DE4129359C2 - Laserinterferometrischer Sensor - Google Patents
Laserinterferometrischer SensorInfo
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Description
Die Erfindung betrifft einen laserinterferometrischen Sensor,
der im Oberbegriff des Anspruches 1 genannten Art.
Es ist bekannt, laserinterferometrische Sensoren zur Erfassung
mechanischer Größen einzusetzen.
Gegenüber elektrischen Sensoren zur Erfassung nichtelektrischer
Größen besitzen laserinterferometrische Sensoren die Vorteile
einer hohen Auflösung, elektromagnetischer Störsicherheit und
einer elektronikfreien, reinoptischen Sensorkonzeption.
Der in der Patentschrift DD 262 981 A3 beschriebene Sensor er
faßt Beschleunigungen und Neigungen, wobei die Auslenkung zweier
separater Biegeelemente mit seismischer Masse interferometrisch
erfaßt wird. Die angegebene Lösung führt allerdings aufgrund der
nicht gekoppelten Biegeelemente zu erhöhter Quer- und Torsions
empfindlichkeit. Desweiteren ist zur Umlenkung der Teilstrahlen
des Interferometers ein zusätzliches Umlenkprisma notwendig.
In der Patentschrift US 307 3 168 wird ein interferometrischer
Beschleunigungssensor mit Parallelfederführung beschrieben. Die
Lösung beinhaltet jedoch aufgrund der Verwendung eines konven
tionellen Interferometers einen unsymmetrischen Sensoraufbau.
Diesen Mangel, der zu erhöhter Temperaturempfindlichkeit führt,
besitzt auch der in der Patentschrift US 294 8 152 angeführte
Vorschlag.
Nach DE 36 21 876 A1 ist ein Druckmeßwandler zur hochgenauen Druck
messung in Gasen und Flüssigkeiten bekannt, bei dem an den Enden einer
Bourdonfeder kippinvariante Reflektoren eines Interferometers angebracht
sind, die als Tripelprismen ausgeführt sind und bei dem das Interferometer
einen aus zwei Prismen bestehenden optischen Teiler enthält.
Ferner ist in DE 30 12 811 ein Meßwandler, der insbesondere zur digitalen
Kraftwandlung vorgesehen ist, beschrieben. Bei diesen Meßwandler ist an
einem Grundkörper das eine Ende einer Schraubenfeder befestigt, während
das andere Ende mit einem drehbar im. Grundkörper gelagerten Teil verbun
den ist. Im Zentrum der Schraubenfeder ist ein Interferometer angeordnet,
wobei der optische Teiler mit dem Grundkörper und ein kippinvarianter
Reflektor fest mit dem drehbar gelagerten Teil verbunden sind.
Mit dem Grundkörper fest verbunden ist eine Teilergrundplatte und ein
Umlenkprisma. An einem drehbar am Grundkörper gelagerten Teil ist ein
kippinvarianter Reflektor befestigt. Der optische Teiler besteht aus der
Teilergrundplatte und zwei an dieser Teilergrundplatte angesprengten Teiler
platten, deren freie Oberflächen teilverspiegelt sind.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen weitgehend tem
peraturunempfindlichen interferenzoptischen Sensor mit geringer
Torsions- und Querempfindlichkeit zur Erfassung von Beschleuni
gungen und Neigungswinkeln zu schaffen, der ein einfaches Inter
ferometer enthält und vollständig lichtwellenleitergekoppelt
ist.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch Gelöst, daß auf einem
symmetrischen Verformungskörper, beispielsweise einer Parallel
federführung, ein symmetrisches Interferometer befestigt ist,
mit dessen Hilfe die Deformation des Verformungskörpers gemessen
wird.
Der Verformungskörper kann aus zwei Biegeelementen und zwei
Koppeln bestehen, wobei die Biegeelemente an ihren Verbindungs
stellen zu den Koppeln zweckmäßigerweise eine Materialverstär
kung aufweisen. Eine der beiden Koppeln wird fest mit einer
Grundplatte verbunden, die den Strahlteiler des Interferometers
trägt. An der zweiten, über die Biegeelemente beweglichen Kop
pel, sind zwei kippinvariante Reflektoren befestigt.
Der Verformungskörper, bestehend aus Koppeln und Biegeelementen
kann auch aus einem Stück gefertigt sein. Als Material wird
zweckmäßigerweise hochwertiges elastisches Material, beispiels
weise Quarzglas, verwendet.
Das Interferometer besteht aus einem Strahlteiler mit Verspiege
lungen und zwei vorzugsweise kippinvarianten Reflektoren.
Der Strahlteiler besteht erfindungsgemäß aus zwei geometrisch
gleichen Prismen mit rhombischer Grundfläche, deren Verbindungs
fläche die Teilerschicht trägt. Der spitze Winkel der Prismen
beträgt 60 Grad.
Nach der Strahlteilung in der Teilerschicht und jeweils einer
Totalreflektion treten die Teilstrahlen im Winkel Von 180 Grad
zueinander aus dem Strahlteiler aus und werden von Zwei mit dem
beweglichen Teil des Verformungskörpers fest verbundenen Reflek
toren zum Strahlteiler zurückreflektiert. Dort treffen die Teil
strahlen auf Oberflächenspiegel, die die Strahlen zurücklaufen
lassen, um in der Teilerschicht miteinander zu interferieren.
Das Interferenzbild kann am Ausgang des Strahlteilers beispiels
weise mit Hilfe von Lichtwellenleitern abgetastet werden.
Eine Deformation des Verformungskörpers führt über die gekoppel
te Bewegung der kippinvarianten Reflektoren zu entgegengesetzten
Gangunterschieden in den Interferometerarmen, wodurch eine dop
pelte Empfindlichkeit erreicht wird.
Eine zweckmäßige Weiterbildung der Erfindung besteht darin, daß
monochromatisches und breitbandiges Licht im gleichen Interfero
meter zwei Interferenzbilder erzeugt, wobei das Interferenzbild
des breitbandigen Lichtes zur Steuerung des Zählvorganges der
monochromatischen Interferenzstreifen dienen kann.
Anhand der Zeichnung soll die Erfindung an einem Ausführungsbei
spiel erläutert werden.
Fig. 1 zeigt einen laserinterferometrischen Sensor, bestehend
aus Verformungskörper, Interferometer und Lichtwellenleiterbe
leuchtungs- und Lichtwellenleiterabtasteinheit. Der Verformungs
körper wird von einem Blattfederpaar 1, einer mit der Grundplat
te 3 fest verbundenen Koppel 2.1 und durch eine freie Koppel 2.2
gebildet. Das Interferometer zur Erfassung der Auslenkung der
freien Koppel 2.2 besteht aus einem Strahlteiler 4 und zwei
kippinvarianten Reflektoren 8, wobei der Strahlteiler 4 fest mit
der Grundplatte 3 und die kippinvarianten Reflektoren 8 fest mit
der freien Koppel verbunden sind. Ebenfalls auf der Grundplatte
3 sind die Lichtwellenleiterbeleuchtungseinheit 9 und die Licht
wellenleiterabtasteinheit 10 befestigt, die ihrerseits über
Lichtwellenleiter 11, 12 mit einer nicht dargestellten Auswerte
einheit bzw. mit den Lichtquellen verbunden sind.
Der Strahlteiler 4 besteht aus zwei gleichen Prismen 4.1 und 4.2
mit rhombischer Grundfläche. Die Verbindungsfläche der beiden
Prismen trägt die Teilerschicht 5. An den sich gegenüberliegen
den Teilstrahlaustrittflächen sind Entspiegelungen 7 und Ver
spiegelungen 6 angebracht.
Das Interferometer wird über die Lichtwellenleiterbeleuchtungs
einheit 9 mit Laserlicht und mit Weißlicht beleuchtet. Im Inter
ferometer entstehen zwei Interferenzbilder, die über eine Licht
wellenleiterabtasteinheit 10 abgetastet werden.
Nach der Teilung der jeweiligen Strahlbündel an der Teiler
schicht 5 erfahren die Teilstrahlen in den Prismen 4.1 und 4.2
eine Totalreflektion, wodurch eine Strahlumlenkung von 180 Grad
zueinander erreicht wird. Die Teilstrahlen verlassen den Strahl
teiler durch die Entspiegelungen 7, werden von den kippinvarian
ten Reflektoren 8 parallel versetzt zum Strahlteiler 4 zurückge
worfen und treffen dort auf die Verspiegelungen 6. Nach erfolg
ter Reflexion laufen die Teilstrahlbündel den soeben beschriebe
nen Weg zurück und interferieren nach ihrer Überlagerung durch
die Teilerschicht 5.
Unter dem Einfluß einer Meßgröße lenkt die freie Koppel 2.2 mit
den kippinvarianten Reflektoren 8 aus. Die Interferometerteil
strahlen erfahren dadurch entgegengesetzte Gangunterschiede, und
die auswandernden Interferenzstreifen können nach bekannter Art
in einer nicht dargestellten Auswerteeinheit gezählt werden. Der
Zählvorgang kann zusätzlich mit Hilfe der Weißlichtinterfero
grammsignale gesteuert werden.
Claims (9)
1. Laserinterferometrischer Sensor, insbesondere zur Messung von
Beschleunigungen und Neigungen, bestehend aus einem Verfor
mungskörper, einem Interferometer mit Strahlteiler und zwei
kippinvarianten Reflektoren, einer Lichtwellenleiterbeleuch
tungs- und Lichtwellenleiterabtasteinheit für monochromati
sches und breitbandiges Licht sowie einer Auswerteeinheit,
dadurch gekennzeichnet, daß der Verformungskörper aus über
zwei Koppeln (2.1) und (2.2) verbundenen Biegeelementen (1)
besteht, wobei eine Koppel (2.1) fest mit einer Grundplatte
(3) verbunden ist, auf der der Strahlteiler (4) und die
Lichtwellenleiterbeleuchtungs- und -abtasteinheit (9) und
(10) befestigt sind und daß die zweite, über die Biegeelemen
te (1) verbundene freie Koppel (2.2), zwei kippinvariante Re
flektoren (8) trägt.
2. Laserinterferometrischer Sensor nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß der Strahlteiler (4) aus zwei verbunde
nen, geometrisch gleichen Prismen (4.1) und (4.2) mit rhombi
scher Grundfläche besteht, deren Verbindungsfläche eine Tei
lerschicht (5) trägt und deren spitzer Winkel 60 Grad beträgt
und daß die der Teilerschicht jeweils gegenüberliegenden
Prismenflächen auf der an den stumpfen Winkeln der Prismen
angrenzenden Hälfte eine Verspiegelung (6) und eine Strahlein- und -austrittsfläche (7) tragen.
3. Laserinterferometrischer Sensor nach Anspruch 2, da
durch gekennzeichnet, daß die Strahlein- und -austrittsflä
chen (7) entspiegelt sind.
4. Laserinterferometrischer Sensor nach Anspruch 2 oder 3 da
durch gekennzeichnet, daß die kippinvarianten Reflektoren (8)
den Verspiegelungen (6) und den Strahlein- und -austrittsflächen
(7) jeweils gegenüber angeordnet sind.
5. Laserinterferometrischer Sensor nach Anspruch 1 da
durch gekennzeichnet, daß die kippinvarianten Reflektoren (8)
fest mit der freien Koppel (2.2) verbunden sind.
6. Laserinterferometrischer Sensor nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die Biegeelemente (1) und die Koppeln
(2.1) und (2.2) aus einem Körper hergestellt sind.
7. Laserinterferometrischer Sensor nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß Koppeln und Biegeelemente aus miteinander
verbundenen Körpern gleichen Materials oder aus verschiedenen
Materialien mit gleichen thermischen Ausdehnungskoeffizienten
bestehen.
8. Laserinterferometrischer Sensor nach Anspruch 7, dadurch
gekennzeichnet, daß die Biegeelemente (1) an ihren Enden
Verstärkungen aufweisen, über die sie mit den Koppeln (2.1)
und (2.2) verbunden sind.
9. Laserinterferometrischer Sensor nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß das Interferometer mit monochromatischem
und mit breitbandigem Licht über Lichtwellenleiter (11) be
leuchtet wird und daß die Interferenzbilder über Lichtwellen
leiter (12) abgetastet werden.
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