DE4304912C2 - Verfahren und Vorrichtung zur durchgehend automatischen Chipherstellung unter Vakuum - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur durchgehend automatischen Chipherstellung unter VakuumInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrich
tung zur durchgehend automatischen Chipherstellung, insbe
sondere zur Herstellung von mikroelektronischen, elektroni
schen und/oder optoelektronischen Bauelementen unter Nutzung
einer Positionier- und Haltevorrichtung.
Nach dem Stand der Technik sind in der Elektronikferti
gung die verschiedensten Verfahren bekannt, die zur Herstel
lung von Chips eingesetzt werden. Zur Erlangung qualitätsge
rechter Chips erfolgt die Fertigung zumindest teilweise unter
Vakuum, wobei zur Rationalisierung des Fertigungsprozesses
Roboter und Manipulatoren eingesetzt werden.
Aus der DE 37 27 453 A1 ist beispielsweise ein Verfahren
zum Ausrichten eines Musters auf einem Chip bekannt, wonach
ein Elektronenstrahl durch Ablenken auf Chipmarken gerichtet
wird, während der Chip stationär gehalten und Ablenkparameter
bestimmt werden und weiterhin der Chip bezüglich der Chipmar
ke unter Bestimmung von Stellungsparametern auf einem Elek
tronenstrahl ausgerichtet sowie der Chip mit dem Elektronen
strahl unter Verwendung der Ablenkparameter belichtet wird.
In dem US-Patent 4 962 423 sind weiterhin ein Verfahren
und eine Vorrichtung beschrieben, die zur Ermittlung einer
Markierung, die beispielsweise in einer Halbleiterscheiben-
Belichtungseinrichtung, wie Stepper, mittels einer Schablone
auf einen Halbleiterwafer übertragen wird, eingesetzt werden.
Der Erfindung liegt die technische Aufgabe zugrunde,
eine möglichst durchgehende Automatisierung der Chipher
stellung unter Vakuum zu ermöglichen.
Die Aufgabe wird gemäß der Erfindung durch ein Verfahren
nach den Merkmalen des Anspruches 1 und durch eine Vorrich
tung nach den Merkmalen des Anspruches 3 gelöst. Vorteilhafte
Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Ansprüchen 2 und 4
beschrieben.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren zur Chipherstellung
wird eine durchgehende Automatisierung erreicht. Dadurch
können wesentlich bessere Qualitätsmerkmale erreicht werden,
da die Anzahl schlechter Chips sinkt. Gegenüber anderen Fer
tigungsverfahren wird eine Trennung der Chips in die entspre
chende Größe an den Anfang der Bearbeitungsstufen gestellt.
Es ist eine durchgängige Herstellung unter Vakuum leicht
möglich.
Anhand eines Ausführungsbeispieles und anhand einer
Zeichnung wird die Erfindung näher erläutert. Dabei zeigen:
Fig. 1 die Draufsicht auf eine Positionier-
und Haltevorrichtung und
Fig. 2 eine Belichtungsschablone mit dem
Detail Positionierflächen.
Die einzelnen Verfahrensschritte zur automatischen
Chipherstellung unter Vakuum und Nutzung einer Positionier-
und Haltevorrichtung 1 sind folgende:
Der Wafer wird mit einem magnetisch leitenden Stoff be schichtet, der unter Magneteinwirkung eine Haltekraft be sitzt, bzw. es werden entsprechend beschichtete Wafer einge setzt. Anschließend erfolgt die Trennung des Wafers auf die gewünschte Chipgröße. Die Trennung erfolgt vorzugsweise durch eine Diamantscheibe. Nach der Anbringung der elektrischen Außenanschlüsse werden die Chips durch magnetische Halte kräfte einer anschließend näher beschriebenen Positionier- und Haltevorrichtung 1 positioniert und gehalten. Die allgemein bekannten Arbeitsgänge, wie Oxidieren, Fotoresi stbeschichten, Ätzen, Belichten, Entwickeln des Foto lackes, CVD-Beschichtung, Ionenimplantation, Diffusion usw. schließen sich unter Vakuum an. Bei den Verfahrensschritten Ätzen und Beschichten sind die entsprechenden Behälter bis zum Behälterrand gefüllt und die Eintauchtiefe wird genau gesteuert.
Der Wafer wird mit einem magnetisch leitenden Stoff be schichtet, der unter Magneteinwirkung eine Haltekraft be sitzt, bzw. es werden entsprechend beschichtete Wafer einge setzt. Anschließend erfolgt die Trennung des Wafers auf die gewünschte Chipgröße. Die Trennung erfolgt vorzugsweise durch eine Diamantscheibe. Nach der Anbringung der elektrischen Außenanschlüsse werden die Chips durch magnetische Halte kräfte einer anschließend näher beschriebenen Positionier- und Haltevorrichtung 1 positioniert und gehalten. Die allgemein bekannten Arbeitsgänge, wie Oxidieren, Fotoresi stbeschichten, Ätzen, Belichten, Entwickeln des Foto lackes, CVD-Beschichtung, Ionenimplantation, Diffusion usw. schließen sich unter Vakuum an. Bei den Verfahrensschritten Ätzen und Beschichten sind die entsprechenden Behälter bis zum Behälterrand gefüllt und die Eintauchtiefe wird genau gesteuert.
Die für die Erfindung benötigte Positionier- und Halte
vorrichtung 1 besteht aus einem Glaswerkstoff mit einer gegen
Null gehenden Wärmeausdehnung.
Die Positionier- und Haltevorrichtung 1 hat folgenden
Aufbau. Der Glaskörper hat eine viereckige Form, wobei die
Tiefe wesentlich geringer ist als die Seitenlängen. Die
Oberfläche der Positionier- und Haltevorrichtung 1 ist mit
einer lichtundurchlässigen Schicht 2 versehen. Nahe der
Ränder besitzt diese Schicht 2 lichtdurchlässige Schlitze als
Positionierkennzeichen 3, mindestens aber ein Positionier
kennzeichen 3 pro Koordinate. Diese Positionierkennzeichen 3
verlaufen parallel mit dem jeweiligen Rand.
Auf der Unterseite der Positionier- und Haltevorrichtung
1 ist ein verschiebbarer Magnet 4 und mindestens im Bereich
der Positionierkennzeichen 3 sind Lichtquellen vorgesehen.
Über der Positionier- und Haltevorrichtung 1 ist eine (oder
auch mehrere) verschiebbare Belichtungsschablone 5 aus einem
ähnlichen Glaswerkstoff, wie die Positionier- und Haltevor
richtung 1, verschiebbar angeordnet.
Auf der Belichtungsschablone 5 sind im Randbereich
mehrere Positionierflächen 6 aufgetragen. Diese Positionier
flächen 6 sind kreissegmentartige, bei Lichteinfall z. B.
widerstandsveränderliche Flächen, die mit, ihren Spitzen
gegenüberstehen, wobei der Abstand der Spitzen voneinander
der Breite der Positionierkennzeichen 3 entspricht.
Bei der Lage eines Positionierkennzeichens 3 genau
zwischen den Spitzen der Positionierflächen 6 tritt keine
Veränderung des Widerstandes mehr auf. Dieses Signal wird
mittels elektrischer Anschlüsse 7 an den Positionierflächen 6
abgegriffen und für die Positionierung der Belichtungs
schablone 5 an einen Leitrechner gemeldet. Die Positionier-
und Haltevorrichtung 1 und die Belichtungsschablonen 5
besitzen eine maschinell lesbare Kodierung. Mittels des
Leitrechners wird der gesamte Prozess gesteuert.
Claims (4)
1. Verfahren zur durchgehend automatischen Chipherstellung
unter Vakuum mit den folgenden Schritten:
- - der Wafer wird mit einem magnetisch leitenden Stoff beschichtet,
- - anschließend mittels einer geeigneten Trennvorrichtung auf die gewünschte Chipgröße zerteilt,
- - nach der Trennung und Anbringung der elektrischen Außenanschlüsse wird die gewünschte Anzahl von Chips auf einer kodierten Positionier- und Haltevorrichtung (1) abgelegt,
- - mit Hilfe der Positionier- und Haltevorrichtung (1) erfolgt mittels kodierter, durch einen Leitrechner gesteuerter Belichtungsschablonen (5) die Weiterbearbeitung der Chips unter Vakuum, wie z. B. Oxidieren, Fotoresistbeschichtung, Ätzen, Belichten usw.,
- - wobei bei den Verfahrensschritten Ätzen und Beschichten die entsprechenden Behälter vollständig gefüllt werden und die Eintauchtiefe genau gesteuert wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass
die Chips durch eine magnetische Kraft auf der
Positionier- und Haltevorrichtung (1) gehalten werden.
3. Positionier- und Haltevorrichtung zur Ausführung des
Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 oder 2 mit den
folgenden Merkmalen:
- - die Positionier- und Haltevorrichtung (1) besteht aus einem Glaswerkstoff mit einer gegen Null gehenden Wärmeausdehnung,
- - die Oberfläche der Positionier- und Haltevorrichtung (1) ist mit einer lichtundurchlässigen Schicht (2) versehen, die mindestens pro Koordinate einen parallel mit dem Rand verlaufenden, lichtdurchlässigen Schlitz als Positionierkennzeichen (3) besitzt,
- - die zur Positionier- und Haltevorrichtung (1) dazugehörigen, verschiebbaren Belichtungsschablonen (5) bestehen ebenfalls aus einem Glaswerkstoff mit einer gegen Null gehenden Wärmeausdehnung und besitzen im Randbereich mehrere Positionierflächen (6), die eine kreissegmentförmige Gestalt haben und aus einem Material bestehen, das bei Lichteinfall die elektrische Leitfähigkeit ändert, wobei immer zwei Positionierflächen (6) mit ihren Spitzen in einem Abstand der Breite der Positionierkennzeichen (3) gegenüberstehen und mit elektrischen Anschlüssen zur Signalabgreifung versehen sind, die zu einem Leitrechner führen,
- - auf der Unterseite der Positionier- und Haltevorrichtung (1) ist ein verschiebbarer Magnet (4) und im Bereich der Positionierkennzeichen (3) sind Lichtquellen angeordnet,
- - die Positionier- und Haltevorrichtung (1) und die Belichtungsschablone (5) besitzen jeweils maschinell lesbare Kodierungen.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
dass die Positionier- und Haltevorrichtung (1) eine
viereckige Form aufweist und die Tiefe wesentlich
geringer ist als ihre Seitenlängen.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19934304912 DE4304912C2 (de) | 1993-02-18 | 1993-02-18 | Verfahren und Vorrichtung zur durchgehend automatischen Chipherstellung unter Vakuum |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19934304912 DE4304912C2 (de) | 1993-02-18 | 1993-02-18 | Verfahren und Vorrichtung zur durchgehend automatischen Chipherstellung unter Vakuum |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4304912A1 DE4304912A1 (de) | 1994-08-25 |
DE4304912C2 true DE4304912C2 (de) | 2003-03-06 |
Family
ID=6480736
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19934304912 Expired - Fee Related DE4304912C2 (de) | 1993-02-18 | 1993-02-18 | Verfahren und Vorrichtung zur durchgehend automatischen Chipherstellung unter Vakuum |
Country Status (1)
Country | Link |
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DE (1) | DE4304912C2 (de) |
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Legal Events
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