Gegengitter (5) hindurchtretende Licht wird von einer Sammellinse (6) auf einen bzw. bei Verwendung mehrerer Gegengitter auf entsprechend viele Detektoren (7) fokussiert.
Das Gegengitter (5) besitzt die gleiche Gitterkonstante (k) wie die Teilung (11) des Maßstabs (1), die somit in herkömmlicher Weise inkremental abgetastet werden kann.
Die Breite der schmalen Striche (a) der Strichteilung (11) beträgt etwa 1/3 der Breite der breiten Striche (b). Dieses Verhältnis von 1 : 3 wurde gewählt, damit bei der Abtastung der Gitterteilung (11) im ersten Talbot′schen Streifen­ abstand die zweite Oberwelle des Gitterbildes ausgewertet werden kann.
Da das Gegengitter (5) in Verbindung mit der Linse (6) den Lichtfluß über zwei bis vier Code-Felder A bzw. B der Strichteilung (11) integriert und wie ausgeführt die Trans­ parenz jeweils eines Paares von Code-Feldern A/B mit Hilfe des komplementären Musters konstant gehalten wird, ergibt sich für das Signal des Detektors (7) der in Fig. 5 skizzierte Verlauf. Danach bleibt der integrale Gleich­ lichtpegel konstant und unbeeinflußt von der absoluten Codierung über die Strichbreite. Dieses Signal läßt sich dann ohne zusätzlichen elektronischen Mehraufwand für die Kompensation von Gleichlichtschwankungen gut weiter­ verarbeiten und insbesondere auch interpolieren, was unbedingt erforderlich ist, wenn das Positionsmeßsystem eine hohe Auflösung erreichen soll.
Mit dem in Fig. 1-3 dargestellten, rein absoluten Längen­ meßsystem lassen sich Auflösungen von besser als 1 µm erzielen, wenn man davon ausgeht, daß das CCD-Array (4) 1024 lichtempfindliche Pixel mit einer Pixelbreite von 11 µm besitzt und z. B. mit einem 20-fachen Subpixeling oder mehr gearbeitet wird, d. h. die Kante des Hell/Dunkelübergangs eines auf das CCD-Array (4) abgebildeten Striches der Gitterteilung wird über die Intensität des Pixelsignals auf besser als 1/20 der Pixel­ breite bestimmt.
Arbeitet man mit einer Gitterkonstante (k) von 100 µm und einem 16-Bitmuster in der Gitterteilung (11), so besitzen zwei aufeinander folgende Codefelder A + B eine Länge von 3,2 mm, d. h. es sind immer mindestens drei Paare von Code­ feldern A/B gleichzeitig auf die lichtempfindliche Fläche des CCD-Arrays (4) von ca. 12 mm Länge abgebildet. Somit läßt sich die absolute Lageinformation mit relativ hoher Sicherheit auch dann generieren, wenn eines der Codefelder beschädigt oder verschmutzt ist.
Da sich mit einem 16-Bit-Muster außerdem mehr als 65.000 verschiedene Positionen codieren lassen, können mit einem solchen Muster mit einer Gitterkonstante von 100 µm Maß­ stäbe bis zu einer Länge von über 200 m absolut codiert werden.
Die erfindungsgemäße Gitterteilung mit absoluter Codierung der Lageinformation über das Steg/Lücke-Verhältnis der Strichteilung läßt sich auch in einem Winkelmeßsystem einsetzen. Dieser Fall ist in Fig. 6 dargestellt. Der dort mit (101) bezeichnete Teilkreis des Winkelmeßsystems trägt eine Strichteilung (101), die der Strichteilung (11) in Fig. 3 bis auf die leichte Neigung der Gitterstriche aufgrund der Krümmung des Teilkreises (101) weitgehend entspricht.
Abgetastet wird die Strichteilung (111) von zwei Detektoren: Der Detektor (104) ist entsprechend dem in Fig. 1 dargestellten aufgebaut und enthält ein CCD-Array, auf das die Strichteilung (111) abgebildet wird und das ein die absolute Winkellage des Teilkreises (101) charakteri­ sierendes Signal liefert. Der Detektor (105) ist ein inkrementaler photoelektrischer Lesekopf der Art, wie er in Fig. 4a dargestellt ist. Das von diesem Lesekopf abgegebene zyklische Signal ist einem Zähler (106) zugeführt, dessen Ausgang somit ein zweites, die Winkel­ position beschreibendes Signal abgibt.
Beide Signale werden in einem Logikbaustein (107) miteinander kombiniert. Dort können z. B. beide Signale auf Plausibilität geprüft werden, wobei ein Auseinanderlaufen der Lageinformation von beiden Detektoren erkannt wird, was auf einen Defekt in einem oder dem anderen Meßsystem schließen läßt.
Die beiden parallel gewonnenen Winkelwerte können auch dazu verwendet werden, den Exzenterfehler der Winkelmessung festzustellen und durch entsprechende Subtraktion zu eliminieren. Weiterhin ist es möglich, die absolute Lageinformation nur in größeren zeitlichen Abständen abzufragen und in den Zeiten dazwischen den Winkelwert allein mit dem inkrementalen Meßsystem zu generieren. Dieses Verfahren läßt höhere Grenzfrequenzen zu und damit auch höhere Winkelgeschwindigkeiten des Teilkreises (101).
Weitere Vorteile, die sich aus der Kombination eines inkrementalen und eines absoluten Meßwertgebers ergeben, sind beispielsweise in der US-PS 5 027 526 beschrieben. Selbstverständlich ist die Verwendung zweier verschiedener Detektoren, eines inkrementalen Detektors und eines absoluten Detektors unter Nutzung der damit verbundenen Vorteile auch bei dem in den Fig. 1-3 beschriebenen Längenmeßsystem möglich.

Claims (13)

1. Absolutes Positionsmeßsystem mit einem Teilungsträger (1, 101), der eine Strichteilung (11, 111) trägt, die von einer Detektoreinrichtung (4, 7, 104, 105) abgetastet wird, um ein die Stellung des Teilungs­ trägers (1) relativ zum Detektor (4, 7) charakteri­ sierendes Signal zu erzeugen, wobei die Strichteilung (11, 111) aus einer Folge von Strichen unterschied­ licher Breite aber mit konstantem gegenseitigen Abstand (k) besteht, die einen die Absolutposition des Teilungsträger (1, 101) beschreibenden Code (A, B) darstellt.
2. Positionsmeßsystem nach Anspruch 1, wobei die Strich­ teilung (11, 111) aus zwei Gruppen von Strichen unter­ schiedlicher Breite (a, b) besteht.
3. Positionsmeßsystem nach einem der Ansprüche 1-2, wobei die Strichteilung (11, 111) photoelektrisch abtastbar ist, jeweils eine Anzahl von (n) Strichen der Teilung (11, 111) ein Code-Feld (A) bilden und jedem Code-Feld der Teilung ein zweites, komplementäres Code-Feld (B) zugeordnet ist.
4. Positionsmeßsystem nach Anspruch 3, wobei jeweils die beiden zueinander komplementären Code-Felder (A⁶, B⁶) in Summe die gleiche optische Transparenz besitzen wie jedes andere Paar (A⁵, B⁵) zueinander komplementärer Code-Felder der Strichteilung (11, 111).
5. Positionsmeßsystem nach einem der Ansprüche 1-4, wobei die Detektoreinrichtung (104) ein photoelektrisches Detektor-Array (4) bestehend aus einer Vielzahl von einzelnen Detektoren enthält.
6. Positionsmeßsystem nach einem der Ansprüche 1-5, wobei die Detektoreinrichtung (104) ein CCD-Array (4) oder ein Photodioden-Array enthält.
7. Positionsmeßsystem nach einem der Ansprüche 1-4, wobei die Detektoreinrichtung (104) auf einem Träger (3) eine zweite Strichteilung (5) enthält, die in konstantem gegenseitigen Abstand zueinander nur Striche der gleichen Breite aufweist.
8. Positionsmeßsystem nach Anspruch 7, wobei die Detektoreinrichtung ein photoelektrischer Lesekopf (105) mit einem oder mehreren inkremental geteilten Gegengittern (3/5) aus Strichen gleicher Breite und einem oder mehreren photoelektrischen Detektoren (7) ist.
9. Positionsmeßsystem nach Anspruch 8, wobei das Gegen­ gitter (3, 5) die gleiche Teilungsperiode wie die Strichteilung des Teilungsträgers (1) besitzt, die Breite der Striche (5) des Gegengitters jedoch zwischen der Breite der beiden Gruppen von Strichen des Teilungsträgers (1) liegt.
10. Positionsmeßsystem nach einem der Ansprüche 1-9, wobei die Strichteilung (11, 111) aus mehreren Code-Feldern (A, B) besteht, die jeweils ein 16-Bit-Muster bilden.
11. Positionsmeßsystem nach einem der Ansprüche 1-10, wobei der Teilungsträger (1) ein Maßstab eines Längen­ meßsystems ist.
12. Positionsmeßsystem nach einem der Ansprüche 1-10, wobei der Teilungsträger (101) ein Teilkreis eines Winkelmeßsystems ist.
13. Positionsmeßsystem nach einem der Ansprüche 1-12, wobei die Detektoreinrichtung zwei verschiedene Detektoren, einen den Code der Strichteilung (11) lesenden, ersten Detektor (4, 104) zur Bestimmung der Absolutposition des Teilungsträgers (1), und einen die Relativverschiebung des Teilungsträgers inkremental messenden zweiten Detektor (3/7, 105) enthält.
DE4436784A 1993-10-26 1994-10-14 Absolutes Positionsmeßsystem Expired - Lifetime DE4436784B4 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4436784A DE4436784B4 (de) 1993-10-26 1994-10-14 Absolutes Positionsmeßsystem

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DEP4336448.9 1993-10-26
DE4336448 1993-10-26
DE4436784A DE4436784B4 (de) 1993-10-26 1994-10-14 Absolutes Positionsmeßsystem

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE4436784A1 true DE4436784A1 (de) 1995-04-27
DE4436784B4 DE4436784B4 (de) 2005-08-18

Family

ID=6501017

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE4436784A Expired - Lifetime DE4436784B4 (de) 1993-10-26 1994-10-14 Absolutes Positionsmeßsystem

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE4436784B4 (de)

Cited By (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19518664C1 (de) * 1995-05-20 1996-05-23 Christian Dipl Ing Rathjen Verfahren zur Bestimmung der Position zweier zueinander bewegbarer Körper
DE19628833A1 (de) * 1995-07-18 1997-01-23 Gianpaolo Balzarin Kodiereinrichtung
EP0937965A1 (de) * 1998-02-19 1999-08-25 Alfred Ing. Della Torre Positioniersystem
DE19818654A1 (de) * 1998-04-25 1999-11-04 Hengstler Gmbh Sensoreinheit für Gebersysteme
DE19813803C1 (de) * 1998-03-23 2000-01-05 Klaus Gorny Meßanordnung zur Messung von Längen und Abständen
DE19939643A1 (de) * 1999-08-18 2001-03-22 Zeiss Carl Jena Gmbh Einrichtung und Verfahren zur Positionsbestimmung zwischen zwei relativ zueinander beweglichen Teilen
WO2002084223A1 (en) * 2001-04-11 2002-10-24 Renishaw Plc Absolute position measurement
US6545262B1 (en) 1999-06-04 2003-04-08 Dr. Johannes Heidenhein Gmbh Position measuring system
WO2004079320A2 (en) * 2003-03-05 2004-09-16 Raytheon Company Absolute position encoder
WO2004102123A1 (de) 2003-05-17 2004-11-25 Thyssenkrupp Presta Ag Sensor zur messung einer länge oder eines winkels
EP1627206A1 (de) * 2003-05-17 2006-02-22 Thyssenkrupp Automotive AG Sensor zur messung einer l nge oder eines winkels
EP1930699A2 (de) 2006-12-07 2008-06-11 Leica Geosystems AG Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen von Positionen
WO2008101702A1 (de) * 2007-02-21 2008-08-28 Hl-Planar Technik Gmbh Anordnung und verfahren zur absolutbestimmung der linearposition oder der durch einen winkel ausgedrükten drehposition
US20120072169A1 (en) * 2009-06-05 2012-03-22 Renishaw Plc Position measurement encoder and method of operation
WO2013182644A1 (de) * 2012-06-06 2013-12-12 Deuta-Werke Gmbh Verfahren, inkrementalgeber und auswertungssystem zur sicheren wegstreckenmessung
US8742956B2 (en) 2009-04-08 2014-06-03 Renishaw Plc Position encoder apparatus
ITVR20130191A1 (it) * 2013-08-07 2015-02-08 Giuliani S R L Unitá cilindro-pistone e metodo di rilevamento in continuo della posizione reciproca tra il cilindro ed il pistone di tale unitá.
WO2016174517A1 (en) * 2015-04-30 2016-11-03 Anatech B.V. Encoders, encoding methods and systems and devices using them
US9541423B2 (en) 2012-03-08 2017-01-10 Renishaw Plc Magnetic encoder apparatus having a plurality of magnetic sensor elements
US9952068B2 (en) 2012-12-20 2018-04-24 Renishaw Plc Optical element
JP2018524554A (ja) * 2015-04-30 2018-08-30 パーキンエルマー・ヘルス・サイエンシーズ・インコーポレイテッドPerkinelmer Health Sciences, Inc. オートサンプラ、オートローダ、ならびにそれらを用いたシステム及び装置
US10132657B2 (en) 2009-04-08 2018-11-20 Renishaw Plc Position encoder apparatus
DE102019203211A1 (de) * 2019-03-08 2020-09-10 Zf Friedrichshafen Ag Sensoreinrichtung, Verfahren und Computer-Programm-Produkt zur sensorbasierten Positionsbestimmung eines Bauteils für ein Fahrzeug

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2199752B1 (de) 2008-12-17 2019-08-28 Fagor, S.Coop. Absolutpositionsgeber
WO2018195966A1 (zh) * 2017-04-28 2018-11-01 深圳市大疆创新科技有限公司 位置检测装置、方法及转动系统

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1930976B2 (de) * 1969-06-19 1972-01-05 Fa Dr Johannes Heidenhain, 8225 Traunreut Anordnung zum erzeugen einer signalkurve zur laengen oder winkelmessung
AT394275B (de) * 1981-06-22 1992-02-25 Rieder Heinz Lagemesssystem, insbesondere inkrementales lagemesssystem
DD219566A1 (de) * 1983-08-05 1985-03-06 Harry Trumpold Hochaufloesendes optisches laengenmessverfahren mit codiertem absolutmassstab zur durchfuehrung des verfahrens
DE3334400C1 (de) * 1983-09-23 1985-06-05 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Lichtelektrische Positionsmeßeinrichtung
US4901073A (en) * 1986-12-04 1990-02-13 Regent Of The University Of California Encoder for measuring the absolute position of moving elements
US5027526A (en) * 1989-06-02 1991-07-02 Crane R Stephen Digital linear measuring device
CH683798A5 (fr) * 1990-12-10 1994-05-13 Tesa Sa Capteur de position pour un appareil de mesure de grandeurs linéaires ou angulaires.

Cited By (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19518664C1 (de) * 1995-05-20 1996-05-23 Christian Dipl Ing Rathjen Verfahren zur Bestimmung der Position zweier zueinander bewegbarer Körper
DE19518664C2 (de) * 1995-05-20 2003-02-13 Christian Rathjen Verfahren zur Bestimmung der Position zweier zueinander bewegbarer Körper
DE19628833A1 (de) * 1995-07-18 1997-01-23 Gianpaolo Balzarin Kodiereinrichtung
DE19628833B4 (de) * 1995-07-18 2004-04-29 Balzarin, Gianpaolo, Brogliano Kodiereinrichtung und Verfahren zum Betrieb derselben
EP0937965A1 (de) * 1998-02-19 1999-08-25 Alfred Ing. Della Torre Positioniersystem
DE19813803C1 (de) * 1998-03-23 2000-01-05 Klaus Gorny Meßanordnung zur Messung von Längen und Abständen
DE19818654A1 (de) * 1998-04-25 1999-11-04 Hengstler Gmbh Sensoreinheit für Gebersysteme
US6545262B1 (en) 1999-06-04 2003-04-08 Dr. Johannes Heidenhein Gmbh Position measuring system
DE10028136B4 (de) * 1999-06-04 2011-01-27 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Positionsmeßsystem
US6747262B2 (en) 1999-06-04 2004-06-08 Dr. Johannes Heiden Lain Gmbh Position measuring system
DE19939643B4 (de) * 1999-08-18 2005-10-13 Trimble Jena Gmbh Einrichtung und Verfahren zur Positionsbestimmung zwischen zwei relativ zueinander beweglichen Teilen
DE19939643A1 (de) * 1999-08-18 2001-03-22 Zeiss Carl Jena Gmbh Einrichtung und Verfahren zur Positionsbestimmung zwischen zwei relativ zueinander beweglichen Teilen
GB2395005A (en) * 2001-04-11 2004-05-12 Renishaw Plc Absolute position measurement
DE10296644B4 (de) 2001-04-11 2019-05-09 Renishaw Plc Absolute Positionsmessung
GB2395005B (en) * 2001-04-11 2005-05-18 Renishaw Plc Absolute position measurement
US7499827B2 (en) 2001-04-11 2009-03-03 Renishaw Plc Absolute position measurement
WO2002084223A1 (en) * 2001-04-11 2002-10-24 Renishaw Plc Absolute position measurement
WO2004079320A3 (en) * 2003-03-05 2005-05-06 Raytheon Co Absolute position encoder
WO2004079320A2 (en) * 2003-03-05 2004-09-16 Raytheon Company Absolute position encoder
US7034283B2 (en) 2003-03-05 2006-04-25 Raytheon Company Absolute incremental position encoder and method
US7543488B2 (en) * 2003-05-17 2009-06-09 Thyssenkrupp Presta Ag Sensor for measuring a length or an angle
EP1627206A1 (de) * 2003-05-17 2006-02-22 Thyssenkrupp Automotive AG Sensor zur messung einer l nge oder eines winkels
WO2004102123A1 (de) 2003-05-17 2004-11-25 Thyssenkrupp Presta Ag Sensor zur messung einer länge oder eines winkels
EP1930699A2 (de) 2006-12-07 2008-06-11 Leica Geosystems AG Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen von Positionen
US20100141244A1 (en) * 2007-02-21 2010-06-10 Meas Deutschland Gmbh Anordnung und verfahren zur absolutbestimmung der linearposition oder der durch einen winkel ausgedruckten drehposition
US8415946B2 (en) 2007-02-21 2013-04-09 Meas Deutschland Gmbh Arrangement and method for magnetic determination of a linear length or a rotary angle
CN101743456B (zh) * 2007-02-21 2013-11-27 米斯德国有限公司 用于绝对确定线性位置或通过角度表示的旋转位置的装置和方法
WO2008101702A1 (de) * 2007-02-21 2008-08-28 Hl-Planar Technik Gmbh Anordnung und verfahren zur absolutbestimmung der linearposition oder der durch einen winkel ausgedrükten drehposition
US8742956B2 (en) 2009-04-08 2014-06-03 Renishaw Plc Position encoder apparatus
US10132657B2 (en) 2009-04-08 2018-11-20 Renishaw Plc Position encoder apparatus
US20120072169A1 (en) * 2009-06-05 2012-03-22 Renishaw Plc Position measurement encoder and method of operation
US9541423B2 (en) 2012-03-08 2017-01-10 Renishaw Plc Magnetic encoder apparatus having a plurality of magnetic sensor elements
WO2013182644A1 (de) * 2012-06-06 2013-12-12 Deuta-Werke Gmbh Verfahren, inkrementalgeber und auswertungssystem zur sicheren wegstreckenmessung
US9952068B2 (en) 2012-12-20 2018-04-24 Renishaw Plc Optical element
US10768026B2 (en) 2012-12-20 2020-09-08 Renishaw Plc Optical element
CN105473873B (zh) * 2013-08-07 2017-05-31 光电意大利有限公司 缸活塞单元和持续地检测该单元的缸和活塞之间的相互位置的方法
CN105473873A (zh) * 2013-08-07 2016-04-06 光电意大利有限公司 缸活塞单元和持续地检测该单元的缸和活塞之间的相互位置的方法
US10060453B2 (en) 2013-08-07 2018-08-28 Optoelettronica Italia Srl Cylinder-piston unit and method of detecting continuously the reciprocal position between cylinder and piston of such unit
WO2015019231A1 (en) * 2013-08-07 2015-02-12 Optoelettronica Italia Srl Cylinder-piston unit and method of detecting continuosly the reciprocal position between cylinder and piston of such unit
ITVR20130191A1 (it) * 2013-08-07 2015-02-08 Giuliani S R L Unitá cilindro-pistone e metodo di rilevamento in continuo della posizione reciproca tra il cilindro ed il pistone di tale unitá.
WO2016174517A1 (en) * 2015-04-30 2016-11-03 Anatech B.V. Encoders, encoding methods and systems and devices using them
JP2018524554A (ja) * 2015-04-30 2018-08-30 パーキンエルマー・ヘルス・サイエンシーズ・インコーポレイテッドPerkinelmer Health Sciences, Inc. オートサンプラ、オートローダ、ならびにそれらを用いたシステム及び装置
US10222242B2 (en) 2015-04-30 2019-03-05 Perkinelmer Health Sciences, Inc. Encoders, encoding methods and systems and devices using them
DE102019203211A1 (de) * 2019-03-08 2020-09-10 Zf Friedrichshafen Ag Sensoreinrichtung, Verfahren und Computer-Programm-Produkt zur sensorbasierten Positionsbestimmung eines Bauteils für ein Fahrzeug

Also Published As

Publication number Publication date
DE4436784B4 (de) 2005-08-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE4436784B4 (de) Absolutes Positionsmeßsystem
DE3727188C2 (de) Optische Verschiebungserfassungseinrichtung
EP0509979B1 (de) Photoelektronische Positionsmesseinrichtung
DE3844704C2 (de)
DE69030788T2 (de) Festkörperabbildungsvorrichtung
DE3416864C2 (de) Photoelektrische Meßeinrichtung
DE3417176A1 (de) Photoelektrische messeinrichtung
EP1497609B1 (de) Optische positionsmesseinrichtung
DE3141448C2 (de)
DE3883593T2 (de) Vorrichtung zur Messung von Höhendifferenzen.
EP1111345A2 (de) Positionsmesseinrichtung
EP0083689B1 (de) Lichtelektrische inkrementale Längen- oder Winkelmesseinrichtung
DE3542514C2 (de)
DE3503086C1 (de) Verfahren bzw.Vorrichtung zur Messung der Wanddicke von transparenten Gegenstaenden
DE3340924C2 (de)
EP0747674B1 (de) Lichtelektrische Positionsmesseinrichtung
DE2526110C3 (de) Vorrichtung zum Messen kleiner Auslenkungen eines Lichtbündels
EP0498904B1 (de) Photoelektrische Positionsmesseinrichtung
DE3509871C2 (de) Positionsmeßeinrichtung
DE2404933C2 (de) Regelanordnung für die Vertikalablenkung des Lichtpunktes einer Lichtpunktabtaströhre
DE4303161C2 (de) Photoelektrisches Längen- bzw. Winkelmeßsystem mit einer Einrichtung zur Erfassung von Führungsfehlern
DE4313497A1 (de) Verfahren und Gerät zum Bestimmen von Richtung und Geschwindigkeit eines Objektes
DE4227389C2 (de) Vorrichtung zum Messen der exakten Winkelposition eines Schwingspiegels
DE19646391A1 (de) Inkrementales Meßsystem mit Absolutmarken
DE19722524A1 (de) Optischer Frequenzgeber mit Korrelator

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
8364 No opposition during term of opposition
R071 Expiry of right
R071 Expiry of right