DE4123924C2 - Verfahren zur Analyse von Stoffen, insbesondere Flüssigkeiten - Google Patents
Verfahren zur Analyse von Stoffen, insbesondere FlüssigkeitenInfo
- Publication number
- DE4123924C2 DE4123924C2 DE19914123924 DE4123924A DE4123924C2 DE 4123924 C2 DE4123924 C2 DE 4123924C2 DE 19914123924 DE19914123924 DE 19914123924 DE 4123924 A DE4123924 A DE 4123924A DE 4123924 C2 DE4123924 C2 DE 4123924C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- location
- determined
- intensity values
- deflection
- values
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
- G01N21/4133—Refractometers, e.g. differential
- G01N2021/4146—Differential cell arrangements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
- G01N2021/4166—Methods effecting a waveguide mode enhancement through the property being measured
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Analyse von Stoffen, insbesondere
Flüssigkeiten, bei dem auf der Grundlage einer konzentrationsabhängigen
Brechzahl der in einer Differentialküvette erzeugten Ablenkung eines
Strahlenbündels erfolgen.
Das Verfahren findet vor allem auch dann Anwendung, wenn eine Veränderung
der Trübung aufgrund von Schmutzpartikeln und/oder der Lichttransmission
während des Durchflusses der Probe durch die Differentialküvette erfolgt.
Zur Erzielung einer hohen Meßgenauigkeit und einer Unabhängigkeit von äußeren
Störungen bevorzugt man in der Refraktometrie Geräte, die nach dem Prinzip der
Lichtablenkung in einer Differentialküvette arbeiten. Die Differentialküvette wird
einerseits mit der Probe, andererseits mit einer Referenzflüssigkeit gefüllt.
Derartige Refraktometer auf der Grundlage der Lichtablenkung verwenden
zumeist spezielle Methoden zur Kompensation der Lichtablenkung, indem z. B. zur
Detektion zwei Fotoempfänger verwendet werden oder aber nur ein
Fotoempfänger, der mit moduliertem Licht beaufschlagt wird. Ein Refraktometer
mit einem Fotoempfänger ist beispielsweise in DD 237 085 beschrieben.
Besser geeignet sind ortsauflösende Empfänger, um derartige Lichtablenkungen zu
ermitteln. Es hat sich gezeigt, daß unter bestimmten Voraussetzungen neben der
Bestimmung der Ortsposition über Vergleiche von Amplitudenwerten
Transmissions- und unter Ausnutzung der Verbreiterung des Analysensignals
Streulichtmessungen möglich sind. In der DE 40 38 123 wird ein
Differentialrefraktometer zur Messung der Brechzahl einer Probe beschrieben,
wobei die Ablenkung als fotometrische Mitte aus den ortsabhängigen
Intensitätswerten ermittelt wird.
Um eine Auflösung über die digialen Pixelschritte hinaus zu erreichen, müßten mit
bekannten Methoden für jeden Parameter wenigstens zwei Abfragezyklen
durchlaufen werden. Die resultierende Vielzahl der Abfragezyklen würde eine
relativ lange Zeit in Anspruch nehmen, während der eine schnell durchfließende
Probe sich bereits verändert haben kann. Meßfehler entstehen dadurch, daß nicht
mehr die aktuellen Meßparameter ausgewiesen werden.
Aufgabe der Erfindung ist es, die für eine hohe Auflösung notwendige Zahl der
Abfragezyklen für die Meßwerterfassung auch bei mehreren zu bestimmenden
Parametern gering zu halten und damit einen erhöhten und vor allem aktuellen
Informationsgehalt über die fließende Probe zu erlangen.
Die Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein Verfahren zur Analyse von Stoffen,
insbesondere Flüssigkeiten, durch Messung der in einer Differentialküvette
erzeugten Ablenkung eines Strahlenbündels gelöst, indem in Richtung der
Ablenkung ortsabhängige Intensitätswerte in zwei aufeinanderfolgenden Schritten
erfaßt werden, wobei im ersten Schritt für die Gesamtheit der gemessenen
Intensitätswerte Ai durch Summenbildung eine Gesamtintensität S und daraus
Teilintensitäten S/2 und S/t mit t <2 als obere Grenzwerte ermittelt werden. Im
zweiten Schritt werden aus den ortsabhängigen Intensitätswerten Ai, jeweils mit
i = 1 beginnend, aufaddierte Teilsummen
gebildet, deren ortskennzeichnende Indizes
h und k so bestimmt sind, daß die zugehörigen
Intensitätswerte Ah und Ak die aufaddierten Teilsummen
S(h-1) und S(k-1) über den jeweiligen Grenzwert S/t und S/2
hinaus erhöhen. Mit den in beiden Schritten ermittelten
Intensitäten und der in Richtung der Ablenkung gemessenen
Breite b der einzelnen Empfangselemente eines ortsauflösenden
Empfängers wird die von der Brechzahl des zu analysierenden Stoffes
abhängige Ablenkung als fotometrische Mitte M
nach
ein Maß für die Lichtstreuung Wt nach
und ein Maß für die Transmission T nach
T = S/SO
bestimmt, wobei SO die Summe aller Intensitätswerte Ai für
eine an der Stelle des zu analysierenden Stoffes eingeführte Bezugssubstanz ist.
Die Erfindung soll nachstehend anhand der schematischen
Zeichnung näher erläutert werden. Es zeigt
Fig. 1 eine Anordnung zur Realisierung des erfindungsgemäßen
Verfahrens,
Fig. 2 den schematischen Verlauf einer zur Messung vorliegenden
Kurve,
Fig. 3 den Verlauf der Lichtintensität über eine Zeile.
Gemäß Fig. 1 sind einer Lichtquelle 1 im Strahlengang 0-0
eine Kondensorlinse 2, ein Eintrittsspalt 3, ein Objektiv
4, eine Differentialküvette 5 und ein Spiegel 6 nachgeordnet.
Das durch die Differentialküvette 5 hindurchtretende
Strahlenbündel wird am Spiegel 6 nahezu in sich selbst reflektiert,
so daß die Differentialküvette 5 ein zweites Mal
durchsetzt und das Spaltbild nahe dem Eintrittsspalt 3 abgebildet
wird. Ein Spiegel 7 im reflektierten Strahlenbündel
erzeugt eine Umlenkung auf einen an der Stelle des Spaltbildes
angeordneten ortsselektiv wirkenden Empfänger 8. Mit 9
ist eine Einheit bezeichnet, die der Verstärkung der Signale,
deren Auswertung und der Darstellung der Ergebnisse
dient. Zur Erfassung eines Referenzsignals ist eine Lichtleitfaser
10 vorgesehen, deren Eintrittsöffnung nahe dem
Spalt 3 angeordnet ist und die mit ihrer Austrittsöffnung an
einen mit der Einheit 9 gekoppelten Empfänger 11 geführt ist.
In dem gemäß Fig. 2 dargestellten schematischen Kurvenverlauf
sind mit Ai die von den Pixeln des ortsselektiv wirkenden
Empfängers gemessenen Intensitätswerte bezeichnet. Die als
Maßverkörperung für den Ort dienenden Pixel sind durchnumeriert.
Der Index i (mit i = 1, 2, . . . z) verdeutlicht
das. Außerdem besitzt jedes Pixel eine endliche Ausdehnung b
in Richtung einer möglichen Ablenkung des Strahlenbündels.
Der Kurvenverlauf 1 in Fig. 3 ist ohne Auflösung der
einzelnen Pixelwerte dargestellt und umschließt die aus den
Intensitätswerten Ai als Summe abgebildete Gesamtintensität
S = S(z). Die Fläche 2 stellt eine Teilintensität S/2, die
Fläche 3 eine Teilintensität S/t mit t <2, z. B. t = 8 dar.
Durch Pixel repräsentierte Orte h und k stehen zu den
Teilintensitäten S/2 und S/t in folgender Beziehung
S(h-1) S/t <S(h) und
S(k-1) S/2 <S(k).
S(k-1) S/2 <S(k).
S(h-1), S(k-1), S(h), S(k) sind Teilsummen der
Intensitätswerte Ai, die fortlaufend von 1 beginnend bis zum
jeweiligen Pixel gebildet werden.
Die Bestimmung der Ablenkung des Strahlenbündels, die eine
Brechzahländerung charakterisiert, sowie Maße für die Streuung
und die Transmission ergeben sich aus den bereits angegebenen
Gleichungen.
Claims (1)
- Verfahren zur Analyse von Stoffen, insbesondere Flüssigkeiten, durch Messung der in einer Differentialküvette erzeugten Ablenkung eines Lichtstrahlenbündels, dadurch gekennzeichnet,
daß in Richtung der von einer Brechzahländerung verursachten Ablenkung ortsabhängige Intensitätswerte Ai von einem ortsauflösenden Empfänger mit Empfangselementen der Breite b erfaßt werden,
daß in einem ersten Auswerteschritt durch Summenbildung der gemessenen Intensitätswerte Ai eine Gesamtintensität S und daraus zwei Grenzwerte S/2 und S/t mit t <2 ermittelt werden,
daß in einem zweiten Auswerteschritt aus den ortsabhängigen Intensitätswerten Ai aufaddierte Teilsummen gebildet werden, deren ortskennzeichnende Indizes h und k so bestimmt sind, daß die zugehörigen Intensitätswerte Ah und Ak die aufaddierten Teilsummen S(h-1) und S(k-1) über den jeweiligen Grenzwert S/t und S/2 hinaus erhöhen,
und daß mit den in den beiden Schritten ermittelten Intensitäten und den Indizes h und k, die Ortspositionen h·b und k·b kennzeichnen,- - die von der Brechzahl des analysierenden Stoffes abhängige Ablenkung des Lichtstrahlenbündels als fotometrische Mitte M bestimmt wird, wobei die fotometrische Mitte M bestimmt wird nach
- - ein Maß für die Streuung Wt bestimmt wird nach
- - und ein Maß für die Transmission T nach T = S/SObestimmt wird, wobei SO die Summe aller Intensitätswerte Ai für eine an der Stelle des zu analysierenden Stoffes eingeführte Bezugssubstanz ist.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19914123924 DE4123924C2 (de) | 1991-07-19 | 1991-07-19 | Verfahren zur Analyse von Stoffen, insbesondere Flüssigkeiten |
JP21327392A JPH05203568A (ja) | 1991-07-19 | 1992-07-20 | 種々の物質、中でも液体を分析する方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19914123924 DE4123924C2 (de) | 1991-07-19 | 1991-07-19 | Verfahren zur Analyse von Stoffen, insbesondere Flüssigkeiten |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4123924A1 DE4123924A1 (de) | 1993-01-21 |
DE4123924C2 true DE4123924C2 (de) | 1995-03-09 |
Family
ID=6436516
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19914123924 Expired - Fee Related DE4123924C2 (de) | 1991-07-19 | 1991-07-19 | Verfahren zur Analyse von Stoffen, insbesondere Flüssigkeiten |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05203568A (de) |
DE (1) | DE4123924C2 (de) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4329102C2 (de) * | 1993-08-30 | 1997-10-16 | Daimler Benz Ag | Vorrichtung zum Messen der Dichteänderung von Gasen |
US7027138B2 (en) * | 2004-01-29 | 2006-04-11 | Wyatt Technology Corporation | Enhanced sensitivity differential refractometer incorporating a photodetector array |
US20070287301A1 (en) | 2006-03-31 | 2007-12-13 | Huiwen Xu | Method to minimize wet etch undercuts and provide pore sealing of extreme low k (k<2.5) dielectrics |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DD237085A3 (de) * | 1979-08-02 | 1986-07-02 | Peter Eisenhut | Automatisches wechsellichtrefraktometer |
US5157454A (en) * | 1989-11-30 | 1992-10-20 | Otsuka Electronics Co., Ltd. | Differential refractometer |
-
1991
- 1991-07-19 DE DE19914123924 patent/DE4123924C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-07-20 JP JP21327392A patent/JPH05203568A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH05203568A (ja) | 1993-08-10 |
DE4123924A1 (de) | 1993-01-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE68908094T2 (de) | Teilchenmessvorrichtung. | |
DE69331188T2 (de) | Vorrichtung und verfahren zur molekularen charakterisierung | |
DE3750963T2 (de) | Reflektometer. | |
DE69926398T2 (de) | System mit zwei weglängen zum nachweis der lichtabsorption | |
DE3226370A1 (de) | Remissionsmesskopf | |
DE10392315B4 (de) | Optische Konfiguration und Verfahren für differentielle Brechungskoeffizientenmessungen | |
DE2340252A1 (de) | Verfahren und einrichtung zur auszaehlung von biologischen partikeln | |
DE112009002702T5 (de) | Automatischer Analysator | |
DE4223840C2 (de) | Refraktometer | |
WO2001063253A1 (de) | Optisches messsystem | |
DE69017057T2 (de) | Apparat zur Messung von Teilchen in einer Flüssigkeit. | |
DE60212910T2 (de) | Durchflusszellesystem zur Löslichkeitsprüfung | |
DE2933301A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum bestimmen der konzentration eines bestandteils in einer probe | |
EP0472899B1 (de) | Photometrische Messeinrichtung | |
DE69108682T2 (de) | Vorrichtung zur Messung des Durchmessers und der Geschwindigkeit eines Teilchens. | |
DE3541165C2 (de) | ||
DE4123924C2 (de) | Verfahren zur Analyse von Stoffen, insbesondere Flüssigkeiten | |
DE10057948A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Benutzerführung in der Rastermikroskopie | |
DE69123990T2 (de) | Gerät zur Messung der Grössenverteilung von beugenden/streuenden Teilchen | |
DE4117024C2 (de) | Vorrichtung zum Auswerten von Aggregationsbildern | |
DE3621567A1 (de) | Mit reflektiertem licht arbeitender oberflaechenrauheitsanalysator | |
DE3211724A1 (de) | Spektralphotometer | |
DE69318632T2 (de) | Einrichtung zur Messung von Teilchen | |
DE1962551A1 (de) | Laser-Doppler-Stroemungssonde mit ?rosser raeumlicher Aufloesung | |
DE102007015611A1 (de) | Verfahren zur nichtdispersiven Infrarot-Gasanalyse |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |