DE4332273A1 - Verfahren zum Kalibrieren eines Netzwerkanalysators - Google Patents
Verfahren zum Kalibrieren eines NetzwerkanalysatorsInfo
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Description
Die Erfindung geht aus von einem Verfahren zum Kalibrieren
eines Netzwerkanalysators laut Oberbegriff des Haupt
anspruches.
Die Meßgenauigkeit von Netzwerkanalysatoren läßt sich
durch Systemfehlerkorrekturen erheblich verbessern. Diese
Systemfehler-Korrekturwerte werden durch Kalibrier
messungen gewonnen, die derartig realisiert werden, daß
zwischen die beiden von außen zugänglichen Meßtore des
Netzwerkanalysators anstelle des Meßobjekts nacheinander
mehrere Kalibrierstandards angeschlossen werden, an denen
die Transmissions- und Reflexions-Parameter gemessen
werden. Die bisher üblichen Kalibriermeßverfahren basieren
auf einem vereinfachten sogenannten Zwei-Fehler-Zweitor
modell (beispielsweise nach DE-OS 39 12 795).
Fig. 1 zeigt das Prinzipschaltbild eines üblichen
Netzwerkanalysators (beispielsweise Netzwerkanalysator
ZPV-Z5 der Firma Rohde & Schwarz), bei dem über ein
Dreitor 2, beispielsweise einen Umschalter, zwei getrennte
Meßzweige 12 und 13 aus einem Hochfrequenzgenerator 1 ,
der in einem vorgegebenen Frequenzbereich durchstimmbar
ist, gespeist sind. Die beiden wechselweise anschaltbaren
Meßzweige 12 und 13 führen zu Viertoren 4 und 5, die
als Meßbrücken oder Richtkoppler ausgebildet sind und
mit denen Signaldetektoren 8, 9 bzw. 10, 11 verbunden
sind, mittels welcher Spannungsmessungen nach Betrag
und Phase durchführbar sind. Diese Signaldetektoren können
fehlangepaßt sein. Mit den Viertoren 4 und 5 sind außerdem
Meßtore 6 und 7 verbunden, zwischen welchen ein Zweitor 3
als Meßobjekt einschaltbar ist. Über die Signaldetektoren
8, 9 und 10, 11 können so an einem zwischengeschalteten
Meßobjekt 3 an dessen Eingang und Ausgang jeweils die
komplexen Reflexionsfaktoren S11 und S22 gemessen werden
und ebenso die komplexen Transmissionsfaktoren S12 und
S21 in Vorwärts- und Rückwärtsrichtung. Durch diese vier
gemessenen komplexen Streuparameter S11, S22, S12 und
S21 ist damit für jede Frequenz ein lineares Zweitor
vollständig beschrieben und es können aus diesen Werten
alle weiteren interessierenden Meßgrößen bestimmt werden.
Nach dem sogenannten Zwei-Fehler-Zweitormodell werden
zum Kalibrieren anstelle des Meßobjektes 3 nacheinander
mehrere Kalibrierstandards zwischen die Meßtore 6 und
7 geschaltet und damit jeweils wieder die Streuparameter
ermittelt, aus denen dann die Korrekturwerte berechnet
werden, die in einem Speicher im Netzwerkanalysator
abgespeichert und bei anschließenden Objektmessungen
entsprechend berücksichtigt werden.
Dieses bekannte Fehlermodell für übliche Zweitorkali
brierung ist jedoch unvollständig, es berücksichtigt
nicht eventuelle Verkopplungen zwischen den Bauelementen
eines zu vermessenden Meßobjektes. Beim Vermessen von
sogenannten On-Wafer-Netzwerken (auf Halbleitersubstraten
aufgebaute aktive oder passive Netzwerkschaltungen) ist
es beispielsweise erforderlich, auch die Verkopplung
der Schaltungsteile, die zwischen den Meßtoren des
Netzwerkanalysators und dem eigentlichen Meßobjekt
(beispielsweise einem Transistor der Halbleiterschaltung)
bestehen, mit in die Kalibriermessung einzubeziehen.
Dieses allgemeine Kalibrierproblem für das Gesamtfehler
modell ist schematisch in Fig. 2 dargestellt, die nicht
zu vernachlässigenden Verkopplungen zwischen den Bau
elementen des Meßobjektes und den von außen zugänglichen
Meßtoren 6 und 7 des Netzwerkanalysators ist hier als
undefinierter Freiraum dargestellt, der gemäß Fig. 3
als zwischen dem Meßobjekt 3 und den Meßtoren 6 und 7
geschaltetes Fehlernetzwerk C schaltungstechnisch dar
gestellt werden kann.
Die Theorie zur Lösung dieses Kalibrierproblems ist
bekannt (SPECIALE, R.A., A Generalization of the TSD
Networkanalyzer Calibration Procedure, Covering n-Port
Scattering-Parameter Measurements, Affected by Leakage
Errors, IEEE Transactions on Microwave Theory and
Techniques, MTT-25, Dec 1977, pp. 1100-1115).
Aufbauend auf dieser Theorie wurde auch schon versucht,
mit vier aufeinanderfolgenden Kalibriermessungen dieses
Kalibrierproblem zu lösen (HEWLETT PACKARD, 16-Term Error
Model and Calibration Procedure for On-Wafer Network
Analysis Measurements, IEEE Transactions on Microwave
Theory and Techniques, MTT-39, Dec. 1991, pp. 2211-2217).
Als erster Kalibrierstandard wird eine direkte Verbindung
der beiden Meßtore benutzt (Through), als zweite Kali
briermessung wird ein reflexionsfreier Abschlußwiderstand
gleichzeitig an die beiden Meßtore angeschaltet (soge
nannte Doppeleintor-Kalibriermessung Match-Match), als
dritte Kalibriermessung wurde am einen Meßtor ein Leerlauf
und am anderen Meßtor ein Kurzschluß durchgeführt
(Doppeleintormessung Open-Short) und als vierte Kali
briermessung wurde schließlich in umgekehrter Reihenfolge
ein Kurzschluß an dem ersten Meßtor und ein Leerlauf
am zweiten Meßtor durchgeführt (Doppeleintormessung
Short-Open). Dieses bekannte sogenannte 16-Term-Kali
brierverfahren löst jedoch dieses Kalibrierproblem noch
nicht vollständig, da mit den aufeinanderfolgenden vier
Kalibriermessungen zur Fehlerberechnung nur 16 Gleichungen
aufgestellt werden können, von denen einige voneinander
abhängig sind, so daß insgesamt höchstens 14 unabhängige
Gleichungen zur Verfügung stehen, mit denen das Problem
nicht lösbar ist.
Es ist daher Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren
aufzuzeigen, mit dem eine prinzipiell exakte Lösung des
eingangs erwähnten allgemeinen Kalibrierproblems mit
geringem Rechenaufwand möglich ist, und das insbesondere
auch für On-Wafer-Messungen geeignet ist.
Diese Aufgabe wird durch die Kalibrierverfahren nach
den Ansprüchen 1, 2 oder 3 gelöst.
Beim erfindungsgemäßen Verfahren werden nicht nur vier
Kalibriermessungen, sondern mindestens fünf aufeinander
folgende Kalibriermessungen durchgeführt, dadurch können
insgesamt 20 Gleichungen aufgestellt werden, von denen
mindestens 15 voneinander unabhängig sind, so daß das
eingangs erwähnte Kalibrierproblem prinzipiell exakt
gelöst wird und damit für die Praxis ein einfaches
Verfahren für die Ermittlung der Korrekturkoeffizienten
für das Gesamtkalibriermodell solcher Netzwerkanalysatoren
zur Verfügung steht. Damit können beispielsweise auch
On-Wafer-Messungen erstmals mit hoher Transmissionsdynamik
durchgeführt werden, die erforderliche Rechenzeit ist
vernachlässigbar gering. Da mit dem erfindungsgemäßen
Verfahren insgesamt 15 Korrekturkoeffizienten berechnet
werden, wird es als 15-Term-Kalibrierverfahren bezeichnet.
Das erfindungsgemäße Verfahren nach den Ansprüchen 1,
2 oder 3 ist besonders gut geeignet zum Messen von
On-Wafer-Netzwerken (MMIC). Für solche Messungen sind
die Meßtore 6 und 7 des Netzwerkanalysators gemäß Fig.
4 als schmale Meßspitzen 16 und 17 ausgeführt, die beim
Messen eines Meßobjektes in einem extrem geringen Abstand
von nur einigen µm angeordnet sind. Aus Fig. 4 ist
ersichtlich, daß die vier Kontaktstellen 16′, 16′′, 17′,
17′′ der Meßspitzen 16 und 17 mit den Leiterbahnen des
Halbleitersubstrats sehr eng nebeneinander liegen und
daher stark miteinander verkoppelt sind, hierdurch wird
die Meßdynamik für Reflexions- und Transmissions-Messungen
auf ca. 20 dB eingeschränkt. Bei üblichen koaxialen
Meßbuchsen der Meßtore 6 und 7 wird dagegen eine 60 dB
Dynamik für Reflexionsmessungen und eine 100 dB Dynamik
für Transmissionsmessungen erreicht. Wird dagegen gemäß
der Erfindung diese Verkopplung durch das Fehlernetzwerk C
gemäß Fig. 3 ermittelt, so können damit auch die Streu
parameter eines solchen unzugänglichen Meßobjektes aus
den gewonnen Meßwerten exakt berechnet werden und auch
bei On-Wafer-Messungen eine große Dynamik erreicht.
Dieses erfindungsgemäße 15-Term-Kalibrierverfahren kann
gemäß einer Weiterbildung der Erfindung auch rein
rechnerisch zum Optimieren des Übertragungsverhaltens
einer komplexen elektrischen Gesamtschaltung gemäß
Unteranspruch 5 benutzt werden, dabei werden rein
rechnerisch wieder die Verfahrensschritte nach den
Ansprüchen 1, 2 oder 3 angewendet, in diesem Fall aber
nur numerisch in einem Rechner. Aus diesen so rechnerisch
gewonnenen Werten werden wieder insgesamt 15 Kennwerte
gewonnen, die den Korrekturwerten des Kalibrierverfahrens
entsprechen. Auf diese Weise kann eine Teilschaltung
einer komplexen elektronischen Gesamtschaltung, die
bezüglich des Übertragungsverhaltens der Gesamtschaltung
optimiert werden soll, auf sehr einfache Weise berechnet
werden, es sind nur fünf einzelne Rechenschritte anhand
der rechnerisch eingesetzten Kalibrierstandards nötig,
aus diesen so gewonnenen fünf Rechenwerten können dann
wieder insgesamt 15 Kennwerte berechnet werden, durch
die damit die restliche Gesamtschaltung (ohne zu
optimierender Teilschaltung) mit allen Parametern genau
definiert ist. Anschließend ist es dann nur noch nötig,
anstelle der Kalibrierstandards wieder verschiedene
Streuparameter der in die Gesamtschaltung einzubauenden
Teilschaltung in die Rechnung einzusetzen und mit den
die restliche Gesamtschaltung genau definierenden
Kennwerten das Übertragungsverhalten der Gesamtschaltung
zu berechnen, durch Verändern dieser Streuparameter der
Teilschaltung können dann diejenigen Streuparameterwerte
ermittelt werden, durch welche das gewünschte Optimum
des Übertragungsverhaltens der Gesamtschaltung erreicht
wird. Aus diesen Streuparametern der Teilschaltung kann
die Teilschaltung dann sehr einfach in bekannter Weise
schaltungstechnisch mit den gewünschten rechnerisch
ermittelten Eigenschaften realisiert werden. Diese
Berechnung kann sehr schnell durchgeführt werden, für
die aufeinanderfolgenden rechnerischen Änderungen der
Streuparameter der Teilschaltung sind nur ms erforderlich,
dieses erfindungsgemäße Optimierungsverfahren ist daher
wesentlich schneller als die bisher üblichen Analyse
verfahren, bei denen mit einem Großrechner die Gesamt
schaltung mit all ihren Parametern verändert wird, wozu
oft mehrere Stunden Rechenzeit nötig sind.
Die Ausgangsbasis für die mathematische Beschreibung
des 15-Term-Kalibrierverfahrens bildet das Fehlermodell
nach Fig. 3. Der Einfachheit halber wird die mathematische
Herleitung nur für den in der Praxis interessantesten
Fall der Vermessung von Zweitoren durchgeführt. Die
Verallgemeinerung dieser Vorgehensweise zu beliebig vielen
n-Toren kann auf dieselbe Art und Weise durchgeführt
werden, das erfindungsgemäße Verfahren ist also nicht
nur zum Kalibrieren von Netzwerkanalysatoren mit zwei
Meßtoren geeignet, sondern auch für solche, die bei
spielsweise drei, vier oder mehr Meßtore aufweisen.
Es ist vorteilhaft, die mathematische Formulierung des
Vollmodells in Transmissionsparametern anzusetzen:
Zerlegt man die 4 * 4 Matrix [C] in vier 2 * 2 Matrizen, dann gilt mit
für Gleichung 3:
Für das Meßobjekt gilt folgender Zusammenhang in Streuparametern:
Setzt man die Matrixgleichungen 5 und 6 in die Gleichung 7 ein, so erhält man letzt
lich:
wobei gilt
[SB] = [S][B] [SF] = [S][F] (9)
Ausmultipliziert ergibt sich beispielsweise für [SB]:
Mit der Gleichung 8 stehen zwei Bestimmungsgleichungen für einen Doppeleintor-
oder Zweitorkalibrierstandard für eine Schalterstellung zur Verfügung.
A₁₁a₁ = A₁₂a₂ = E₁₁b₁ = E₁₂b₂ - SB₁₁b₁ - SB₁₂b₂ - SF₁₁a₁ - SF₁₂a₂ = 0 (11)
A₂₁a₁ + A₂₂a₂ + E₂₁b₁ + E₂₂b₂ - SB₂₁b₁ - SB₂₂b₂ - SF₂₁a₁ - SF₂₂a₂ = 0 (12)
Die zweite Schalterstellung liefert zusätzlich zwei weitere Gleichungen.
Man kann leicht nachvollziehen, daß in jeder Bestimmungsgleichung nur ein Refle
xionswert (S₁₁ oder S₂₂) enthalten ist. Diese Tatsache ist der Schlüssel für die TMXU-
Kalibrierverfahren. Eine Kalibriermessung mit einem vollständig bekannten Doppel
eintor (das besteht aus zwei Eintoren, die als Zweitor ohne Transmission betrachtet
werden) liefert in der Regel vier brauchbare Gleichungen. Hingegen liefert eine Mes
sung mit einem bekannten und einem unbekannten Eintorkalibrierstandard nur zwei
Gleichungen, nämlich die zwei Gleichungen, in denen der Reflexionsfaktor des bekann
ten Standards enthalten ist.
Um für ein beliebiges Zweitor von Systemfehlern korrigierte Werte zu erhalten,
benötigt man nur 15 Gleichungen, da eine Größe des Fehlernetzwerkes auf einen be
liebigen endlichen Wert festgelegt werden kann. Dieses wird nach der Einführung der
Korrekturrechnung bewiesen.
Durch die Festlegung einer Größe des Fehlernetzwerkes verfügt man über ein lineares
inhomogenes Gleichungssystem (Matrixgleichung 13, basierend auf Gleichung 8) für
die restlichen 15 Fehlergrößen, welches einfach über die Invertierung der 15 * 15 Matrix
(MX), die sich aus Meßwerten und den Größen der Kalibrierobjekte zusammensetzen,
zu lösen ist.
Somit könnte man meinen, daß man vier Kalibriermessungen mit vollständig be
kannten Zwei- oder Doppeleintoren zur Bestimmung der fünfzehn unbekannten Feh
lernetzwerkkoeffizienten benötigt.
Daß jedoch fünf Kalibriermessungen nötig sind, liegt daran, daß abhängige Gleichun
gen auftreten.
Eine Untersuchung des Ranges des Kalibriergleichungssystems brachte hervor, daß
man entweder fünf Messungen mit drei bzw. vier vollständig bekannten Kalibrierstan
dards (TMS, TMO, TMSO) oder sechs bzw. sieben Messungen mit drei bekannten
Standards (TMSU, TMOU) braucht.
In der Tabelle 3 sind alle notwendigen Zwei- und Doppeleintorkalibrierstandardkom
binationen der drei Kalibrierverfahren dargestellt. Bei dem TMSO-Verfahren wären
alle fünf Standardkombinationen auch durch vollständig bekannte Zweitorkalibrier
standards (z. B. sogenannte Transferstandards) ersetzbar.
Hat man nunmehr die Fehlergrößen ermittelt, so möchte man mit diesen die Meßwerte
eines beliebigen Meßobjektes von Fehlanpassungen, Übersprechern und ähnlichen
Meßfehlern befreien. Dieser Teil wird bei der Systemfehlerkorrektur allgemein als
Korrekturrechnung bezeichnet.
Diese Korrekturrechnung wird im Gegensatz zur Berechnung der Fehlergrößen sehr
häufig durchgeführt und sollte deshalb kurz sein.
Die Herleitung dieser Korrekturrechnung basiert auf der Vereinigung der Gleichung 8
für die erste und zweite Stellung des Schalters bei der Vermessung des unbekannten
Objektes:
[A][Ma] + [E][Mb] = [Sx]([B][Mb] + [F][Ma]) (14)
mit den Meßwertmatrizen
Die Gleichung 14 läßt sich nach den gesuchten Streuparametern ([Sx]) umstellen:
[Sx] = ([A][Ma] + [E][Mb])([B][Mb] + [F][Ma])-1 (16)
Wenn man in der Gleichung 15 alle Fehlergrößen der vier Fehlermatrizen [A], [E], [B]
und [F] beispielsweise auf A₁₁ bezieht, so erkennt man, daß sich dieses A₁₁ in der
Korrekturgleichung 16 auf Grund der Invertierung herauskürzt.
Mit der Gleichung 16 steht nunmehr eine Korrekturrechnungsmöglichkeit zur
Verfügung, in der nur mit 2*2-Matrizen operiert wird. Deshalb ist diese Rechnung im
Vergleich zur Berechnung der Fehlergrößen (Inversion einer 15*15-Matrix) ausgespro
chen kurz. Sie ist bezüglich des Rechenzeitaufwandes mit anderen Korrekturrechnun
gen anderer Verfahren vergleichbar.
Interressant an der Gleichung 16 ist, daß nur eine Inversion (und somit nur ein mögli
ches Singularitätsproblem) einer 2*2-Matrix, deren Elemente auf Grund ihrer Komple
xität sehr wahrscheinlich ungleich Null sind, auftritt.
Fig. 5 zeigt in einer Tabelle die verschiedenen Möglich
keiten für die Kalibriermessung mit mindestens fünf,
teilweise sogar sechs oder sieben Kalibrierstandards
T, M, S, O bzw. U, wobei
T ein Zweitor ist, von dem sämtliche komplexen Streu parameter bekannt sind. Hierbei handelt es sich vorzugsweise um eine direkte Verbindung der beiden Meßtore 6 und 7 des Netzwerkanalysators.
M ist ein Eintor bekannter Reflexion,
S ist ein Kurzschluß,
O ist ein Leerlauf und
U ein Eintor beliebiger unbekannter Reflexion.
T ein Zweitor ist, von dem sämtliche komplexen Streu parameter bekannt sind. Hierbei handelt es sich vorzugsweise um eine direkte Verbindung der beiden Meßtore 6 und 7 des Netzwerkanalysators.
M ist ein Eintor bekannter Reflexion,
S ist ein Kurzschluß,
O ist ein Leerlauf und
U ein Eintor beliebiger unbekannter Reflexion.
Die Doppelbuchstaben MM, SS, OO oder SO usw. bezeichnen
hierbei jeweils ein sogenanntes Doppeleintor-Kalibrier
standard, mit dem nacheinander an den beiden Meßtoren
6 und 7 die jeweils bezeichneten Eintormessungen (z. B.
M, S, O oder dergleichen) als eine Kalibriermessung
durchgeführt werden.
Fig. 6 zeigt die verschiedenen Grundschaltungen für das
Kalibrierverfahren nach Anspruch 2, die hier als Zweitore
dargestellten Kalibrierstandards werden durch Impedanzelemente
gebildet, die in Form von konzentrierten Bau
elementen realisiert sind, Fig. 7 zeigt in einer Tabelle
einige Möglichkeiten, wie in beispielsweise fünf auf
einanderfolgenden Kalibriermessungen mit solchen Kali
brierstandards nach Fig. 6 in beliebiger Kombination
nacheinander mindestens fünf Kalibriermessungen durch
geführt werden können, die Tabelle nach Fig. 7 ist nur
ein Ausschnitt aus einer Vielzahl von solchen Kombina
tionsmöglichkeiten. Bei der Impedanzschaltung Z nach
Fig. 6 handelt es sich um ein einfaches Zweitor, bei
dem zwischen dem Eingang e und dem Ausgang a ein belie
biges aber bekanntes Impedanzelement B in Reihe geschaltet
ist, bei dem Kalibrierstandard Y ist parallel zum Ein
gang e und Ausgang a des Zweitores ein Impedanzelement
P parallel geschaltet, der Kalibrierstandard ZY besteht
aus einer üblichen L-Schaltung mit einem Serien-Impe
danzelement B und einem parallel zum Ausgang a angeord
neten Parallel-Impedanzelement P, der Kalibrierstandard
YZ ist in umgekehrter Weise mit einem Serienwiderstand
B und einem parallel zum Eingang angeordneten Pa
rallelimpedanzelement P aufgebaut, der Kalibrierstandard
ZYZ ist als π-Schaltung realisiert mit zwei in Reihe
geschalteten Impedanzelementen B1 und B2 und einem
dazwischen angeordneten Parallel-Impedanzelement P während
der sechste Kalibrierstandard YZY als P-Schaltung
ausgebildet ist mit einem Serien-Impedanzelement B sowie
am Ein- und Ausgang parallelgeschalteten Parallelimpe
danzelementen P1 bzw. P2.
Fig. 8 zeigt ein Beispiel für das Verfahren zum Optimieren
des Übertragungsverhaltens einer komplexen elektrischen
Gesamtschaltung G zwischen deren Eingang E und deren
Ausgang A, dabei kann es sich beispielsweise um einen
Satellitenempfänger im 10 GHz-Bereich handeln. Innerhalb
dieser komplexen Gesamtschaltung G ist ein Verstärker V
eingebaut, der durch ein seinem Eingang zugeordnetes
Transformationsnetzwerk F an die Restschaltung so angepaßt
werden soll, daß ein vorbestimmtes Übertragungsverhalten
zwischen Eingang E und Ausgang A der Gesamtschaltung
erreicht wird. Der Verstärker V ist in eine sehr komplexe
Gesamtschaltung G eingebunden, in welcher über den Frei
raum eine Vielzahl von Schaltungskomponenten miteinander
verkoppelt sind. Die Berechnung der Ausgangsgröße am
Ausgang A bei gegebener Eingangsgröße am Eingang E mit
Hilfe eines Großrechners würde je nach Komplexitätsgrad
der Gesamtschaltung mehrere Stunden dauern. Gemäß der
Erfindung erfolgt die Berechnung dagegen nur mit fünf
aufeinanderfolgenden Kalibrierstandards, die anstelle
des Transformationsnetzwerkes F in eine Gesamtberechnung
der Gesamtschaltung G einbezogen werden, die Kalibrier
standards werden also nicht körperlich wie beim Kali
briermeßverfahren eines Netzwerkanalysators nach der
vorhergehenden Beschreibung angeschlossen, sondern ihre
bekannten Streuparameter werden nur rechnerisch ent
sprechend berücksichtigt. Auf diese Weise werden nach
einander in einem relativ kurzen Rechenvorgang mit nur
fünf Kalibrierstandards deren Parameter berechnet, aus
denen dann insgesamt 15 Gleichungen für die restliche
Gesamtschaltung G berechnet werden können, durch die
diese restliche Gesamtschaltung G dann genau definiert
ist. Als Kalibrierstandards können wieder entweder die
nach Fig. 5 oder nach Fig. 6 und 7 benutzt werden oder
wieder solche nach Fig. 5 jedoch mit Ersatz der dort
aufgeführten Doppeleintore (z. B. MM, SS oder dergleichen)
durch ein beliebiges Impedanzelement nach den Fig. 6
und 7.
Nach Berechnung der komplexen Restgrundschaltung G als
Netzwerk mit 15 Termen ist diese exakt bestimmt und es
kann dann anschließend anstelle eines aufwendigen
numerischen Analyseprogramms mit den 15 ermittelten
Parametern mit einer einfachen Rechnung die Ausgangsgröße
A in Abhängigkeit von der Eingangsgröße E für beliebig
in die Rechnung eingesetzte Streuparameter eines belie
bigen Transformationsnetzwerkes F innerhalb von ms
berechnet werden, die Streuparameter des so rechnerisch
eingesetzten Transformationsnetzwerkes können beliebig
oft verändert werden, da die Rechnung wie gesagt sehr
schnell durchgeführt werden kann, es ist auf diese Weise
also möglich, ein Transformationsnetzwerk F so zu opti
mieren, daß die Gesamtschaltung zwischen Eingang E und
Ausgang A ein vorbestimmtes Übertragungsverhalten besitzt.
Aus den so ermittelten optimierten Streuparametern des
Transformationsnetzwerkes kann dann in bekannter Weise
dieses Transformationsnetzwerk F für den Verstärker V
auch schaltungstechnisch in der gewünschten Weise
realisiert werden.
Unter Übertragungsverhalten der Gesamtschaltung wird
allgemein der Zusammenhang zwischen dem Hochfrequenzsignal
am Eingang E und dem Ausgangssignal am Ausgang A
verstanden. Das erfindungsgemäße Verfahren ist also
universell für beliebige Dimensionierungs-Optimierungen
geeignet.
Claims (5)
1. Verfahren zum Kalibrieren eines zwei Meßtore aufwei
senden Netzwerkanalysators durch auf einanderfolgende
Messung der Transmissions- und Reflexions-Parameter
an mehreren Kalibrierstandards in beliebiger Reihen
folge, aus denen Korrekturwerte berechnet werden,
die bei nachfolgenden Objektmessungen berücksichtigt
werden, dadurch gekennzeichnet, daß
mindestens fünf aufeinanderfolgende Kalibriermessungen
mit Kalibrierstandards gemäß folgender Tabelle
durchgeführt werden:
wobei
T ein Zweitor ist, von dem sämtliche komplexen Streuparameter bekannt sind, insbesondere eine direkte Verbindung der beiden Meßtore,
M ein Eintor bekannter Reflexion ist,
S ein Kurzschluß ist,
O ein Leerlauf ist und
U ein Eintor beliebiger unbekannter Reflexion ist,
und die Doppelbuchstaben jeweils ein Doppel eintorkalibrierstandard bezeichnen, mit dem nacheinander an den beiden Meßtoren die jeweils bezeichneten Eintormessungen als eine Kalibrier messung durchgeführt werden,
und aus den mit diesen Kalibrierstandards gewonnenen Meßwerten insgesamt 15 Korrekturwerte berechnet werden.
T ein Zweitor ist, von dem sämtliche komplexen Streuparameter bekannt sind, insbesondere eine direkte Verbindung der beiden Meßtore,
M ein Eintor bekannter Reflexion ist,
S ein Kurzschluß ist,
O ein Leerlauf ist und
U ein Eintor beliebiger unbekannter Reflexion ist,
und die Doppelbuchstaben jeweils ein Doppel eintorkalibrierstandard bezeichnen, mit dem nacheinander an den beiden Meßtoren die jeweils bezeichneten Eintormessungen als eine Kalibrier messung durchgeführt werden,
und aus den mit diesen Kalibrierstandards gewonnenen Meßwerten insgesamt 15 Korrekturwerte berechnet werden.
2. Verfahren zum Kalibrieren eines zwei Meßtore aufwei
senden Netzwerkanalysators durch aufeinanderfolgende
Messung der Transmissions- und Reflexions-Parameter
an mehreren Kalibrierstandards in beliebiger Reihen
folge, aus denen Korrekturwerte berechnet werden,
die bei nachfolgenden Objektmessungen berücksichtigt
werden, dadurch gekennzeichnet, daß
mindestens fünf aufeinanderfolgende Kalibriermessungen
mit Kalibrierstandards durchgeführt werden, die durch
Impedanzelemente in Form von konzentrierten Bau
elementen bestehen, in beliebiger Reihenfolge und
Kombination benutzt werden und die folgende Grund
schaltungen besitzen:
und aus den mit diesen Kalibrierstandards gewonnenen
Meßwerten insgesamt 15 Korrekturwerte berechnet werden.
3. Verfahren zum Kalibrieren eines zwei Meßtore aufwei
senden Netzwerkanalysators durch aufeinanderfolgende
Messung der Transmissions- und Reflexions-Parameter
an mehreren Kalibrierstandards in beliebiger Reihen
folge, aus denen Korrekturwerte berechnet werden,
die bei nachfolgenden Objektmessungen berücksichtigt
werden, dadurch gekennzeichnet, daß
mindestens fünf aufeinanderfolgende Kalibriermessungen
mit Kalibrierstandards gemäß der Tabelle nach Anspruch
1 durchgeführt werden, wobei anstelle eines oder
mehrerer der dort aufgeführten Doppeleintor-Kali
brierstandards ein beliebiges Impedanzelement mit
einer Grundschaltung nach Anspruch 2 benutzt wird,
und aus den mit diesen Kalibrierstandards gewonnenen Meßwerten insgesamt 15 Korrekturwerte berechnet werden.
und aus den mit diesen Kalibrierstandards gewonnenen Meßwerten insgesamt 15 Korrekturwerte berechnet werden.
4. Verfahren nach Anspruch 1, 2 oder 3, gekenn
zeichnet, durch seine Anwendung bei einem
Netzwerkanalysator, dessen Meßtore als Meßspitzen
zum Kontaktieren der Leiterbahnen einer Halbleiter
schaltung (On-Wafer-Netzwerk) ausgebildet sind.
5. Verfahren zum Optimieren des Übertragungsverhaltens
einer komplexen elektrischen Gesamtschaltung zwischen
deren Ein- und Ausgang durch Optimieren der Über
tragungseigenschaften eines ausgewählten Teiles dieser
Gesamtschaltung, dadurch gekenn
zeichnet, daß die zu optimierende Teil
schaltung rechnerisch nacheinander durch fünf
Kalibrierstandards nach einem der Ansprüche 1, 2 oder
3 ersetzt wird und aus den so gewonnenen Rechenwerten
insgesamt 15 Kennwerte der restlichen Gesamtschaltung
berechnet werden, und anschließend mit diesen die
Restschaltung in ihren Eigenschaften exakt definie
renden 15 Korrekturwerten durch rechnerischen Einsatz
der Teilschaltung mit veränderlichen Parametern das
Übertragungsverhalten der Gesamtschaltung zwischen
Eingang und Ausgang so lange verändert wird, bis das
gewünschte optimale Übertragungsverhalten erreicht
ist, und dann die Teilschaltung mit diesen so durch
Rechnung gewonnenen optimalen Parametern schaltungs
technisch realisiert wird.
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