DE2344008C3 - Meßgerät zum Messen von Veränderungen der physikalischen Eigenschaften eines magnetisch oder elektrisch leitenden Untersuchungsobjekts - Google Patents

Description

ließspule zur Folge hat. Infolgedessen kann eine An- Verstärker enthält, welcher parallel oder in Serien-•geige der Veränderungen in der Ausgangsspannung schaltung mit dem ersten Impedanz-Element ge- _m den Ausgangsklemmen der Brückenschaltung 13, schaltet ist, und weiterhin ein positives gegengekop- ^che durch Veränderungen, der effetäven Impe- peltes Impedanz-Element enthält, das zwischen Ein- ^aBZ der Meßspule 13 hervorgerufen werden, leicht 5 gang und Ausgang des Verstärkers geschaltet ist und diejenigen Abschnitte des Untersuchungsobjekts 12 dessen Eingangsimpedanz dadurch auf einen negajnzeigen, die unterschiedliche magnetische oder tiven Wert einstellbar ist, daß vorher der Verstärdektrische Eigenschaften aufweisen. kungsfaktor dieses Verstärkers auf einen Wert

pie Empfindlichkeit eines derartigen "Gerätes ist größer 1 in Form einer Grenzspannung am ersten Jedoch verhälinismäßig gering. _i0 Impedanz-Element oder in Form einer Ausgangs-

Zur Verbesserung der Empfindlichkeit des Meß- spannung an den Ausgangsklemmen des Verstärkers cerätes schaltete man gewöhnlich Kondensatoren einstellbar ist, vorgesehen ist

£1 und d parallel oder in Serie mit entsprechenden Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der

SpulenLl und L2, wie in Fig. 1 in gestrichelten Zeichnung dargestellt Es zeigt linien gezeigt, um Parallel- oder Serien-Resonanz- 15 Fig. 1 ein Schaltungsschema eines bekannten Meßkreise 161 und 162 zu bilden, die auf die Frequenz geräts unter Verwendung eines Brückenschaltkreises, 4es Eingangssignals der Eingangs-Meßsignalquelle 14 F i g. 2 ein Blockdiagramm, das den grundsätz-

pbgestimmt sind. _ liehen Aufbau eines erfindungsgemäßen Meßgerätes

Obwohl ein derartiges bekanntes, mit einem Re- unter Verwendung eines Impedanz-Elementes zeigt, sonanzkreis ausgestattetes Meßgerät eine höhere ao dessen Impedanz sich in Übereinstimmung mit An-Empfindlichkeit hat als ein anderes bekanntes Meß- derungen der physikalischen Eigenschaften des zu gerät ohne Resonanzkreis, hat ein derartiges Meß- messenden Untersuchungsobjekts aus magnetisch gerät den Nachteil, daß nur bei der Resonanzfrequenz oder elektrisch leitendem Material ändern, und des Resonanzkreises eine Messung durchgeführt wer- F i g. 3 bis 8 zeigen schematische Schaltdiagramme

den kann. Außerdem verringert sich mit zunehmen- as von Meßgeräten nach verschiedenen Ausführungsder Empfindlichkeit infolge von Frequenzschwan- beispielen der vorliegenden Erfindung, kungen der Eingangsspannung die Meßgenauigkeit. Die bevorzugte Ausführungsform der Erfindung,

Ein weiteres Beispiel eines Meßgerätes zum Be- die schematisch in F i g. 2 dargestellt ist, umfaßt eine stimmen der physikalischen Eigenschaften vines Bezugsspannungsquelle 21, einen Verstärker 22 mit Untersuchungsobjekts aus magnetisch oder elek- 30 einem Verstärkungsfaktor größer 1, wie später betrisch leitendem Material, wie oben beschrieben, ist schrieben wird, der zwei Eingangsklemmen /1 und ein Temperaturmeßgerät mit einem Widerstands- /2, welche über ein Impedanz-Element 26 mit der Element, das nahe dem vorher erwähnten Unter- Spannungsquelle 21 verbunden sind, und zwei Aussuchungsobjekt oder in Berührung damit angeordnet gangsklemmen OI und OH, sowie eine Negativist und dessen Widerstand sich mit der Temperatur- 35 Impedanzschaltung 24, deren Eingangsimpedanz auf änderung des zu messenden Untersuchungsobjekts einen negativen Wert eingestellt ist, wie später beändert, wobei ein Dehnungsmeßstreifen in Berührung schrieben wird, enthält, wobei die Schaltung 24 ein mit dem Untersuchungsobjekt gebracht wird, dessen positives Gegenkopplungs-Impedanz-Element 23 entWiderstand sich mit der Deformation des Unter- hält, das zwischen die Eingangsklemme/1 und die suchungsobjekts ändert. 40 Ausgangsklemme Ol des Verstärkers 22 geschalte!

Bei Verwendung eines Temperaturmeßgerätes und ist. Ein Impedanz-Element 25, das nahe mit dem zu c ies Widerstands-Dehnungsstreifens kann man kei- messenden Untersuchungsobjekt (nicht gezeigt) odei IKH Resonanzkreis bilden, wie bei dem in Fig. 1 ge- in Berührung damit steht, welches aus magnetiscli zeigten Meßgerät unter Verwendung einer Induk- oder elektrisch leitendem Material wie Eisen-, Stahltionsspule, dessen effektive Impedanz sich in Über- 45 Kupfer-, Zinn- oder Aluminiumblech besteht, unc einstimmung mit Änderungen der physikalischen dessen Impedanz sich in Übereinstimmung mit AnEigenschaften des gemessenen Untersuchungsobjekts derungen der physikalischen Eigenschaften des zu ändert. Daher haben Temperaturmeßgeräte und messenden Untersuchungsobjekts ändert, ist über eir Widerstands-Dehnungsmeßstreifen eine verhältnis- Impedanz-Element 26 mit der Spannungsquelle 21 mäßig niedrige Empfindlichkeit, jedenfalls wie die so verbunden.

oben beschriebenen Meßgeräte vom Nichtreso- Bei diesem Meßgerät ist die Eingangs-Impedan; nanztyp. Zin, betrachtet von der Eingangsseite des Impedanz

Aufgabe der Erfindung ist es daher, ein Meßgerät Elements 25, sofern die Ausgangsklemmen Ol unc vom Nichtresonanztyp zu schaffen, das jene Ab- ο 2 offen sind, auszudrücken durch die Gleichung schnitte eines Untersuchungsobjekts aus magnetisch 55

oder elektrisch leitendem Material messen kann, die ZIl-Zi

die oben beschriebenen unnormalen physikalischen Zin = —--—-_-. (1)

Eigenschaften aufweisen, wobei im wesentlichen die ZIl+ Zi

gleiche Empfindlichkeit wie bei bekannten Meß- _vvobei
geräten unter Verwendung von Resonanzkreisen er- 60
zielt werden soll und wobei kein Einfluß der Fre- 211 Impedanz des Impedanz-Elementes 25,

Die der Erfindung zugrunde Hegende Aufgabe wird schaltung Z4 ist.

dadurch gelöst, daß eine Meßeinrichtung für die Ver- 65 . _f ■ . _v

änderung der Impedanz des ersten Impedanz-Ele- Bezeichnet man den Verstärkungsfaktor des Ve

ments in vergrößertemMaßstab infolge der Verwen- stärkers 23 als, A und ^die 'Γ^^^Ι^ΤΐΠ

dung einer Negativimpedanz-Schaltung, die einen Gegenkopplungs-Impedanz-Elements 23 als Z12, »

ist die Eingangs-Impedanz Zi der Negativ-Impedanz- In dem in Fi g. 3 gezeigten Meßgerät 201 sind die

schaltung 24 wie folgt auszudrücken: Induktionsspulen 231, 251 und 261 durch die ent

sprechenden Impedanz-Elemente 23, 25 und 26 er-212 setzt, die im Ausführungsbeispiel von Fig. 2 ver-

Zi = (2) 5 wendet werden, wobei die Induktionsspule 231 als

1 *~ ^ positives Gegenkopplungs-Impedanz-Element dient,

die zwischen Eingang/1 und Ausgang Ol des Ver-

durch Substitution der Gleichung (2) in Gleichung stärkers 221 geschaltet ist, dessen Verstärkungsfaktor (1) erhält man Größe 1 ist und in einer negativen Induktionsschal-

ίο tung 241 enthalten ist, wobei die Induktionsspule

ZU ZIz 251 als Impedanz-Element.dient, das nahe dem zu

l—A ZIl messenden Untersuchungsobjekt aus magnetisch

= —^ oder elektrisch leitendem Material angeordnet ist und

χ (A — 1) dessen Impedanz sich bei Änderung der physika-

Z12 tih Eihf d Uhj 31

χ( ) p i ug der physik

1 —A Z12 is tischen Eigenschaften des Untersuchungsobjekts 31

(3) ändert, und zwar unter Bedingungen, wo die Span

nung der EingangsbezugsspannungsqueHe 21 an die

Wie Gleichung (3) zeigt, ändert sich die Eingangs- Induktionsspule 251 Ober die Induktionsspule 261 Impedanz Zin bei offenen Ausgangsklemmen 01 und angelegt ist

Ol von dem ImpedanzwertZ11 des Impedanz-Ele- _ao Bei dem in Fig. 4 gezeigten abgewandelten Meßments 25 bis Unendlich oder bis auf einen negativen gerät 204 ersetzen die Widerstandselemente 232, 252 Wert in Abhängigkeit von den Werten der Impe- und 262 die entsprechenden Impedanz-Elemente 23, danzen ZIl und Z12 des Impedanz-Elements 25 25 und 26 des in Fig. 2 gezeigten Ausführungsund des positiven gegengekoppelten Impedanz-Ele- beispiels. Das Widerstandselement 252 ist nahe dem ments23 sowie des Verstärkungsfaktors A des Ver- 35 zu messenden Untersuchungsobjekt aus magnetisch stärkers 22. oder elektrisch leitendem Material oder in Berührung

Wenn daher die Werte der Impedanzen ZIl und damit angeordnet, wie oben beschrieben, und ändert Z12 des Impedanz-Elements 25 und des gegen- seine Impedanz mit Änderungen der physikalischen gekoppelten Impedanz-Elements 23 und der Wert des Eigenschaften des Untersuchungsobjekts, wobei die Verstärkungsfaktors A des Verstärkers 22 derart vor- 30 Spannung der Flngang^KmgsspanniingRqiirflff 21 am her ausgewählt werden, daß die Eingangs-Impedanz Widerstandselement252 über das Widerstandselement Zin bei offenen Ausgangsklemmen 01 und O 2 so 262 angelegt ist Eine negative Widerstandsschaltung hoch als möglich ist, vorzugsweise unendlich (unter 242 mit einem Verstärker 222, der parallel (oder in diesen Bedingungen ist die Eingangs-Admittanz, ge- Serie) mit dem Widerstandselement 252 verbunden sehen von der Eingangsseite des Impedanz-Elements 35 ist, und mit einem positiven Gegenkopplungs-Wider-25, auf 0 reduziert), so sollten die Eingangsklemmen Standselement 232, das zwischen dem Eingang /1 des Impedanz-Elements 25 offensichtlich offen sein, und Ausgang 01 des Verstärkers 222 geschaltet ist, wobei im wesentlichen jeglicher Stromfluß von der _weist einen negativen Wert seiner Eingangs-Impe-Emgangsspannungsbezugsquelle 21 zum Impedanz- danz auf, wobei der Verstärkungsfaktor des Verstär-Element 25 verhindert ist Aus diesem Grund dient 40 kers 222 vorher auf einen Wert Größe 1 gewählt der in F i g. 2 gezeigte Schaltkreis als Schaltkreis, der wurde.

dem konventionellen Parallelresonanzkreis äquivalent Die Meßgeräte gemäß der Fi g. 3 und 4 können auf

ist, so daß, bei Anlegen einer vorherbestimmten Be- gleiche Weise wie das in Fig. 2 gezeigte betrieben zugsspannung an das Impedanz-Element 25 aus der werden und liefern ähnlich gate Ergeh

Spannungsquelle 21 Änderungen der physikalischen 45 Da die Induktionsspule 251 bekanntlich einen InEigenschaften des zu messenden Untersuchung- duktionsanteil und einen Widerstandsanteil umfaßt, Objekts in einem sehr großen Maßstab in Form einer ist in dem in Fig. 5 gezeigten abgewandelten MeB-Grenzspannung am Impedanz-Element 25 oder als gerät 203 eine Negativ-Widerstandsschaltung 243 mit Ausgangsspannung, die an den Ausgangsklemmen Ol einem Verstärker 223, dessen Verstärkungsfaktor und O2 erscheint, gemessen werden können. so größer 1 ist, and einem pen Gegenkopplungs-

Unter diesen Bedingungen ist es möglich, die Ge- Widerstandseiement 233, das zwischen Eingang /1 natdgkeh der Messung über einen weiten Frequenz- und Ausgang Ol des Verstärkers 223 geschaltet ist, bereich im wesentlichen auf einem konstanten Wert parallel mit der NeganVbduktknsschaltung 241, zn halten, ohne daß die Frequenz der Bezugsspan- weiche den gleichen Aafban wie diejenige von F ig. 3 rnmg am der EmgangsbezugsspannungsqueUe eine 55 aufweist, verbanden.

RoDe spielt Wenn darüber hinaus ein hoher Verstär- Mit dem abgewandelten Meßgerät 203 gemäß

kungsfaktor für den Verstärker 22 ausgewählt wird Fig. 5 ist es mögGch, imabhängig Veränderungen der und wenn eine mögSchst hohe negative Gegenkopp- Induktions- und Widerstandsantefle der Induktionshmg angelegt wird, mn den Verstärkungsfaktor auf spule 251 zu ermitteln, deren effektive Impedanz sich beispielsweise weniger als 10 zu verringern, so kann Co in Abhängigkeit von Änderungen der physikalischen der in Fig. 2 gezeigte Schaltkreis sehr stabfl be- Eigenschaften des gsobjefeis31 und die trieben werden. Darüber hinaus kann die Eingangs- Tätigkeit der Negativ-Inankfiansschalmng 241 and Impedanz Zin sehr leicht eingestellt werden, Indem der Negariv-Widerstandsschairang 243 in entspreman den Betrag der negativen Gegenkopplung van- chend vergrößertem MaBe ändert, abel macht 65 F i g. 6 ist ein schematisches Schaltdiagramm des

Fig. 3 zeigt eine abgewandelte Ausfönrungsform Meßgeräts geraäP einer weiteren Ansführungsform der Erfindung, die ebenfalls auf dem beschriebenen der Erfindung. Prii beruht Dieses Meßgerät 204 umfaßt eine erste Meßschal-

tung 204α mit einer Induktionsspule 251, wie im Ausführungsbeispiel von Fig. 3, nahe dem zu messenden Untersuchungsobjekt 31 aus magnetisch oder elektrisch leitendem Material, wie oben beschrieben, und einer Negativ-Induktionsschaltung 241, die parallel mit der Induktionsspule 251 verbunden ist und im wesentlichen den gleichen Aufbau wie diejenige von F i g. 3 aufweist. Ferner umfaßt dieses Meßgerät eine zweite Meßschaltung 204 ft mit einer Induktionsspule 254, die auf dieselbe Art angeordnet ist wie die vorher erwähnte Induktionsspule 251 und nahe einem Bezugs-Untersuchungsobjekt 41 aus gleichem Material wie Untersuchungsobjekt 31 angeordnet ist, auf dem die Messung basiert, und mit einer Negativ-Induktivitätsschaltung 244, die parallel mit der Induktionsspule 254 geschaltet ist und einem Verstärker 224 mit einem Verstärkungsfaktor Größe 1 und einer positiven Gegenkopplungsinduktionsspule 234, die zwischen Eingang und Ausgang des Verstärkers 224 geschaltet ist. Die erste und zweite Meßschaltung 204a und 204 ft und zwei Impedanz-Elemente 42 und 43 bilden zusammen eine Brückenschaltung 44 mit Eingangsklemmen /1 und / 2, die mit der Eingangsbezugsspannungsquelle 21 verbunden sind.

Wenn das Untersuchungsobjekt 31 irgendeine der vorherenvähnten abweichenden physikalischen Eigenschaften aufweist, so kann das Meßgerät 204 mit der obenerwähnten Anordnung die abweichenden physikalischen Mangel im Untersuchungsobjekt 31 in vergrößertem Maßstab als Ausgangsspannung an den Ausgangsklemmen Oi und Ol der Brückenschaltung 44 messen.

Bei einer weiteren abgewandelten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ist in F i g. 7 ein Meßgerät 205 dargestellt, wobei die in Fig. 6 gezeigten Meßschaltungen 204 a und 204 ft durch zwei Meßschaltungen 205 a und 205 b mit gleichem Aufbau, wie diejenige von 203 von F i g. 5, ersetzt sind.

In einem weiteren abgewandelten Ausführungsbeispiel ist in F i g. 8 ein Meßgerät 206 gezeigt, wobei die in F i g. 6 gezeigte Induktionsspule 251 durch ein Widerstands-Element 256 a mit den gleichen elektrischen Eigenschaften wie dem Element 252 von F i g. 4 ersetzt ist. Außerdem ist die in F i g. 6 gezeigte Induktionsspule 254 durch ein Widerstandselement 256 ft mit dem gleichen Widerstandswert wie demjenigen des Widerstandselements 256 a ersetzt, wenn es demselben Teil des zu messenden Untersuchungsobjekts (nicht gezeigt) ausgesetzt ist, wobei

ίο dieses Untersuchungsobjekt aus magnetisch oder elektrisch leitendem Material, wie oben beschrieben, besteht und eine Standard- oder Bezugs- physikalische Eigenschaft aufweist, die frei von den obenerwähnten fehlerhaften Abweichungen ist. Ferner sind Negativ-Widerstandsschaltungen 246 a und 246 ft mit gleichem Aufbau wie die Schaltung 242 von F i g. 4 parallel mit dem jeweiligen Widerstands-Element 256 a und 256 b verbunden und bilden eine Brückenschaltung 442 zusammen mit den Widerstands-Elementen 421 und 431.

Zur Vereinfachung der Beschreibung sind in den F i g. 3 bis 8 gleiche Teile mit gleichen oder entsprechenden Bezugsziffern bezeichnet worden, wie sie in F i g. 2 verwendet worden sind.

Die Erfindung erstreckt sich über den Rahmen der vorstehenden Ausführungen hinaus. Beispielsweise ist in allen vorstehenden Beispielen ein Verstärker für ein Impedanz-Element, dessen Wert sich entsprechend der Veränderung des Zustandes eines zu prüfenden Objekts ändert, parallel mit einer Negativ-Impedanz-Schaltung verbunden, die ein gegengekoppeltes Impedanz-Element einschließt, das zwischen den Eingangs- und Ausgangsklemmen des Verstärkers liegt. Es kann jedoch auch dasselbe Ziel durch Reihenschaltung dieser Schaltelemente erreicht werden.

Die Ausführungsformen der F i g. 3. 4 und 8 können abgewandelt werden, indem jeweils die Elemente oder Schaltungen 231, 232, 246 a oder 246 ft ausgetauscht werden durch ein empfindliches Widerstands-Element, wie eine empfindliche Magnetdiode ein Halbleiter-Meßorgan oder einen Thermistor.

Hierzu 3 Blatt Zeichnungen

Claims (5)

oder parallel „zuin Bezugs-Impedanz-Element Patentansprüche: (254) geschaltet ist, wobei die erste und die zweite Meßschaltung zusammen mit zwei anderen

1. Meßgerät zum Messen von Veränderungen Impedanz-Elementen eine Brücken-Schaltung der physikalischen Eigenschaften eines magne- 5 bilden.

tisch oder elektrisch leitenden Untersuchungsobjekts durch Verwenden eines ersten Impedanz-Elements, das nahe dem Untersuchungsobjekt
oder in Berührung damit steht, wobei sich die

Impedanz des Untersuchungsobjekts mit den io

physikalischen Eigenschaften ändert, wenn dem
ersten Impedanz-Element über ein zweites Impedanz-Element eine in einer Bezugsspannungsquelle erzeugte Spannung zugeführt wird, gekennzeichnet durch eine Meßeinrichtung is
für die Veränderung der Impedanz des ersten

Impedanz-Elements (25, 251, 252...) in ver- Die Erfindung betrifft eine Verbesserung an einem

größertem Maßstab infolge der Verwendung einer Meßgerät zum Messen von Veränderungen der phy-Negativimpedanz-Schaltung (24, 241, 242, 243, sikalischen Eigenschaften eines magnetisch oder elek-244, 246 a, 246*), die einen Verstärker (22, 221, ao trisch leitenden Untersuchungsobjekts durch Ver-22, 223, 224) enthält, welcher parallel oder in wenden eines ersten Impedanz-Elements, das nahe Serie mit dem ersten Impedanz-Element (25, 251, dem Untersuchungsobjekt oder in Berührung damit 252...) geschaltet ist, und weiterhin ein positives steht, wobei sich die Impedanz des Untersuchungsgegengekoppeltes Impedanz-Element (23, 231, Objektes mit den physikalischen Eigenschaften 232, 233, 234) enthält, das zwischen Eingang as ändert, wenn dem ersten Impedanz-Element über und Ausgang des Verstärkers (22, 221, 22, 223, ein zweites Impedanz-Element eine in einer Bezugs-224) geschaltet ist und dessen Eingangsimpedanz Spannungsquelle erzeugte Spannung zugeführt wird, dadurch auf einen negativen Wert einstellbar F i g. 1 zeigt ein Schaltungsdiagramm eines be-

ist, daß vorher der Verstärkungsfaktor dieses kannten Meßgerätes zum Messen magnetischer oder Verstärkers auf einen Wert größer 1 in Form 3» elektrischer Eigenschaften eines Untersuchungseiner Grenzspannung am ersten Impedanz-Ele- Objektes 12 aus magnetisch oder elektrisch leitendem ment(25, 251, 252...) oder in Form einer Material wie Eisenblech, Stahlblech, Zinnblech, Ausgangsspannung an den Ausgangsklemmen des Kupferblech oder Aluminiumblech. Das Meßgerät 11 Verstärkers einstellbar ist. umfaßt eine Brückenschaltung 13 aus zwei ähnlich

2. Meßgerät nach Anspruch 1, dadurch ge- 35 gewickelten Spulen Ll und Ll und zwei Impedanzkennzeichnet, daß das erste Impedanz-Element ElementenZl und Zl und eine Quelle für ein Einein Induktions-Element (251) umfaßt und daß gangs-Meßsignal 14 in Form eines herkömmlichen die Negativ-Impedanz-Schaltung (241) eine ne- Oszillators, der an die Eingangsklemmen der gative Induktions-Schaltung (231) aufweist, die Brückenscbaltung 13 ein Wechselstromsignal mit ein Induktions-Element als positives gegenge- 40 einer vorbestimmten Frequenz (im allgemeinen 5 bis koppeltes Impedanz-Element (23, 231, 232, 233, 100 kHz) und einer vorbestimmten Spannung (im 234) enthält. allgemeinen 1 bis 2 V Spitze-Spitze) anlegt.

3. Meßgerät nach Anspruch 1 oder 2, dadurch Eme der zwei Spulen, beispielsweise die Spule L1, gekennzeichnet, daß das erste Impedanz-Ele- dient als Meßspule, die dem zu messenden Unterment (25, 251, 252...) ein Induktions-Element 45 suchungsobjekt 12 mit einem vorbestimmten Ab-

(251) umfaßt und daß die Negativ-Impedanz- stand G (im allgemeinen 2 bis 10 mm) gegenüber-Schaltung eine Negativ-Induktionsschaltung liegt, wogegen die andere Spule L 2 eine Bezugs-oder (231) und eine Negativ-Widerstands-Schaltung Vergleichsspule ist, welche in einem Abstand von (233) enthält, die mit dem ersten Impedanz-Ele- einem Bezugsobjekt aus gleichem Material wie das ment parallel bzw. in Serie verbunden sind. so Untersuchungsobjekt 12 und mit den gleichen physi-

4. Meßgerät nach einem der vorhergehenden kaiischen Eigenschaften angeordnet ist. Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Es wird angenommen, daß das Untersuchungserste Impedanz-Element ein Wideirstands-Element objekt 12 kontinuierlich in eine vorherbestimmte

(252) enthält und daß die Negativ-Impedanz- Längsrichtung bewegt wird. Falls unter diesen Umschaltung (242) eine Negativ-Widerstandsschal- 55 ständen derartige physikalische Fehler, wie Blasen, tung ist, die ein Widerstands-Element (232) als Ritzen, ungleichmäßige Stärke, Einbuchtungen, Vorpositives gegengekoppeltes Impedanz-Element Sprünge, Verfälschungen durch Verunreinigungen, enthält. mangelhaft verschweißte Abschnitte oder Tempera-

5. Meßgerät nach einem der vorhergehenden turunterschiede im Untersuchungsobjekt 12 auftreten, Ansprüche, gekennzeichnet durch eine erste Meß- 60 dann ändert sich die elektrische Leitfähigkeit oder die schaltung (204α, 205α), welche das erste Impe- magnetische Permeabilität des Untersuchungsobjekts danz-Element (251) und die Negativ-Impedanz- 12 an den fehlerhaften Abschnitten. Infolgedessen Schaltung (241) enthält, und durch eine zweite ändert sich der Wirbelstrom, der durch das Unter-Meßschaltung (204 b, TXiSb), die ein Bezugs- suchungsobjekt 12 fließt, in Übereinstimmung mil Impedanz-Element (254) mit dem gleichen Impe- 65 der Größe des an der Meßspule Ll induzierten danzwert wie das erste Impedanz-Element unter Wechselstrom-Magnetfeldes, das durch das Ein· Normalbedingungen und einer anderen Negativ- gangssignal aus der Eingangssignalquelle 14 angeregt Impedanz-Schaltung (244) enthält, die in Reihe wird, das einen Wechsel der effektiven Impedanz dei