DE4415834A1 - Vorrichtung zur optischen Vermessung von Entfernungen und räumlichen Koordinaten - Google Patents
Vorrichtung zur optischen Vermessung von Entfernungen und räumlichen KoordinatenInfo
- Publication number
- DE4415834A1 DE4415834A1 DE19944415834 DE4415834A DE4415834A1 DE 4415834 A1 DE4415834 A1 DE 4415834A1 DE 19944415834 DE19944415834 DE 19944415834 DE 4415834 A DE4415834 A DE 4415834A DE 4415834 A1 DE4415834 A1 DE 4415834A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- projected
- projection
- light structures
- light
- grids
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/2536—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object using several gratings with variable grating pitch, projected on the object with the same angle of incidence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/2518—Projection by scanning of the object
- G01B11/2527—Projection by scanning of the object with phase change by in-plane movement of the patern
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
Bekannte Vorrichtungen auf Basis von bildgebenden Triangulationsverfahren zur
Vermessung von räumlichen Koordinaten weisen jeweils charakteristische Nachteile
auf, die ihren Einsatz in der praktischen Anwendung z. T. stark einschränken. Diese
Einschränkungen resultieren vornehmlich aus der Art der verwendeten
Projektionstechnik. Die erfindungsgemäße Vorrichtung vermeidet diese
Schwierigkeiten durch eine neuartige Projektionseinheit, bei der die zu projizierenden
Lichtstrukturen auf einem gemeinsamen Träger mit definierter Phasenlage angebracht
sind.
Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung gemäß dem Oberbegriff des Pa
tentanspruches 1 zur optischen Vermessung von Entfernungen und räumlichen Koordi
naten von Objektpunkten bzw. deren Verschiebungen unter Anwendung von
bildgebenden Triangulationsverfahren, bei denen das zu vermessende Objekt mit
strukturierten Lichtmustern beleuchtet wird und diese aufprojizierten Objektraster von
einem unter einem Winkel zur Beleuchtungsrichtung angeordneten
Beobachtungssystem mit einer Kamera aufgenommen und gemäß den
Triangulationsgesetzen ausgewertet werden, wobei die Information von mehreren
Objektrastern verarbeitet wird.
Ein Verfahren dieser Art ist aus der Literatur (Breuckmann, Lübeck, VDI-Bericht 679,
1988) als Phasenshiftverfahren bekannt und wird in US-PS 4641 972 im einzelnen
beschrieben. Ein wesentliches Problem des Phasenshiftverfahrens resultiert aus der
Tatsache, daß in einem beliebigen Objektpunkt nicht ohne weiteres die absolute
Ordnung des Streifenmusters erfaßt werden kann und daher im allgemeinen nur relative
Entfernungen bzw. Objekt-Koordinaten gemessen werden können.
In EP-0 379 079 B1 ist ein Verfahren beschrieben, mit dem dieser Nachteil vermieden
werden kann. Dazu wird nacheinander eine Anzahl n, n 2, von helligkeitsmodulierten
Lichtstrukturen mit unterschiedlicher Periodenlänge auf das Objekt projiziert, so daß
von der Kamera mehrere Objektraster erfaßt werden können. Für jedes Objektraster
wird eine Phasenshiftauswertung durchgeführt. Damit errechnet sich für jeden
Objektpunkt ein Satz von n Phasenwerten, aus denen sich eindeutig die absolute
räumliche Lage des Objektpunktes bestimmen läßt. Eine Schwierigkeit bei diesem
Verfahren besteht darin, daß die Phasenlage der einzelnen, in den
Projektionsstrahlengang eingebrachten Lichtstrukturen nicht automatisch hinreichend
definiert ist, mit der Folge von möglichen systematischen Meßfehlern. In EP-0 379 079
B 1 wird daher auch eine Vorrichtung beschrieben, um diese Problematik zu lösen.
Dabei werden die zu projizierenden Lichtstrukturen als Strichgitter auf einem
gemeinsamen Träger angeordnet, auf dem zusätzlich Referenzmarken angebracht sind,
bezüglich derer die Strichgitter eine definierte Phasenlage aufweisen. Mittels einer
Verschiebeeinheit kann der gemeinsame Träger bewegt werden, wobei die Phasenlage
der einzelnen Strichgitter über die Referenzmarken kontrolliert und gesteuert wird.
Dazu müssen allerdings zusätzliche Mittel für eine hochpräzise Verschiebeeinheit und
Phasenregelung bereitgestellt werden, insbesondere, wenn mit Strichgittern hoher
Liniendichte gearbeitet wird, wie sie für eine miniaturisierte Bauweise der
Projektionseinheit benötigt werden.
Ein anderes topometrisches Verfahren zur räumlichen Koordinatenbestimmung beruht
auf dem sogenannten codierten Lichtansatz (Wahl, 8. DOAM-Symposium, 1986). Eine
besonders für den praktischen Einsatz dieses Verfahrens geeignete Ausführung arbeitet
mit einem programmierbaren LCD-Projektor zur Erzeugung der codierten
Lichtstrukturen. Der wesentliche Nachteil dieses Verfahrens liegt in seiner relativ
geringen Auflösung, die für viele Anwendungsfälle nicht ausreichend ist.
In anderen Quellen (DE 41 20 115 A1), (Krattenthaler, Mayer, Duwe, 1993), (Halbauer,
Diplomarbeit 1993) wird ein Verfahren beschrieben, welches durch Kombination des
Phasenshiftverfahrens mit dem codierten Lichtansatz die Vorteile dieser beiden
Verfahren vereint und ihre Nachteile dabei vermeidet. Eine praktische Ausführung
dieses Verfahrens kann ebenfalls mit einem LCD-Projektor zur Erzeugung der
benötigten Lichtstrukturen realisiert werden. Ein gravierender Nachteil resultiert aus der
begrenzten Auflösung der LCD-Displays sowie ihrer relativ großen Bauweise.
Meßsysteme zur räumlichen Koordinatenbestimmung auf Basis von LCD-Displays sind
daher in ihrer Anwendungsbreite eingeschränkt, insbesondere wenn eine kleine
Bauweise bei hoher Meßgenauigkeit gefordert ist.
Der Erfindung liegt demgemäß die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung zu schaffen,
welche die den genannten Ausführungen innewohnenden Schwierigkeiten vermeidet,
gleichzeitig aber die Vorteile der einzelnen Verfahren beibehält und/oder kombiniert.
Die erfindungsmäßige Lösung dieser Aufgabe besteht in den kennzeichnenden
Merkmalen des Patentanspruches 1, vorteilhafte Ausführungen der erfindungsgemäßen
Vorrichtung sind in den Unteransprüchen beschrieben.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung ist somit dadurch gekennzeichnet, daß die zur
Erzeugung von unterschiedlichen Lichtstrukturen benötigten Projektionsgitter auf
einem gemeinsamen Träger bereits mit definierter Phasenbeziehung angeordnet sind,
wobei der Träger phasenrichtig im Projektionsstrahlengang verschoben werden kann,
um das jeweils benötigte Lichtmuster zu projizieren. Als Träger kann z. B. eine mit
einer Chromschicht beschichtete Glasplatte dienen, auf die die einzelnen
Projektionsgitter aufbelichtet werden. Mit den aus der Halbleitertechnik bekannten
Verfahren lassen sich Gitterstrukturen mit hoher Liniendichte, variablen
Gitterabständen und Intensitätsverteilungen sowie definierter Phasenlage auf sehr
kleinen Abmessungen realisieren.
Eine vorteilhafte Ausführung der erfindungsgemäßen Vorrichtung ist im Unteranspruch
2 ausgeführt. Dabei werden Liniengitter verwendet, die - wie in Fig. 1 beispielhaft
dargestellt - bezogen auf ihre Gitterstruktur übereinander phasenrichtig angeordnet
sind. Um die einzelnen Liniengitter 1, 2, 3 in den Strahlengang der Projektionseinheit zu
bringen, wird der gemeinsame Träger 4 senkrecht zur Gitterstruktur bewegt.
Gemäß Unteranspruch 3 kann zusätzlich die exakte Ausrichtung der Verschieberichtung
senkrecht zur Gitterstruktur und damit die phasenrichtige Projektion der Liniengitter
durch eine justierbare mechanische Präzisionsführung 5 sichergestellt werden.
Der Unteranspruch 4 beschreibt eine weitere vorteilhafte Ausführung der
erfindungsgemäßen Vorrichtung, die eine besonders komprimierte Speicherung von
Liniengittern gestattet, wodurch Projektionseinrichtungen mit sehr kleiner Bauweise
ermöglicht werden. Da - wie in Fig. 2 dargestellt - bei Liniengittern die gesamte
Information in einem Schnitt senkrecht zum Linienverlauf enthalten ist, ist es
ausreichend, ein schmales Projektionsband 6 mit der benötigten Linienstruktur auf dem
Träger zu belichten. Durch eine geeignete Zylinderoptik 7 oder anamorphotische
Abbildung kann das Projektionsband mit den benötigten Abbildungsverhältnissen
aufgeweitet und in die Objektebene 8 projiziert werden.
Ein besonderer Vorteil der erfindungsgemäßen Vorrichtung besteht in der Tatsache, daß
auf dem Träger eine große Anzahl von unterschiedlichen Projektionsgittern gespeichert
werden kann, wobei die Gitterparameter der einzelnen Gitter in weiten Grenzen
variabel sind. In den Unteransprüchen 5-11 sind vorteilhafte Ausführungen genannt, die
durch Wahl der Projektionsgitter realisiert werden können.
Bezugszeichenliste
1, 2, 3 Gitterstrukturen
4 justierbarer gemeinsamer Träger
5 Verschiebeeinheit
6 Projektionsband
7 Zylinderoptik
8 Objektebene
4 justierbarer gemeinsamer Träger
5 Verschiebeeinheit
6 Projektionsband
7 Zylinderoptik
8 Objektebene
Claims (12)
1. Vorrichtung zur Vermessung von Entfernungen und räumlichen Koordinaten von
Objektpunkten und/oder Bewegungen von Objektpunkten unter Anwendung von
bildgebenden Triangulationsverfahren (topometrischen Meßverfahren) wie z. B.
Projected-Fringe-, Moire- oder GreyCode-Techniken, mit
- - einem Projektor zur Projektion von strukturierten Lichtmustern
- - einer Anzahl von Projektionsgittern mit unterschiedlich codierten Licht strukturen
- - einem Viewing-System zur Beobachtung der auf das Objekt aufprojizierten Lichtstrukturen
- - einer Erfassungs- und Auswerteeinheit, mit der aus den vom Viewing-System beobachteten Objektrastern die absolute Lage der zu vermessenden Objektpunkte ermittelt wird
- - einer Verschiebeeinrichtung
dadurch gekennzeichnet, daß
- - die einzelnen Projektionsgitter auf einem gemeinsamen Träger mit definierter Phasenlage angeordnet sind und
- - der Träger mittels der Verschiebeeinrichtung im Projektor so bewegt wird, daß die einzelnen Projektionsgitter phasenrichtig in den Meßraum projiziert werden.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zur Projektion
Liniengitter verwendet werden, die - bezogen auf die Gitterstruktur -
übereinander angeordnet sind, und die Verschiebung des Trägers senkrecht zur
Gitterstruktur erfolgt.
3. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 2, dadurch gekennzeichnet, daß eine
justierbare mechanische Führung eine phasenrichtige Verschiebung ermöglicht.
4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß zur
Projektion von Liniengittern diese senkrecht zur Gitterstruktur komprimiert auf
dem Träger gespeichert werden und die so komprimierten Gitter durch eine
geeignete Abbildung in den Meßraum projiziert wird, wobei durch Wahl der
unterschiedlichen Abbildungsmaßstäbe in x- und y-Richtung das Gitter wieder
aufgeweitet werden kann.
5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die
Codierung der Lichtstrukturen nach dem codierten Lichtansatz erfolgt.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die
Codierung der Lichtstrukturen nach dem Phasenshiftverfahren erfolgt.
7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4 und 6, dadurch gekennzeichnet,
daß Lichtstrukturen mit sinusförmiger Intensitätsverteilung projiziert werden.
8. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4 und 6 bis 7, dadurch
gekennzeichnet, daß die Codierung der Lichtstrukturen so erfolgt, daß nach dem
Phasenshiftverfahren Raster mit unterschiedlichen Gitterperioden projiziert
werden, wobei das Verhältnis der Gitterperioden so gewählt ist, daß eine
eindeutige Triangulation möglich ist.
9. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die
Codierung der Lichtstrukturen durch eine Kombination von Phasenshiftverfahren
und codiertem Lichtansatz erfolgt.
10. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß
farbcodierte Lichtmuster verwendet werden.
11. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß die
Codierung der Lichtstrukturen durch eine Kombination von Phasenshiftverfahren,
codiertem Lichtansatz und Farbcodierung erfolgt.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19944415834 DE4415834C2 (de) | 1994-05-05 | 1994-05-05 | Vorrichtung zur Vermessung von Entfernungen und räumlichen Koordinaten |
DE19543347A DE19543347A1 (de) | 1994-05-05 | 1995-11-02 | Vorrichtung zur optischen Vermessung von Entfernungen und räumlichen Koordinaten |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19944415834 DE4415834C2 (de) | 1994-05-05 | 1994-05-05 | Vorrichtung zur Vermessung von Entfernungen und räumlichen Koordinaten |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4415834A1 true DE4415834A1 (de) | 1995-11-09 |
DE4415834C2 DE4415834C2 (de) | 2000-12-21 |
Family
ID=6517343
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19944415834 Expired - Fee Related DE4415834C2 (de) | 1994-05-05 | 1994-05-05 | Vorrichtung zur Vermessung von Entfernungen und räumlichen Koordinaten |
DE19543347A Withdrawn DE19543347A1 (de) | 1994-05-05 | 1995-11-02 | Vorrichtung zur optischen Vermessung von Entfernungen und räumlichen Koordinaten |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19543347A Withdrawn DE19543347A1 (de) | 1994-05-05 | 1995-11-02 | Vorrichtung zur optischen Vermessung von Entfernungen und räumlichen Koordinaten |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (2) | DE4415834C2 (de) |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19545369C1 (de) * | 1995-12-05 | 1997-04-03 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren und Vorrichtung zur Abstands- und Profilmessung |
DE19720160A1 (de) * | 1996-05-06 | 1998-02-26 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren zum Bestimmen von dreidimensionalen Oberflächen |
DE19639999A1 (de) * | 1996-09-18 | 1998-03-26 | Omeca Messtechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung für die 3D-Messung |
DE19743811A1 (de) * | 1997-10-04 | 1999-05-20 | Wolf Henning | Meßverfahren und Meßvorrichtung mit drehbar gelagertem Gitterträger |
US6100990A (en) * | 1999-06-14 | 2000-08-08 | Ford Motor Company | Method and apparatus for determining reflective optical quality using gray-scale patterns |
US6208412B1 (en) | 1999-06-14 | 2001-03-27 | Visteon Global Technologies, Inc. | Method and apparatus for determining optical quality |
EP1217328A1 (de) * | 2000-12-20 | 2002-06-26 | Olympus Optical Co., Ltd. | 3d Bilderfassungsgerät und 3d Bilderfassungsverfahren |
EP0833183B1 (de) * | 1996-09-27 | 2004-06-23 | Sharp Kabushiki Kaisha | Räumlicher LCD Lichtmodulator als elektronische Parallaxen-Barriere |
DE10344051A1 (de) * | 2003-09-23 | 2005-04-14 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung von Entfernung und/oder räumlichen Koordinaten eines Gegenstandes |
US6937350B2 (en) | 2001-06-29 | 2005-08-30 | Massachusetts Institute Of Technology | Apparatus and methods for optically monitoring thickness |
US6952270B2 (en) | 1996-02-12 | 2005-10-04 | Massachusetts Institute Of Technology | Apparatus and methods for surface contour measurements |
CN109781000A (zh) * | 2019-01-04 | 2019-05-21 | 西安交通大学 | 一种基于非等宽动态条纹空间编码的大尺寸空间动态测量系统及方法 |
CN114076576A (zh) * | 2020-08-21 | 2022-02-22 | 深圳市万普拉斯科技有限公司 | 光发射器、摄像模组、电子设备及图像三维信息采集方法 |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19747061B4 (de) * | 1997-10-24 | 2005-02-10 | Mähner, Bernward | Verfahren und Einrichtung zur flächenhaften, dreidimensionalen, optischen Vermessung von Objekten |
EP1287482A4 (de) * | 2000-04-28 | 2007-07-11 | Orametirix Inc | Verfahren und system zum scannen einer oberfldche und zum erzeugen eines dreidimensionalen objekts |
DE20115933U1 (de) | 2001-09-27 | 2003-02-13 | Kaltenbach & Voigt | Vorrichtung zur Vermessung von dentalen Objekten |
DE102011077564B4 (de) * | 2011-06-15 | 2016-08-25 | Sirona Dental Systems Gmbh | Verfahren zur optischen dreidimensionalen Vermessung eines dentalen Objekts |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2447789C3 (de) * | 1973-11-02 | 1980-07-17 | Dynell Electronics Corp., Melville, N.Y. (V.St.A.) | |
US4641972A (en) * | 1984-09-14 | 1987-02-10 | New York Institute Of Technology | Method and apparatus for surface profilometry |
EP0379079A1 (de) * | 1989-01-17 | 1990-07-25 | Leica AG | - Vorrichtung zur Vermessung der Oberfläche eines Objektes mittels Projektion von Streifenmustern |
DE4120115A1 (de) * | 1991-06-19 | 1992-12-24 | Volkswagen Ag | Beruehrungsfrei arbeitendes verfahren zur ermittlung der raeumlichen koordinaten von objektpunkten |
-
1994
- 1994-05-05 DE DE19944415834 patent/DE4415834C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1995
- 1995-11-02 DE DE19543347A patent/DE19543347A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2447789C3 (de) * | 1973-11-02 | 1980-07-17 | Dynell Electronics Corp., Melville, N.Y. (V.St.A.) | |
US4641972A (en) * | 1984-09-14 | 1987-02-10 | New York Institute Of Technology | Method and apparatus for surface profilometry |
EP0379079A1 (de) * | 1989-01-17 | 1990-07-25 | Leica AG | - Vorrichtung zur Vermessung der Oberfläche eines Objektes mittels Projektion von Streifenmustern |
DE4120115A1 (de) * | 1991-06-19 | 1992-12-24 | Volkswagen Ag | Beruehrungsfrei arbeitendes verfahren zur ermittlung der raeumlichen koordinaten von objektpunkten |
Cited By (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19545369C1 (de) * | 1995-12-05 | 1997-04-03 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren und Vorrichtung zur Abstands- und Profilmessung |
US7242484B2 (en) | 1996-02-12 | 2007-07-10 | Massachusetts Institute Of Technology | Apparatus and methods for surface contour measurement |
US6952270B2 (en) | 1996-02-12 | 2005-10-04 | Massachusetts Institute Of Technology | Apparatus and methods for surface contour measurements |
DE19720160C2 (de) * | 1996-05-06 | 1999-06-02 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren zum Bestimmen von dreidimensionalen Oberflächen |
DE19720160A1 (de) * | 1996-05-06 | 1998-02-26 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren zum Bestimmen von dreidimensionalen Oberflächen |
US6611343B1 (en) | 1996-09-18 | 2003-08-26 | Gf Messtechnik Gmbh | Method and device for 3D measurement |
DE19639999C2 (de) * | 1996-09-18 | 1998-08-20 | Omeca Messtechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung für die 3D-Messung |
DE19639999A1 (de) * | 1996-09-18 | 1998-03-26 | Omeca Messtechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung für die 3D-Messung |
EP0833183B1 (de) * | 1996-09-27 | 2004-06-23 | Sharp Kabushiki Kaisha | Räumlicher LCD Lichtmodulator als elektronische Parallaxen-Barriere |
DE19743811A1 (de) * | 1997-10-04 | 1999-05-20 | Wolf Henning | Meßverfahren und Meßvorrichtung mit drehbar gelagertem Gitterträger |
DE19743811C2 (de) * | 1997-10-04 | 2000-01-05 | Henning Wolf | Meßverfahren und Meßvorrichtung zur Formbestimmung von Objekten mit drehbar gelagertem Gitterträger |
US6100990A (en) * | 1999-06-14 | 2000-08-08 | Ford Motor Company | Method and apparatus for determining reflective optical quality using gray-scale patterns |
US6208412B1 (en) | 1999-06-14 | 2001-03-27 | Visteon Global Technologies, Inc. | Method and apparatus for determining optical quality |
US7013040B2 (en) | 2000-12-20 | 2006-03-14 | Olympus Optical Co., Ltd. | 3D image acquisition apparatus and 3D image acquisition method |
EP1217328A1 (de) * | 2000-12-20 | 2002-06-26 | Olympus Optical Co., Ltd. | 3d Bilderfassungsgerät und 3d Bilderfassungsverfahren |
US6937350B2 (en) | 2001-06-29 | 2005-08-30 | Massachusetts Institute Of Technology | Apparatus and methods for optically monitoring thickness |
DE10344051A1 (de) * | 2003-09-23 | 2005-04-14 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung von Entfernung und/oder räumlichen Koordinaten eines Gegenstandes |
DE10344051B4 (de) * | 2003-09-23 | 2008-05-15 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung von Entfernungen und/oder räumlichen Koordinaten eines Gegenstandes |
CN109781000A (zh) * | 2019-01-04 | 2019-05-21 | 西安交通大学 | 一种基于非等宽动态条纹空间编码的大尺寸空间动态测量系统及方法 |
CN114076576A (zh) * | 2020-08-21 | 2022-02-22 | 深圳市万普拉斯科技有限公司 | 光发射器、摄像模组、电子设备及图像三维信息采集方法 |
CN114076576B (zh) * | 2020-08-21 | 2023-11-21 | 深圳市万普拉斯科技有限公司 | 光发射器、摄像模组、电子设备及图像三维信息采集方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4415834C2 (de) | 2000-12-21 |
DE19543347A1 (de) | 1997-05-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE4415834C2 (de) | Vorrichtung zur Vermessung von Entfernungen und räumlichen Koordinaten | |
EP1597539B1 (de) | Verfahren und optisches system zur vermessung der topographie eines messobjekts | |
EP0451474B1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen Vermessung von Objektoberflächen | |
DE19536297C2 (de) | Verfahren zur geometrischen Kalibrierung von optischen 3D-Sensoren zur dreidimensionalen Vermessung von Objekten und Vorrichtung hierzu | |
DE102005018656B4 (de) | Projektor für eine Anordnung zum dreidimensionalen optischen Vermessen von Objekten | |
DE19637682B4 (de) | Verfahren zur Bestimmung der räumlichen Koordinaten von Gegenständen und/oder deren zeitlicher Änderung und Vorrichtung zur Anwendung dieses Verfahrens | |
WO2001088471A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum bestimmen der 3d-form eines objektes | |
WO1997042464A1 (de) | Vorrichtung zum berührungsfreien vermessen einer dreidimensionalen objektoberfläche | |
EP0927334A1 (de) | Verfahren und vorrichtung für die 3d-messung | |
DE4115445A1 (de) | Verfahren zum aufnehmen eines dreidimensionalen bildes eines objektes nach dem aktiven triangulationsprinzip und vorrichtung hierzu | |
DE3337251C2 (de) | ||
DE19608632B4 (de) | Vorrichtung zur Bestimmung der Topographie einer Oberfläche und Verfahren zu Bestimmen der Topographie einer Oberfläche | |
DE19633686C2 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung von Entfernungen und/oder räumlichen Koordinaten von Gegenständen und/oder deren zeitlicher Änderung | |
DE19534415A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Erfassen und Vermessen dreidimensionaler Körper oder von beliebigen Flächen | |
DE4439307A1 (de) | 3D - Oberflächenmeßgerät mit hoher Genauigkeit | |
DE19747061B4 (de) | Verfahren und Einrichtung zur flächenhaften, dreidimensionalen, optischen Vermessung von Objekten | |
DE102014016087B4 (de) | Dreidimensionale optische Erfassung von Objektoberflächen | |
EP0030617A2 (de) | Justierbare Verbindung einer zu messenden mit einer aus einem Messgerät kommenden optischen Faser | |
EP0135673A2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Festlegung einer Koordinate auf einer Oberfläche eines Festkörpers | |
DE10321883A1 (de) | Verfahren und Sensor zur hochgenauen optischen Abtastung | |
DE10013299A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur geometrischen Kalibrierung pixelorientierter photosensitiver Elemente | |
WO2012076182A1 (de) | Verfahren und system zur bestimmung der position und/oder lage eines objektes in einem räumlichen messvolumen | |
DE102013002399B4 (de) | Vorrichtung zur Generierung von Lichtmustern mit einer eindimensional fokussierten Beleuchtungseinrichtung | |
DE102018133671A1 (de) | Normal zur Kalibrierung eines Koordinatenmessgeräts | |
DE2637844A1 (de) | Verfahren und anordnung zur getrennten auswertung von bildinhalten nach zwei koordinatenrichtungen der bewegung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
AG | Has addition no. |
Ref country code: DE Ref document number: 19543347 Format of ref document f/p: P |
|
AG | Has addition no. |
Ref country code: DE Ref document number: 19543347 Format of ref document f/p: P |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |
Effective date: 20131203 |