DE4434026A1 - Abgleichbarer Josephsonkontakt - Google Patents
Abgleichbarer JosephsonkontaktInfo
- Publication number
- DE4434026A1 DE4434026A1 DE4434026A DE4434026A DE4434026A1 DE 4434026 A1 DE4434026 A1 DE 4434026A1 DE 4434026 A DE4434026 A DE 4434026A DE 4434026 A DE4434026 A DE 4434026A DE 4434026 A1 DE4434026 A1 DE 4434026A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- noble metal
- josephson
- josephson contact
- contact
- areas
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N60/00—Superconducting devices
- H10N60/10—Junction-based devices
- H10N60/12—Josephson-effect devices
- H10N60/124—Josephson-effect devices comprising high-Tc ceramic materials
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft einen abgleichbaren Josephsonkontakt, der insbesondere
bei Verwendung hochtemperatursupraleitender Materialien zum
Einsatz gelangt, wo vorzugsweise zwei und mehr Josephsonkontakte
möglichst identische Eigenschaften bezüglich ihres normalleitenden
Widerstands (RN) und in weiterer Ausgestaltung ihres kritischen Stroms
(Ic) aufweisen sollen. Unter Verwendung hochtemperatursupraleitender
Materialien findet die Erfindung dabei bevorzugt Anwendung für mehrere
supraleitende Kontakte beinhaltende Bauelemente(arrays), wie synchronisierbare
Mikrowellenstrahler, Mischer zur Erzeugung von
Zwischenfrequenzen in Mikrowellenempfängern und Josephson-Bolometern.
Es sind eine Vielzahl unterschiedlicher Josephsonkontakttypen bekannt.
Zu den meist untersuchten Josephsonkontakten in hochtemperatursupraleitenden
Schichten zählen dabei verschiedene Varianten von sogenannten
Korngrenzenkontakten, wie Bikristallkontakte (Dimos, D. et al, Phys.
Rev. B41 (1990), S. 4038), biepitaktische Kontakte (Char, K. et al, Appl.
Phys. Lett. 59 (1991), S. 733) oder Stufenkontakte (Simon, R. W. et al,
Proc. ASC′90 IEEE Trans. Mag. 27 (1991), S. 13 209). Die Anwendung
derartiger Kontakte in verschiedenen Bauelementen bereitet zur Zeit
jedoch noch erhebliche Probleme, weil ihre besonders wesentlichen
Parameter, wie kritischer Strom und Normalwiderstand eine relativ große
Streuung aufweisen und außerdem häufig eine zeitliche Änderung ihrer
I(U)-Kennlinien durch Alterungseffekte zu verzeichnen ist. Mögen diese
Streuungen, wie sie ausführlich bei Gross, R. HTSED Workshop ′94,
May 1994, S. 19 ff. aufgeführt und gegenübergestellt sind, bei der
Herstellung von einzelnen Josephsonkontakten noch tolerierbar sein, sind
sie gänzlich unakzeptabel bei in Arrays zu fertigenden Josephsonkontakten,
die z. B. für Mikrowellenstrahler Verwendung finden sollen. Bei derartigen
Bauelementen führt auch die Auslese einzelner Kontakte, die die
gewünschten Parameter aufweisen, nicht zum Erfolg, da diese mit ggf. zu
großen Abständen über das Array verteilt vorliegen und somit zur Bildung
gewünschten Bauelementes nicht beitragen können. Ebenfalls Gross, R.,
HTSED Workshop ′94, May 1994, S. 19 ff. ist zu entnehmen, daß die
bislang geringsten erreichbaren Streuungen von kritischem Strom und
normalleitendem Widerstand bei Josephsonkontakten vom Bikristalltyp
erreichbar sind, diese jedoch immer noch zu groß sind, um bei o. g. Bauelementekonzepten
unter Verwendung von Hochtemperatursupraleitern
zur Anwendung gelangen zu können.
Die Aufgabe der Erfindung besteht darin, Josephsonkontakten, die in
Form eines Tunnelkontaktes, eines Nanobrückenkontaktes oder eines
SNS-Kontaktes in all ihren jeweils verschiedenen Varianten vorliegen
können, insbesondere mehreren solchen auf einem Substrat angeordneten
Kontakten, bezüglich ihres normalleitenden Widerstands (RN) und vorzugsweise
auch ihres kritischen Stroms (IC) identische Parameter zu
geben.
Die Aufgabe wird durch die kennzeichnenden Merkmale der Patentansprüche
gelöst.
Ein abgleichbarer Josephsonkontakt gemäß der Erfindung beinhaltet dabei
einen hochtemperatursupraleitenden Josephsonkontakt, der in Form eines
Tunnelkontaktes, eines Nanobrückenkontaktes oder eines SNS-Kontaktes
in all seinen jeweils verschiedenen Varianten vorliegen kann, welcher von
einer Edelmetalloxid- bzw. Edelmetallegierungsoxidschicht überdeckt ist,
die in Teilbereichen definiert vorgebbarer Gebiete einen niedrigeren elektrischen
Widerstand, als die diese Gebiete umfassende Edelmetalloxid-
bzw. Edelmetallegierungsoxidschicht, aufweist, wobei genannte, definiert
vorgebbare Gebiete jeweils zwei Hochtemperatursupraleitergebiete, die
den Josephsonkontakt bilden, erfassen.
Die definiert vorgebbaren Gebiete niedrigeren elektrischen Widerstands
sind bezüglich ihres Oxidationsgrades und ihrer Geometrie, bspw. durch
thermische Beaufschlagung der Edelmetalloxid- bzw. Edelmetallegierungsoxidschicht
gebildet, wobei sie in situ meßbar getrimmt sind,
ansonsten aber als unveränderter Bestandteil der Edelmetalloxid- bzw.
Edelmetallegierungsoxidschicht verbleiben.
Die erfindungsgemäße Ausbildung des Josephsonkontaktes führt zu einer
erheblichen, definiert trimmbaren Verringerung der RN- und
IC-Streuungen der Einzelkontakte.
Die Erfindung soll anhand nachstehender Ausführungsbeispiele näher erläutert
werden. Es zeigt
Fig. 1 einen Josephsonkontakt vom Korngrenzentyp und
Fig. 2 einen Josephsonkontakt über einer Substratstufe,
Fig. 3 a) und b) eine Strom-Spannungskurve eines Josephsonkontaktes
vor bzw. nach einer thermischen Beaufschlagung.
In Fig. 1 ist ein Josephsonkontakt vom Korngrenzentyp schematisch in
seitlicher Perspektive dargestellt, der aus einer supraleitenden Gd-Ba-Cu-
Oxidschicht 1 mit einem Josephsonkontaktbereich (weak link) 3 auf
einem ansonsten nicht näher dargetellten Bikristallsubstrat mit einer
Korngrenze 2 besteht. Die Ausbildung des genannten Josephsonkontaktbereiches
3 bei Verwendung von Bikristallsubstraten ist bekannt, und
wird deshalb nicht näher ausgeführt. Über genannte, im Beispiel bereits in
strukturierter Form vorliegenden Schicht 1 mit dem Josephsonkontaktbereich
3 ist eine Edelmetalloxid- bzw. Edelmetallegierungsoxidschicht 5,
im Beispiel aus einer ca. 200 nm dicken Goldoxidschicht bestehend,
ganzflächig abgeschieden. Diese Goldoxidschicht 5 ist in einem Bereich 4
über dem Josephsonkontaktbereich 3, z. B. mittels thermischer Beaufschlagung
durch einen Laserstrahl mit einer Energiedichte in der Größenordnung
von ca. 2 kW/mm², in einen Bereich mit erhöhter Leitfähigkeit
umgewandelt worden. Dadurch ist ein gewünschter Normalwiderstand
(RN) definiert und monitorierbar einstellbar. Die Gold(oxid)brücke 4 über
der Supraleiterunterbrechung ermöglicht aufgrund ihrer hohen Kohärenzlänge
für die Träger des Suprastroms eine Beeinflussung (Erhöhung) des
kritischen Stroms (IC). Aus der Position der Goldbrücke über der Korngrenze
ergibt sich die Möglichkeit, den kritischen Strom des Josephsonkontaktes
in besonders vorteilhafter und einfacher Weise zu erhöhen. Auf
diese Weise sind auch alle weiteren, im einzelnen nicht näher dargestellten
Josephsonkontakte, welche ein Array bilden können, bezüglich
des normalleitenden Widerstands und des kritischen Stroms abgleichbar,
so daß die Parameterabweichungen der Einzelkontakte für die bevorzugten
Anwendungsgebiete in erforderlicher Weise einengbar sind. Der
Abgleich mittels Laserstrahlerwärmung bei gleichzeitiger in situ Messung
ermöglicht auch die Parameterkontrolle der einzelnen Kontakte eines
Arrays, indem diese zwecks Identifizierung einzeln und zeitweilig nur
wenige Grad über ihre kritische Temperatur erwärmt werden.
An sich nicht zur Erfindung gehörige elektrische Kontaktflächen 6, die mit
Anschlußdrähten 7 versehen sind, sind in Fig. 1 erkenntlich. Diese
Kontaktflächen 6 sind aber in besonders vorteilhafter Weise analog zur
Bildung der Gold(oxid)brücke 4 ebenfalls aus der Edelmetalloxidschicht 5
als einstückiges Bestandteil dieser herstellbar.
In Fig. 2 ist ein Josephsonkontakt mit einem als Stufenkontakt über einer
Substratstufe 31 ausgebildeten Josephsonkontaktbereich 3 in Draufsicht
als Teilausschnitt aus einem Array schematisch dargestellt, bei dem die
beiden, in Fig. 2 sich links und rechts der Substratstufe befindlichen und
strichliniert umfaßten Supraleiterbereiche 1 des Josephsonkontaktes von
einer Edelmetalloxid- bzw. Edelmetallegierungsoxidschicht 5 überdeckt
sind. Analog zu Fig. 1 ist ein Bereich 4 des Edelmetalloxids mit einer
erhöhten Leitfähigkeit versehen ausgebildet und in Parallelschaltung zum
Josephsonkontakt verbunden. Die so hergestellte erfindungsgemäße
Edelmetall(oxid)brücke ermöglicht die Einstellung eines Normalwiderstandes
des Josephsonkontaktes auf einen gewünschten Wert. Durch die
dargestellte seitliche Anordnung der Kontaktbrücke 4 sind mit einer
solchen Ausbildung auch kompliziertere Strukturen, wie Stapel intrinsischer
Kontakte, oder mehrschichtige Rampenkontakte, bzgl. ihres
Normalwiderstandes abgleichbar.
In Fig. 3a) und b) sind schließlich Strom-Spannungskurven eines
Josephsonkontaktes, gemessen jeweils bei einer Temperatur von 60 K,
vor bzw. nach einer thermischen Beaufschlagung beispielhaft dargestellt.
Während in Fig. 3a) der kritische Strom gleich Null ist, zeigt Fig. 3b) eine
Erhöhung des kritischen Stromes auf etwa 0,1 mA, sowie eine für Korngrenzenjosephsonkontakte typische Kurvenform durch Ausbildung des
erfindungsgemäßen Josephsonkontaktes.
Die Erfindung ist, wie sich unschwer erkennen läßt, nicht auf die beiden
dargestellten Ausführungsformen beschränkt. Es sind mit Hilfe der Erfindung
sämtliche bekannten Ausbildungen von Josephsonkontakten, insbesondere jedoch solche, die sich hochtemperatursupraleitender Materialien
bedienen, problemlos als abgleichbare Kontakte ausbildbar, bei denen je
nach Ausführungsform einmal nur der normalleitende Widerstand oder
auch zugleich der kritische Strom auf den gewünschten Wert einstellbar
ist.
Bezugszeichenliste
1 - supraleitende Schicht
2 - Korngrenze
3 - Josephsonkontaktbereich
31 - Substratstufe
4 - Gebiet niedrigeren elektrischen Widerstands
5 - Edelmetall(legierungs)oxidschicht
6 - Kontaktflächen
7 - Anschlußdrähte
2 - Korngrenze
3 - Josephsonkontaktbereich
31 - Substratstufe
4 - Gebiet niedrigeren elektrischen Widerstands
5 - Edelmetall(legierungs)oxidschicht
6 - Kontaktflächen
7 - Anschlußdrähte
Claims (3)
1. Abgleichbarer Josephsonkontakt, insbesondere unter Verwendung
hochtemperatursupraleitender Schichten, dadurch gekennzeichnet, daß
der Josephsonkontakt mit einer Edelmetalloxid- bzw. Edelmetallegierungsoxidschicht
(5) überdeckt ist, der in Teilbereichen (4) definiert
vorgebbarer Gebiete, die einstückiges Bestandteil der Edelmetalloxid-
bzw. Edelmetallegierungsoxidschicht (5) sind und die einen
Josephsonkontaktbereich (3) erfassen, ein niedrigerer elektrischer
Widerstand gegeben ist als der Widerstand, der in den genannte Teilbereiche
umfassenden Edelmetalloxid- bzw. Edelmetallegierungsoxidschichten
(5) vorherrscht.
2. Abgleichbarer Josephsonkontakt gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die definiert vorgebbaren Gebiete niedrigeren elektrischen
Widerstands jeweils zwei, den Josephsonkontakt bildende
Supraleiterbereiche erfassen und den Josephsonkontaktbereich (weak
link) überbrücken.
3. Abgleichbarer Josephsonkontakt gemäß einem der vorstehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die definiert vorgebbaren
Gebiete niedrigeren elektrischen Widerstands bezüglich ihres elektrischen
Widerstands und ihrer Geometrie, beispielsweise durch thermische
Beaufschlagung der Edelmetalloxid- bzw. Edelmetallegierungsoxidschicht
gebildet und in situ meßbar getrimmt sind,
ansonsten aber als unveränderter Bestandteil der Edelmetalloxid- bzw.
Edelmetallegierungsoxidschicht verbleiben.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4434026A DE4434026A1 (de) | 1994-09-23 | 1994-09-23 | Abgleichbarer Josephsonkontakt |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4434026A DE4434026A1 (de) | 1994-09-23 | 1994-09-23 | Abgleichbarer Josephsonkontakt |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4434026A1 true DE4434026A1 (de) | 1996-03-28 |
Family
ID=6529017
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4434026A Withdrawn DE4434026A1 (de) | 1994-09-23 | 1994-09-23 | Abgleichbarer Josephsonkontakt |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4434026A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19617330A1 (de) * | 1996-04-30 | 1997-11-13 | Forschungszentrum Juelich Gmbh | Spannungsnormale |
CN105984840A (zh) * | 2015-03-17 | 2016-10-05 | 国际商业机器公司 | 用于纳米桥弱链接的硅化纳米线 |
-
1994
- 1994-09-23 DE DE4434026A patent/DE4434026A1/de not_active Withdrawn
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19617330A1 (de) * | 1996-04-30 | 1997-11-13 | Forschungszentrum Juelich Gmbh | Spannungsnormale |
DE19617330B4 (de) * | 1996-04-30 | 2006-04-20 | Forschungszentrum Jülich GmbH | Mehrzahl aus in Serie geschalteter, hysteresefreier Josephson-Kontakte, Bauelement und Spannungsnormal |
CN105984840A (zh) * | 2015-03-17 | 2016-10-05 | 国际商业机器公司 | 用于纳米桥弱链接的硅化纳米线 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2554536C2 (de) | Verfahren zum Bestimmen der Breite und/oder des Schichtwiderstandes von flächenhaften Leiterzügen integrierter Schaltungen | |
DE69738435T2 (de) | Magnetischer stromsensor | |
DE102008054314B4 (de) | Integrierter lateraler Kurzschluss für eine vorteilhafte Modifizierung einer Stromverteilungsstruktur für magnetoresistive XMR-Sensoren und Verfahren zur Herstellung | |
DE1959438A1 (de) | Integrierte Schaltung und Verfahren zum selektiven Beschalten integrierter elektronischer Schaltungen | |
DE102011120784B4 (de) | Magnetfeldsensor mit Hochtemperatur-Supraleiter und Herstellungsverfahren dafür | |
DE3919462A1 (de) | Mehrfach-halbleiterlaser und verfahren zu seiner herstellung | |
DE3783028T2 (de) | Elektrischer widerstand und herstellungsverfahren. | |
DE4444584A1 (de) | Halbleiterwafer | |
WO2000010208A1 (de) | Elektrisch stabilisierter dünnschicht-hochtemperatursupraleiter sowie verfahren zur herstellung eines solchen supraleiters | |
DE3644458C2 (de) | Verfahren zum Auswerten der Prozeßparameter bei der Herstellung von Halbleiteranordnungen sowie Anordnungen dafür | |
DE4433693A1 (de) | Chipwiderstand, Schaltung und Verfahren zur Stromerfassung, die diesen Chipwiderstand verwenden, sowie Verfahren zum Einstellen des Wertes dieses Chipwiderstandes | |
DE4036109A1 (de) | Widerstandstemperaturfuehler | |
DE10108915A1 (de) | Elektromigrations-Teststruktur zur Erfassung einer Zuverlässigkeit von Verdrahtungen | |
DE69210938T2 (de) | Supraleitende Quanteninterferenz-Einrichtung | |
DE68902155T2 (de) | Anordnung mit einem temperaturfuehler. | |
DE3142949C2 (de) | ||
DE202020107129U1 (de) | Elektronikkomponente | |
DE4434026A1 (de) | Abgleichbarer Josephsonkontakt | |
DE69024728T3 (de) | Verfahren zur Herstellung einer Elektrode zur elektrischen Kontaktierung eines Oxyd-Supraleiters | |
DE69516071T2 (de) | Elektronenquelle | |
EP0893688A1 (de) | Heizleiter-Schicht mit veränderlichem elektrischen Widerstand und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
DE2453578A1 (de) | Verfahren zum feststellen von vollstaendig durchgehenden bohrungen in einer auf einem halbleitersubstrat angebrachten isolierschicht | |
DE69015655T2 (de) | Supraleitende magnetoresistive Anordnung. | |
DE69307467T2 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Josephson-Übergangs | |
DE68906044T2 (de) | Supraleitende logische vorrichtung. |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |