DE4325590A1 - Verfahren und Vorrichtung zur Qualitätskontrolle von mit einer dünnen Schicht versehenen Trägerfolien - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur Qualitätskontrolle von mit einer dünnen Schicht versehenen TrägerfolienInfo
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- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
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- G01B11/0616—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating
- G01B11/0625—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating with measurement of absorption or reflection
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/84—Processes or apparatus specially adapted for manufacturing record carriers
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Qualitätskontrolle
von mit einer dünnen Schicht versehenen Trägerfolien mittels
optischer Abtastung. Die Erfindung betrifft weiterhin
Vorrichtungen zur Durchführung dieses Verfahrens.
Bei der Herstellung von Magnetfolien zur magnetischen
Aufzeichnung analoger oder digitaler Signale wird auf eine
Trägerfolie eine dünne, magnetisierbare Schicht aufgebracht.
Anschließend werden aus diesem Material z. B. Diskettenscheiben
ausgestanzt. Entscheidend für die Qualität der Magnetfolie als
Aufzeichnungsmedium ist die Homogenität der Magnetschicht.
Diese Homogenität muß bei einer Qualitätskontrolle überwacht
werden.
Es ist bekannt, zu diesem Zweck mit einem Sensor oder mehreren
Sensoren die Oberfläche der Magnetfolie abzutasten und
Änderungen der reflektierten Lichtintensität zu registrieren.
Fehler der Magnetschicht ändern lokal das Reflexionsverhalten
der Schichtoberfläche. Mit diesem Verfahren können
Aufrauhungen in der Oberfläche relativ gut erfaßt werden. Bei
flächenhaften oder linienförmigen Vertiefungen kommt es jedoch
nur an den Rändern dieser Strukturen zu Änderungen des
Reflexionsverhaltens. Nur dort sind Änderungen in der Neigung
der Oberfläche vorhanden. Da diese Ränder naturgemäß sehr
schmal sind, muß die Oberfläche mit einer entsprechend hohen
Auflösung abgetastet werden. Weiterhin muß die Magnetschicht
während der Inspektion genau plan unter dem Sensor
hindurchgeführt werden, damit Änderungen der Neigung nicht als
Fehler interpretiert werden.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein verbessertes
Verfahren zur Qualitätskontrolle dünner Trägerfolien zu
schaffen.
Speziell liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, ein
Verfahren zur Qualitätskontrolle dünner Trägerfolien zu
schaffen, welches geringere Anforderungen an die Auflösung der
Abtastung und die plane Führung der Trägerfolie stellt als das
geschilderte Verfahren nach dem Stand der Technik.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß die
örtlichen Schichtdicken durch Absorptionsmessungen bestimmt
werden.
Es hat sich überraschenderweise gezeigt, daß die Schichtdicke
solcher Schichten mittels einer Absorptionsmessung im
Durchlicht erfolgen kann. Die Schichten, z. B. bei
Magnetfolien, sind sehr dünn. Die optischen Dichten der
Schichten liegen daher in einem Bereich, in welchem Änderungen
der Schichtdicke zu deutlichen Änderungen der Transmission
führen. Die Absorption in der weitgehend transparenten
Trägerfolie selbst kann gegenüber der Absorption in der darauf
aufgebrachten Schicht vernachlässigt werden.
Das Verfahren wird vorzugsweise zur Qualitätskontrolle von
Magnetfolien zur magnetischen Informationsaufzeichnung
benutzt. Es kann sich dabei ,im die Aufzeichnung analoger
Signale oder um die Speicherung digitaler Daten handeln. Statt
magnetisierbarer dünner Schichten können aber auch Schichten
mit vergleichbarer Dicke aber anderen physikalischen
Eigenschaften auf die Trägerfolie aufgebracht sein.
Es kann die Absorption von Magnetfolien gemessen werden, bei
denen jeweils eine Trägerfolie auf beiden Seiten mit einer
magnetisierbaren Schicht beschichtet ist. In diesem Fall hängt
die Absorption von der Gesamtdicke der beiden magnetisierbaren
Schichten ab.
Zur absoluten Schichtdickenmessung kann die Magnetfolie mit
einem Lichtbündel bekannter Intensität abgetastet werden. Das
gestattet bei Kenntnis des Absorptionsvermögens des Material
der Schicht eine absolute Bestimmung der Schichtdicke. Es
können aber auch nur Abweichungen der Schichtdicke von einem
Standardwert, z. B. einer mittleren Schichtdicke, bestimmt
werden. Das ist für die Qualitätskontrolle in der Regel
ausreichend.
Eine Vorrichtung zur Durchführung des beschriebenen Verfahrens
weist
- (a) eine Beleuchtungseinheit zur Beleuchtung der zu kontrollierenden Trägerfolie in einem Inspektionsbereich von einer Seite der Trägerfolie her und
- (b) einen Sensor auf, der mit einer auf der entgegengesetzten Seite der Trägerfolie vorgesehenen Anordnung von Detektorelementen aufgebauten ist und der den gesamten Inspektionsbereich erfaßt.
Vorteilhafterweise sind Mittel zum Hindurchführen der zu
kontrollierenden Trägerfolie durch den Inspektionsbereich
vorgesehen. Dabei ist zweckmäßig der Inspektionsbereich ein
langgestreckter Bereich, der sich quer zu der
Bewegungsrichtung der Folie erstreckt und der Sensor weist
eine eindimensionale Anordnung von Detektorelementen auf. Eine
bandartige Trägerfolie kann durch eine Rollenführung geradlinig
durch den Inspektionsbereich hindurchführbar sein. Die
Trägerfolie kann aber auch scheiben- oder ringscheibenförmig
und um eine durch das Zentrum der scheiben- oder
ringscheibenförmigen Folie verlaufende Drehachse drehbar und
antreibbar sein. Die Beleuchtungseinheit und der Sensor sind
dann radial zu der Drehachse angeordnet.
Ausführungsbeispiele der Erfindung sind nachstehend unter
Bezugnahme auf die zugehörigen Zeichnungen näher erläutert.
Fig. 1 ist eine schematisch-perspektivische Darstellung und
zeigt eine Vorrichtung zur Qualitätskontrolle für mit
einer dünnen Schicht versehene, bandförmige
Trägerfolien.
Fig. 2 ist eine schematisch-perspektivische Darstellung und
zeigt eine Vorrichtung zur Qualitätskontrolle für
scheiben- oder ringscheibenförmige, mit einer dünnen
Schicht versehene Trägerfolien, wie sie für Disketten
verwendet werden.
In Fig. 1 ist mit 10 eine Magnetfolie bezeichnet, die aus einer
Trägerfolie besteht, welche auf einer oder beiden Seiten mit
einer dünnen Schicht eines magnetisierbaren Materials versehen
ist. Solche Magnetfolien dienen z. B. zur Herstellung von
Disketten für die digitale Datenverarbeitung. Zur
Qualitätskontrolle einer solchen Magnetfolie 10 wird die
Schichtdicke der dünnen, magnetisierbaren Schicht durch
Messung der Absorption im Durchlicht bestimmt. Auf einer Seite
der Magnetfolie 10 ist eine Beleuchtungseinheit 12 angeordnet.
Die Beleuchtungseinheit 12 leuchtet einen langgestreckten
Inspektionsbereich 14 auf der Unterseite der Magnetfolie 10
aus. Der langgestreckte Inspektionsbereich 14 erstreckt sich
quer über die Magnetfolie 10. Auf der entgegengesetzten Seite
der Magnetfolie 10, oben in Fig. 1, ist ein Sensor 16
angeordnet. Der Sensor 16 besteht aus einer eindimensionalen,
linearen Anordnung von dicht nebeneinander liegenden
Detektorelementen. Der Sensor 16 ist im vorliegenden Fall von
einer CCD-Zeilenkamera gebildet. Der Sensor 16 erstreckt sich
parallel zu dem langgestreckten, von der Unterseite her
ausgeleuchteten Inspektionsbereich 14. Durch ein abbildendes
optisches System 18 wird der Inspektionsbereich 14 auf den
Sensor 16 abgebildet. Der Inspektionsbereich 14 wird dadurch
mit hoher Auflösung durch den Sensor 16 beobachtet. Aus
Intensitätsschwankungen an Detektorelementen des Sensors 16
relativ zu dem Mittelwert der an dem Sensor 16 auftretenden
Intensitäten können auf Abweichungen der Dicke der
magnetisierbaren Schicht von einem Normalwert geschlossen und
damit Fehler erkannt werden.
Bei der Ausführung nach Fig. 1 ist die Magnetfolie 10
bandförmig. Die Magnetfolie 10 wird durch eine Rollenführung
mit vier Rollen 20, 22, 24 und 26 durch den Inspektionsbereich
14 hindurchgeführt. Dabei erstreckt sich der langgestreckte
Inspektionsbereich 14 senkrecht zu der Bewegungsrichtung der
Magnetfolie 10.
Bei der Ausführung nach Fig. 2 ist aus einer Magnetfolie ein
scheiben- oder ringscheibenförmiges Stück 28 ausgestanzt. Das
scheiben- oder ringscheibenförmige Stück 28 von Magnetfolie
ist in einer (nicht dargestellten) Halterung drehbar
angeordnet. Das Stück 28 ist dabei mit der Halterung um eine
Drehachse 30 drehbar und wird um diese Drehachse 30
angetrieben. Das ist in Fig. 2 durch einen Pfeil 32 angedeutet.
Es erfolgt wieder eine Abtastung und Bestimmung der Dicke der
Magnetschicht oder Magnetschichten durch Messung der
Absorption im Durchlicht. Entsprechende Teile der
Meßeinrichtung sind in Fig. 2 mit den gleichen Bezugszeichen
versehen wie in Fig. 1. Der Inspektionsbereich 34 liegt jetzt
radial zu der Drehachse 30. Dementsprechend sind auch die
Beleuchtungseinheit 12 und der Sensor 30 radial zu der
Drehachse auf entgegengesetzten Seiten des Stücks 28
angeordnet. Das abbildende optische System 18 bildet wieder
den Inspektionsbereich 34 auf den Sensor 12 ab.
Statt einer CCD-Zeilenkamera können andere Sensoren wie CCD-
Arrays, Vidikons oder Photodioden als Sensoren verwendet
werden. Die spektrale Verteilung des verwendeten Lichts kann
in weiten Grenzen der jeweiligen Aufgabenstellung, dem
Material der dünnen Schicht oder der spektralen
Empfindlichkeit des Sensors 16 angepaßt werden.
Claims (10)
1. Verfahren zur Qualitätskontrolle von mit einer dünnen
Schicht versehenen Trägerfolien mittels optischer
Abtastung, dadurch gekennzeichnet, daß die örtlichen
Schichtdicken durch Absorptionsmessungen bestimmt werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch seine
Anwendung auf Magnetfolien zur magnetischen Informations-
Aufzeichnung.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die
Absorption von Magnetfolien gemessen wird, bei denen
jeweils eine Trägerfolie auf beiden Seiten mit einer
magnetisierbaren Schicht beschichtet ist.
4. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß zur
absoluten Schichtdickenmessung die Magnetfolie mit einem
Licht bekannter Intensität abgetastet wird.
5. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß
Abweichungen der Schichtdicke von einem Standardwert, z. B.
einer mittleren Schichtdicke, bestimmt werden.
6. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch
1, gekennzeichnet durch
- (a) eine Beleuchtungseinheit (12) zur Beleuchtung der zu kontrollierenden Trägerfolie (10; 28) in einem Inspektionsbereich (14; 34) von einer Seite der Trägerfolie (10, 28) her und
- (b) einen Sensor (16), der mit einer auf der entgegengesetzten Seite der Trägerfolie (10; 28) vorgesehenen Anordnung von Detektorelementen aufgebauten ist und der den gesamten Inspektionsbereich (14; 34) erfaßt.
7. Vorrichtung nach Anspruch 6, gekennzeichnet durch Mittel
zum Hindurchführen der zu kontrollierenden Trägerfolie
(10; 28) durch den Inspektionsbereich (14; 34).
8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß
- (a) der Inspektionsbereich (14; 34) ein langgestreckter Bereich ist, der sich quer zu der Bewegungsrichtung der Trägerfolie (10, 28) erstreckt und
- (b) der Sensor (16) eine eindimensionale Anordnung von Detektorelementen aufweist.
9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß
eine bandartige Trägerfolie (10) durch eine Rollenführung
(20, 22, 24, 26) geradlinig durch den Inspektionsbereich (14)
hindurchführbar ist.
10. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß
- (a) die Trägerfolie (28) scheiben- oder ringscheibenförmig und um eine durch das Zentrum der scheiben- oder ringscheibenförmigen Trägerfolie (28) verlaufende Drehachse (30) drehbar und antreibbar ist und
- (b) die Beleuchtungseinheit (12) und der Sensor (16) radial zu der Drehachse (30) angeordnet sind.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19934325590 DE4325590A1 (de) | 1993-07-30 | 1993-07-30 | Verfahren und Vorrichtung zur Qualitätskontrolle von mit einer dünnen Schicht versehenen Trägerfolien |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19934325590 DE4325590A1 (de) | 1993-07-30 | 1993-07-30 | Verfahren und Vorrichtung zur Qualitätskontrolle von mit einer dünnen Schicht versehenen Trägerfolien |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4325590A1 true DE4325590A1 (de) | 1995-02-02 |
Family
ID=6494063
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19934325590 Withdrawn DE4325590A1 (de) | 1993-07-30 | 1993-07-30 | Verfahren und Vorrichtung zur Qualitätskontrolle von mit einer dünnen Schicht versehenen Trägerfolien |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4325590A1 (de) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
1993
- 1993-07-30 DE DE19934325590 patent/DE4325590A1/de not_active Withdrawn
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