DE4413840C2 - Vorrichtung zur berührungslosen Messung an einem Objekt - Google Patents
Vorrichtung zur berührungslosen Messung an einem ObjektInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur be
rührungslosen Messung an einem Objekt, das ein Substrat mit
einem möglichen Auftrag eines Mediums umfaßt, das vorzugs
weise einen flüssigen bis pastenförmigen Zustand aufweist,
mit einer ersten, im Betrieb mit einer Wechselspannung beauf
schlagten Elektrode, der eine zweite Elektrode zugeordnet
ist, die mit einer Meßvorrichtung verbunden ist, wobei sich
zwischen den beiden Elektroden infolge der angelegten
Wechselspannung ein elektrisches Feld aufbaut, das von dem
Objekt während der Messung derart beeinflußt wird, daß die
Meßvorrichtung ein für das Objekt kennzeichnendes Signal aus
gibt, wobei die beiden Elektroden räumlich in einem Abstand
so zueinander angeordnet sind, daß sie mit ihren Elektroden
flächen aufeinander zu weisen, so daß sich das Objekt während
der Messung zwischen den Elektrodenflächen befindet.
Eine derartige Vorrichtung ist aus der DE-PS 5 27 412 bekannt.
Die DE-PS 5 27 412 offenbart eine Einrichtung zum Messen der
von einer Stoffbahn bei ihrer Behandlung mit einem Material
aufgenommenen Materialmenge. Vor und nach der Behandlung ist
jeweils ein Paar elektrischer Kondensatorplatten oberhalb
bzw. unterhalb der Bahn vorgesehen. Die Paare von elek
trischen Kondensatorplatten sind jeweils Teile von Schwing
kreisen, die auf Resonanz miteinander abgestimmt sind. Jede
Änderung der Kapazität stört die Resonanz, so daß dann der
angezeigte Strom in dem einen Kreis abnimmt. Dieser Kreis
kann dann durch Änderung von weiteren Schwingkreiskonden
satoren wieder in Resonanz gebracht werden. Die Kapazitäts
änderung dieser weiteren Kondensatoren ist ein Maß für
Änderungen in der Materialmenge bzw. in dem laufenden Gewicht
der behandelten Bahn.
Weitere Vorrichtungen zur berührungslosen Messung an einem
Objekt sind beispielsweise aus der DE-PS 39 34 852 oder aus
der DE-OS 23 62 835 bekannt.
Diese Vorrichtungen dienen beispielsweise dazu, in einer
Fertigungsstraße das Vorhandensein oder Nichtvorhandensein
einer Leimnaht auf einer Kartonage, einem Papier, einer
Kunststoffolie oder ähnlichen Artikeln festzustellen. Die
Fertigungsgeschwindigkeit ist in solchen Anlagen erheblich,
so daß eine Überwachung durch bloßen Augenschein nicht mehr
möglich ist. Das Vorhandensein der Leimnaht sowie ihr prä
ziser Beginn und ihr definiertes Ende sind jedoch sowohl für
die weitere Verarbeitung der Substrate als auch für die
spätere Funktion der daraus gefertigten Produkte von erheb
licher Bedeutung.
Die Erfindung ist nicht auf das Auftragen von Leimnähten oder
Leimspuren beschränkt. Sie ist sowohl auf andere flüssige als
auch pastenförmige Medien wie Leim gerichtet, als auch auf
Aufträge in anderen geometrischen Konfigurationen, z. B.
flächige Aufträge. Als Substrat kommen flächige Zuschnitte
und fortlaufende Bahnen in Betracht. Im allgemeinen werden
die Elektroden feststehend angeordnet sein, so daß sich das
Substrat an den Elektroden vorbeibewegt.
Bei den bekannten Vorrichtungen werden kapazitive Sensoren
verwendet, bei denen die beiden eine Kapazität bildenden
Elektroden in der Nähe des Auftrages angeordnet sind und mit
einer hochfrequenten Wechselspannung beaufschlagt werden. Die
Elektroden sind in einer Ebene nebeneinander angeordnet und
das zu vermessende Objekt bewegt sich unter den beiden Elek
troden und parallel zu diesen.
Der so gebildete Kondensator ist Bestandteil eines Hoch
frequenzschwingkreises. Da das Auftragsmedium eine andere
Dielektrizitätskonstante aufweist als das Substrat und als
die Umgebung, ändert sich die Kapazität des Kondensators,
wenn das Objekt an den Elektroden vorbeibewegt wird. Durch
diese Kapazitätsänderung ändert sich die Frequenz des mit dem
Kondensator gebildeten Schwingkreises. Diese Änderung kann
meßtechnisch erfaßt werden.
Während bei der DE-OS 23 62 835 die beiden nebeneinander
stehenden Elektroden mit einem Schwingkreis verbunden sind,
ist gemäß der DE-PS 39 34 852 eine Viertelwellenlängenleitung
vorgesehen, die das frequenzbestimmte Element des Hoch
frequenzschwingkreises ist, der durch die Änderung der
dielektrischen Verhältnisse vor dem offenen Ende dieser Lei
tung verändert wird.
Um reproduzierbare Messungen zu ermöglichen, müssen die Elek
troden sehr dicht oberhalb des Objektes in einem bestimmten
und definierten Abstand angeordnet sein, was hohe Anfor
derungen an die Führung des Objektes stellt. Ferner wird da
durch die Geschwindigkeit der Vorbeibewegung des Objektes an
den Elektroden begrenzt, denn insbesondere bei dünnen Papier
bahnen, die z. B. zu Bäckertüten verarbeitet werden, kommt es
bei höherer Transportgeschwindigkeit zu einem "Flattern" der
Bahn, das sich auf das Meßergebnis nachteilig auswirkt.
Ferner ist insbesondere bei Hochfrequenzschwingkreisen die
Temperaturabhängigkeit und die mangelnde Selektivität von
Nachteil. Die Messung spricht z. B. nicht nur auf den Leim
sondern auch auf Umgebungseinflüsse wie Feuchtigkeit,
Materialschwankungen etc. an. Darüber hinaus ist der erzielte
Meßwert klein gegenüber dem Materialgrundwert, so daß sich
keine zufriedenstellende Linearisierung ergibt.
Aus der EP-B-0 038 551 ist eine Vorrichtung zur berührungs
losen Bestimmung der Lage und der dielektrischen Eigen
schaften von Objekten bekannt. Die bekannte Vorrichtung ver
wendet zwei felderzeugende Elektroden, zwischen denen eine
dritte Elektrode angeordnet ist, die als Meßelektrode wirkt.
Die beiden felderzeugenden Elektroden werden aus zwei ver
schiedenen Spannungsquellen versorgt, die so eingestellt
sind, daß das Potential an der Stelle der Meßelektrode Null
ist, wenn kein zu erfassendes Objekt anwesend ist.
Die drei Elektroden sind in einer Ebene angeordnet, so daß
sich das Meßobjekt unter ihnen vorbeibewegt. Das sich vorbei
bewegende Meßobjekt bewirkt jetzt entsprechend den Abstands
verhältnissen zu der Meßelektrode ein Ausgangssignal in einer
zugeordneten Meßvorrichtung, das von dem Abstand des Meß
objektes zu der Meßelektrode sowie von den dielektrischen Ge
gebenheiten abhängt. Die Anordnung ist so gewählt, daß sich
eine starke Abstandsabhängigkeit ergibt, um die gewünschten
Abstandsmessungen gut durchführen zu können. Die bekannte
Vorrichtung ist insgesamt sehr kompliziert aufgebaut und be
nötigt viele gesondert einstellbare Teile, um ihre Aufgabe
erfüllen zu können.
In diesem Dokument wird ferner diskutiert, daß es bei den
Ausgangssignalen eine Mehrdeutigkeit gibt, so daß bestimmte
Abstandsbereiche zu der Meßelektrode für das zu messende Ob
jekt "verboten" sind.
Damit eignet sich auch diese Vorrichtung nicht dazu, z. B. den
Leimauftrag auf sich schnell bewegende Papierbahnen zu kon
trollieren.
Es besteht jedoch ein Bedarf an derartigen Vorrichtungen, mit
denen nicht nur das Vorhandensein oder Fehlen des Leimauf
trages sowie die genaue Lage des Leimauftrages auf dem
Substrat gemessen werden kann, sondern mit denen darüber
hinaus auch die Dicke des Leimauftrages bestimmt werden kann.
Ferner wäre es wünschenswert, wenn derartige Vorrichtungen
dazu in der Lage wären, zusätzliche Aussagen über die Qua
lität des Substrates zu liefern.
Vor diesem Hintergrund ist es Aufgabe der vorliegenden Erfin
dung, eine Vorrichtung von der eingangs genannten Art dahin
gehend weiterzubilden, daß sie bei einfachem schaltungs
technischem Aufbau weitgehend unabhängig gegenüber geringen
Lageschwankungen des Objektes ist, so daß auch dünne
Substrate, die sich mit hoher Geschwindigkeit an den Elek
troden vorbeibewegen, sicher vermessen werden können.
Gemäß der Erfindung wird diese Aufgabe bei der eingangs ge
nannten Vorrichtung dadurch gelöst, daß die Meßvorrichtung
einen Spannungsverstärker umfaßt, der an der zweiten Elek
trode eine Wechselspannung mißt, deren Amplitude für das Ob
jekt kennzeichnend ist.
Diese Maßnahme ist aus konstruktiven Gründen von Vorteil,
denn sie führt zu einem sehr einfachen Aufbau der Meß
vorrichtung, die z. B. einen Spannungsmesser, ein Elektrometer
etc. enthalten kann. Verglichen mit den komplizierten Schal
tungen aus dem Stand der Technik, die zur Messung der dort
als Meßgröße verwendeten Frequenzverschiebung verwendet wer
den, weist die neue Vorrichtung damit insbesondere schal
tungstechnisch große Vorteile auf.
Diese Maßnahme ist aber auch deshalb bevorzugt, weil sie die
Meßgenauigkeit und Meßmöglichkeit der neuen Vorrichtung ent
scheidend beeinflußt. Die an der zweiten Elektrode gemessene
Wechselspannung ist zum einen von der gesamten geometrischen
Anordnung, der Amplitude und der Frequenz der angelegten
Wechselspannung abhängig, und zum anderen von den
dielektrischen Eigenschaften des Objektes, das sich zwischen
den beiden Elektroden befindet. Die geometrischen Bedingungen
können mechanisch konstant gehalten werden und die Amplitude
und die Frequenz der Wechselspannung lassen sich elektrisch
leicht stabilisieren, so daß das Meßsignal letztendlich nur
noch von den dielektrischen Eigenschaften des Objektes
zwischen den Elektroden abhängt. Eine Zunahme der Dicke des
Auftrages bewirkt dabei eine Zunahme der gemessenen Spannung.
Die Signaländerung ist von der Menge und von der Dielektrizi
tätszahl des Auftrages und/oder des Substrates abhängig, bei
konstanter Dielektrizitätszahl also letztendlich von der Auf
tragsmenge. Unter den für die Messung geeigneten Medien nimmt
Wasser aufgrund seiner hohen Dielektrizitätszahl gegenüber
anderen Medien eine Sonderstellung ein. Wasser hat z. B. eine
Dielektrizitätszahl von 81 während Papier und Kunststoffe
typischerweise Dielektrizitätszahlen im Bereich zwischen 2
und 10 aufweisen. Wasser ist nun aber in den üblichen
(Kalt-)Leim-Aufträgen in hohen Anteilen enthalten, so daß
wasserhaltige Aufträge ein hohes Meßsignal ergeben, während
die Substrate selbst ein entsprechend der Dielektrizitätszahl
wesentlich geringeres Meßsignal ergeben, das ca. um einen
Faktor 10 tiefer liegt. Da Wasser selbst auch als
Feuchtigkeit im Substrat vorhanden sein kann, ist auch eine
Messung der Substratfeuchte möglich.
Ein weiterer Vorteil ist, daß die Konstanz des Meßsignales
durch die mechanische Stabilität der Anordnung und die elek
trische Stabilität von Amplitude und Frequenz der angelegten
Wechselspannung sowie von der Konstanz des Spannungs
verstärkers abhängt. Da alle Größen leicht und vor allem von
einander unabhängig stabil gehalten werden können, weist die
neue Vorrichtung eine ausgezeichnete Langzeitstabilität auf,
so daß besondere Regelschaltungen nicht erforderlich sind.
Ferner ist die Meßgeschwindigkeit nur von der Leistungs
fähigkeit der Elektronik abhängig, so daß auch bei sehr
schnell zwischen den Elektroden hindurchbewegten Objekten
eine zuverlässige Messung möglich ist.
Schließlich kann die Meßempfindlichkeit auf einfache Weise
durch Erhöhung der Amplitude der angelegten Wechselspannung
und/oder durch Erhöhung des Verstärkungsfaktors des
Spannungsverstärkers erhöht werden. Da keine Frequenz
abgleiche etc. erforderlich sind, weist die neue Vorrichtung
damit erhebliche konstruktive und betriebsmäßige Vorteile
gegenüber den bekannten Vorrichtungen auf. So ermöglicht die
hier verwendete Amplitudenmessung es zum Beispiel, daß Stö
rungen herausgefiltert werden können, die in anderen
Frequenzbereichen liegen, was beim Stand der Technik nicht so
einfach möglich ist, da dort ja gerade die Frequenzver
schiebung das eigentliche Meßsignal darstellt.
Der Erfinder hat gefunden, daß es bei der gegenüberliegenden
Anordnung der Elektroden zu dem zu vermessenden Objekt über
raschenderweise eine sehr viel geringere Abstandsabhängigkeit
ergibt als bei solchen Anordnungen aus dem Stand der Technik,
bei denen sich die Elektroden auf der selben Seite des
Objektes befinden. Wenn sich das Objekt etwa in der Mitte
zwischen den beiden Elektroden befindet, so beeinflußt das
oben erwähnte "Flattern" einer Papierbahn das Meßergebnis
nicht. Darüber hinaus ist eine Justierung der Elektroden
bezüglich ihrer vertikalen und/oder horizontalen Lage
gegenüber dem Objekt unkritisch, Verschiebungen innerhalb der
Flächen der Elektroden beeinflussen die Messung nicht.
Da sich das zu vermessende Objekt jetzt sozusagen im
"Inneren" des Kondensators befindet, sind auch die beim Stand
der Technik stark störenden Hintergrundeinflüsse zu vernach
lässigen.
Mit der neuen Vorrichtung kann daher jetzt zum einen ein
Substrat zur Bestimmung der in ihm enthaltenen Feuchte ver
messen werden. Da die Lage des Substrates zwischen den
Elektroden nicht kritisch ist, wird das relativ kleine Meß
signal - verglichen mit der Messung von Leimauftrag - nicht
übermäßig von Störungen überlagert, die sich aus der Lage
ungenauigkeit oder aus Hintergrundeinflüssen ergeben.
Beim Aufbringen von wasserhaltigen Aufträgen, wie z. B. Leim,
auf trockene Substrate dominiert aufgrund der hohen
Dielektrizitätszahl des Auftrags dieser das Meßsignal. Der
auf das Substrat zurückgehende Anteil des Meßsignales liegt
typischerweise bei ca. 10% oder weniger des gesamten Meß
signales, wenn sich ein Auftrag auf dem Substrat befindet.
Bei Objekten mit Auftrag ist das Meßsignal dann weitgehend
unabhängig vom Substrat, während dennoch bei reinen Substrat
messungen Aussagen über den Feuchtegehalt des Substrates mög
lich sind, da es keine kritischen Überlagerungen durch Lage
werte etc. gibt.
Darüber hinaus ist die Horizontalposition z. B. der Leimnaht,
also allgemein des Auftrags, innerhalb der Elektrodenfläche
beliebig, eine Signaländerung ergibt sich erst dann, wenn der
Auftrag die Fläche verläßt. Die Fläche kann dabei wesentlich
größer sein als der Auftrag selbst, so daß auch eine große
Horizontalverschiebung ohne Einfluß auf das Meßsignal bleibt.
Das Substrat selbst muß auch nicht die ganze Fläche der Elek
troden ausfüllen, bei der Messung des Auftrags stört es
nicht, wenn ein Teil der Elektrodenfläche frei bleibt. Soll
dagegen das Substrat selbst vermessen werden, so ist es von
Vorteil, wenn die ganze Elektrodenfläche vom Substrat über
deckt wird.
Insgesamt ist es bevorzugt, wenn zwischen der zweiten Elek
trode und der Meßvorrichtung eine Additionsstufe vorgesehen
ist, in der der von der zweiten Elektrode stammenden Wechsel
spannung eine zu der angelegten Wechselspannung gegenphasige
zweite Wechselspannung hinzu addiert wird.
Auch diese Maßnahme ist im Hinblick auf die Messung kleiner
Signale von Vorteil, denn der auf der angelegten Wechsel
spannung beruhende Offset wird schon vor der Meßvorrichtung
kompensiert. Mit anderen Worten, mit dieser Ausbildung müssen
nicht kleine Differenzen großer Zahlen sondern die kleinen
Differenzen selbst direkt gemessen werden. Dies erhöht die
Meßgenauigkeit, wobei ein Feinabgleich über die Amplitude der
zweiten Wechselspannung möglich ist.
Hier sei noch erwähnt, daß äquivalent natürlich auch eine
gleichphasige Wechselspannung subtrahiert werden kann, was vom
Ergebnis her jedoch identisch ist.
Ferner ist es bevorzugt, wenn die zweite Elektrode über einen
Ableitwiderstand an den Verstärker angeschlossen ist, der
vorzugsweise einen hochohmigen Eingang aufweist.
Diese Maßnahme ist schaltungstechnisch von Vorteil, denn sie
verhindert auf einfache Weise eine statische Aufladung der
Elektrodenanordnung.
Ferner ist es bevorzugt, wenn die Additionsstufe eine dritte
Elektrode umfaßt, die in geringem Abstand zu einer von der
zweiten Elektrode zu der Meßvorrichtung führenden Signalleitung
angeordnet ist, und die die zweite Wechselspannung an die
Signalleitung ankoppelt.
Auch diese Maßnahme ist schaltungstechnisch von Vorteil, da
in einem sehr einfachen Aufbau die als Referenz dienende zweite
Wechselspannung angekoppelt wird. Da die dritte Elektrode im
Sensorgehäuse angeordnet werden kann, erfolgt keine Beeinflussung
durch das Objekt. Die dritte Elektrode dient lediglich dazu,
die Addierstufe schaltungstechnisch einfach auszuführen.
Hier ist es weiter bevorzugt, wenn die Meßvorrichtung ein auf
die angelegte Wechselspannung abgestimmtes Bandpaßfilter umfaßt.
Diese Maßnahme erhöht die Meßgenauigkeit und Meßempfindlichkeit
der neuen Vorrichtung noch einmal erheblich. Da sich die Frequenz
der angelegten Wechselspannung nicht ändert, können durch das
angepaßte Bandpaßfilter Störungen herausgefiltert werden, die
von der Umgebung, aus dem Spannungsnetz oder von der Maschine
stammen, die die zu vermessenden Objekte transportiert und/oder
verarbeitet bzw. bearbeitet. Dies ermöglicht eine einfache
Schwellwertdetektion, so daß die Auswertung lediglich den
Vergleich mittels eines vorgegebenen oder zuvor nach Art eines
"Teach-In"-Verfahrens eingelesenen Wertes durchführen muß.
Ferner ist es bevorzugt, wenn die Meßvorrichtung eine Detektor
schaltung umfaßt, die die von der zweiten Elektrode stammende
Wechselspannung in ein Gleichspannungssignal umsetzt und dabei
ggf. die Phasenlage der gemessenen Wechselspannung mit der
Phasenlage der angelegten Wechselspannung vergleicht.
Diese Maßnahme ist bevorzugt, weil sie eine einfache Signal
aufbereitung für einen nachgeschalteten Rechner darstellt, wobei
die Phasenlage neben der Amplitude als zweite Meßgröße einbezogen
werden kann, so daß zusätzliche Informationen über das Meßobjekt
gewonnen werden können.
Insgesamt ist es bevorzugt, wenn die beiden Elektroden in
Sensorarmen untergebracht sind, die je ein metallisches Gehäuse
aufweisen, wobei die Elektroden unter einer elektrisch nicht
leitenden Abdeckung angeordnet sind.
Hier ist von Vorteil, daß eine einfache und sichere Abschirmung
und ein entsprechender Schutz vor sowohl elektromagnetischer
als auch sonstiger mechanischer Verschmutzung gegeben ist.
Eine Verschmutzung der Elektrodenflächen z. B. durch Leimspritzer
kann darüberhinaus kompensiert werden, wenn eine Referenzmessung
ohne Substrat oder zumindest ohne Auftrag möglich ist, wie es
z. B. bei intermittierender Beleimung in der Leimlücke oder bei
der Beleimung einzelner Zuschnitte in den Lücken zwischen den
Zuschnitten gegeben ist. Diese Kompensation kann darin bestehen,
daß die Amplitude der angelegten Wechselspannung und/oder der
Verstärkungsfaktor des Spannungsverstärkers erhöht oder auch
verringert werden. Bei Tests hat sich gezeigt, daß die Genauig
keit der Messung von der Verschmutzung der Elektroden in weiten
Grenzen unabhängig gehalten werden kann.
Darüberhinaus kann das Kompensationssignal ebenfalls überwacht
werden, um so bei einer zu starken Verschmutzung der Elektroden
eine entsprechende Meldung auslösen zu können.
Diese Kompensation erlaubt also die Anwendung der neuen Vor
richtung in schmutzanfälligen Umgebungen, da die Verschmutzung
überwacht und kompensiert werden kann. Das Meßprinzip eignet
sich in gleicher Weise aber sowohl für kontinuierliche als auch
für diskontinuierliche Überwachung, wobei es besonders für hohe
Meßgeschwindigkeiten geeignet ist.
Insgesamt ist es bevorzugt, wenn die angelegte Wechselspannung
eine konstante Frequenz und vorzugsweise eine konstante Amplitude
aufweist.
Zwar wäre es möglich, sowohl die Frequenz als auch die Amplitude
der angelegten Wechselspannung jeweils an das neu zu vermessende
Objekt anzupassen, um eine möglichst große Empfindlichkeit zu
erzielen, bei konstanter Frequenz ist aber von Vorteil, daß
der Aufbau der Meßvorrichtung und der die angelegte Wechsel
spannung liefernden Wechselspannungsquelle sehr einfach sein
können. Alle Komponenten können darüberhinaus auf die Frequenz
der angelegten Wechselspannung ausgelegt sein, so daß eine sehr
frequenzselektive Messung möglich ist.
Insgesamt ist es bevorzugt, wenn der Abstand der Elektroden
flächen zueinander größer als 10 mm, vorzugsweise größer oder
gleich 20 mm ist.
Hier ist von Vorteil, daß der große Abstand der Elektroden eine
große Variation in der Substratdicke und/oder der Auftragsmenge
erlaubt. Diese große Öffnungsweite erlaubt darüberhinaus eine
einfache Führung des Substrates, wobei zumeist gar keine Führung
erforderlich ist. Ferner verhindert dieser große Abstand
wesentlich die Verschmutzung der Elektroden.
Insgesamt bleibt festzustellen, daß die neue Vorrichtung wegen
der Anordnung des Objektes zwischen den Elektroden und wegen
der Messung der Wechselspannung an der zweiten Elektrode nicht
nur ein Meßsignal liefert, das gegenüber Lageschwankungen des
Objektes zwischen den Elektroden weitgehend unabhängig ist,
sondern das sich auf einfache Weise so weiterverarbeiten läßt,
daß sich sowohl Aussagen über das Substrat als auch Aussagen
über den Auftrag gewinnen lassen. Insbesondere die Kompensation
des Offset durch die Additionsstufe sowie die Verwendung des
Bandpaßfilters führen zu einer hohen Meßgenauigkeit und einer
großen Unempfindlichkeit gegenüber Störungen von außen, wie
sie bei den bekannten Vorrichtungen aus dem Stand der Technik
nicht erreichbar ist.
Weitere Vorteile ergeben sich aus der Beschreibung und der
beigefügten Zeichnung.
Es versteht sich, daß die vorstehend genannten und die nach
stehend noch zu erläuternden Merkmale nicht nur in den jeweils
angegebenen Kombinationen, sondern auch in anderen Kombinationen
oder in Alleinstellung verwendbar sind, ohne den Rahmen der
vorliegenden Erfindung zu verlassen.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung
dargestellt und wird in der nachfolgenden Beschreibung näher
erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 in einer schematischen perspektivischen Darstellung
die neue Vorrichtung im Betriebszustand;
Fig. 2 eine schematische Darstellung der neuen Vorrichtung
aus Fig. 1, gesehen längs der Linie II-II aus Fig. 1;
Fig. 3 eine Kurve, die die Abhängigkeit des Ausgangssignales
der neuen Vorrichtung aus Fig. 1 von der vertikalen
Lage des Objektes zwischen den Elektroden darstellt;
und
Fig. 4 ein Ausführungsbeispiel einer Additionsstufe, wie
sie in Fig. 2 schematisch angedeutet ist.
In Fig. 1 ist mit 10 eine neue Vorrichtung bezeichnet, die ein
Sensorgehäuse 11 umfaßt, von dem parallel zueinander zwei
Sensorarme 12 und 13 abstehen.
Zwischen den Sensorarmen 12 und 13 bewegt sich in Richtung des
Pfeiles 14 ein Objekt 15, an dem die Vorrichtung 10 Messungen
durchführt.
Das Objekt umfaßt ein Substrat 16 aus Papier, Pappe, Kunststoff
etc., auf dem in einem Bereich 17 ein Auftrag 18 von Leim oder
einem sonstigen Klebstoff aufgebracht ist. Aufgabe der Vor
richtung 10 kann es z. B. sein, den Beginn und das Ende des
Bereiches 17 zu erfassen und/oder die Dicke des Auftrages 18
zu messen. Ferner kann mit der Vorrichtung 10 der Feuchtegehalt
des Substrates 16 bestimmt werden. Die Objekte 15 können dabei
entweder in Endlosbahnen vorliegen, die wie in Fig. 1 gezeigt
frei und ungeführt zwischen den Sensorarmen 12 und 13 hindurch
gehen, es können jedoch auch einzeln herantransportierte
Zuschnitte sein. Ferner kann die Vorrichtung 10 dazu verwendet
werden, eine kontinuierliche Beleimung auf einer kontinuierlichen
Bahn zu bestimmen.
In Fig. 2 ist in einer schematischen Ansicht längs der Linie
II-II aus Fig. 1 die neue Vorrichtung 10 mehr im Detail gezeigt,
wobei der Auftrag 18 zur Verdeutlichung übertrieben dargestellt
ist.
Jeder Sensorarm 12 und 13 umfaßt ein metallisches Gehäuse 21
bzw. 22, das mit dem Sensorgehäuse 11 verbunden ist. In dem
Gehäuse 22 des Sensorarmes 13 ist eine erste Elektrode 23
angeordnet, die einer zweiten Elektrode 24 in dem Gehäuse 21
des Sensorarmes 12 so gegenüberliegt, daß sich das Substrat
16 mit darauf befindlichem Auftrag 18 zwischen Flächen 25, 26
der Elektroden 23, 24 befindet. Die Elektrodenflächen 25, 26
weisen zueinander einen vertikalen Abstand a auf, wobei sich
das Substrat 16 in einem Abstand x zu der Elektrodenfläche 26
der zweiten Elektrode 24 und im wesentlichen parallel zu dieser
bewegt.
Die erste Elektrode 23 ist mit einer Wechselspannungsquelle
31 verbunden, über welche sie mit einer bei 32 angedeuteten
Wechselspannung beaufschlagt wird, so daß sich im Betrieb
zwischen den Elektroden 23, 24 ein elektrisches Feld aufbaut.
Die zweite Elektrode 24 ist mit einer Meßvorrichtung 33 ver
bunden, die an ihrem Ausgang ein Signal A ausgibt, das für das
Objekt 15 kennzeichnend ist.
Die Dielektrizitätszahl oder auch Dielektrizitätskonstante des
Substrates 16 sowie des Auftrags 18 unterscheiden sich von Luft,
so daß an der zweiten Elektrode 24 eine Wechselspannung zu messen
ist, die davon abhängt, ob sich ein Substrat 16 zwischen den
Elektroden 23, 24 befindet, ob ferner auf diesem Substrat ein
Auftrag 18 vorhanden ist und ob das Substrat 16 Feuchte enthält
oder nicht. Ferner ist das Signal A von der Dicke des Auftrags
18 und genauer von der Menge an Auftrag 18 zwischen den Elek
trodenflächen 25, 26 abhängig.
Die an der zweiten Elektrode 24 zu messende Wechselspannung
gelangt auf einer Signalleitung 35 in einer Additionsstufe 36,
wo ihr eine bei 37 anstehende, zu der angelegten Wechselspannung
32 gegenphasige Wechselspannung hinzuaddiert wird. Statt der
Additionsstufe 36 könnte auch eine Subtraktionsstufe vorgesehen
sein, die eine zu der angelegten Wechselspannung 32 phasengleiche
Wechselspannung subtrahiert.
Zweck der Additionsstufe 36 ist es, den Offset zu kompensieren,
der aus der angelegten Wechselspannung 32 herrührt.
Die Signalleitung 35 geht als Signalleitung 38 aus der Additions
stufe 36 heraus. Die Signalleitung 38 ist über einen mit Masse
verbundenen Ableitwiderstand 39 mit einem Spannungsverstärker
41 verbunden. Zweck des Ableitwiderstandes 39 ist es, eine
statische Aufladung der Elektroden 23, 24 zu verhindern.
Auf diese Weise empfängt der Spannungsverstärker 41 ein Wechsel
spannungssignal, dessen Amplitude ein Maß für die dielektrischen
Eigenschaften des Objektes 15 ist, wenn sich dieses zwischen
den Elektroden 23 und 24 befindet.
Auf den Spannungsverstärker 41 folgt ein Bandpaßfilter 42, das
an die Frequenz der angelegten Wechselspannung 32 angepaßt ist.
Auf diese Weise können in dieser Signalverarbeitung alle
Störungen herausgefiltert werden, die sich von der Frequenz
der angelegten Wechselspannung 32 unterscheiden. Derartige
Störungen können z. B. aus dem Spannungsnetz oder von laufenden
Maschinen herrühren.
Auf das Bandpaßfilter 42 folgt ein Detektor 43, der das von
dem Bandpaßfilter 42 ausgegebene Wechselspannungssignal in ein
Gleichspannungssignal umwandelt, das er als Signal A ausgibt.
Der Detektor 43 ist ferner über eine Phasenleitung 44 mit der
Wechselspannungsquelle 31 verbunden, so daß er zusätzlich zu
der Amplitude auch die unterschiedlichen Phasenlagen zwischen
der angelegten Wechselspannung 32 sowie der von der zweiten
Elektrode 24 stammenden Wechselspannung mit berücksichtigen
kann.
In Fig. 3 ist die Abhängigkeit des Meßsignales A von dem Abstand
x aufgetragen, den das Substrat 16 zu der zweiten Elektrode 24
einnimmt. Die Kurve gemäß Fig. 3 beruht auf einer Messung, die
an einem Prototypen der neuen Vorrichtung 10 durchgeführt wurde.
Aus dieser Kurve gemäß Fig. 3 ergibt sich, daß die neue Vorrich
tung 10 sehr unempfindlich gegen ein Flattern oder eine sonstige
Lageverschiebung des Substrates 16 zwischen den Elektroden 23,
24 ist. In Fig. 3 zeigt eine obere Kurve 46 eine Messung an
einem Substrat 16 mit Auftrag 18, während eine untere Kurve 47
lediglich eine Messung an einem Substrat 16 wiederspiegelt. In
dem gezeigten Beispiel ist der Abstand a ungefähr gleich 20 mm.
Es ist zu erkennen, daß sich das Meßsignal A kaum ändert, wenn
das Substrat 16 sich um mehrere mm aus seiner Mittenlage bei
x = 10 mm entfernt. Es ist weiter zu erkennen, daß das Substrat
16 nur ca. 10% des gesamten Signales A ausmacht.
In Fig. 4 ist noch ein Ausführungsbeispiel der Additionsstufe
36 aus Fig. 2 gezeigt. Die Additionsstufe 36 umfaßt eine dritte
Elektrode 49, die die bei 37 anstehende Wechselspannung an die
Signalleitung 35, 38 ankoppelt. Da die bei 37 anstehende
Wechselspannung gegenphasig zu der angelegten Wechselspannung
32 ist, wird auf diese Weise auf der Signalleitung 38 ein Signal
bereitgestellt, das die Differenz zwischen den bei 35 und 37
anstehenden Wechselspannungen darstellt. Über die Feinjustierung
der Elektrode 49 sowie über die Amplitude der bei 37 anstehenden
Wechselspannung kann ein Abgleich durchgeführt werden, so daß
der Spannungsverstärker 41 optimale Eingangsbedingungen erhält.
Abschließend sei bemerkt, daß das Meßobjekt 15 keinen Einfluß
auf die Ankopplung in der Additionsstufe 36 hat, da sich die
dritte Elektrode 49 innerhalb des aus Metall bestehenden
Sensorgehäuses 11 befindet.
Claims (9)
1. Vorrichtung zur berührungslosen Messung an einem Objekt
(15), das ein Substrat (16) mit einem möglichen Auftrag
(18) eines Mediums umfaßt, das vorzugsweise einen
flüssigen bis pastenförmigen Zustand aufweist, mit einer
ersten, im Betrieb mit einer Wechselspannung (32)
beaufschlagten Elektrode (23), der eine zweite Elektrode
(24) zugeordnet ist, die mit einer Meßvorrichtung (39)
verbunden ist, wobei sich zwischen den beiden Elektroden
(23, 24) infolge der angelegten Wechselspannung (32) ein
elektrisches Feld aufbaut, das von dem Objekt (15)
während der Messung derart beeinflußt wird, daß die
Meßvorrichtung (33) ein für das Objekt (15)
kennzeichnendes Signal (A) ausgibt, wobei die beiden
Elektroden (23, 24) räumlich in einem Abstand (a) so
zueinander angeordnet sind, daß sie mit ihren
Elektrodenflächen (25, 26) aufeinander zu weisen, so daß
sich das Objekt (15) während der Messung zwischen den
Elektrodenflächen (25, 26) befindet, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Meßvorrichtung (33) einen
Spannungsverstärker (41) umfaßt, der an der zweiten
Elektrode (24) eine Wechselspannung mißt, deren
Amplitude für das Objekt (15) kennzeichnend ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
zwischen der zweiten Elektrode (24) und der Meßvor
richtung (33) eine Additionsstufe (36) vorgesehen ist,
in der der von der zweiten Elektrode (24) stammenden
Wechselspannung eine zu der angelegten Wechselspannung
(32) gegenphasige zweite Wechselspannung (37) hinzu
addiert wird.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß die zweite Elektrode (24) über einen
Ableitwiderstand (39) an den Spannungsverstärker (41)
angeschlossen ist, der einen hochohmigen
Eingang aufweist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Additionsstufe (36) eine dritte Elek
trode (49) umfaßt, die in geringem Abstand zu einer von
der zweiten Elektrode (24) zu der Meßvorrichtung (33)
führenden Signalleitung (35, 38) angeordnet ist, und die
die zweite Wechselspannung (37) an die Signalleitung
(35, 38) ankoppelt.
5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß die Meßvorrichtung (33) ein auf die
angelegte Wechselspannung (32) abgestimmtes Bandpaß
filter (42) umfaßt.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch
gekennzeichnet, daß die Meßvorrichtung (33) eine Detek
torschaltung (43) umfaßt, die die von der zweiten Elek
trode (24) stammende Wechselspannung in ein Gleich
spannungssignal (A) umsetzt und dabei die Phasen
lage der gemessenen Wechselspannung mit der Phasenlage
der angelegten Wechselspannung (32) vergleicht.
7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch
gekennzeichnet, daß die beiden Elektroden (23, 24) in
Sensorarmen (12, 13) untergebracht sind, die je ein
metallisches Gehäuse (21, 22) aufweisen, wobei die Elek
troden (23, 24) unter einer elektrisch nicht leitenden
Abdeckung angeordnet sind.
8. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch
gekennzeichnet, daß die angelegte Wechselspannung (32)
eine konstante Frequenz und eine konstante
Amplitude aufweist.
9. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch
gekennzeichnet, daß der Abstand (a) der Elektroden
flächen zueinander (25, 26) größer als 10 mm
ist.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19944413840 DE4413840C2 (de) | 1994-04-21 | 1994-04-21 | Vorrichtung zur berührungslosen Messung an einem Objekt |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19944413840 DE4413840C2 (de) | 1994-04-21 | 1994-04-21 | Vorrichtung zur berührungslosen Messung an einem Objekt |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE4413840A1 DE4413840A1 (de) | 1995-10-26 |
| DE4413840C2 true DE4413840C2 (de) | 1999-07-29 |
Family
ID=6516023
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19944413840 Revoked DE4413840C2 (de) | 1994-04-21 | 1994-04-21 | Vorrichtung zur berührungslosen Messung an einem Objekt |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE4413840C2 (de) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10032205A1 (de) * | 2000-07-01 | 2002-01-10 | Juergen Hosbach | Verfahren zum Erkennen von Massenveränderungen längs eines Produktes |
| DE10356992A1 (de) * | 2003-12-03 | 2005-06-30 | Henkel Loctite Deutschland Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Dicke von dünnen Klebstoffschichten und Dichtungen |
| DE102008053184A1 (de) * | 2008-10-24 | 2010-04-29 | Amrhein Messtechnik Gmbh | Messeinrichtung zur E-Feldmessung im Nahfeld |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999031459A1 (de) * | 1997-12-16 | 1999-06-24 | Ludwig Fleischhackl | Verfahren und vorrichtung zur berührungslosen überprüfung eines fluidauftrages |
| DE19812626A1 (de) * | 1998-03-23 | 1999-09-30 | Bayerische Motoren Werke Ag | Verfahren zur kapazitiven Objekterkennung bei Fahrzeugen |
| DE19817640A1 (de) * | 1998-04-21 | 1999-11-04 | Gerhard Von Der Emde | Unterwasserdetektor für kapazitive Objekteigenschaften |
| EP1336838A3 (de) * | 2002-02-16 | 2004-07-28 | Romani, Foud, Dr. | Verfahren und Einrichtung zum Prüfen der Haftung von Kunststoffbeschichtungen auf Oberflächen von Gegenständen |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE527412C (de) * | 1925-09-17 | 1931-06-17 | Atlantic Prec Instr Company | Einrichtung zum Messen der von einer Stoffbahn bei ihrer Behandlung mit einem Material aufgenommenen Materialmenge |
-
1994
- 1994-04-21 DE DE19944413840 patent/DE4413840C2/de not_active Revoked
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE527412C (de) * | 1925-09-17 | 1931-06-17 | Atlantic Prec Instr Company | Einrichtung zum Messen der von einer Stoffbahn bei ihrer Behandlung mit einem Material aufgenommenen Materialmenge |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10032205A1 (de) * | 2000-07-01 | 2002-01-10 | Juergen Hosbach | Verfahren zum Erkennen von Massenveränderungen längs eines Produktes |
| DE10356992A1 (de) * | 2003-12-03 | 2005-06-30 | Henkel Loctite Deutschland Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Dicke von dünnen Klebstoffschichten und Dichtungen |
| DE102008053184A1 (de) * | 2008-10-24 | 2010-04-29 | Amrhein Messtechnik Gmbh | Messeinrichtung zur E-Feldmessung im Nahfeld |
| DE102008053184B4 (de) * | 2008-10-24 | 2010-12-23 | Amrhein Messtechnik Gmbh | Messeinrichtung zur E-Feldmessung im Nahfeld |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE4413840A1 (de) | 1995-10-26 |
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| 8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: RETEC ELEKTRONISCHE REGELTECHNIK GMBH, 74360 ILSFE |
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| 8331 | Complete revocation |