DE4208955C1 - - Google Patents

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Siegfried Prof. Dr. Schiller
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DD287576A5 (de) * 1989-09-01 1991-02-28 Forschungsinstitut Manfred Von Ardenne,De Verfahren zur bestimmung der elementkonzentration beim elektronenstrahlschmelzen

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5057688A (en) * 1990-08-31 1991-10-15 Bakish Materials Corporation Method for the determination of the element concentration in electron beam melting

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DD287576A5 (de) * 1989-09-01 1991-02-28 Forschungsinstitut Manfred Von Ardenne,De Verfahren zur bestimmung der elementkonzentration beim elektronenstrahlschmelzen

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
A. MITCHELL & K. TAKAGI, "Chemical Control in Electron Beam Melting", in: Electron Beam Melting and Refining, State of the Art 1984, Proc. of Conf., Reno/Nevada, 89-99 *
J.C. BOROFKA & C.H. ENTREKIN, "Recent Advances in Electron Beam Refining of Nickel-Base Superalloys", in: Electron Beam Melting and Refining, State of the Art 1991, Proc. of Conf., Englewood, N.J., 227-239 *

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ATE154703T1 (de) 1997-07-15
WO1993019360A1 (de) 1993-09-30
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