DE4133030C2 - Mikrowellenplasma-Verarbeitungsapparatur - Google Patents
Mikrowellenplasma-VerarbeitungsapparaturInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Mikrowellen-Plasmaverarbeitungsapparatur,
welche verwendet wird zur Herstellung von Halbleiterbauteilen, elektronischen
Teilen etc., auf die dünne Filme aufgetragen werden, wie z. B. ein Flüssigkeitskristallanzeigebauteil,
ein Linearer bzw. Liniensensor, ein Dünnfilmmagnetkopf etc.,
und insbesondere eine Mikrowellen-Plasmaverarbeitungsapparatur, welche geeignet ist zur
Plasmaverarbeitung, wie z. B. Dünnfilmbildung, Ätzen etc., welche in der Lage ist,
ein großflächiges, gleichförmiges Verarbeiten zu bewirken.
Der prinzipielle Aufbau einer solchen Apparatur ist aus Elektronik-Produktion
und Prüftechnik (EPP), Februar 1990, Seiten 77-79, bekannt. In dem Artikel wird
eine Elektron-Zyklotron-Resonanz-Plasmaquelle beschrieben, bei der mittels
eines Hornstrahlers Mikrowellen-Leistung in den Plasmaraum eingekoppelt wird.
Als weitere Apparatur dieser Art von Mikrowellenplasma-Verarbeitungsapparaturen
gemäß dem Stand der Technik ist z. B. diejenige bekannt, welche in JP-A-62-122227
offenbart ist. Demgemäß ist eine Entladungsröhre in einer Vakuumver
arbeitungskammer angeordnet, eine Spule ist auf ihr montiert, um an sie ein
magnetisches Feld anzulegen, eine Mikrowelle mit einer aus einer Elektronenzyklotronresonanz
resultierenden Frequenz ist darin eingeführt durch einen Mikrowellen
wellenleiter, ein in die Vakuumverarbeitungskammer eingeführtes Reaktionsgas wird
zerlegt, indem man darin eine Entladung erzeugt, und auf diese Art wird ein
chemischer Niederschlag auf einem Substrat bewirkt, das als eine Probe dient, die
in der Vakuumverarbeitungskammer angeordnet ist, oder ein dünner Film wird auf
dem Substrat geätzt.
Dennoch wird, um das Verarbeiten eines großflächigen Substrats zu bewirken, eine
großangelegte Entladeröhre benötigt, und es ist notwendig, auch eine Hochleistungsmikrowelle
hinein zu injizieren. Eine bemerkenswerte Kraft wird an die großangelegte
Entladeröhre angelegt, und sie wird zusätzlich durch das in ihr enthaltene Plasma
oder die durch sie hindurchtretende Hochleistungsmikrowelle erwärmt. Daher wird
sie mit einer großen Wahrscheinlichkeit zerstört. Weiterhin hat in einer solchen
Entladeröhre die Plasmadichteverteilung eine starke Tendenz, daß sie hoch ist an
dem zentralen Abschnitt, während sie niedrig ist an dem peripheren Abschnitt,
wodurch die Form der Entladeröhre wiedergespiegelt wird.
Bei der aus dem oben genannten Zeitschriftenartikel bekannten Plasmaverarbeitungsapparatur ist ein
an einem Endabschnitt des Mikrowellen-Wellenleiters angeordnetes mikrowellenemitierendes
Fenster konstruiert als ein Teil der Wand der Vakuumverarbeitungs
kammer und so eingestellt, daß genau unter diesem Fenster eine
Elektronenzyklotronresonanzbedingung befriedigt wird. In dieser Apparatur wird, da
die Größe des Fensters die Fläche bestimmt, in welcher Plasmaverarbeitung bewirkt
werden kann, ein Fenster großen Durchmessers benötigt zum Verarbeiten eines
großflächigen Substrats. Ein Fenster mit einem großen Durchmesser sollte eine
große Dicke haben, damit es eine befriedigende Festigkeit hat. Dennoch, da die
zunehmende Dicke des Fensters die Absorption der Mikrowelle erhöht, was einen
elektrischen Leistungsverlust erzeugt, ist es im allgemeinen unmöglich, die Dicke
beliebig zu erhöhen. Als ein Ergebnis wird eine praktische Größe und Dicke
des Fensters definiert durch die Beziehung zwischen dem durch die Dicke des
Fensters bestimmten elektrischen Leistungsverlust und die Stärke des Fenstermateri
als. Dies ist der Grund, weshalb es bis heute unmöglich war, ein großflächiges
Substrat im Plasma zu verarbeiten, und zwar unter Verwendung dieser Art von
Apparaturen.
Andererseits ist ein anderes Plasmaverarbeitungsverfahren bekannt,
welches eine Lisitano-Spule, wie in JP-A-62-254419 beschrieben, verwendet.
Wenn jedoch gemäß dem Verfahren eine Hochleistungsmikrowelle eingeführt wird,
welche notwendig ist zum Erzeugen eines Hochdichteplasmas in einer großen
Fläche, funkt es leicht bei einem Einführungsabschnitt. Daher war es schwierig, es
in der Praxis zu verwenden.
Bei aus dem o. g. Zeitschriftenartikel bekannten Mikrowellenplasma-
Verarbeitungsapparatur wird die Mikrowelle, welche eine Frequenz hat, die in der
Lage ist, die Elektronenzyklotronresonanz durch Wechselwirkung mit dem Magnet
feld zu erzeugen, von einem Magnetron in die Vakuumverarbeitungskammer
durch eine Mikrowelleneinführeinrichtung, wie z. B. einen rechteckigen Mikrowellen
wellenleiter etc., eingeführt. Bei dieser Art von
Mikrowellenplasma-Verarbeitungsapparatur wurde jedoch Nichtgleichförmigkeit der Substratver
arbeitung aufgrund der Tatsache, daß Räume vorliegen, wie z. B. eine Evakuie
rungsöffnung etc., nicht berücksichtigt. Insbesondere diese Nichtgleichförmigkeit ist
ein ernsthaftes Problem der Plasmaverarbeitung für großflächige Substrate.
Eine Ursache dieser Nichtgleichförmigkeit der Substratverarbeitung wird dem
Austritt von Mikrowellen in die Evakuierungsöffnung zugeschrieben, und es ist
daher bekannt (vergleiche z. B. JP-A-63-7374 und JP-A-63-7375),
die Evakuierungsöffnung mit einem leitenden Netz zu bedecken,
welches Gas hindurchtreten läßt, aber Mikrowellen reflektiert. Hierbei handelt es sich nicht
um eine Mikrowellenplasma-Verarbeitungsapparatur, in der eine Elektronenzyklo
tronresonanz stattfindet (sog. Mikrowellenplasma-Verarbeitungsapparatur ohne Ma
gnetfeld). Das heißt, um eine stabile Filmbildung durchzuführen, hat die ganze
Vakuumverarbeitungskammer eine koaxiale Mikrowellenresonanzstruktur, ohne einen
Gasfluß zu verhindern durch vollständiges Abdecken der Evakuierungsöffnung mit
einem Netz etc.
Bei dieser Art von Mikrowellenplasma-Verarbeitungsapparatur ohne magnetischem
Feld gemäß dem Stand der Technik, in welchem die Vakuumverarbeitungskammer
eine koaxiale Mikrowellenresonanzstruktur hat, wurde jedoch einem Problem
weniger Beachtung geschenkt, daß nämlich eine Evakuierungskonduktanz gesenkt
wurde aufgrund der Tatsache, daß die Evakuierungsöffnung vollständig mit dem
leitenden Netz bedeckt war. Weiterhin, obwohl ein Verfahren oft verwendet wird,
nachdem die Probe ausgetauscht wird, ohne das Vakuum in der Vakuumverarbei
tungskammer zwecks Erhöhung der Produktivität zu brechen, wird der Raum für
diesen Probenaustausch nicht in Betracht gezogen. Das heißt, wenn dieser Raum
vollständig mit einem Netz, etc., bedeckt war, war es schwierig, die Probe auszu
tauschen, ohne das Vakuum zu brechen.
Weiterhin, was am wenigsten Betrachtung erhielt, ist, daß in dem Fall der Mikro
wellenplasma-Verarbeitungsapparatur mit Magnetfeld unter Verwendung von Elek
tronenzyklotronresonanz, obwohl die Struktur
des Raums, wie z. B. die Evakuierungsöffnung etc., in der Nachbarschaft einer
Ebene, auf welcher die Elektronenzyklotronresonanz auftritt, extrem wichtig war,
dies nicht zufriedenstellend in Betracht gezogen wurde. Das heißt, es bestand darin,
daß, in dem Fall der Mikrowellenentladung mit Magnetfeld unter Verwendung von
Elektronenzyklotronresonanz die Betrachtung, nach der die ganze Vakuumver
arbeitungskammer eine Resonanzstruktur, wie oben beschrieben, hat, unzulänglich
war, und obwohl die Ebene, auf welcher die Elektronenzyklotronresonanz auftritt,
wichtig ist für die Stabilität und die Gleichförmigkeit der Verarbeitung, wird
überhaupt keine Aufmerksamkeit der in einer Wand der Vakuumverarbeitungs
kammer ausgebildeten Evakuierungsöffnung, dem Raum zum Austauschen der
Probensubstrate etc., in seiner Nachbarschaft geschenkt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Mikrowellenplasma-
Verarbeitungsapparatur der im Oberbegriff des Anspruchs 1 genannten Art
bereitzustellen, welche in der Lage ist, stabil eine gleichförmige
Mikrowellenplasma-Verarbeitung über eine große Fläche zu bewirken.
Die Lösung der Aufgabe der vorliegenden Erfindung
wird durch eine Apparatur gemäß den Merkmalen von Patentanspruch
1 erreicht. Vorteilhafte Ausführungsformen ergeben sich aus den Unter
ansprüchen 2 bis 22.
Bei der erfindungsgemäßen Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur ist die
Kammertrennvorrichtung der Mikrowelle hoher elektrischer Leistung und dem
Plasma ausgesetzt, und daher wird sie leicht der Erwärmung und einem
Oberflächenschaden ausgesetzt. Wenn der Druck auf der Seite
des Strahlers atmosphärisch
ist wie bei dem Stand der Technik, wird eine starke Kraft auf die Kammertrenn
vorrichtung ausgeübt, und die Kammertrennvorrichtung wird leicht
zerstört. Daher wird bei der Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur
gemäß der vorliegenden Erfindung der Druck auf der Seite
des Strahlers gesenkt bis zu
einem Zustand, wo keine Entladung stattfindet, indem man eine Druckverringe
rungseinrichtung verwendet. Auf diese Art wird die auf die Kammertrennvorrichtung
wirkende Kraft verringert, indem man den Druckunterschied zwischen
der Vakuumverarbeitungskammer und der Seite des Strahlers
verringert, um die Beschädigung der Kammertrennvorrichtung zu
vermeiden. Sofern der Druck auf der Seite des Strahlers
zwischen 10-3 Pa und 1 kPa ist, findet
eine Mikrowellenentladung in dem Strahler statt, und der Verlust
an elektrischer Mikrowellenleistung ist groß. Daher muß dieses Gebiet vermieden
werden. Es ist auch möglich, den unteren Druckbereich unterhalb
von 10-4 Pa zu wählen. In diesem Druckbereich ist es sicherer, daß keine Entla
dung auftritt. Man braucht jedoch ein Evakuierungssystem für Hochvakuum dafür,
und die Konduktanz zum Evakuieren der Kammer in diesem Hochvakuum sollte
groß sein. Dies führt jedoch dazu, daß eine große Evakuierungsöffnung in dem
Mikrowellen-Wellenleitersystem ausgebildet wird, welches zu einem Absenken der
Transmissionseffizienz für die Mikrowelle führt. Demgegenüber, in dem Fall wo der
höhere Druckbereich, der zwischen 5 bis 50 kPa liegt, gewählt wird, ist ein
Evakuierungssystem ausreichend, welches auf dem Niveau einer Ölrotationspumpe
liegt, und die Evakuierungsöffnung kann klein sein. Zusätzlich ist für Drücke über
1 kPa Wärmeübertragung aufgrund von Konvektion durch Gas fast gleich zu der
die bei atmosphärischem Druck erzielt wird. Folglich, da die Wärmeübertragung
aufgrund von Konvektion durch Gas so wirkt, daß die durch die Mikrowelle oder
das Plasma erwärmte Kammertrennvorrichtung gekühlt wird, ist es
extrem praktisch und bevorzugt. In dem Falle, wo Plasma-CVD etc. bewirkt wird,
werden oft Gase mit relativ niedriger thermischer Zersetzungstemperatur, wie z. B.
Monosilan oder Disilan, als Reaktionsgase verwendet. In diesem Falle, wenn die
Kammertrennvorrichtung überhitzt wird, tritt deren thermische Zerset
zung ein, was zu einem Verlust des Reaktionsgases oder einer Verschlechterung
der Charakteristiken eines auf dem Substrat ausgebildeten Films führt. Im
Gegensatz dazu, wenn die Kammertrennvorrichtung
gekühlt wird, tritt ein derartiges Problem aufgrund des
Übererhitzens der Kammertrennvorrichtung für Plasma nicht auf.
Eine Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur, die die Elektronenzyklotronresonanz
verwendet, ist im allgemeinen so konstruiert, daß die Evakuierungsöffnung hinter
der Probenhalteoberfläche an der koaxialen Richtung angebracht ist, in bezug auf
den Mikrowelleneinführungsabschnitt. Um jedoch die Evakuierungskonduktanz durch
Vergrößern der Evakuierungsöffnung zu erhöhen mit dem Zweck, ein großflächiges
Probensubstrat zu bearbeiten, befindet sich die Evakuierungsöffnung oft an einer
Seitenwandoberfläche der Vakuumverarbeitungskammer, was in einer Richtung
senkrecht zur Ausbreitungsrichtung der Mikrowelle ist, und zwar der Einfachheit
des Entwurfs wegen. Weiterhin befindet sich in vielen Fällen der Raum für den
Probenaustausch aus demselben Grund auch an einer Seitenwandoberfläche der
Vakuumverarbeitungskammer.
Wenn die
Evakuierungsöffnung und der Raum für den Probenaustausch etc. an der Wandoberfläche
der Vakuumverarbeitungskammer angebracht sind, ist die Symmetrie in
bezug auf die Ausbreitung der Mikrowelle schlecht, und als ein Ergebnis ist es
schwierig, eine großflächige, gleichmäßige Verarbeitung zu bewirken.
Es wurde experimentell gefunden, daß in dem Fall der
Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur mit Magnetfeld es in erster Linie in dem
Raum von der Kammertrennvorrichtung zu der Ebene, auf welcher die Elektronen
zyklotronresonanz stattfindet, und zweitens in dem Raum von der Ebene, auf der
die Elektronenzyklotronresonanz stattfindet, zu der Probenhalteoberfläche ist, daß
die Symmetrie der Vakuumverarbeitungskammer in bezug auf die Mikrowelle
benötigt wird für eine großflächige, gleichmäßige Verarbeitung, und es ist nicht so
wichtig, daß die ganze Vakuumverarbeitungskammer als eine symmetrische Reso
nanzstruktur wirkt, sondern daß nur die Symmetrie des Teiles von dem Mikro
welleneinführungsabschnitt zu der Probenhalteoberfläche durch die Elektronenzyklotron
resonanzoberfläche wichtig ist. Das ist so, weil fast die ganze Mikrowelle, die von
der Mikrowelleneinführeinrichtung in die Vakuumverarbeitungskammer eingeführt
wird, durch die Ebene, wo die Elektronenzyklotronresonanz stattfindet, absorbiert
oder reflektiert wird. Andererseits wurde nachgewiesen, daß ein Teil der Mikrowelle
durch die Elektronenzyklotronresonanzebene transmittiert wird und die Probe
erreicht. Mit Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparaturen, bei denen die
Evakuierungsöffnung entsprechend den Ansprüchen 11 bis 15
mit einem mikrowellenreflektierenden Element bedeckt
ist, wird die erforderliche Symmetrie der Mikrowellen erreicht und damit
die großflächige Verarbeitung verbessert.
Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung
werden nachfolgend in Verbindung mit der Zeichnung beschrieben.
Fig. 1 ist ein schematischer longitudinaler Querschnitt des Hauptteiles und
zeigt ein erstes Ausführungsbeispiel der Mikrowellenplasmaverarbei
tungsapparatur gemäß der vorliegenden Erfindung;
Fig. 2 ist ein schematischer longitudinaler Querschnitt des Hauptteils einer
Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur mit Magnetfeld, welche ein
zweites Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung ist;
Fig. 3A und 3B sind Grundrißansichten, die Beispiele der Form von mikrowellen
reflektierenden Elementen zeigen, die beide in Fig. 2 verwendet sind;
Fig. 4 ist eine Grundrißansicht eines Substrates, das in der durch IV-IV
in Fig. 2 angedeutetend Richtung betrachtet wird;
Fig. 5(a) und 5(b) sind charakteristische Kurven, die die Beziehung zwischen der
Position des Substrates und der Verteilung der Filmdicke andeuten;
Fig. 6 ist ein Schema, welches ein drittes Ausführungsbeispiel der vorliegen
den Erfindung zeigt;
Fig. 7 ist ein Schema, welches ein viertes Ausführungsbeispiel der vorliegen
den Erfindung zeigt;
Fig. 8 und 9 zeigen ein fünftes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung;
Fig. 10 ist ein Schema, welches ein sechstes Ausführungsbeispiel der vorliegen
den Erfindung zeigt;
Fig. 11 ist eine Grundrißansicht eines Substrates, welches in einer in Fig. 10
durch XI-XI angedeuteten Richtung betrachtet wird;
Fig. 12(a) und 12(b) sind charakteristische Kurven, die die Beziehung zwischen der
Position auf dem Substrat und der Verteilung der Filmdicke anzeigen;
und
Fig. 13 ist ein Schema, das ein siebtes Ausführungsbeispiel der vorliegenden
Erfindung zeigt;
Fig. 1 zeigt einen schematischen longitudinalen Querschnitt des Hauptteiles des
ersten Ausführungsbeispiels der Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur entspre
chend der vorliegenden Erfindung.
Sie ist so konstruiert, daß eine Mikrowelle von 2,44 GHz von einem Mikrowel
lengenerator 1 an ein elektromagnetisches Horn 4 geführt wird, das einen Strahler
durch ein Mikrowellen-Wellenleitersystem 2 darstellt.
Eine Quarzplatte 3 wird in den Mittelweg eines Mikrowellenwellenleiters 2a in
dem Mikrowellenwellenleitersystem 2 gebracht, um eine Vakuumdichtung zu
bewirken. Das Innere des elektromagnetischen Horns, wird, von ihm aus beginnend,
mittels einer Vakuumpumpe 16 evakuiert, so daß der Druck auf 10 kPa verringert
wird, während der Druck mittels eines Ventils 15 reguliert wird. Eine aus 5 mm
dickem Ouarz gefertigte Kammertrennvorrichtung 8 wird an den Öffnungsabschnitt
des elektromagnetischen Horns 4 als Kammertrennvorrichtung für Plasma gebracht.
Auf diese Art ist das elektromagnetische Horn 4 hermetisch abgedichtet in bezug
auf eine Vakuumverarbeitungskammer 6.
Ein Magnetfeld wird erzeugt, in dem man Strom
durch eine elektromagnetische Spule 5 fließen läßt, und sie ist so eingestellt, daß
oder Elektronenzyklotronresonanzpunkt existiert in einem räumlichen Gebiet zwischen
einer aus Quarz gefertigten Platte 9 mit vielen Poren für die Gaszuführung, und
zwar genau unterhalb der Kammertrennvorrichtung 8 und einem Substrat 10,
welches auf einen Substrathalter 11 gebracht wird.
Das Reaktionsgas wird von einer Gaseinführöffnung 7a zu einem Reaktionsgaspuf
fer 7 geschickt und hinaus in den Reaktionsraum 6 geblasen durch Poren in der
Platte 9 durch einen Spalt von 0,3 mm zwischen der Kammertrennvorrichtung 8
und der Platte 9.
Da die in den Mittelweg des Mikrowellenwellenleiters 2a gebrachte Quarzplatte 3
erwärmt wird, weil eine Mikrowelle hoher Dichte durch sie hindurchtritt, ist ein
Kühlwasserrohr 19, das als eine Kühleinrichtung dient, an dem Flanschabschnitt
davon zur Kühlung der Quarzplatte 3 angeordnet, und zur selben Zeit wird
komprimierte Luft herausgeblasen durch eine Düse 18, welche auf der Seite des
Mikrowellenwellenleiters angeordnet ist, die auf atmosphärischem Druck gehalten
wird, um auch Luftkühlung zu bewirken.
Weiterhin, da die Kammertrennvorrichtung 8 und die Platte 9 durch die Mikrowel
le und das Plasma innerhalb der Vakuumverarbeitungskammer 6 (Reaktionsraum)
erwärmt werden, wird eine wie unten beschriebene Konstruktion als eine Kühl
einrichtung dafür übernommen. D.h., ein Rohr 20, durch welches man Kühlwasser
fließen läßt, ist an der äußeren Oberfläche des elektromagnetischen Horns 4 als
ein Wärmeaustauscher angeordnet, und auf diese Art werden sie indirekt durch
Wärmeübertragung durch Luftkonvektion gekühlt bei einem Druck von 10 kPa
innerhalb des elektromagnetischen Horns 4.
Der Durchmesser der Öffnung des elektromagnetischen Horns 4 ist 400 mm, und
sowohl die Kammertrennvorrichtung 8 als auch die Platte 9 mit vielen Poren für
die Gaszufuhr haben einen Durchmesser von 420 mm. Die Temperatur an deren
Zentrum wird durch diesen Kühleffekt auf eine Konstante von ca. 200oC ausgegli
chen, und zwar in dem Fall, wo ein Stickstoffplasma kontinuierlich erzeugt wird bei
einer injizierten elektrischen Mikrowellenleistung von 4 kW.
In dem Falle, wo die Quarzplatte 3 zerbrochen ist, oder die Vakuumverarbeitungs
kammer 6 ein Leck hat, etc., wird ein Druckunterschied zwischen der Seite des
ringförmigen elektromagnetischen Horns 4 und der Seite der Vakuumverarbeitungs
kammer 6 erzeugt. Deshalb ist ein Sicherheitsventil 17 durch ein Verbindungsrohr
21 angeordnet, um zu verhindern, daß die Kammertrennvorrichtung 8 zerbrochen
wird. Das Sicherheitsventil 17 wird durch einen Druckunterschied von 20 kPa
geöffnet, so daß kein dies überschreitender Druck an die Kammertrennvorrichtung
8 angelegt wird.
In Fig. 1 ist ein konduktanzregulierendes Ventil 12, eine Turbomolekularpumpe
13, eine Evakuierungspumpe 14 und eine an dem Mikrowellenwellenleiter ange
brachte Abstimmvorrichtung 22 dargestellt.
Obwohl die in dem ersten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung ver
wendete Kammertrennvorrichtung 8 aus Quarz gefertigt ist, mit einem Durchmesser
von 420 mm und einer Dicke von 5 mm, und da das Innere des elektromagneti
schen Horns 4 mit dem Mikrowellenwellenleiter in einem Zustand verringerten
Druckes verbunden ist, ist der an die Kammertrennvorrichtung 8 angelegte Druck
verringert, und es ist möglich, eine Plasmaverarbeitung auf befriedigende Art mit
dieser Größenordnung der Dicke stabil zu bewerkstelligen. Demgegenüber wird in
dem Fall, wo das Innere des elektromagnetischen Horns 4 auf Atmosphärendruck
gehalten wird, wie in einer Apparatur gemäß dem Stand der Technik, eine Dicke
von 30 mm der Kammertrennvorrichtung für Plasma 8, was 6 mal so groß ist wie
in dem vorliegenden Ausführungsbeispiel, benötigt, um in der Lage zu sein, die
Plasmaverarbeitung sicher zu bewerkstelligen. Wenn ein Sicherheitsfaktor von 3
angenommen wird, wird eine 45 mm dicke Kammertrennvorrichtung benötigt. Wenn
die Dicke der Kammertrennvorrichtung so bemerkenswert erhöht wird, wird der
elektrische Leistungsverlust aufgrund von Absorption der Mikrowelle signifikant
erhöht, und die Apparatur kann nicht mehr praktisch sein.
Was in der vorliegenden Erfindung weiterhin wichtig ist, ist, daß man nicht nur
das Innere des Senders (elektromagnetisches Horn) 4 mit dem Mikrowellenwellen
leiter in einem Zustand verringerten Druckes verbindet, sondern es in einen
Zustand verringerten Druckes bringt, wo keine Mikrowellenentladung erzeugt wird,
selbst wenn der Druck verringert wird.
Oben wurde der Aufbau der Apparatur in dem ersten Ausführungsbeispiel der
vorliegenden Erfindung erklärt. Nun werden 3 stellvertretende Beispiele der Plasma
verarbeitungsapparatur in der Praxis unter Verwendung dieser Apparatur vorgestellt.
In dem ersten Verarbeitungsbeispiel wird ein Fall beschrieben, wo ein Siliziumni
tridfilm mittels dieser Apparatur gebildet wird.
Eine Glasplatte mit einem Durchmesser von 300 mm wurde als Substrat 10
verwendet, welches auf den Substrathalter 11 gelegt wurde.
Als Reaktionsgas wurde ein Fluß von 40 cm3/min Monosilan und von ca.
400 cm3/min Stickstoffgas als ein Fluß von den Poren in der Platte 9 mit Poren durch
den Reaktionsgaspuffer 7 geschickt und durch die Turbomolekularpumpe 13
evakuiert. Der Druck in der Vakuumverarbeitungskammer 6 wurde auf 0,4 Pa
reguliert mit Hilfe des konduktanzregulierenden Ventils 12. Eine Mikrowellenlei
stung von 4 kW wurde für 5 Minuten injiziert, um ein Plasma zu erzeugen, und
ein 0,60 µm dicker Siliziumnitridfilm wurde an dem Substratzentrum und ein 0,55 µm
dicker an dem peripheren Teil gebildet.
In dem zweiten Verarbeitungsbeispiel wird ein Fall beschrieben, in dem ein
Siliziumnitridfilm mittels dieser Apparatur geätzt wird.
Das Glassubstrat 10 hat einen Durchmesser von 300 mm, auf dem der Siliziumni
tridfilm in dem Verarbeitungsbeispiel 1, wie oben beschrieben, gebildet wurde, und
ein 0,5 µm dicker Aluminium mit einem Linienabstand von 3 µm
wurde weiterhin darauf als eine Maske ausgebildet und als ein Substrat
verwendet.
Als Reaktionsgas wurde Tetrafluorokohlenstoff einschließlich Sauerstoff bei 3%
von ungefähr 90 cm3/min von Poren in der Platte 9 durchgeschickt und durch die
Turbomolekularpumpe 13 evakuiert. Angenommen, daß der ECR(Elektronenzy
klotronresonanz)-Punkt 20 Millimeter über dem Substrat 10 gebildet wurde, wurde
eine Mikrowellenleistung von 2,5 Kilowatt injiziert. Als Ergebnis wurde ein fast
gleichförmiges Plasma erzeugt, und ein Ätzen von Siliziumnitrid fand statt, wobei
das Aluminiummuster als Maske diente. Die Ätzrate war 0,08-0,085 µm/Min. und
fast gleichförmig über der ganzen Oberfläche.
Dieses dritte Verarbeitungsbeispiel zeigt ein Beispiel, in dem diese Apparatur als
ein Sauerstoffverascher bzw. eine Sauerstoffzuleitung verwendet wurde.
Polyimid wurde mit einer Dicke von 1,5 µm auf einem Substrat 10 aufgetragen,
welches aus einer Glasplatte mit einem Durchmesser von 300 µm bestand. Ein
Siliziumoxidfilm von 0,2 µm Dicke wurde weiterhin darauf gebildet. Dieser Silizi
umoxidfilm, auf den ein Muster von Löchern mit einem Durchmesser von 2 µm
als ein Maskenmuster gebildet wurde, wurde für das Substrat 10 verwendet.
Sauerstoffgas ließ man bei einer Rate von 100 cm3/min. von dem Gaseinlaß 7a
durch den Gaspuffer 7 fließen. Eine elektrische Mikrowellenleistung von 2 kW
wurde in den Reaktionsraum 6 injiziert, um dort ein Plasma zu erzeugen, in dem
der Druck 1 Pa ist.
Als ein Ergebnis war die Ätzrate von Polyimid ungefähr 1 µm/min., was fast
konstant war über die gesamte Oberfläche.
Fig. 2 ist eine Ansicht einschließlich eines Querschnitts des Hauptteiles einer
Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur mit Magnetfeld, welche das zweite Aus
führungsbeispiel der vorliegenden Erfindung ist. Das zweite Ausführungsbeispiel wird
für eine
CVD-(chemical vapour deposition = chemisches Aufdampfen)-Filmbildungsapparatur
erklärt. Bei dieser Art von Apparaturen ist es wegen der
Notwendigkeit einer Hochgeschwindigkeitsfilmbildung erforderlich, Gas bei einer
hohen Flußrate fließen zu lassen. Nicht ein axiales Flußevakuierungssystem, sondern
ein sogenanntes transversales Evakuierungssystem wird dafür genommen, durch
welches die Evakuierungsöffnung an einer Seitenwand der Vakuumverarbeitungs
kammer 6 angeordnet ist, um die Evakuierungskonduktanz zu erhöhen.
Die Elektronenzyklotronresonanzebene 40 ist so eingestellt, daß sie zu einer Position
innerhalb der Evakuierungsöffnung 38 ausgedehnt wird, und zwar in Abhängigkeit
von der Intensität der Magnetfelder, die durch eine Hauptspule 24 und eine
Hilfsspule 25 erzeugt werden.
Weiterhin werden sowohl das Substrat 10 und der Substrathalter 11 auch in die
Evakuierungsöffnung gestellt. Ein mikrowellenreflektierendes Element 32 ist in der
Evakuierungsöffnung 38 angebracht und erstreckt sich von einem Endabschnitt bis
hinauf zu der Höhe der Probenhalteoberfläche des Substrathalters 11 in der
Ausbreitungsrichtung der Mikrowelle.
Fig. 3A und 3B sind Grundrisse, die Beispiele für die Form des mikrowellenre
flektierenden Elements 32, welches in Fig. 2 verwendet wird, angeben. Insbeson
dere zeigen Fig. 3A und 3B jeweils ein netzförmiges mikrowellenreflektierendes
Element 32 und ein lochbrettförmig mikrowellenreflektierendes Element 32.
Weiterhin ist Fig. 4 ein Grundriß des Substrats 10, wie er in der durch IV-IV
in Fig. 2 angegebenen Richtung betrachtet wird, und Fig. 5(a) und (b) stellen
charakteristische Kurven dar, die die Beziehung zwischen der Position auf dem
Substrat 10 und der Filmdickeverteilung angeben.
Das mikrowellenreflektierende Element 32 wird auf eine Verlängerung der Innen
wand der Vakuumverarbeitungskammer 6 gebracht, wie in dem Grundriß des
Hauptteiles in Fig. 4 angedeutet wird, so daß man eine Form hat, die mit der
der Vakuumverarbeitungskammer 6 konsistent ist, so daß die innere Form der
Vakuumverarbeitungskammer 6 eine gute Symmetrie bzgl. der Mikrowelle hat.
Weiterhin ist das Material dieses mikrowellenreflektierenden Elementes 32 leitfähig,
für welches ein rostfreies Netz 41 mit Maschen von ungefähr 10 mm×10 mm,
wie in Fig. 3A angezeigt, verwendet wurde. Eine Masche s dieses Netzes 41 ist
kleiner als ein Viertel der Wellenlänge von 123 mm der verwendeten Mikrowelle
(Frequenz 2,45 GHz), und sie ist ausreichend klein zur Erzielung des Effekts der
vorliegenden Erfindung.
Das mikrowellenreflektierende Element 32 deckt ausreichend ungefähr die Hälfte
der Evakuierungsöffnung 38 ab, einschließlich der Elektronenzyklotronresonanzebene
40, welche bei der Filmbildungs- und Probenhalteoberfläche gebildet wird, und es
ist so konstruiert, daß die verbleibende Hälfte (ungefähr 100 Millimeter) der
Evakuierungsöffnung nicht durch das mikrowellenreflektierende Element 32 abge
deckt ist. Ein Endabschnitt des mikrowellenreflektierenden Elementes 32 ist an der
Innenseite der Evakuierungsöffnung 38 durch Löten befestigt, so daß es auf
befriedigende Art und Weise elektrisch leitfähig ist.
Im weiteren wird ein Verfahren beschrieben zur Bildung eines Siliziumnitridfilms
durch das CVD (chemical vapour deposition) Verfahren auf dem Substrat 10, das
aus einer Glasplatte besteht, die als die Probe dient, und zwar mittels dieser
beschriebenen Apparatur.
In dem ersten Schritt wurde das Innere der Vakuumverarbeitungskammer auf ein
Hochvakuum von ungefähr 0,0001 Pa mittels der Rotationspumpe 35 und der
Turbomolekularpumpe 13 evakuiert.
In dem zweiten Schritt werden Monosilan und Stickstoff von der Gaszuführeinrich
tung 31 in die Vakuumverarbeitungskammer 6 durch den Gasausblasabschnitt 30
jeweils mit 5 cm3/min. (bei 1 bar und 25°C) eingeführt.
In dem dritten Schritt wurde der Druck in der Vakuumverarbeitungskammer 6 bei
ungefähr 0,1 Pa gehalten, während das Hauptventil 33 reguliert wurde.
In dem vierten Schritt wurde ein Magnetfeld von 0,0875 Tesla gebildet zum
Verarbeiten der Elektronenzyklotronresonanz bei einer ungefähr 100 mm von dem
Gasausblasabschnitt 30 entfernten Position in der Ausbreitungsrichtung der Mikro
welle. Auf diese Art ist die Elektronenzyklotronenresonanzebene 40 so ausgebildet,
daß sie sich auf einen Ort innerhalb der Evakuierungsöffnung 38 erstreckt, wie in
Fig. 2 angezeigt.
In dem fünften Schritt wird eine Mikrowelle mit einer Frequenz 2,45 GHz und
einer elektrischen Leistung von 100 Watt von der Mikrowellenzuführeinrichtung 1
in die Vakuumverarbeitungskammer 6 eingeführt, um die Entladung zu beginnen.
Als ein Ergebnis wurde ein Siliziumnitridfilm von ungefähr 600 nm Dicke auf dem
100 nm×100 nm großen Glassubstrat 10 in fünf Minuten gebildet.
Fig. 5(a) und (b) zeigen Schwankungen in der Beziehung zwischen der Position
auf dem Substrat und der Filmdickeverteilung jeweils ohne und mit dem beschriebenen,
Mikrowellen reflektierenden Element 32. In Fig. 5(a)
und (b) stellt die auf dem Substrat durch A-A′ dargestellte Position die Position
auf der in Fig. 4 angezeigten Ebene dar. Wie man von Fig. 5(a) und (b)
deutlich sieht, wird eine Filmbildung in dem zweiten Ausführungsbeispiel der
vorliegenden Erfindung gleichförmiger bewerkstelligt als in dem Vergleichsbeispiel,
indem das mikrowellenreflektierende Element 32 so angeordnet ist, daß es eine
Form hat, die mit der Form der Innenwand der Vakuumverarbeitungskammer 6
konsistent ist.
In diesem Fall kann, selbst wenn das mikrowellenreflektierende Element 32 die
Evakuierungsöffnung 38 vollständig bedeckt, ein identischer Effekt bei der Filmbil
dung erzielt werden. Wie zuvor beschrieben, ist in dem Fall der Mikrowellen
entladung mit Magnetfeld und der Verwendung von Elektronenzyklotronresonanz
das Wichtige die Form der Elektronenzyklotronresonanzebene 40, die Probenhalte
oberfläche und die Innenwand der Vakuumverarbeitungskammer 6, durch welche
die Mikrowelle durchtritt, bevor sie dort ankommt, und die anderen Teile haben
damit fast gar nichts zu tun. Falls die Evakuierungsöffnung 38 vollständig bedeckt
ist, erzeugt dies eine Abnahme in der Evakuierungskonduktanz, und daher ist dies
ziemlich unerwünscht. Folglich kann in einer Apparatur mit einer Evakuierungsöff
nung mit dieser Art von Struktur das mikrowellenreflektierende Element 32 die
Elektronenzyklotronresonanzebene 40, die Probenhalteoberfläche, und die Evakuie
rungsöffnung, durch welche die Mikrowelle hindurchtritt, bevor sie dort ankommt,
abdecken. Dennoch ist es wünschenswert, sie etwas länger zu machen mit etwas
Spielraum.
Fig. 3B zeigt eine andere Ausführungsform der mikrowellenreflektierenden
Elemente 32.
Hier ist ein Fall dargestellt, wo kein Netz 21, sondern
ein aus einer Kupferplatte bestehendes Lochbrett verwendet wird als das mikrowel
lenreflektierende Element 32, welches oben beschrieben wurde, und Fig. 3B zeigt
davon eine Form auf einem Grundriß. Auch
dieses mikrowellenreflektierende Element 32 ist an die
Evakuierungsöffnung 38 der Vakuumverarbeitungskammer 6 durch Löten angebracht
und es ist notwendig, eine befriedigende elektrische Leitfähigkeit sicherzustellen.
Um die Evakuierung des Innenraums der Vakuumverarbeitungskammer 6 zu
erleichtern, sind Löcher 42 mit einem Durchmesser von 20 nm in der Kupferplatte
ausgebildet, die als das mikrowellenreflektierende Element 32 über der gesamten
Oberfläche dient.
Obwohl die Evakuierungskonduktanz erhöht wird mit der zunehmenden Größe
dieser Löcher 42, kann für die Reflektion der Mikrowelle ein Zunahmeeffekt
erreicht werden durch die Abnahme deren Größe, und es ist ähnlich dem Fall des
zweiten Ausführungsbeispiels notwendig, daß der Durchmesser höchstens kleiner ist,
als die Wellenlänge der verwendeten Mikrowelle.
Ein drittes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung stellt einen Fall der
Mikrowellenplasma-Verarbeitungsapparatur mit Magnetfeld dar mit einem Aufbau,
wie in Fig. 6 angezeigt. Im Falle des dritten Ausführungsbeispiels ist, obwohl das
Substrat 10 und die Substrathaltevorrichtung 11 sich in Positionen in der Evakuie
rungsöffnung 38 befinden, unterschiedlich zum zweiten Ausführungsbeispiel, die
Elektronenzyklotronresonanzebene 40 nicht innerhalb der Evakuierungsöffnung,
sondern vor ihr ausgebildet, d. h. an einem Ort der Wandoberfläche der Vakuum
verarbeitungskammer, wo keine Evakuierungsöffnung ist. Die Probenhalteoberfläche
und ein Teil der Evakuierungsöffnung 38 in deren Umgebung sollten in Betracht
gezogen werden. In dem Fall wurde auch, ähnlich dem zweiten Ausführungsbeispiel,
die Evakuierungsöffnung 38 von einem Endabschnitt zu einer vorbestimmten
Position etwas hinter der Probenhalteoberfläche abgedeckt, wie in Fig. 6 ange
zeigt, und zwar unter Verwendung des mikrowellenreflektierenden Elements 32. Als
ein Ergebnis wurde auch in dem dritten Ausführungsbeispiel ein Effekt ähnlich
dem des zweiten Ausführungsbeispiels erreicht.
Weiterhin kann, obwohl die Position der Elektronenzyklotronresonanzebene 40 auch
durch Variieren der Frequenz der Mikrowelle eingestellt werden kann, was jedoch die
Apparatur kompliziert macht, sie auch bei einer allgemeinen Position durch
Regulieren der Stärke der Ströme eingestellt werden, welche durch die magnetfeld
erzeugende Hauptspule 24 und Hilfsspule 25 fließen.
Ein viertes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung stellt einen Fall der
mikrowellenplasmaverarbeitenden Apparatur mit Magnetfeld dar, die einen Aufbau
wie in Fig. 7 hat. In dem Falle des vierten Ausführungsbeispiels, das sich von
dem zweiten Ausführungsbeispiel unterscheidet, existiert die Evakuierungsöffnung 38
nicht bei der Position der Probenhalteoberfläche. Das heißt, die Probenhalteober
fläche existiert hinter der Evakuierungsöffnung 38. Daher sollten die Elektronenzy
klotronebene 40 und ein Teil der Evakuierungsöffnung 38 in ihrer Umgebung in
Betracht gezogen werden sollten. Da jedoch der gesamte Teil der Evakuierungsöff
nung 38 an der Wand der Vakuumverarbeitungskammer 6 existiert, durch welche
die Mikrowelle hindurchtritt, bevor sie bei dem Substrat 10 ankommt, was sich von
dem zweiten und dritten Ausführungsbeispiel unterscheidet, ist es auch in dem in
Fig. 7 angezeigten Fall notwendig, die gesamte Evakuierungsöffnung 38 mit dem
Mikrowellenreflektierenden Element 32 abzudecken. Als ein Ergebnis wurde auch
in dem vierten Ausführungsbeispiel ein dem zweiten Ausführungsbeispiel ähnlicher
Effekt erzielt. Ein fünftes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung stellt
einen Fall der mikrowellenplasmaverarbeitenden Apparatur dar mit einem Aufbau,
wie in Fig. 8 und 9 angezeigt.
Im Falle des fünften Ausführungsbeispiels, welches sich von dem zweiten Aus
führungsbeispiel unterscheidet, existiert die Evakuierungsöffnung 38 weder bei der
Position der Elektronenzyklotronresonanzebene 40 noch bei der Position der
Probenhalteoberfläche. Gemäß Fig. 8 befinden sich sowohl die Elektronenzyklotronresonanzebene 40 und
die Probenhalteoberfläche hinter der Evakuierungsöffnung 38, d. h.
der gesamte Teil der Evakuierungsöffnung 38 befindet sich an der Wand der
Vakuumverarbeitungskammer 6, durch welche die Mikrowelle hindurchtritt, bevor
sie bei dem Substrat 10 ankommt. Ähnlich dem vierten, oben beschriebenen
Ausführungsbeispiel, wurde der gesamte Teil der Evakuierungsöffnung 38 mit dem
leitenden Material 32 abgedeckt. Als ein Ergebnis wurde auch in dem vorliegenden
Ausführungsbeispiel ein Effekt ähnlich dem des zweiten Ausführungsbeispiels
erhalten.
Gemäß Fig. 9 befindet sich der
ganze Teil der Evakuierungsöffnung 38 nicht an der Wand der Vakuumverarbei
tungskammer 6, durch welche die Mikrowelle hindurchtritt, bevor sie bei
dem Substrat 10 ankommt, sondern die Evakuierungsöffnung 38 befindet sich auf
der Seite, die dem Mikrowelleneinführfenster 39 bzgl. des Substrats 10
gegenüberliegt.
Fig. 10 zeigt ein sechstes Ausführungsbeispiel der Mikrowellenplasma-Verarbeitungs
apparatur mit Magnetfeld entsprechend der vorliegenden Erfindung.
Im Falle dieses Ausführungsbeispiel,
welches sich vom zweiten Ausführungsbeispiel unterscheidet, existiert die Evakuie
rungsöffnung 38 weder bei der Position der Elektronenzyklotronresonanzebene 40
noch bei der Position der Probenhalteoberfläche. Das heißt, beide von ihnen sind
vor der Evakuierungsöffnung 38 angeordnet. Weiterhin existiert nicht der gesamte
Teil der Evakuierungsöffnung 38 an der Wand der Vakuumverarbeitungskammer 6,
durch welche die Mikrowelle hindurchtritt, bevor sie bei dem Substrat 10 ankommt.
Eine Filmbildung ähnlich der in dem zweiten Ausführungsbeispiel beschriebenen
wurde durch diese Apparatur durchgeführt.
Dadurch erhaltene Ergebnisse sind in Fig. 11 und 12 angezeigt. D.h., Fig. 11 ist
ein Grundriß des Substrats 10, wenn man es in der durch XI-XI in Fig. 10
angezeigten Richtung betrachtet. Fig. 12(a) und (b) zeigen charakteristische
Kurven, die die Beziehung zwischen der Position auf dem Substrat 10 und der
Filmdicke andeuten.
Wie klar aus den in Fig. 12(a) und (b) angedeuteten Ergebnissen über die
Filmdickeverteilungscharakteristiken ersichtlich, zeigen beide von ihnen zueinander
näherungsweise identische Charakteristiken, und zwar unabhängig von Vorhandens
ein oder Abwesenheit des mikrowellenreflektierenden Elementes 32, was anzeigt,
daß das mikrowellenreflektierende Element 32
in dem Fall des vorliegenden Ausführungsbeispiels nicht notwendigerweise benötigt
wird. Daher versteht sich, daß es für die Anordnung des
mikrowellenreflektierenden Elementes 32 wichtig
ist, die Räume elektrisch abzuschirmen, wie zum Beispiel die
Elektronenzyklotronresonanzebene 40, die Probenhalteoberfläche, die Evakuierungs
öffnung 38, welche an der Wand der Vakuumverarbeitungskammer 6 existiert,
durch welche die Mikrowelle hindurchtritt, bevor sie bei dem Substrat 10 ankommt.
Es ist also nicht erforderlich, die gesamte Vakuumverarbeitungskammer 6 zu der Mikrowellen
resonanzstruktur zu machen.
Daher ist auch für eine mit der Evakuierungsöffnung in der axialen Richtung
bereitgestellten Apparatur, d. h. einer Apparatur sogenannter Flußevakuierung,
wie sie in Fig. 1 dargestellt ist, die anhand der Fig. 3 bis 10
beschriebene Anordnung des mikrowellenreflektierenden Elements nicht
erforderlich. In diesen Fällen kann durch Abschirmen der
Evakuierungsöffnung 38 mit dem mikrowellenreflektierenden Element 32 nur der
Effekt des Verhinderns eines Austretens der Mikrowelle in den Außenraum erwar
tet werden, und kein Effekt wird erzielt, was die durch die vorliegende Erfindung
angestrebte gleichförmige Verarbeitung über eine große Fläche anbelangt. Daher ist
es nur zwecks Verhinderung eines Austretens der Mikrowelle nicht notwendig, das
mikrowellenreflektierende Element 32 in einer Form zu positionieren, die konsistent
ist mit der Vakuumverarbeitungskammer 6, sondern es kann an einem willkürlichen
Ort positioniert werden.
Bei diesen Vergleichsbeispielen ohne mikrowellenreflektierendes
Element ist die Größe des Substrats eingeschränkt,
und zwar durch eine Einschränkung der Position, wo man die Evakuierungsöffnung
38 anbringt, und daher sind sie weniger geeignet für Bearbeitung eines großflächigen
Substrats, und in einer Vakuumverarbeitungskammer mit einer gleichen Größe ist
es nicht möglich, die Evakuierungsöffnung so anzubringen, daß man einen großen
Durchmesser hat. Um es möglich zu machen, ein großflächiges Substrat zu ver
arbeiten, ist eine Hochgeschwindigkeitsevakuierung mit großer Kapazität unvermeid
bar. Daher sollte die Evakuierungsöffnung an einer Seiten
wand der Vakuumverarbeitungskammer 6 angebracht werden. Jedoch verbleibt in diesem
Fall in der in Fig. 10 angedeuteten Position kein Spielraum zum Anbringen einer
großen Evakuierungsöffnung 38 in dem Teil der Wand, hinter der Substrathaltevor
richtung 11, welche die Probenhalteoberfläche darstellt. Daher besteht das Problem
eines Mangels an Evakuierungskapazität, welches unvermeidbar auftritt, und man
ist gezwungen, die Größe des Apparatur zu erhöhen, was in der Praxis nicht
wünschenswert ist. Folglich ist es günstiger, die Evakuierungsöffnung
38 abzuschirmen.
Ein siebtes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung stellt einen Fall der
Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur mit Magnetfeld dar, welche einen Aufbau
hat, wie in Fig. 13 angezeigt. Im Falle des siebten Ausführungsbeispiels existiert
ähnlich dem zweiten Ausführungsbeispiel die Evakuierungsöffnung 38 sowohl bei
der Position der Elektronenzyklotronresonanzebene 40 als auch bei der Position der
Probenhalteoberfläche. Weiterhin ist sie ausgestattet mit einem Vorbereitungsraum
43, einem Torventil 44 und einer Fördereinrichtung 45 zum Austauschen des
Substrats 10, ohne das Vakuum zu brechen. Für diese für den Substrataustausch
verwendeten Räume ist es notwendig, weiterhin andere mikrowellenreflektierende
Elemente 32′ anzubringen. Das Verfahren, zu
deren Einstellen bzw. Anbringen hinsichtlich der Positionsbeziehung zwischen einer
Probenaustauschöffnung 46 und der Elektronenzyklotronresonanzebene 40, der
Probenhalteebene etc., ist identisch mit dem, das für all die oben beschriebenen
Ausführungsbeispiele verwendet wurde. Dennoch kann in dem Fall der Proben
austauschöffnung 46, da eine Transmission von Gas bei der Filmbildung nicht
notwendigerweise erfordert wird, eine metallische Platte etc. verwendet werden für
das andere mikrowellenreflektierende Element 32′. Da jedoch ein Raum, durch
welchen das Substrat 10 hindurchgeht, beim Probenaustausch immer notwendig ist,
ist es wünschenswert, daß die Apparatur so konstruiert ist, daß die Probenaus
tauschöffnung 46 nicht vollständig bedeckt ist. Das heißt, daß, wie in dem Fall des
vierten und fünften Ausführungsbeispiels, es notwendig ist, eine derartige Appara
turkonstruktion zu vermeiden, wonach die Probenaustauschöffnung 46 vollständig
zwischen dem Mikrowelleneinführfenster 39 und dem Substrat 10 enthalten ist.
Falls, wie in den obigen Ausführungsbeispielen beschrieben, mikrowellenreflektierende
Elemente 32 und 32′ nur an der Elektronenzyklo
tronresonanzebene 40, der Probenhalteoberfläche und dem Teil, durch welchen die
Mikrowelle hindurchtreten muß, bevor sie bei dem Substrat ankommt, angeordnet
sind, und zwar zwischen Räumen, wie z. B. der Evakuierungsöffnung 38, der
Probenaustauschöffnung etc., welche an der Wand der Vakuumverarbeitungskammer
6 existieren, ist es möglich, eine Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur mit
Magnetfeld zu realisieren, in welcher eine zufriedenstellende Konduktanz sicherge
stellt ist und die Probe ausgetauscht werden kann, um das Vakuum zu brechen.
Nachfolgend wird ein Beispiel für die
Anwendung der Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur nach Fig. 2
als Plasmaätzapparatur beschrieben. Hier
führte die Gaszuführeinrichtung 31 CF₄
+ 20% O₂ als Ätzgas zu, und zwar bei einer Flußrate von 10 sccm in der
Vakuumverarbeitungskammer durch die Gasausflußöffnung 30.
Die elektrische Mikrowellenleistung war 300 Watt, und das Innere der Vakuumver
arbeitungskammer 6 wurde zu ungefähr 0,5 Pa evakuiert. Eine durch zuvoriges
Bilden eines amorphen Silizium (a-Si) Filmes von 1 µm Dicke auf einem Glassub
strat gebildete Probe wurde als ein Ätzprobensubstrat 10 verwendet. Eine Ober
flächenreinigungsbehandlung wurde durchgeführt, indem man dessen Oberfläche bis
auf eine Tiefe von 0,5 µm für 25 Minuten ätzte. Der Oberflächenzustand des
erhaltenen a-Si Films war extrem flach und die Filmdicke gleichförmig.
Bei den beschriebenen Ausführungsbeispielen
der vorliegenden Erfindung können die folgenden exzellenten Effekte
erreicht werden.
- 1) Ein gleichförmiges Verarbeiten durch ein Mikrowellenplasma kann über eine große Fläche durchgeführt werden, und eine Hochgeschwindigkeitsver arbeitung mit einem Hochdichtemikrowellenplasma wird ermöglicht in der Herstellung großflächiger Elemente;
- 2) Es gibt keine Probleme der Zerstörung oder Überhitzung der Kammer trennvorrichtung für Plasma, und eine große Vielzahl von Substraten kann kontinuierlich der Plasmaverarbeitung unterworfen werden;
- 3) Die Spule kann klein gemacht werden relativ zu der zu verarbeitenden Fläche als eine Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur, und als Ergebnis kann der elektrische Leistungsverbrauch verringert werden; und
- 4) Durch Anbringen von mikrowellenreflektierenden Elementen bei einem vorbestimmten Plasma in einer mit der Wandoberfläche der Vakuumver arbeitungskammer konsistenten Form kann eine zufriedenstellende Evakuie rungskonduktanz sichergestellt werden, und zusätzlich kann eine gleichmä ßige Plasmaverarbeitung über eine große Fläche bewerkstelligt werden, und zwar in einem Zustand, wo eine Symmetrie der Mikrowelle auf einem hohen Niveau aufrechterhalten wird.
Claims (22)
1. Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur mit einer Vakuumverarbeitungskammer
(6), welche mit einer Gaszuführeinrichtung (31) und
mit einer Einrichtung für deren Evakuieren ausgestattet ist;
mit einer Einrichtung (2) zum Einführen einer Mikrowelle in die Vakuumver arbeitungskammer (6);
mit einem Strahler (4), der mit einem Ende der Mikrowelleneinführeinrichtung (2) verbunden ist und die Mikrowelle vergrößert, um eine große Fläche damit zu bestrahlen;
mit Kammertrennvorrichtung (8), welche einen Öffnungsabschnitt des Strahlers abdichtet und einen Teil einer Wand der Vakuumver arbeitungskammer (6) darstellt; und
mit einer Einrichtung (5, 24, 25) zum Erzeugen eines Magnetfeldes, welches Elektronenzyklotronresonanz bei einer Frequenz der Mikrowelle im Plasma unter der Kammer trennvorrichtung (8) in der Vakuumverarbeitungskammer erzeugt;
dadurch gekennzeichnet, daß eine Einrichtung (12, 13, 14, 35, 36, 37) zum Verringern des Drucks zumindest innerhalb des Teils des Strahlers (4) vorgesehen ist, welcher mit der Kammertrennvorrichtung (8) abgeschlossen ist, derart, daß der Druckunterschied zwischen beiden Seiten der Kammer trennvorrichtung verringert wird, jedoch in dem Strahler keine Entladung erzeugt wird.
mit einer Einrichtung (2) zum Einführen einer Mikrowelle in die Vakuumver arbeitungskammer (6);
mit einem Strahler (4), der mit einem Ende der Mikrowelleneinführeinrichtung (2) verbunden ist und die Mikrowelle vergrößert, um eine große Fläche damit zu bestrahlen;
mit Kammertrennvorrichtung (8), welche einen Öffnungsabschnitt des Strahlers abdichtet und einen Teil einer Wand der Vakuumver arbeitungskammer (6) darstellt; und
mit einer Einrichtung (5, 24, 25) zum Erzeugen eines Magnetfeldes, welches Elektronenzyklotronresonanz bei einer Frequenz der Mikrowelle im Plasma unter der Kammer trennvorrichtung (8) in der Vakuumverarbeitungskammer erzeugt;
dadurch gekennzeichnet, daß eine Einrichtung (12, 13, 14, 35, 36, 37) zum Verringern des Drucks zumindest innerhalb des Teils des Strahlers (4) vorgesehen ist, welcher mit der Kammertrennvorrichtung (8) abgeschlossen ist, derart, daß der Druckunterschied zwischen beiden Seiten der Kammer trennvorrichtung verringert wird, jedoch in dem Strahler keine Entladung erzeugt wird.
2. Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß der Druck innerhalb des Teils des Strahlers (4),
welcher mit der Kammertrennvorrichtung (8) abgeschlossen ist, auf
einen Wert unterhalb von 1×10-4 Pascal oder zwischen 5 und 50
kPa verringert ist.
3. Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß der Druck innerhalb des Teils des Strahlers (4),
welcher mit der Kammertrennvorrichtung (8) abgeschlossen ist,
eingestellt ist auf einen Wert zwischen 5 und 50 kPa und eine
Kühleinrichtung zumindest dem Strahler (4) hinzugefügt ist, der mit
der Mikrowelleneinführeinrichtung (2) verbunden ist, um die Kammer
trennvorrichtung (8) durch Gaskonvektion innerhalb des Strahlers
(4) zu kühlen.
4. Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß ein Rohr (21) bereitgestellt ist, das einen Teil
verringerten Druckes der Mikrowelleneinführeinrichtung (2), mit
welchem der Strahler (4) verbunden ist, und die Vakuumverarbei
tungskammer (6) verbindet, und daß ein Sicherheitsventil (17) in
einem Mittelweg des Rohres (21) vorgesehen ist, derart, daß das
Sicherheitsventil (17) geöffnet wird, wenn der an der Kammertrenn
vorrichtung (8) anliegende Druckunterschied zwischen dem Teil
verringerten Druckes und der Vakuumverarbeitungskammer (6) einen
eine Zerstörung der Kammertrennvorrichtung bewirkenden Wert
übersteigt.
5. Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die Mikrowelleneinführeinrichtung (2) in deren
Mittelweg durch Verwenden eines Materials hermetisch abgedichtet
ist, welches eine Mikrowelle hindurchtreten läßt, und daß eine
Einrichtung (15, 16) zum Evakuieren des Raums zwischen einem Ort,
wo sie hermetisch abgedichtet ist, und der Kammertrennvorrichtung
(8) vorgesehen ist.
6. Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur nach Anspruch 5, dadurch
gekennzeichnet, daß eine Kühleinrichtung (19, 20) an dem Teil der
Mikrowelleneinführeinrichtung (2), wo sie hermetisch abgedichtet ist,
vorgesehen ist.
7. Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur nach Anspruch 6, dadurch
gekennzeichnet, daß die Kühleinrichtung (19, 20) eine Umgebung des
Teiles der Mikrowelleneinführeinrichtung (2) mit Wasser kühlt,
wo die Mikrowelleneinführeinrichtung (2) herrmetisch abgedichtet ist,
und zur gleichen Zeit das die Mikrowelleneinführungseinrichtung (2)
hermetisch abdichtende Material (3) mit Luft kühlt, indem kom
primierte Luft direkt dagegen geblasen wird, und zwar von einer
Seite der Mikrowelleneinführeinrichtung (2), welche auf Atmosphä
rendruck gehalten wird.
8. Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß der mit einem Ende der Mikrowelleneinführeinrichtung
(2) verbundene Strahler (4) als elektromagnetischer
hornförmiger Sender ausgebildet ist.
9. Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die Kammertrennvorrichtung (8) aus einer
Quarzplatte gefertigt ist.
10. Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur nach Anspruch 5, dadurch
gekennzeichnet, daß der Verbindungsteil, der die Einrichtung (16)
zum Evakuieren der Mikrowelleneinführeinrichtung (2) über ein
Ventil (15) mit der Mikrowelleneinführeinrichtung (2) verbindet,
abgedeckt ist mit einem mikrowellenreflektierenden Material.
11. Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die Apparatur eine Probenhalteeinrichtung (11)
aufweist, daß zumindest ein Teil einer Evakuierungsöffnung (38)
einer Einrichtung zum Evakuieren der Vakuumverarbeitungskammer
(6) so angeordnet ist, daß er an einer Wand der Vakuumverarbei
tungskammer von der Kammertrennvorrichtung (8) bis zumindest
einer Probenhalteoberfläche der Probenhalteeinrichtung (11) angeordnet
ist; daß eine Elektronenzyklotronresonanzebene (40) bei einer
räumlichen Position zwischen der Kammertrennvorrichtung (8) und
der Probenhalteoberfläche gebildet ist, und daß eine Wandoberfläche
an der Seite der Vakuumverarbeitungskammer aus einem mikrowellen
reflektierenden Material (32) gefertigt ist, so daß eine Symmetrie
der Mikrowelle behalten wird.
12. Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur nach Anspruch 11, dadurch
gekennzeichnet, daß die Evakuierungsöffnung (38) in Ausbreitungs
richtung der Mikrowelle hinter der Elektronenzyklotronresonanzebene
(40) angeordnet ist, daß die Probenhalteoberfläche bei einer Position
innerhalb der Evakuierungsöffnung (38) angeordnet ist, daß ein
mikrowellenreflektierendes Element (32) auf der Evakuierungsöffnung
(38) in einem Gebiet angeordnet ist, welches sich in der Ausbrei
tungsrichtung der Mikrowelle zumindest bis zu einer Position der
Probenhalteoberfläche erstreckt, und daß die Form des mikrowellen
reflektierenden Elements (38) in diesem Gebiet mit der der Form
der Wandoberfläche der Vakuumverarbeitungskammer (6) überein
stimmt (Fig. 2).
13. Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur nach Anspruch 11, dadurch
gekennzeichnet, daß die Evakuierungsöffnung (38) angeordnet ist an
einem Ort, der zumindest ein Gebiet von der Elektronenzyklotron
resonanzebene zu der Probenhalteoberfläche enthält, daß ein mikrowel
lenreflektierendes Element (32) auf der Evakuierungsöffnung (38) in
einem Gebiet angeordnet ist, welches sich in der Ausbreitungsrichtung
der Mikrowelle zumindest bis zu einer Position der Probenhalte
oberfläche erstreckt, und daß die Form des mikrowellenreflektierenden
Elements (38) in diesem Gebiet mit der Form der Wandoberfläche
der Vakuumverarbeitungskammer (6) übereinstimmt (Fig. 6).
14. Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur nach Anspruch 11, dadurch
gekennzeichnet, daß die Probenhalteoberfläche in Ausbreitungsrichtung
der Mikrowelle hinter der Evakuierungsöffnung (38) angeordnet
ist, daß die Elektronenzyklotronresonanzebene sich in einem Gebiet
entweder innerhalb der Evakuierungsöffnung (38) oder in einem
Gebiet vor oder hinter der Evakuierungsöffnung (38) befindet, daß
ein mikrowellenreflektierendes Element (32), welches Mikrowellen
reflektiert, Gas hindurchtreten läßt, und dessen Form mit der Form
der Wandoberfläche der Vakuumverarbeitungskammer (6) überein
stimmt, innerhalb der Evakuierungsöffnung (38) angeordnet ist (Fig.
7, 8, 9).
15. Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur nach Anspruch 11, dadurch
gekennzeichnet, daß die Evakuierungsöffnung (38) an einem Ort
angeordnet ist, einschließlich eines Gebietes von der Elektronenzyklo
tronresonanzebene (40) bis zu der Probenhalteoberfläche, daß ein
mikrowellenreflektierendes Element (32) auf der Evakuierungsöffnung
(38) in einem Gebiet angeordnet ist, welches sich in der Ausbrei
tungsrichtung der Mikrowelle zumindest bis zu einer Position der
Probenhalteoberfläche erstreckt, und daß die Form des mikrowellen
reflektierenden Elements (32) mit der Form der Wandoberfläche der
Vakuumverarbeitungskammer (6) in diesem Gebiet übereinstimmt
(Fig. 13).
16. Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur nach Anspruch 11, dadurch
gekennzeichnet, daß sie versehen ist mit einer Probenaustauschöffnung
(46) in der Vakuumverarbeitungskammer (6), durch welche
eine Probe ausgetauscht werden kann, ohne das Vakuum darin zu
brechen.
17. Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur nach Anspruch 12, dadurch
gekennzeichnet, daß das an der Evakuierungsöffnung (38) angeordnete
mikrowellenreflektierende Element (32) aus einem leitenden
Netz (41) besteht.
18. Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur nach Anspruch 12, dadurch
gekennzeichnet, daß das an der Evakuierungsöffnung angeordnete
mikrowellenreflektierende Element (32) aus einer leitenden Platte
besteht, in welcher Löcher (42) ausgebildet sind.
19. Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur nach Anspruch 11, dadurch
gekennzeichnet, daß ein Gasausblasabschnitt (30) innerhalb der
Vakuumverarbeitungskammer (6) in Ausbreitungsrichtung der Mikrowelle
hinter der Kammertrennvorrichtung (8) und vor der Elektronen
zyklotronresonanzebene und der Probenhalteeinrichtung (11)
angeordnet ist.
20. Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur nach Anspruch 19, dadurch
gekennzeichnet, daß die Einrichtung (24, 25) zum Erzeugen eines
Magnetfeldes zum Erzeugen von Elektronenzyklotronresonanz an
einer Außenwand der Vakuumverarbeitungskammer (6) angeordnet
ist, welche in einer Hornform vergrößert ist.
21. Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur nach Anspruch 19, dadurch
gekennzeichnet, daß sie weiterhin eine Einrichtung aufweist zum
Einführen von Reaktionsgas in den Gasausblasabschnitt (30) zum
Bilden eines Films auf einer Probe.
22. Mikrowellenplasmaverarbeitungsapparatur nach Anspruch 19, dadurch
gekennzeichnet, daß sie weiterhin eine Einrichtung aufweist zum
Einführen von Reaktionsgas in den Gasausblasabschnitt (30) zum
Ätzen einer Probe.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26642890A JP2901331B2 (ja) | 1990-10-05 | 1990-10-05 | マイクロ波プラズマ処理装置 |
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JPS62254419A (ja) * | 1986-04-28 | 1987-11-06 | Hitachi Ltd | プラズマ付着装置 |
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JPS637377A (ja) * | 1986-06-28 | 1988-01-13 | Shimadzu Corp | 気相成膜装置 |
-
1991
- 1991-10-04 DE DE19914133030 patent/DE4133030C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
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DE-Z: Elektronik-Produktion und Prüftechnik(EPP), Februar 1990, S. 77-79 * |
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