DE4317912C2 - Magnetfeld-Korrekturvorrichtung zur Homogenisierung eines Magnetfeldes - Google Patents
Magnetfeld-Korrekturvorrichtung zur Homogenisierung eines MagnetfeldesInfo
- Publication number
- DE4317912C2 DE4317912C2 DE4317912A DE4317912A DE4317912C2 DE 4317912 C2 DE4317912 C2 DE 4317912C2 DE 4317912 A DE4317912 A DE 4317912A DE 4317912 A DE4317912 A DE 4317912A DE 4317912 C2 DE4317912 C2 DE 4317912C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- correction
- magnetic
- recesses
- magnetic field
- correction device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/28—Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
- G01R33/38—Systems for generation, homogenisation or stabilisation of the main or gradient magnetic field
- G01R33/387—Compensation of inhomogeneities
- G01R33/3873—Compensation of inhomogeneities using ferromagnetic bodies ; Passive shimming
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine Magnetfeld-Korrekturvorrichtung
nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 zur
Homogenisierung eines vorzugsweise für die
Kernspintomografie vorgesehenen Magnetfeldes, welches in
einem Feldbereich eines Magneten erzeugt wird.
Eine Magnetfeld-Korrekturvorrichtung dieser Art ist aus
EP 03 03 880 A1 bekannt. Sie umfaßt einen standardisierten
Satz von Eisenplättchen mit einheitlicher Anordnung von
Befestigungspunkten, wobei Flächenelemente eines den
Feldbereich umgebenden Kunststoffzylinders entsprechend den
Ergebnissen einer mathematischen Berechnung notwendiger
Korrekturen mit einem oder mehreren Eisenplättchen aus dem
vorgenannten Satz von Plättchen belegt werden können. Dazu
weist der Kunststoffzylinder mehrere, über seine
Umfangsfläche verteilte Gewindebohrungen zum Anschrauben
der zur Belegung jeweils ausgewählten Eisenplättchen auf.
Eine Magnetfeld-Korrekturvorrichtung der eingangs genannten
Art ist auch aus der DE 41 36 834 A1 bekannt. Dort dienen zur
Feldkorrektur Korrekturelemente, die aus übereinander
angeordneten Homogenisierungselementen unterschiedlicher
Länge gebildet sind und jeweils im Verbund in
nichtmagnetische Rohre eingeschoben werden, die am oder im
Gehäuse einer Magnetspule in axialer Richtung verlaufen.
Die jeweils übereinander angeordneten
Homogenisierungselemente sind mechanisch miteinander
verbunden, beispielsweise durch Verlöten, Kleben oder
Verschrauben, was eine unerwünschte Änderung der
Magnetfeldkorrektur bedingt.
Herkömmliche Anordnungen der vorgenannten Art sind im
folgenden anhand von Fig. 8 bis 10 der Zeichnungen näher
beschrieben.
Fig. 8 zeigt in perspektivischer Darstellung eine Anordnung
zur Erzeugung eines gleichförmigen Magnetfeldes.
Ein Magnetgehäuse 1 nimmt eine (nicht gezeigte) Magnetspule
zur Erzeugung eines homogenen Magnetfeldes innerhalb des
Magnetgehäuses 1 auf. Magnetische Korrekturelemente 2 sind
im Innern des Gehäuses 1 mit Hilfe von
Befestigungsvorrichtungen 3 befestigt, und korrigieren die
Inhomogenität des Feldes innerhalb des gleichförmigen
Feldbereiches 4. Nachstehend werden die Positionen der
Korrekturelemente 2 in Bezug auf die Koordinatenachsen 5
angegeben.
Fig. 9a und 9b stellen eine perspektivische Ansicht bzw. eine Stirn
fläche eines einzigen magnetischen Stabes dar, dessen
Lageparameter in bezug auf die Koordinatenachsen gezeigt
sind. Im allgemeinen sind, wie nachstehend im einzelnen
erläutert, zwei Stangen, wie in den Fig. 9a und 9b,
bestimmter Längen aneinander festgelötet, zur Ausbildung
eines magnetischen Korrekturelements 2.
Die Stange 9 ist parallel zur Z-Achse ausgerichtet. Die
magnetische Stange 9 wird durch das externe Magnetfeld 8
entlang der Z-Achse magnetisiert. Dies führt dazu, daß
magnetische Ladungen an den Endflächen 10 und 11 gebildet,
und auf diese Weise wird ein Korrekturfeld 12
erzeugt. Die magnetischen Korrekturelemente 2, die jeweils
aus zwei magnetischen Stäben 9 geeigneter Abmessungen
bestehen und auf diese Weise erhalten werden, sind an
geeigneten Orten im Innern des Magnetgehäuses 1 angeordnet,
so daß die Inhomogenität des Magnetfeldes innerhalb des
Magnetfeldbereiches 3 korrigiert wird.
Nachstehend wird das Korrekturfeld 12 im einzelnen
beschrieben, welches durch eine magnetische Stange 9
erzeugt wird. Die magnetische Stange 9 ist parallel zur
Z-Achse an einem Umfangsbefestigungswinkel ⌀ und im Abstand eines
Befestigungsradius a (vgl. Fig. 9b) angeordnet, so daß
die Endflächen der magnetischen Stange 9 Endwinkel α1
und α2 in bezug auf den Ursprung sowie die Z-Achse bilden
(siehe Fig. 9a). Der Punkt P, an welchem das Feld gemessen
wird, ist entsprechend einem Radius r angeordnet, welcher einen
Winkel Φ in bezug auf die X-Achse bildet (vgl. Fig. 9b),
sowie einen Winkel θ in bezug auf die Z-Achse (siehe Fig.
9b).
In diesem Fall wird das Magnetfeld Bz, welches durch die
magnetische Stange 9 gebildet wird, an einem Meßpunkt P
durch nachstehende Gleichung (1) bestimmt:
wobei K eine Konstante ist, die durch die magnetischen
Eigenschaften der magnetischen Stange 9 festgelegt ist, A
die Querschnittsfläche der magnetischen Stange 9 ist, εm
der Neumann-Koeffizient ist (εm= 2, falls m ≠ 0 ist, und
εm= 1, falls m = 0 ist), und Pn m ist das zugeordnete
Legendre-Polynom des Grades n und der Ordnung m.
Weiterhin zeigt die nachstehende Tabelle 1 die Entsprechung
zwischen den Ausgangskomponenten des Magnetfeldes in den
sphärischen Polarkoordinaten Bz nm (bis zu n = 2), und
die kartesischen Komponenten in dem orthogonalen
Koordinatensystem X, Y und Z.
Wie aus der Gleichung (1) hervorgeht, ist die Anzahl der
von der magnetischen Stange 9 erzeugten Komponenten
unendlich. Da jedoch allgemein gilt, daß a<r ist, wird
der Faktor (r/a)n vernachlässigbar klein für die Terme,
deren Wert von n groß ist. Daher reicht es aus, die
Komponenten zu berücksichtigen, für die die Werte von n und
m klein sind: Bz11, Bz21, Bz22, Bz31, Bz32,
Bz33, Bz41, Bz42, Bz43, Bz44, Bz51, Bz52,
Bz53 und Bz54. Daher werden beispielsweise die
Abmessungen und die Position der Stange 9, welche nur die
Bz11-Komponente entsprechend der X-Komponente erzeugen,
so festgelegt, wie es nachstehend in den Abschnitten (i),
(ii), und (iii) angegeben ist, entsprechend dem Verfahren,
welches in der japanischen offengelegten Patentanmeldung
Nr. 3-39676 beschrieben ist.
(i) Die magnetischen Stangen sind an acht
Umfangsbefestigungswinkeln ⌀ angebracht, die durch folgende
Gleichungen (a) bis (h) festgelegt sind:
⌀ = (π/2)((1/2) + (1/3) + (1/4)) (a)
⌀ = (π/2)((1/2) + (1/3) - (1/4)) (b)
⌀ = (π/2)((1/2) - (1/3) + (1/4)) (c)
⌀ = (π/2)((1/2) - (1/3) - (1/4)) (d)
⌀ = (π/2)(-(1/2) + (1/3) + (1/4)) (e)
⌀ = (π/2)(-(1/2) + (1/3) - (1/4)) (f)
⌀ = (π/2)(-(1/2) - (1/3) + (1/4)) (g)
⌀ = (π/2)(-(1/2) - (1/3) + (1/4)) (h)
so daß der Faktor: cos m(Φ-⌀) für m = 2, 3, 4
verschwindet, und daher die Komponenten: Bz22, Bz32,
Bz33, Bz42, Bz43, Bz44, Bz52, Bz53 und Bz54
verschwinden.
(ii) Die Endwinkel α1 und α2 jeder magnetischen Stange 9
werden so ausgewählt, daß sie folgende Bedingung erfüllen:
α2 = π-α1. Dann gelten die nachstehenden Gleichungen
(2a) und (2b), und die Komponenten Bz21 und Bz41
verschwinden:
Weiterhin werden durch Auswahl der Endwinkel α1 und α2
der beiden magnetischen Stangen bei 33,88° bzw. 146,12°
bzw. bei 42,04° und 117,96° die Komponenten Bz51 der
beiden magnetischen Stangen, die ein Korrekturelement
bilden, beide eliminiert.
(iii) Es wird angenommen, daß die Querschnittsfläche der
magnetischen Stange 9, welche Endwinkel α1 und α2 von
33,88° bzw. 146,12° aufweist, und die der magnetischen
Stange 9, welche Endwinkel α1, α2 bei 62,04° bzw.
117,96° aufweist, durch A1 bzw. A2 repräsentiert
werden. Dann ergibt sich die resultierende Komponente
Bz31 der beiden magnetischen Stangen 9 durch:
Bz31 ∞ = A1{P4 1(cos 33,88°)(sin 33,88°)5}
+ A2{P4 1(cos 62,04°)(sin 62,04°)5}.
Daher verschwindet durch Auswahl des Verhältnisses
A1/A2 von 7,16, wie durch die nachstehende Gleichung
(3) gezeigt, die Komponente Bz31:
Daher werden, wie in Fig. 10 gezeigt, eine Stange 13 mit
Endwinkeln 33,88° und 146,12° sowie eine Stange 14 mit
Endwinkeln 62,4° und 117,96° mittels eines Lötmittels 15 miteinander verlötet,
so daß ein einziges Korrekturelement 2
gebildet wird. Die Korrekturelemente 2 werden an dem
Gehäuse 3 so befestigt, daß die Bedingungen (i), (ii) und
(iii) erfüllt sind. Daher werden die Komponenten, abgesehen
von der gewünschten Komponente Bz11, eliminiert, und
daher wird nur das Feld mit der negativen X-Komponente
erzeugt.
Die voranstehende Beschreibung bezieht sich auf die
Korrekturelemente zur Erzeugung der Bz11-Komponenten. Die
Korrekturelemente zur Erzeugung der Bz21- und der
Bz22-Komponenten können auf ähnliche Weise erhalten
werden. Das Verhältnis der Querschnittsbereiche A1/A2
der beiden magnetischen Stangen, welche ein
Korrekturelement bilden, und dessen beide Endwinkel α1
und α2 zur Erzeugung der Bz11-, Bz21- und
Bz22-Komponente sind summarisch in der nachstehenden
Tabelle 2 angegeben.
Die voranstehend beschriebene herkömmliche
Magnetfeldkorrekturvorrichtung weist jedoch die nachstehend
angegebenen Nachteile auf:
- (1) Da jedes der Korrekturelemente aus zwei magnetischen Stangen 13 und 14 besteht, ändert sich die Querschnittsform des Korrekturelements entlang dessen Länge. Wenn daher mehrere Korrekturelemente zur Erzeugung derselben magnetischen Komponente miteinander gebündelt werden, wird das effektive Volumen, welches durch die magnetischen Stangen eingenommen wird, verringert, und daher wird der zur Verfügung stehende Raum auf nicht effektive Weise genutzt.
- (2) Der Zusammenbau der Korrekturelemente erfordert das Zusammenlöten zweier magnetischer Stangen in einer exakten Relativposition. Dieser Zusammenbauschritt ist zeitaufwendig und bedingt eine unerwünschte zusätzliche Feldbeeinflussung.
- (3) Wie in Tabelle 2 gezeigt, sind die Endwinkel α1 und α2 für jeweilige Feldkomponenten voneinander verschieden. Daher ist es schwierig, die Korrekturelemente zur Erzeugung unterschiedlicher Feldkomponenten miteinander zu kombinieren.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine
Korrekturvorrichtung der eingangs genannten Art zu
schaffen, welche Korrekturelemente vorsieht, die so
beschaffen sind, daß sie bei verhältnismäßig einfacher
Herstellbarkeit je nach Auswahl unterschiedlichen
Korrekturanforderungen genügen und im Bedarfsfall leicht
und raumsparend gebündelt werden können, ohne daß von der
Verbindung von Korrekturelementen unerwünschte Störungen
der Homogenisierungswirkung ausgehen.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe mit den kennzeichnenden
Merkmalen des Patentanspruchs 1 gelöst.
Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den
Unteransprüchen.
Vorzugsweise weisen die Korrekturelemente gemäß der
Erfindung eine gleiche Länge, Breite und Dicke auf, so daß
sie einfach gebündelt werden können.
Bevorzugte Ausführungsformen werden nachfolgend anhand von
Fig. 1 bis 7 der Zeichnungen näher beschrieben.
In den Zeichnungen zeigen
Fig. 1a ein Korrekturelement gemäß einer Ausführungsform
der Erfindung mit Angaben zur Position in bezug
auf die Z-Achse eines Koordinatensystems,
Fig. 1b Angaben zu Abmessungs- und Positionsparametern
beim Korrekturelement gemäß Fig. 1a,
Fig. 2a Parameter gemäß Tabelle 3 für die Bz11-Komponente
bei einem erfindungsgemäßen Korrekurelement,
Fig. 2b Parameter gemäß Tabelle 3 für die Bz21-Komponente
bei einem erfindungsgemäßen Korrekturelement,
Fig. 2c Parameter gemäß Tabelle 3 für die Bz21-Komponente
bei einem erfindungsgemäßen Korrekturelement,
Fig. 3 die Anordnung eines Korrekturelementes bei einem
Umfangswinkel ⌀,
Fig. 4a eine Korrekturelement gemäß einer weiteren
Ausführungsform der Erfindung in perspektivischer
Darstellung,
Fig. 4b das Korrekturelement gemäß Fig. 4a im Schnitt,
Fig. 5 ein Korrekturelement gemäß einer weiteren
Ausführungsform der Erfindung in perspektivischer
Darstellung,
Fig. 6 eine Korrekturelement gemäß einer weiteren
Ausführungsform der Erfindung in perspektivischer
Darstellung,
Fig. 7 ein Korrekturelement gemäß einer weiteren
Ausführungsform der Erfindung in perspektivischer
Darstellung,
Fig. 8 eine herkömmliche Vorrichtung zur Erzeugung eines
gleichförmigen Magnetfeldes,
Fig. 9a ein herkömmliches, durch eine einzelnde Stange
gebildetes Korrekturelement mit Angaben zur
Position in bezug auf die Z-Achse eines
Koordinatensystems,
Fig. 9b die Stirnfläche eines durch die einzelne Stange
gebildeten Korrekturelementes mit Angabe von
Koordinatenachsen und
Fig. 10 ein herkömmliches, durch zwei Stangen gebildetes
Korrekturelement.
In den Zeichnungen bezeichnen gleiche Bezugszeichen gleiche
oder entsprechende Teile oder Bereiche.
Fig. 1a zeigt in perspektivischer Darstellung ein
Korrekturelement gemäß der Erfindung. Fig. 1b zeigt die
Abmessungs- und Positionsparameter für das Korrekturelement
gemäß Fig. 1a.
Darin ist ein Korrekturelement 16 gezeigt, das mit
Durchgangslöchern oder Schlitzen 20
versehen ist, um eine negative X-Komponente zu erzeugen.
Das plattenförmige magnetische Korrekturelement 16 wird so
bearbeitet, daß ein Paar von Schlitzen 20 ausgebildet wird,
die symmetrisch in bezug auf die zentrale Ebene (die
X-Y-Ebene) des Elements angeordnet sind. Die Abmessungen
und die Position der Korrekturelemente 16 zur Erzeugung der
Bz11-Komponente werden auf die nachstehend angegebene
Weise festgelegt.
(i) Acht Korrekturelemente 16 sind an folgenden
Umfangswinkeln angebracht:
π/2(± 1/2 ± 1/3 ± 1/4):
⌀ = (π/2)((1/2) + (1/3) + (1/4)) (a)
⌀ = (π/2)((1/2) + (1/3) - (1/4)) (b)
⌀ = (π/2)((1/2) - (1/3) + (1/4)) (c)
⌀ = (π/2)((1/2) - (1/3) - (1/4)) (d)
⌀ = (π/2)(-(1/2) + (1/3) + (1/4)) (e)
⌀ = (π/2)(-(1/2) + (1/3) - (1/4)) (f)
⌀ = (π/2)(-(1/2) - (1/3) + (1/4)) (g)
⌀ = (π/2)(-(1/2) - (1/3) + (1/4)) (h)
so daß der Faktor cos m(Φ-⌀) für m = 2, 3, 4 in der
Gleichung (1) verschwindet, und daher die Komponenten
Bz22, Bz32, Bz33, Bz42, Bz43, Bz44, Bz52,
Bz53 und Bz54 verschwinden.
(ii) Die beiden Endoberflächen des magnetischen
Korrekturelements 16 bilden Endwinkel α1 und α2 in bezug
auf die Z-Achse. Andererseits bilden die inneren
Endflächen 18 der Schlitze 20 Winkel β1 und β2, und die
anderen Endflächen 19 der Schlitze 20 Winkel Y1 bzw.
Y2, in bezug auf die Z-Achse (vergleiche Fig. 1a und 1b).
Eine magnetische Ladung wird auf diese Weise in diesen
Endflächen in den Winkeln α1, α2, β1, β2, Y1 und Y2
induziert. Für das Magnetfeld, welches durch die
magnetischen Ladungen an den Endwinkeln β1 und β2 erzeugt
wird, gelten dieselben Gleichungen wie die voranstehend
angegebene Gleichung (1), wobei α1 und α2 durch β1 und
β2 ersetzt sind. In bezug auf das Magnetfeld, welches durch
die magnetische Ladung an den Endwinkeln Y1 und Y2 erzeugt
wird, ist das Vorzeichen der Gleichung (1) umgekehrt, und
α1 und α2 werden durch γ1 bzw. γ2 ersetzt. Es wird
angenommen, daß die Differenz zwischen den Endwinkeln
α1 und γ1 oder zwischen den Endwinkeln α2 und γ2
genügend klein ist. Dann wird die Wirkung der magnetischen
Ladung, die an der Oberfläche 19 an dem Endwinkel γ1
(oder γ2) auftaucht, durch die Wirkung der magnetischen
Ladung ausgeglichen, die an dem entsprechenden Bereich der
Endfläche 17 am Endwinkel α1 (oder α2) auftaucht.
Die Endwinkel α1, α2, β1, β2 jedes magnetischen
Korrekturelements 16 sind so ausgewählt, daß sie folgende
Beziehung erfüllen: α2 = π-α1 und β2 = π-β1. Daher
gelten die voranstehenden Gleichungen (2a) und (2b), oder
die entsprechenden Gleichungen, in welchen α1 durch β1
ersetzt ist, und daher verschwinden die Komponenten Bz21
und Bz41.
Unter Berücksichtigung der Endwinkel zur Erzeugung
unterschiedlicher Feldkomponenten, die in Tabelle 2 gezeigt
sind, werden darüber hinaus die Endwinkel α1 und β1 so
ausgewählt, daß sie 39,55° bzw. 65,82° betragen, um die
Bz51-Komponente zu minimalisieren. Obwohl diese Auswahl
der Endwinkel nicht die Bz⁵¹-Komponente eliminiert, kann
diese auf einen vernachlässigbaren Pegel verringert werden,
der keine negativen Auswirkungen auf die Feldkorrektur
zeigt. Die Längen L1 und L2 des magnetischen
Korrekturelements 16, wie in Fig. 1b dargestellt, werden
aus den Endwinkeln α1, α2, β1 und β2 und dem
Befestigungsradius a berechnet.
(iii) Die Querschnittsfläche der Endflächen 17, 18
und 19 entsprechend Endwinkeln α1 (oder α2), β1 (oder
β2), und γ1 (oder γ2) werden durch A1, A2 bzw. A3
repräsentiert. Hierbei ist zu beachten, daß gilt: A2 =
A3. Daher kann die Bz31-Komponente dadurch auf Null
verringert werden, daß das Verhältnis der
Querschnittsflächen A1 und A2 folgendermaßen ausgewählt
wird:
Wenn man dann annimmt, daß die Dicke der magnetischen
Korrekturelemente konstant ist, wird das Verhältnis der
Breite W1 der Korrekturelemente 16 zur Breite W2 der
Schlitze 20 (vergleiche Fig. 1b) aus Gleichung (4) so
festgelegt, daß folgendes gilt:
W1/W2 = 8,12.
Andererseits werden die Endwinkel γ1 und γ2 der
Endfläche 18 durch die Länge L3 bestimmt, die so
ausgelegt ist, daß sie einen kleinen Wert annimmt,
entsprechend dem das magnetische Korrekturelement 16 auf
sichere Weise bearbeitet werden kann, und welche eine
ausreichende mechanische Festigkeit zur Verfügung stellt.
Im Falle der vorliegenden Ausführungsform sind die
Endwinkel γ1 und γ2 so ausgewählt, daß sie 40,3° bzw.
139,70° betragen.
Die magnetischen Korrekturelemente 16 werden an den acht
Umfangswinkeln ⌀ (in bezug auf die X-Achse, wie schematisch
in Fig. 3 gezeigt) befestigt, um so ein magnetisches
Korrekturfeld in der negativen X-Komponente zu erzeugen.
Durch Verwendung der Korrekturelemente 16, die wie
voranstehend beschrieben mit den Schlitzen 20 versehen
sind, können die Korrekturelemente 16 für dieselbe
Feldkomponente wirksam miteinander gebündelt werden, ohne
daß das wirksame Volumen verringert wird, welches durch die
Korrekturelemente 16 eingenommen wird. Weiterhin kann der
Schritt der Befestigung der magnetischen Stangen aneinander
mit Hilfe beispielsweise eines Lötmittels entfallen, und
daher wird der Zusammenbau erleichtert. Darüber hinaus
können die Länge, Dicke und Breite der plattenförmigen
Korrekturelemente zur Erzeugung unterschiedlicher
Feldkomponenten angeglichen werden, so daß die
Korrekturelemente 16 zur Erzeugung unterschiedlicher
Feldkomponenten ebenfalls miteinander gebündelt werden
können.
Die voranstehende Beschreibung bezieht sich auf die
Korrekturelemente 16 zur Erzeugung der Bz11-Komponente.
Die Korrekturelemente zur Erzeugung der Bz21- und der
Bz22-Komponente können ebenfalls auf entsprechende Weise
hergestellt werden. Die Fig. 2a, 2b und 2c zeigen die
Formen der Korrekturelemente zur Erzeugung der Bz11-, der
Bz21- bzw. der Bz22-Komponente, zusammen mit den
Abmessungs- und Lageparametern, die in der nachstehenden
Tabelle 3 dargestellt sind.
Die Endwinkel α1, α2, β1, β2, γ1, γ2 und δ1 sind in den
Fig. 2a bis 2c gezeigt. Es wird darauf hingewiesen, daß das
magnetische Korrekturelement 16 zur Erzeugung der
Bz21-Komponente in bezug auf dessen Zentralebene (die X-
Ebene) asymmetrisch ist. Für die Winkel α1, α2, β1, β2,
γ1 und γ2 gelten die folgenden Beziehungen:
α2 = π-α1,
β2 = π-β1,
γ2 = π-γ1.
β2 = π-β1,
γ2 = π-γ1.
Im Falle der voranstehenden Ausführungsformen, die in Fig. 1
und den Fig. 2a bis 2c gezeigt sind, ist das magnetische
Korrekturelement 16 mit Schlitzen oder Durchgangslöchern 20
versehen. Wie aus den Fig. 4a und 4b hervorgeht, kann
jedoch das magnetische Korrekturelement 16 mit Sacklöchern
oder Ausnehmungen 20a anstelle von Durchgangslöchern
versehen sein. Darüber hinaus können die Enden der Schlitze
20b, die sich durch die magnetischen Korrekturelemente 16
erstrecken, abgerundet sein, wie in Fig. 5 gezeigt ist.
Alternativ hierzu können, wie in Fig. 6 gezeigt ist, die
magnetischen Korrekturelemente 16 mit dreieckigen Schlitzen
20c anstelle von rechteckigen Schlitzen versehen sein.
Weiterhin können mehrere Schlitze, die bestimmte Endwinkel
und Abmessungen aufweisen, in einem magnetischen
Korrekturelement 16 auf solche Weise ausgebildet sein, daß
mehrere Korrekturfeldkomponenten durch die
Korrekturelemente mit derselben Form und derselben
Abmessung erzeugt werden.
Claims (8)
1. Magnetfeld-Korrekturvorrichtung zur Homogenisierung
eines Magnetfeldes, vorzugsweise für die
Kernspintomografie, welches in einem Feldbereich eines
Magneten erzeugt wird, umfassend mehrere
plattenförmige, längliche Korrekturelemente (16), die
parallel zueinander in einem vorbestimmten Radius (a)
in bezug auf ein Zentrum des Feldbereiches und in
vorbestimmten Umfangswinkeln um das Zentrum angeordnet
sind,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Korrekturelemente (16) zur Beeinflussung des
magnetischen Feldes jeweils mindestens zwei längliche
Ausnehmungen (20; 20a; 20b; 20c; 20d) aufweisen, die
innerhalb der äußeren Umfangslinien der
Korrekturelemente angeordnet sind und parallel
zu einer Längsachse des jeweiligen Korrekturelements
verlaufen, wobei die Länge der Ausnehmungen
größer ist als die Breite des jeweiligen
Korrekturelements.
2. Korrekturvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die Ausnehmungen (20; 220a; 20b;
20d) rechteckig sind.
3. Korrekturvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die Ausnehmungen (20c)
dreieckig sind.
4. Korrekturvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß die Ausnehmungen (20; 20b;
20c) durch Langlöcher gebildet sind.
5. Korrekturvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß die Ausnehmungen (20a)
durch Sacklöcher gebildet sind.
6. Korrekturvorrichtung nach einem der vorangehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die
Korrekturelemente (16) Ausnehmungen (20a; 20b; 20c)
aufweisen, die in Gestalt und Anordnung in bezug auf
eine quer zur Längsachse dieser Ausnehmungen
verlaufende Mittelachse symmetrisch sind.
7. Korrekturvorrichtung nach einem der vorangehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die
Korrekturelemente (16) mehrere Ausnehmungen
unterschiedlicher Gestalt und/oder Größe aufweisen.
8. Korrekturvorrichtung nach einem der vorangehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die
Korrekturelemente (16) gleiche äußere Abmessungen
aufweisen.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4138148A JPH05329128A (ja) | 1992-05-29 | 1992-05-29 | 磁場補正装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE4317912A1 DE4317912A1 (de) | 1993-12-02 |
| DE4317912C2 true DE4317912C2 (de) | 1998-03-12 |
Family
ID=15215136
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE4317912A Expired - Fee Related DE4317912C2 (de) | 1992-05-29 | 1993-05-28 | Magnetfeld-Korrekturvorrichtung zur Homogenisierung eines Magnetfeldes |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5463363A (de) |
| JP (1) | JPH05329128A (de) |
| DE (1) | DE4317912C2 (de) |
| GB (1) | GB2267350B (de) |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3618910B2 (ja) * | 1996-07-10 | 2005-02-09 | 三菱電機株式会社 | 電磁石装置の磁界補正方法 |
| GB2337595B (en) * | 1998-05-22 | 2003-03-19 | Oxford Magnet Tech | Improvements in or relating to magnetic resonance imaging systems |
| DE10116505B4 (de) | 2001-04-03 | 2005-04-14 | Bruker Biospin Gmbh | Integrales passives Shimsystem und Verfahren für eine Magnetresonanzapparatur |
| CN100434038C (zh) * | 2004-03-05 | 2008-11-19 | 西门子（中国）有限公司 | 磁共振成像设备磁场的调节装置 |
| JP4402707B2 (ja) | 2007-07-06 | 2010-01-20 | 三菱電機株式会社 | 磁場発生装置に対するシムサポートガイド治具 |
| US7753165B2 (en) * | 2007-12-21 | 2010-07-13 | Robert Bosch Gmbh | Device and method for active noise cancellation in exhaust gas channel of a combustion engine |
| BR112012013588B1 (pt) * | 2009-12-02 | 2021-01-26 | Nanalysis Corp. | método para homogeneizar um campo magnético, detector para detectar a ressonância magnética e painel para homogeneizar um campo magnético |
| US9083863B2 (en) * | 2012-04-20 | 2015-07-14 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Alignment system for a digital image capture device |
| DE102012220126A1 (de) * | 2012-11-05 | 2014-05-08 | Bruker Biospin Ag | Magnetanordnung mit einem supraleitenden Magnetspulensystem und einer magnetischen Feldformvorrichtung für magnetische Resonanzspektroskopie |
| EP3553547A1 (de) | 2018-04-12 | 2019-10-16 | Koninklijke Philips N.V. | Ausgleichseisen für eine magnetresonanzvorrichtung |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0303880A1 (de) * | 1987-08-14 | 1989-02-22 | Siemens Aktiengesellschaft | Elektrischer Magnet für Kernspin-Thomographen |
| DE4136834A1 (de) * | 1990-11-09 | 1992-05-14 | Mitsubishi Electric Corp | Magnetfeld-korrekturvorrichtung |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4206383A (en) * | 1978-09-11 | 1980-06-03 | California Institute Of Technology | Miniature cyclotron resonance ion source using small permanent magnet |
| DE8419763U1 (de) * | 1984-07-02 | 1986-03-20 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Kernspin-Tomographiegerät |
| DE3616078A1 (de) * | 1986-05-13 | 1987-11-19 | Bruker Analytische Messtechnik | Elektromagnetsystem fuer die kernspintomographie |
| US5063934A (en) * | 1987-10-07 | 1991-11-12 | Advanced Techtronics, Inc. | Permanent magnet arrangement |
| US4803433A (en) * | 1987-12-21 | 1989-02-07 | Montefiore Hospital Association Of Western Pennsylvania, Inc. | Method and apparatus for shimming tubular supermagnets |
| IL87162A (en) * | 1988-07-20 | 1991-12-15 | Elscint Ltd | System for passively improving magnetic field homogeneity |
| US5134374A (en) * | 1989-06-01 | 1992-07-28 | Applied Superconetics | Magnetic field control apparatus |
| US5235284A (en) * | 1989-07-07 | 1993-08-10 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Passive shim arrangement for nuclear magnetic resonance |
| JPH03131234A (ja) * | 1989-07-07 | 1991-06-04 | Sumitomo Special Metals Co Ltd | Ｍｒｉ用磁界発生装置 |
-
1992
- 1992-05-29 JP JP4138148A patent/JPH05329128A/ja active Pending
-
1993
- 1993-05-28 GB GB9311126A patent/GB2267350B/en not_active Expired - Fee Related
- 1993-05-28 DE DE4317912A patent/DE4317912C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1994
- 1994-10-28 US US08/330,615 patent/US5463363A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0303880A1 (de) * | 1987-08-14 | 1989-02-22 | Siemens Aktiengesellschaft | Elektrischer Magnet für Kernspin-Thomographen |
| DE4136834A1 (de) * | 1990-11-09 | 1992-05-14 | Mitsubishi Electric Corp | Magnetfeld-korrekturvorrichtung |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB9311126D0 (en) | 1993-07-14 |
| JPH05329128A (ja) | 1993-12-14 |
| GB2267350A (en) | 1993-12-01 |
| DE4317912A1 (de) | 1993-12-02 |
| GB2267350B (en) | 1995-09-13 |
| US5463363A (en) | 1995-10-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE3779715T2 (de) | Vorrichtung zur erzeugung eines magnetfeldes fuer rechnergesteuerte tomographie mittels magnetischer kernresonanz. | |
| DE4317912C2 (de) | Magnetfeld-Korrekturvorrichtung zur Homogenisierung eines Magnetfeldes | |
| DE19533964A1 (de) | Magnetismuserfassungsvorrichtung, die zur Unterdrückung von Schwankungen von Impulssignal-Intervallen in der Lage ist | |
| EP1053449B1 (de) | Navigationskulisse zur vermessung von objekten und verfahren zu deren verwendung | |
| DE3613098A1 (de) | Permanentmagnetringanordnung fuer abbildungssysteme mit kernmagnetischer resonanz und verfahren zur verwendung einer derartigen anordnung | |
| DE4100046A1 (de) | Quadrupol-massenfilter fuer geladene teilchen | |
| DE3628211A1 (de) | Komponentenhalterung | |
| DE3008308C2 (de) | Stromteiler für Meßwandler zum potentialfreien Messen von Strömen | |
| DE3877972T2 (de) | Vorrichtung zur bilderzeugung mittels magnetischer kernresonanz, verfahren zur korrektur der inhomogenitaet und fabrikationsverfahren von in der vorrichtung angewendeten magneten. | |
| DE2616767B2 (de) | Mehrfach-Bukkal-Röhrchen | |
| DE69925956T2 (de) | Shimspulenanordnung und Gradientenspule mit Ausnehmungen für die Magnetresonanzbildgebung | |
| DE69411959T2 (de) | Vorrichtung zur Kompensation von Feldverzerrungen in einer magnetischen Struktur | |
| DE3225216A1 (de) | Verfahren zum herstellen einer federnden aufhaengung fuer kraftumformer | |
| DE2942847C2 (de) | Magnetfelddifferenzsonde | |
| DE2931335A1 (de) | Motor mit begrenzter rotationsmoeglichkeit | |
| DE4217567A1 (de) | Magnetfeldkorrekturvorrichtung | |
| EP0177869B1 (de) | Magneteinrichtung einer Anlage zur Kernspin-Tomographie mit Abschirmung | |
| DE4021345C2 (de) | Passive Kompensationsanordnung zur Erhöhung der Homogenität eines Magnetfeldes | |
| DE19609645A1 (de) | Magnetfelderzeugungsvorrichtung und zugehöriges Herstellungsverfahren | |
| DE2944775C2 (de) | Ablenkjoch für eine Kathodenstrahlröhre | |
| EP0154129B1 (de) | Magnetisches Sondentripel | |
| DE2533818A1 (de) | Ablenkeinheit fuer farbfernsehsystem | |
| CH652261A5 (de) | Piezoelektrischer schwinger. | |
| DE4136834C2 (de) | Magnetfeld-Korrekturvorrichtung | |
| DE2816041C2 (de) | Stimmgabel und Verfahren zu deren Herstellung |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
| D2 | Grant after examination | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |