DE4225750A1 - Hochintegrierte Schaltkreise - Google Patents

Hochintegrierte Schaltkreise

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DE4225750A1
DE4225750A1 DE19924225750 DE4225750A DE4225750A1 DE 4225750 A1 DE4225750 A1 DE 4225750A1 DE 19924225750 DE19924225750 DE 19924225750 DE 4225750 A DE4225750 A DE 4225750A DE 4225750 A1 DE4225750 A1 DE 4225750A1
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/003Modifications for increasing the reliability for protection
    • H03K19/00346Modifications for eliminating interference or parasitic voltages or currents
    • H03K19/00353Modifications for eliminating interference or parasitic voltages or currents in bipolar transistor circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/02Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
    • H03K19/08Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
    • H03K19/082Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using bipolar transistors
    • H03K19/086Emitter coupled logic

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Description

Die Erfindung betrifft hochintegrierte, insbesondere anwendungsspezifische integrierte Schaltkreise (ASIC′s) mit ECL-Peripherie, bestehend aus Eingangswandlerschal­ tungen mit zugehörigen Referenzspannungsgeneratoren mit VCC- und VEE-Potentialversorgung.
Schalten bei ASIC′s (Application Specific Integrated Circuit) mit ECL-Peripherie mehrere Ausgänge gleichzeitig, wird aufgrund der Längsinduktivität der VCC = OV Versor­ gungspins auf das interne VCC-Netz des ASIC′s eine Stör­ spannung induziert. Diese Störung koppelt auf die Ausgän­ ge, die internen Schaltungen und die Referenzspannung der internen Referenzspannungsgeneratoren über, was zu Fehl­ funktionen führen kann.
Wie aus dem ECL-Handbuch der Fa. Fairchild Semiconductor Juli 1974, insbesondere Seite 2-3, rechte Spalte, dritter Absatz sowie Fig. 2-3 zu entnehmen ist, läßt sich dieses Problem durch getrennte VCC-Netze für die internen Schaltungen und die Referenzspannungsgeneratoren VCC2 und die Kollektoren der Ausgangsemitterfolger VCC1 lösen. Diese Lösung hat jedoch Nachteile. Die resultieren­ de Längsinduktivität des VCC1-Netzes wird, da ca. 40 bis 50% der VCC-Pins für die VCC2-Versorgung benötigt wer­ den, erhöht. Dadurch steigt die Störung auf den Ausgängen. Der wesentliche Nachteil ist aber, daß bei getrennten VCC-Netzen die prinzipiell bei Ausgangsemitterfolgern bestehende Schwingneigung verstärkt wird.
Aus diesen Gründen ist diese Lösung insbesondere bei inte­ grierten Schaltungen mit sehr vielen Ausgängen problema­ tisch. Das Problem kann dann aber nur durch eine starke Einschränkung der Anzahl der Ausgänge pro zur Verfügung stehender VCC-Pin gelöst werden, wodurch die Performance der Rechner beeinträchtigt werden kann.
Um die Schwingneigung zu reduzieren, ist es deshalb üblich, die Trennung der VCC-Netze bei integrierten Schal­ tungen mit vielen Ausgängen wieder aufzuheben und die Störungen auf interne Schaltungen und Referenzspannungen in Kauf zu nehmen. Wegen der endlichen Störsicherheit muß dann aber die Anzahl der gleichzeitig schaltenden Ausgänge reduziert werden. Am kritischsten ist dabei die Störung auf die Eingangsreferenz, da dadurch die für die Eingänge verbleibende Störsicherheit reduziert wird.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, hochinte­ grierte Schaltkreise, insbesondere mit ECL-Peripherie, insbesondere ASIC′s zu schaffen, durch die ein störungs­ freier Betrieb auch bei gleichzeitigem Schalten mehrerer Ausgänge gewährleistet ist.
Diese Aufgabe wird gemäß der Erfindung dadurch gelöst, daß die VCC-Versorgungsspannung der Eingangswandlerschal­ tungen getrennt ist von der VCC-Versorgungsspannung der Referenzgeneratorschaltung.
Durch diese Maßnahmen wird die Kopplung der VCC-Störungen auf die Eingangsreferenz vermieden. Deshalb steht die Stör­ sicherheit der Eingangswandlerschaltung voll für Störun­ gen auf dem externen Eingang zur Verfügung.
Der Referenzspannungsgenerator zur Erzeugung der Eingangs­ referenz wird durch ein getrenntes VCC-Netz mit eigenen VCC-Pads versorgt. Da die Stromaufnahme gering und sta­ tisch ist, werden nur ca. 5-10% der VCC-Pads benötigt.
Anhand des Ausführungsbeispiels nach der Figur wird die Erfindung näher erläutert.
Die Schaltung besteht aus einer Eingangswandlerschaltung 1 mit Emitterfolger 2, der in Abhängigkeit der internen Schaltkreistechnik benötigt wird oder weggelassen werden kann. Die für den Eingangswandler 1 benötigte Referenz­ spannung wird von dem Referenzspannungsgenerator 3 erzeugt. Dieser Referenzspannungsgenerator kann als Slave ausgeführt sein, wobei die Referenzspannungen der Strom­ quelle 4 in einem nicht dargestellten Masterreferenz­ generator für mehrere Slaves erzeugt werden können. Vom Slave Referenzgenerator können mehrere Eingangswandler versorgt werden.
Das VCC-Netz ist in zwei unterschiedliche Netze aufge­ trennt, wobei die Versorgung der internen Logik, der Eingangswandler sowie der Ausgangswandler über das Netz VCCI und die Versorgung des Referenzspannungsgenerators 3 über getrennte VCC-Pads mit der Spannung VCCR erfolgt.

Claims (1)

  1. Hochintegrierte, insbesondere anwendungsspezifische inte­ grierte Schaltkreise (ASIC′s) mit ECL-Peripherie, bestehend aus Eingangswandlerschaltungen mit zugehörigen Referenz­ spannungsgeneratoren mit VCC- und VEE-Potentialversorgung, dadurch gekennzeichnet, daß die VCC-Versorgungsspannung der Eingangswandlerschal­ tungen (1) getrennt ist von der VCC-Versorgungsspannung der Referenzgeneratorschaltung (3).
DE19924225750 1992-08-04 1992-08-04 Hochintegrierte Schaltkreise Withdrawn DE4225750A1 (de)

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