DE4304448C2 - Guard-Testvorrichtung - Google Patents
Guard-TestvorrichtungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Testvorrichtung der im Oberbegriff des
Anspruches 1 genannten Art.
Das Testen von im folgenden als Meßelement bezeichneten elektri
schen Bauelementen, also z. B. Widerstände, Kondensatoren etc.,
bringt eine Reihe von Problemen mit sich. Zunächst muß das Meß
element an beiden Anschlüssen kontaktierbar sein, damit diese mit
dem Masseanschluß und dem Stimulusanschluß der Testvorrichtung
verbindbar sind. Es können dann ein Stimulus in Form von Strom
oder Spannung gegen Masse angelegt werden und die sich ergeben
den Spannungen oder Ströme gemessen werden, wonach sich nach
dem Ohm′schen Gesetz der Wert des Meßelementes bestimmen
läßt.
Es liegen aber bei Verhältnissen der im Oberbegriff des Anspruches
1 angegebenen Art in dem Netzwerk, in dem sich das Meßelement
befindet, in einer Dreieckschaltung Bauelemente parallel, woraus
sich nach dem Ohm′schen Gesetz eine Verfälschung des Meßergeb
nisses durch die unbekannten parallelen Bauelemente ergibt. Um
diese Verfälschung auszuschließen, sind Testvorrichtungen der im
Oberbegriff des Anspruches 1 genannten Art bekannt, die nach der
sogenannten Guard-Methode arbeiten. Dazu wird eine Guardein
richtung an den Guardknoten angeschlossen, die dafür sorgt, daß
die Spannung auf beiden Seiten des Nullelementes gleich ist, also
die Spannung am Guardknoten auf der Spannung des Sti
mulusknotens gehalten wird. Wenn die Spannung an beiden Seiten
des Nullelementes gleich ist, kann durch dieses kein Strom fließen.
Es ist also sichergestellt, daß mit der Testmessung nur das Meße
lement erfaßt wird und nur dessen wahrer Wert ermittelt wird.
Solche gattungsgemäße Guardeinrichtungen sind aus
RAFFERSEDER, ANDREAS: Incircuit-Test,
In: messen prüfen automatisieren, 1989,
Heft März, S. 105-111
DE 24 48 337 B1
EP 04 83 494 A2
In: messen prüfen automatisieren, 1989,
Heft März, S. 105-111
DE 24 48 337 B1
EP 04 83 494 A2
bekannt. Die Guardeinrichtung ist dabei als Spannungsfolger ausge
bildet. Dieser Spannungsfolger ist mit einer Meßleitung an den Sti
mulusknoten angeschlossen und vergleicht laufend die Spannung am
Stimulusknoten mit der Spannung, die er an seinem Ausgang zum
Guardknoten liefert. Die Spannungsdifferenz wird auf 0 geregelt
durch Einspeisung eines Guardstromes am Guardknoten, so daß die
Spannung am Guardknoten stets der Spannung am Stimulusknoten
entspricht.
Dabei besteht aber der Nachteil, daß der Guardstrom in der Guard
leitung, mit der er dem Guardknoten zugeführt wird, einen Span
nungsabfall produziert, so daß die Spannung am Guardknoten nicht
mehr exakt der Spannung am Stimulusknoten entspricht. Daraus er
gibt sich eine geringe Spannungsdifferenz über dem Nullelement,
die zu einer Verfälschung der Meßergebnisse führt. Die Höhe der
Abweichung ergibt sich aus dem sogenannten Guard-Verhältnis,
dem Verhältnis aus dem Widerstand des Meßelementes zum Wider
stand des Nullelementes. Bei zu großen Guard-Verhältnissen kann
der Fehler größer als der Meßwert werden.
Der Leitungswiderstand der Guardleitung kann nur in selte
nen Fällen als fest vorgegeben berücksichtigt werden. Er
ist sehr unterschiedlich je nach verwendeter Meßleitung,
die bei unterschiedlichem Aufbau von Fall zu Fall von ande
rer Länge ist. Außerdem geht in diesen Leitungswiderstand
auch der Kontaktwiderstand ein, der schwer vorhersehbar ist.
Bekannte Testvorrichtungen der eingangs genannten Art kön
nen daher prinzipiell nur bei kleinen Guard-Verhältnissen
und bei hinsichtlich des Leitungswiderstandes der Guard
leitung sehr genau reproduzierten Messungen verwendet wer
den.
Zur Lösung dieser Probleme mit dem unbekannten Leitungs
widerstand der Guardleitung sind Guard-Testvorrichtungen
der eingangs genannten Art bekannt, bei denen während der
Bestimmung des Meßelementes eine zusätzliche Spannungsmeß
einrichtung die beiden Enden der Guardleitung abgreift.
Diese zusätzliche Spannungsmeßeinrichtung muß über zusätz
lichen Meßleitungen mit dem Ausgang der Guard-Einrichtung
und mit dem Guardpunkt verbunden werden. Dann kann laufend
der Spannungsabfall über der Guardleitung gemessen und zu
Korrekturzwecken verwendet werden. Nachteilig dabei ist
aber der zusätzliche Aufwand durch eine weitere Spannungs
meßeinrichtung und zwei zusätzliche Meßleitungen.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, eine
kostengünstige Testvorrichtung der eingangs genannten Art
zu schaffen, die auch bei ungünstigen Guardleitungen und
Guard-Verhältnissen exakte Ergebnisse liefert.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß mit den Merkmalen des
Kennzeichnungsteiles des Anspruches 1 gelöst.
Erfindungsgemäß wird nicht versucht, mit einem Spannungs
folger die Spannung des Guardknotens einzustellen, sondern
es wird eine Guardeinrichtung in Form einer Stromsteuer
einrichtung vorgesehen, mit der ein zuvor ermittelter
Guardstrom eingespeist wird. Da auf der Guardleitung ein
Strom eingestellt wird, ist dieser prinzipiell unabhängig
von dem Widerstand der Guardleitung und dem Kontaktwider
stand. Der an der Guardeinrichtung eingestellte Strom wird
also exakt am Guardknoten eingespeist. Dieser Strom ist in
Abhängigkeit vom angelegten Stimuluswert (Strom oder Span
nung) von der Testvorrichtung zuvor so berechnet worden,
daß er die Spannung am Guardknoten genau auf die Spannung
am Stimulusknoten setzt. Die Ermittlung des einzustellenden
Guardstromes erfolgt in zwei einfachen Messungen, mit denen
zuvor die Vierpolgleichungen der Dreiecksschaltung, in der
das Meßelement sitzt, bestimmt werden. Zwar sind hierzu
zwei zusätzliche Messungen erforderlich, diese lassen sich
aber mit in üblicher Weise konstruierten Testvorrichtungen
leicht und schnell durchführen und werden durch den Vorteil
aufgewogen, daß auch bei sehr ungünstigen Meßvoraus
setzungen hinsichtlich der Guardleitung und des Guard-Ver
hältnisses eine exakte Bestimmung des Meßelementes möglich
ist. Gegenüber den bekannten Testvorrichtungen, die den
Guardleitungswiderstand laufend messen, ergibt sich eine
erhebliche Konstruktions- und somit Kosteneinsparung.
Vorteilhaft sind die Merkmale des Anspruches 2 vorgesehen.
Bei den beiden erforderlichen Messungen zum Bestimmen der
Vielpolgleichungen ist es bei jeder Messung erforderlich,
die Spannung am Stimulusknoten und am Guardknoten zu be
stimmen. Dies kann durch Umschalten mit nur einer Span
nungsmeßeinrichtung erfolgen, wodurch der Geräteaufwand bei
der Testvorrichtung verringert wird, insbesondere hin
sichtlich der erforderlichen teuren A/D-Wandlereinrich
tungen.
Vorteilhaft sind die Merkmale des Anspruches 3 vorgesehen.
Bei niederohmigen Bauelementen geht auch der Leitungs
widerstand der Masseleitung, mit der die Testvorrichtung an
den Masseknoten angeschlossen wird, und der zugehörige Kon
taktwiderstand störend in das Meßergebnis ein. Die Span
nungsdifferenz zwischen dem Masseanschluß der Testvor
richtung und dem Masseknoten wird auf einfache Weise in
zwei gesonderten Messungen auf die angegebene Weise be
stimmt. Mit den beiden Messungen ergeben sich Spannungen
zwischen Masseanschluß der Testvorrichtung und dem Mas
seknoten, deren Summe genau der Spannung entspricht, die
über der Masseleitung abfällt, wenn zur Bestimmung des Meß
elementes die Dreieckschaltung mit dem Stimulus und dem
entsprechenden Guardstrom beaufschlagt wird. Daher ist bei
der Bestimmung des Meßelementes der Spannungsabfall auf der
Masseleitung bekannt und muß dann nicht mehr mit einem
Spannungsmeßelement bestimmt werden. Das bei der Bestimmung
des Spannungsabfalles auf der Masseleitung verwendete Span
nungsmeßinstrument kann bei der Bestimmung des Meßelementes
zu anderen Zwecken verwendet werden. Es ergibt sich wie
derum eine bedeutende apparative Einsparung an der Testvor
richtung, insbesondere durch Einsparung wenigstens einer
A/D-Wandlereinrichtung.
In der Zeichnung ist die Erfindung beispielsweise und sche
matisch dargestellt.
Mit der sehr schematisch dargestellten Guard-Testvorrich
tung soll auf einem gestrichelt angedeuteten bestückten
Board B ein Meßelement RM bestimmt werden. Im dargestellten
Ausführungsbeispiel ist das Board an den relevanten Stellen
des sich ergebenden Netzwerkes nur mit Widerständen be
stückt. Daher sei zunächst dieses Beispiel beschrieben.
Das Meßelement RM sitzt zwischen einem im folgenden als
Stimulusknoten S bezeichneten Knoten und einem im folgenden
als Masseknoten M bezeichneten Knoten, an denen die Test
vorrichtung das Meßelement RM mit Masse und Stimulus kon
taktiert. Parallele Widerstände sind in der Abbildung dar
gestellt, und zwar zwischen dem Stimulusknoten S und einem
Guardknoten G ein Nullelement R₀ und zwischen dem Guardkno
ten G und dem Masseknoten M ein Guardelement RG.
Eine mit gestrichelter Linie umrahmt dargestellte Testvor
richtung T ist mit einer Stimulusleitung an den Stimulus
knoten, mit einer Masseleitung mit Leitungswiderstand RLM
an den Masseknoten und mit einer Guardleitung mit Leitungs
widerstand RLG an den Guardknoten G angeschlossen.
Die Testvorrichtung T ist im dargestellten Ausführungsbei
spiel zum Anlegen eines Stromstimulus ausgerüstet, weist
also eine Stromsteuereinrichtung I auf, die der auf dem
Board dargestellten Dreieckschaltung am Stimulusknoten S
einen Stimulusstrom einstellbarer Größe aufprägt. An den
Stimulusknoten S ist weiterhin eine Spannungsmeßeinrichtung
V angeschlossen, die den sich ergebenden Spannungsabfall am
Meßelement RM gegen die in der Testvorrichtung mit Erdungs
symbol bezeichnete Masse ermittelt.
Ohne Guarding ergäbe sich ersichtlich eine erhebliche Ver
fälschung des Meßwertes durch die parallel zu RM liegenden
Widerstände R₀ und RG. Daher ist in der Testvorrichtung
eine Guardeinrichtung GE vorgesehen, die über die Guardlei
tung RLG am Guardknoten G eine Spannung gegen M einstellen
muß, die der Spannung am Stimulusknoten S entspricht. Dann
ist der Strom durch das Nullelement R₀ gleich 0, und das
Spannungsmeßinstrument V ermittelt bei angelegtem Stromsti
mulus den wahren Spannungsabfall am Meßelement RM.
Erfindungsgemäß ist die Guardeinrichtung GE als Strom
steuereinrichtung ausgebildet. An ihr wird ein Guardstrom
eingestellt, der bei Einspeisung in den Guardknoten G in
Abhängigkeit von dem am Stimulusknoten S eingespeisten Sti
mulusstrom die Spannung über R₀ zu 0 macht.
Die Testvorrichtung weist nicht dargestellte Umschaltein
richtungen und Recheneinrichtungen auf, die den Meßwert der
Spannungsmeßeinrichtung V aufnehmen und die Stromsteuerein
richtungen I und GE steuern. Die Recheneinrichtung ist in
der Regel digital ausgebildet, und es sind folglich eine
A/D- und zwei D/A-Wandlereinrichtungen erforderlich.
Die Testvorrichtung muß zur Bestimmung des Wertes von RM
zunächst in Abhängigkeit von dem vorzugebenden Stimulus
strom den Guardstrom berechnen. Dazu sind zwei vorherge
hende Messungen erforderlich, um die Vierpolgleichungen der
Dreieckschaltung S, G, M zu bestimmen.
Im dargestellten Beispiel lauten diese Vierpolgleichungen
in der Widerstandsform:
US = z₁₁ * iS + z₁₂ * iG
UG = z₂₁ * iS + z₂₂ * iG.
UG = z₂₁ * iS + z₂₂ * iG.
Dabei sind US und UG die Spannungen an S und G gegen M, iS
der am Stimulusknoten S eingespeiste Stimulusstrom und iG
der am Guardknoten G eingespeiste Guardstrom. Die Vier
polparameter z₁₁ bis z₂₂ lassen sich durch zwei Messungen
bei unterschiedlichen Werten bestimmen. Am einfachsten ge
schieht dies durch zwei Messungen, bei denen im einen Fall
an S der Stimulusstrom eingespeist wird und G stromlos ge
setzt wird und im anderen Fall S stromlos gesetzt wird und
an G der Guardstrom eingespeist wird. Es werden jeweils US
und UG gemessen, und es lassen sich die Vierpolparameter
z₁₁ bis z₂₂ errechnen zu
iG = (z₁₁-z₂₁)/(z₂₂-z₁₂) * is.
Bei vorgegebenem mit der Stromstelleinrichtung I am Stimu
lusknoten S einzuspeisendem Stimulusstrom iS läßt sich
folglich aus dem nunmehr berechneten Faktor der Guardstrom
iG berechnen und an der Guardeinrichtung GE einstellen, um
sodann mit der Spannungsmeßeinrichtung V in perfektem
Guard-Abgleich den wahren Wert des Meßelementes RM bestim
men zu können.
Der Leitungswiderstand RLG der Guardleitung spielt, da der
Guardstrom eingestellt wird, keine Rolle, wobei dieser Lei
tungswiderstand auch den Kontaktwiderstand der Guardleitung
zum Guardknoten G beinhaltet sowie weitere beispielsweise
auf dem Board zwischen Kontaktierungspunkt und Guardknoten
liegende Leitungsstücke.
Mit der dargestellten Testvorrichtung lassen sich auch an
dere als Ohm′sche Elemente bestimmen. Beispielsweise kann
anstelle von RM ein Kondensator bestimmt werden. Die oben
angegebenen Vierpolgleichungen müssen dann geändert werden
durch Ersetzung von US durch dUS/US und von UG durch
dUG/UG. Durch die oben angegebenen Messungen, wobei dann
auch die Spannungsänderungsgeschwindigkeit zu messen ist,
können die Vierpolparameter z₁₁ bis z₂₂ dieser Gleichungen
bestimmt werden, und es ergibt sich ein Faktor zwischen iS
und iG, wie oben angegeben, mit dem der Guardstrom in Ab
hängigkeit vom Stimulusstrom eingestellt werden kann.
Wird auf andere Weise stimuliert, nämlich durch Vorgabe ei
ner Stimulusspannung und Messung des Stimulusstromes, sind
wiederum dieselben Messungen zur Bestimmung des Faktors für
den Guardstrom möglich, diesmal allerdings eines Faktors
zwischen dem anzulegenden Spannungsstimulus US und dem
Guardstrom iG.
Als Vierpolgleichungen können je nach besserer Anwend
barkeit Vierpolgleichungen in Widerstandsform (wie oben an
gegeben), Leitwertform, Hybridform oder Kettenform ver
wendet werden, die den entsprechenden Lehrbüchern entnehm
bar sind.
Bei näherer Betrachtung der Vierpolgleichungen ergibt sich,
daß der Faktor zwischen dem an S angelegten Stimulus
(Spannung oder Strom) und dem zum perfekten Guard-Abgleich
einzustellenden Guardstrom nur aus Vierpolparametern be
steht, wenn das Nullelement R₀ nur aus einer Bauteilart be
steht, also beispielsweise ein reiner Widerstand oder ein
reiner Kondensator ist. Unabhängig von der Art (Widerstand
oder Kondensator) des Meßelementes RM und des Guardelemen
tes RG ergibt sich dann immer ein Faktor zwischen dem Sti
muluswert und dem Wert des Guard-Stromes, der nur aus Vier
polparametern besteht.
Lediglich wenn der Nullzweig, also R₀, aus unterschiedli
chen Bauteilarten besteht (beispielsweise RC-Glied), ent
hält der Faktor zwischen Stimuluswert und Guardstrom die
Werte der anstelle von R₀ im Nullzweig sitzenden Elemente.
Diese müssen dann bekannt sein.
Eine auf diese Weise arbeitende Testvorrichtung kann mit
Hilfe des einzustellenden Guardstromes stets perfektes
Guarding erreichen, also erreichen, daß die Spannung am
Guardknoten G exakt der Spannung am Stimulusknoten S ent
spricht. Dabei spielt der Leitungswiderstand RLG der Guard
leitung keine Rolle. Wichtiger noch ist aber, daß das
Guard-Verhältnis, also das Widerstandsverhältnis RM/R₀, den
Guard-Fehler nicht beeinflußt. Die beschriebene Testvor
richtung kann auch bei sehr ungünstigem Guard-Verhältnis
genaue Werte von RM bestimmen.
Bei den beschriebenen beiden Messungen zur Bestimmung des
Faktors zwischen dem einzustellenden Stimuluswert und dem
einzustellenden Guardstrom sind, wie die zur Errechnung
benötigten Vierpolgleichungen zeigen, Messungen der Span
nung am Guardknoten G und am Stimulusknoten S gegen den
Masseknoten M erforderlich, und zwar die Bestimmung beider
Spannungen während einer Messung. Da die Spannungsmessung
das Netzwerk nicht belastet, kann die dargestellte Span
nungsmeßeinrichtung V bei jeder Messung abwechselnd an S
und über eine gesonderte Meßleitung an G geschaltet werden,
um die Spannungen US und UG zu ermitteln. Eine zweite Span
nungsmeßeinrichtung ist nicht erforderlich. Die entspre
chenden Umschalteinrichtungen sind bei Testvorrichtungen
üblicher Bauart vorhanden.
Bei den bisherigen Betrachtungen wurde der Leitungswider
stand RLM der Masseleitung zwischen der Testvorrichtung und
dem Masseknoten M unberücksichtigt gelassen. Dieser Lei
tungswiderstand, der sich aus dem Widerstand der Leitung
und dem Kontaktwiderstand zusammensetzt, kann stark unter
schiedlich sein und ist nur schwer vorhersagbar. Er kann in
ungünstigen Fällen die Bestimmung des Meßelementes RM we
sentlich verfälschen.
Die Testvorrichtung sieht daher eine Möglichkeit zur Be
rücksichtigung des Leitungswiderstandes RLM vor. Dazu sind
zwei gesonderte Messungen erforderlich, zu denen eine Span
nungsmeßeinrichtung benötigt wird. Hierfür kann in vorteil
hafter Weise die bei diesen Messungen sonst nicht benötigte
Spannungsmeßeinrichtung V der Testvorrichtung benutzt wer
den, die dann vom Stimulusknoten S entkoppelt und an den
Masseknoten M mit einer gesonderten Meßleitung angeschlos
sen wird.
In zwei Messungen wird zunächst der Stimulusknoten S strom
los geschaltet und am Guardknoten G der für die folgende
Bestimmung von RM vorgesehene Guardstrom eingestellt. In
einer zweiten Messung wird der Guardknoten G stromlos ge
setzt und der Stimulusknoten S mit dem Stimulusstrom beauf
schlagt. In beiden Fällen wird mit dem Spannungsmeßgerät V
die Spannung am Masseknoten M gegen Masseausgang der Test
vorrichtung bestimmt, also der Spannungsabfall über RLM.
Beide ermittelten Spannungen werden addiert und ergeben,
wie eine einfache Nachrechnung zeigt, den Spannungsabfall
über RLM für den Fall, daß der Stimulusknoten S mit dem
Stimulusstrom und der Guardknoten G mit dem zugehörigen
Guardstrom beaufschlagt werden. Bei nachfolgender Bestim
mung von RM kann die so ermittelte, als Summe sich erge
bende Spannung als Spannungsabfall über RLM zur Korrektur
berücksichtigt werden.
Claims (3)
1. Guard-Testvorrichtung zur Bestimmung des Wertes der Impedanz eines in
einem aus elektrischen Bauelementen bestehenden Netzwerk
mit von außen kontaktierbaren Knoten (S, G, M) angeordne
ten elektrischen Meßelementes (RM), wobei in Dreieck
schaltung zwischen einem Stimulusknoten (S) und einem
Masseknoten (M) das Meßelement (RM), zwischen dem Sti
mulusknoten (S) und einem Guardknoten (G) ein Nullelement
(R₀) und zwischen dem Guardknoten (G) und dem Mas
seknoten (M) ein Guardelement (RG) angeordnet sind, dessen
Bauelementart bekannt ist, mit einer Stimuliereinrichtung (I)
zum Erzeugen eines Spannungs- oder Stromstimulus zwi
schen dem Stimulusknoten (S) und dem Masseknoten (M)
und einer Meßeinrichtung (V) zur Bestimmung des durch das
Meßelement (RM) fließenden Stromes oder der über diesem
anliegenden Spannung sowie mit einer an den Guardknoten
(G) und den Masseknoten (M) angeschlossenen Guardein
richtung (GE), die die Spannung am Guardknoten (G) durch
Einspeisung eines Guardstromes an diesem auf der Spannung
am Stimulusknoten (S) hält, dadurch gekennzeichnet, daß
die Testvorrichtung mit Einrichtungen zur Bestimmung von
Spannungen und eingespeisten Strömen am Stimulusknoten
(S) und am Guardknoten (G) in zwei Messungen bei zwei
verschiedenen Betriebsbedingungen des Vierpols die Vier
polgleichungen der Dreieckschaltung (S, G, M) bestimmt,
aus diesen für den Fall gleicher Spannungen am Guardknoten
(G) und Stimulusknoten (S) den Faktor zwischen Guardstrom
und Stimuluswert errechnet und sodann zur Bestimmung des Wertes der Impedanz des
Meßelementes (RM) am Stimulusknoten (S) einen Stimulus
wert und am Guardknoten (G) den aus diesem Stimuluswert
und dem Faktor errechneten Guardstrom einstellt.
2. Testvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß eine an den Masseknoten (M) angeschlossene
Spannungsmeßeinrichtung (V) mit Um
schalteinrichtungen vorgesehen ist, um diese bei jeder Messung zur
Bestimmung der Vierpolgleichungen abwechselnd an den
Stimulusknoten (S) und den Guardknoten (G) anzu
schließen.
3. Testvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprü
che, dadurch gekennzeichnet, daß zur Bestimmung des
Leitungswiderstandes (RLM) zwischen dem Masseanschluß
der Testvorrichtung und dem Masseknoten (M) in zwei
gesonderten Messungen mit einem zwischen dem Massean
schluß und dem Masseknoten (M) geschalteten Spannungs
meßgerät (V) der Spannungsabfall gemessen wird, wobei
in der einen Messung der Stimulusknoten (S) mit dem
zum Test zu verwendenden Stimulus beaufschlagt und der
Guardknoten (G) stromlos gesetzt wird und in der an
deren Messung der Stimulusknoten (S) stromlos gesetzt
wird und am Guardknoten (G) der für den Stimulus er
rechnete Guardstrom eingestellt wird, und daß die
Summe der aus beiden Messungen erhaltenen Spannungen
zur Korrektur des Testergebnisses verwendet wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4304448A DE4304448C2 (de) | 1993-02-13 | 1993-02-13 | Guard-Testvorrichtung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE4304448A DE4304448C2 (de) | 1993-02-13 | 1993-02-13 | Guard-Testvorrichtung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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DE4304448A1 DE4304448A1 (de) | 1994-09-15 |
DE4304448C2 true DE4304448C2 (de) | 1996-01-18 |
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ID=6480441
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DE4304448A Expired - Fee Related DE4304448C2 (de) | 1993-02-13 | 1993-02-13 | Guard-Testvorrichtung |
Country Status (1)
Country | Link |
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DE (1) | DE4304448C2 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE202008011111U1 (de) | 2008-08-21 | 2008-11-13 | Elowerk Verwaltungs Gmbh | Messvorrichtung |
Families Citing this family (1)
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JP2013061177A (ja) * | 2011-09-12 | 2013-04-04 | Nidec-Read Corp | インピーダンス測定装置 |
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DE4034699C1 (en) * | 1990-10-31 | 1991-12-19 | Fraunhofer-Gesellschaft Zur Foerderung Der Angewandten Forschung Ev, 8000 Muenchen, De | Resistance measuring circuit using voltage transducer - has operational amplifier with non-inverted input connected to reference voltage source |
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1993
- 1993-02-13 DE DE4304448A patent/DE4304448C2/de not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DE202008011111U1 (de) | 2008-08-21 | 2008-11-13 | Elowerk Verwaltungs Gmbh | Messvorrichtung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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DE4304448A1 (de) | 1994-09-15 |
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