DE4329102C2 - Vorrichtung zum Messen der Dichteänderung von Gasen - Google Patents
Vorrichtung zum Messen der Dichteänderung von GasenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Messen der Dichteänderung
von Gasen mit optischen Mitteln nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Bekannt ist, daß man die Dichte von Stoffen unter Nutzung des
Zusammengangs zwischen Berechnungsindex und Dichte (Lorentz-Lorenz-Be
ziehung) mit optischen Mitteln durch die Messung des Brechungsindex
bestimmen kann. Den Berechnungsindex mißt man mit Refraktometern,
wobei man vom Wirkprinzip her zwischen Refraktometern unterscheidet, die
die Lichtbrechung, die Reflexion oder die Interferenz verwenden
(Kohlrausch, Praktische Physik, Bd. 1). Bisher sind
Refraktometeranordnungen daraufhin ausgelegt, den Brechungsindex eines
Stoffes möglichst genau zu messen. Das gelingt besonders gut mit
Differentialrefraktometern, d. h. durch Messung der
Brechungsindexdifferenz im Vergleich zu einer Referenzsubstanz, für die
der Brechungsindex genau bekannt ist. Derartige Verfahren sind für die
Messung von Dichteänderungen nicht geeignet, weil der Meßbereich durch
die Dichte der Referenzsubstanz zu stark eingeschränkt ist.
Nach Kohlrausch mißt man den Brechungsindex von Gasen mit Hohlprismen,
die mit dem zu untersuchenden Gas gefüllt werden. Man nutzt dazu die
Lichtbrechung aus. Gemessen wird die Winkeländerung der Lichtablenkung
relativ zu einer Referenzsubstanz (Luft). Dafür werden spezielle
Fernrohranordnungen eingesetzt. Derartige Hohlprismen sind für einen rein
optischen Dichtesensor nicht geeignet, da die Meßgröße eine
Winkeländerung ist.
Legt man das Hohlprisma so aus, daß die Änderung des Lichtablenkwinkels
eine schwache Funktion der Dichteänderung ist, wird der Sensorkopf sehr
groß. Ist das Hohlprisma jedoch so konstruiert, daß sich der
Lichtablenkwinkel stark mit der Dichte ändert, dann ist dieser
Zusammenhang stark nichtlinear, so daß sich die Meßgröße mit rein
optischen Mitteln nicht übertragen läßt.
Bekannt sind auf der Reflexion basierende Refraktometer, die im Bereich
des Grenzwinkels der Totalreflexion arbeiten. Ebenfalls bekannt sind auf
der Reflexion basierende Refraktometer, bei denen das Licht senkrecht
oder nahezu senkrecht auf eine optische Grenzfläche trifft. In der
DE 28 05 398 B1 ist ein Refraktometer beschrieben, das im Bereich des
Grenzwinkels der Totalreflexion arbeitet. Ein optisch dichtes Medium mit
bekanntem Brechungsindex wird mit einer optisch dünneren zu messenden
Substanz so kontaktiert, daß eine optische Grenzfläche entsteht. Mit
geeigneten optischen Mitteln wird nun ein Lichtstrahl aus dem optisch
dichteren Medium unter einem Winkel im Bereich des Grenzwinkels der
Totalreflexion auf diese Grenzfläche gerichtet. Gemessen wird die Leistung
des reflektierten Strahls, die eine Funktion des Brechungsindex der zu
diagnostizierenden Substanz ist.
In diese Kategorie von Refraktometern fällt auch das in der DE 35 43 684 A1
beschriebene rein faseroptische Refraktometer. Hier wird der Kern der
Lichtleitfaser teilweise freigelegt und dieser Bereich mit der zu
untersuchenden Substanz in Berührung gebracht. In Abhängigkeit vom
Brechungsindex der Substanz ändern sich für diesen Bereich die
Bedingungen der Lichtleitung und damit die am Faserende austretende
Lichtleistung.
In der DE 41 25 036 C1 ist ein faseroptischer Sensor zur Messung des
Brechungsindex von Flüssigkeiten und Gasen beschrieben, der auf der
Reflexion des Lichtes am freien Ende einer Lichtleitfaser basiert und als
Differentialrefraktometer ausgebildet ist. Die Anordnung als Differen
tialrefraktometer schränkt den Meßbereich des Brechungsindexes sehr stark
ein und ist deshalb für einen Dichtesensor nicht geeignet. Die Reflexion am
freien Ende der Lichtleitfaser, das mit der zu diagnostizierenden Substanz
in Berührung gebracht wird, beinhaltet, daß ein großer Teil des Lichtes
senkrecht auf die Grenzfläche trifft.
Aus der DE 36 15 131 A1 ist eine Meßvorrichtung zur Dichtebestimmung von Gasen in
verschlossenen Kammern bekannt. Die Kammern werden von einander gegenüberliegen
den Fenstern verschlossen, welche gegenüber dem Meßstrahl geneigt sind. Diese Anord
nung hat den Nachteil, daß der Detektor als Strahlteiler ein Prisma aufweist und zur Kolli
mation zusätzlich Linsen benötigt.
Aus der 0 233 327 A2 ist eine Vorrichtung zum optischen Mes
sen der Dichte von Gasen bekannt, bei der der Lichtstrahl ein Hohlprisma zweimal durch
setzt und mittels einer Linse auf eine Lichtleiterzeile ausgerichtet wird. Da der Meßlicht
strahl bei Dichteänderung um einen bestimmten Winkel geändert wird, trifft der Lichtstrahl
auf der Lichtleitfaserzeile in Abhängigkeit von der Dichte unter verschiedenen Winkeln auf.
Bei den heute verwendeten Monomodefasern ist aber die numerische Apertur so klein,
daß man bei Abweichungen des Einfallswinkels um 10 bereits beträchtliche Intensitätsein
bußen zu berücksichtigen hat.
Die deutsche Auslegeschrift DE-AS 12 35 191 behandelt eine Meßvorrichtung zum Detektie
ren von Medien mit unterschiedlichem Brechungsindex. Im direkten Strahlenverlauf zwi
schen Lichtquelle und Fotozelle befindet sich ein durch zwei lichtdurchlässige Wände ab
gegrenzter und mit dem zu detektierenden Medium gefüllter Raum, welcher ein gerichtetes
Lichtbündel je nach Brechungsindex ablenkt. Die Anordnung dient hier allerdings nur zur
Leckanzeige.
Aus dem Patent US 5,015,091 von der diese Erfindung ausgeht, ist eine Vorrichtung zur
Bestimmung des Brechungsindex in Flüssigkeiten bekannt, bei der ein Lichtstrahl zwei
Prismen durchläuft, zwischen denen sich die Meßflüssigkeit befindet. Die Ablenkung des
Lichtstrahls wird in einer Signalerfassungseinheit bestimmt. Bei einer Variante des Verfah
rens ist nur ein Prisma vorhanden, das vom Meßlichtstrahl zweimal durchlaufen wird. Die
Signalerfassungseinheit ist ein Detektor mit zwei Elektroden, welche je nach Lage des
Lichtflecks ein ortsabhängiges Signal erzeugen, welches einem Verstärker zugeführt wird.
Die Abhängigkeit des Reflexionskoeffizienten des Lichtes vom
Brechungsindex der zu untersuchenden Substanz ist bei senkrechtem Einfall
zu gering. Darüber hinaus haben alle auf der Reflexion basierende
Refraktometer den Nachteil, daß die Abhängigkeit der Meßgröße vom
Brechungsindex zu gering ist, um in einem rein optischen Dichtesensor für
Gase mit Vorteil verwendet werden zu können.
Die Interferenz und hier wiederum die Vielstrahl-Interferometrie (z. B.
Fabry-Perot Interferometer) ist die empfindlichste Methode für die Messung
des Brechungsindexes einer Substanz. Alle Interferometer haben jedoch den
Nachteil, daß sie nur Relativmessungen, also Brechungsindexänderungen,
ermöglichen und deshalb für einen rein optischen Dichtesensor nicht
geeignet sind. Bekannte Interferometer beheben diesen Nachteil mit
optischen Mitteln im allgemeinen nur, indem sie als
Differentialrefraktometer ausgelegt sind. Interferometer, die den Nachteil
der Relativmessung nicht mittels eines Differentialrefraktometers beheben,
benötigen gewöhnlich zusätzliche nichtoptische Mittel. In der DE 32 44 783 A1
ist ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Messung der Brechzahl von
Flüssigkeiten und Gasen beschrieben, das auf einem Fabry-Perot
Interferometer basiert. Für das beschriebene Meßverfahren ist es
notwendig, daß der Abstand zwischen den beiden reflektierenden Flächen
des Interferometers mit elektrischen Mitteln (Piezo-Keramik) moduliert
wird. Will man z. B. mit einem Fabry-Perot Interferometer mit festem
Abstand der reflektierenden Flächen mit rein optischen Mitteln
Absolutmessungen durchführen, benötigt man neben der Meßlichtquelle eine
oder mehrere schmalbandige und daher voluminöse und kostenaufwendige
Referenzlichtquellen, die auf unterschiedlichen Wellenlängen strahlen. Will
man jedoch für diese Referenzlichtquellen z. B. kompakte, relativ
kostengünstige aber breitbandige Halbleiterlaser einsetzen, muß der Abstand
zwischen den reflektierenden Flächen des Fabry-Perot Interferometers so
klein sein, daß in einem Gasdichtesensor ein Dichtegradient entsteht, so
daß diese Anordnung ungeeignet ist.
Analog gelten diese Aussagen für alle Interferometertypen. Darüber hinaus
haben die Interferometer den gemeinsamen Nachteil, daß sie stark
temperaturempfindlich sind und deshalb einen zusätzlichen
Temperatursensor und eine entsprechende Auswertetechnik benötigen.
Aufgabe der Erfindung ist es, eine kompakte
Vorrichtung zu schaffen, mit der die Gasdichte und deren Änderung
absolut und in einem großen Meßbereich bei hoher Genauigkeit mit rein
optischen Mitteln gemessen werden kann.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die im Kennzeichen des
Anspruchs 1 aufgeführten Merkmale gelöst.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung beruht auf einem Gasdichtesensor, der aus
einem Meßkopf und einem Auswerte- und Steuergerät besteht. Der
Meßkopf enthält einen optischen Sender, eine Meßkammer und eine
Signalerfassungseinheit, wobei der optische Sender einen hinreichend
schwach divergenten Lichtstrahl aussendet. Dieser durchdringt die
Meßkammer und wird dort in Abhängigkeit von der Gasdichte im Vergleich
zur ursprünglichen Strahlrichtung parallel versetzt, weil die Meßkammer
zwei parallel zueinander angeordnete optische Fenster hat, die gegenüber
dem Strahl in einem bestimmten Winkel geneigt sind. Der Lichtstrahl trifft
nach der Meßkammer auf die Signalerfassungseinheit, die aus zwei
Lichtleitfasern besteht. Sie sind in der Strahlversatzebene so
angeordnet, daß jede Einzelfaser senkrecht vom Strahl getroffen wird, so
daß das optische Signal mittels der Fasern über eine lange
Distanz zum Auswerte- und Steuergerät geführt wird. Dort wird es mit
Hilfe eines optoelektronischen Wandlers in ein elektrisches Signal
gewandelt, das wiederum einer elektronischen Signalverarbeitungs- und
Darstellungseinheit zugeführt wird, die die Auswertung und Darstellung des
Meßsignals in Dichteeinheiten besorgt. Im Auswerte- und Steuergerät
befindet sich auch die Meßlichtquelle, deren Licht mit einer Lichtleitfaser
über eine lange Distanz dem optischen Sender des Meßkopfes zugeführt
wird. Der optische Sender des Meßkopfes kann durch das offene Ende
besagter Lichtleitfaser gebildet werden, oder zusätzlich einen optischen
Adapter haben, der eine hinreichend schwache Divergenz des Meßstrahles
im Meßkopf gewährleistet.
Die Erfindung wird anhand der Zeichnung näher erläutert.
Es zeigen:
Fig. 1 eine Ausführungsform des Meßkopfes der erfindungsgemäßen Vor
richtung;
Fig. 2 eine Ausführungsform der Signalerfassungseinheit des Meßkopfes;
Fig. 3 weitere Ausführungsformen des Meßkopfes und
Fig. 4 eine Ausführungsform des Meßkopfes mit Selbstkontrolle des
Sensors.
Fig. 1 zeigt eine Ausführungsform des Meßkopfes des Dichtesensors. Hier
sind 1 der optische Sender, 2 der Meßstrahl, 3 die Meßkammer, 4 die
optischen Fenster der Meßkammer und 5 die Signalerfassungseinheit. 6 sind
die jeweiligen Lichtleitfaserenden. β ist der Neigungswinkel der optischen
Fenster 4 zum Meßstrahl 2. X ist der Wert des parallelen Strahlversatzes
nach dem Durchgang des Meßstrahles 2 durch die Meßkammer 3. In dieser
Darstellung wird der Meßstrahl parallel zur ursprünglichen Strahlrichtung
in der Figurebene versetzt. Die optischen Fenster sind planparallele Platten
aus für das Meßlicht transparentem Material, die eine endliche Dicke haben
und deshalb einen Beitrag zum Strahlversatz X leisten. Dieser Beitrag ist
durch geeignete zusätzliche optische Mittel (nicht gezeigt) kompensierbar
und soll deshalb nicht weiter betrachtet werden. Hier interessiert nur der
durch die Gasdichte in der Meßkammer hervorgerufene Teil des
Strahlversatzes, der weiterhin mit X bezeichnet werden soll.
Mit Hilfe des Snelliusschen Brechungsgesetzes und der Lorentz-Lorenz-Be
ziehung läßt sich zeigen, daß für eine feste Gasdichte in der Meßkammer
X mit steigendem β wächst. Eine Vorzugsgröße für β ist der Brewster-Win
kel für den Eintritt in die Meßkammer. In diesem Fall sind die
Dämpfungsverluste für den Meßstrahl beim Durchgang durch die
Meßkammer minimal. Ist darüber hinaus der Meßstrahl in der Figurebene
polarisiert, kann man die Dämpfung ganz vernachlässigen.
Absorptionsverluste im zu diagnostizierenden Gas können durch geeignete
Wahl der Wellenlänge des Meßlichts stets vernachlässigbar gering gehalten
werden.
Die Tatsache, daß diese Anordnung einen exakt parallelen Strahlversatz
ermöglicht, gestattet es die beiden Fasern, die
die Signalerfassungseinheit 5 bilden, so auszurichten, daß der Meßstrahl
stets senkrecht auf die Fasern trifft.
Das ermöglicht eine optimale Einkopplung der Lichtenergie des Meßstrahles
in die Faser, wenn die Divergenz des Meßstrahles geringer als die
numerische Apertur der Faser ist. Damit wird eine optimale Auskopplung
der Lichtenergie aus der Faser in Richtung der Faserachse und auf die
optoelektrischen Wandler im Auswerte- und Steuergerät ermöglicht.
Der Strahlversatz und mit ihm die Dichte des Gases in der Meßkammer ist
mit der beschriebenen Anordnung der Faserzeile im Meßkopf mit großer
Genauigkeit fixierbar. Diese Information läßt sich durch eine geeignete
Wahl des optoelektronischen Wandlers sehr genau der elektronischen
Signalverarbeitungs- und Darstellungseinheit vermitteln, z. B. dadurch, daß
jeder Faser ein optoelektronischer Wandler zugeordnet wird, oder z. B.
dadurch, daß die Fasern der Zeile in geordneter Weise auf eine CCD-Einheit
abgebildet werden.
Fig. 2 zeigt eine Ausführungsform der Signalerfassungseinheit des
Meßkopfes. Dargestellt ist der Schnitt durch die Faserzeile senkrecht zur
Ausbreitungsrichtung des Meßstrahles. Es sind FD der Manteldurchmesser
und KD der Kerndurchmesser der Einzelfaser. Gilt FD = 2 KD, kann man
mit dieser Anordnung die gesamte Strahlversatzrichtung (X-Achse) homogen
erfassen. Das läßt sich z. B. mit der kommerziell verfügbaren 62,5/125 µm
Faser erreichen.
Jeder Lichtstrahl hat einen endlichen Strahldurchmesser d und ein
Strahlprofil, d. h. eine Intensitätsverteilung über den Strahlquerschnitt, z. B.
ein Gauß-Profil. Man kann den Strahldurchmesser d immer so wählen,
daß d << FD gilt, so daß man die Ausdehnung der Faserzeile in
Y-Richtung (Fig. 2) vernachlässigen kann.
Für die Bestimmung der Strahlposition wählt man ein oder mehrere
charakteristische Punkte des Strahls, z. B. die beiden Wendepunkte des
Gauß-Profils der Intensität. Dabei ist zu beachten, daß man bei der
dargestellten Anordnung für die Signalerfassung und Übertragung zwar im
Bereich der Signalerfassungseinheit eine Intensitätsverteilung über den
einzelnen Faserquerschnitt hat, am Faseraustritt jedoch nur eine Strah
lungsleistung pro Einzelfaser messen kann, weil sich die anfängliche Inten
sitätsverteilung beim Durchgang des Lichts durch die Faser homogenisiert.
Wird nun z. B. die J-te Faser vom Meßstrahl erfaßt, dann ordnet man diese
Intensität (Strahlungsleistung pro Faserkernquerschnitt) zweckmäßigerweise
der Lage des Mittelpunktes Xj der entsprechenden Faser im Bereich der
Signalerfassungseinheit zu. Auf diese Weise hat man das Meßstrahlprofil in
einzelne Meßpunkte zerlegt.
Legt man nun die Signalverarbeitungs- und Darstellungseinheit so aus, daß
man nur die Faser bestimmt, in deren Bereich sich ein
charakteristischer Punkt des Meßstrahls befindet, z. B. ein Wendepunkt des
Gauß-Profiles, dann bestimmt man die Position des Meßstrahles mit einer
Genauigkeit von +/- 0,5 KD. Diese Genauigkeit der Positionsbestimmung des
Meßstrahles definiert letztlich die Genauigkeit mit der man die Dichte des
Gases in der Meßkammer ermitteln kann. Will man mit der beschriebenen
Anordnung der Signalerfassungseinheit die Genauigkeit der
Positionsbestimmung des Meßstrahles erhöhen, muß man zwischen den beiden
Fasern interpolieren.
Diese Interpolation erfolgt zweckmäßigerweise mit Hilfe eines Rechners,
wobei der Rechner beispielsweise extern oder als Mikrorechner in die
Signalverarbeitungs- und Darstellungseinheit integriert ist. Die durch die
Interpolation mögliche Erhöhung der Genauigkeit hängt davon ab, wie
genau man die Strahlungsleistung pro Faser bestimmen kann.
Hervorzuheben ist, daß, wie oben dargestellt, die aus dem parallelen
Strahlversatz resultierenden Vorteile der Signalerfassung und Übertragung
eine sehr genaue Bestimmung der Strahlungsleistung pro Faser ermöglichen.
Nutzt man die Interpolation zwischen einzelnen Fasern, so ist es nicht
notwendig, die in Fig. 2 gezeigte dichte Anordnung der Fasern zu
benutzen. Man kann zeigen, daß z. B. für ein Gauß-Profil der Intensität
des Meßstrahles zwei bestrahlte Fasern ausreichen, um die Position des
Strahls genau bestimmen zu können. Ist der Abstand der beiden Fasern in
Versatzrichtung genau bekannt, bestimmt auch hier die Meßgenauigkeit für
die Strahlungsleistung die Genauigkeit der Positionsbestimmung. Je besser
die Genauigkeit der Positionsbestimmung ist, desto geringer muß, bei einem
vorgegebenen Meßbereich für die Gasdichte, der durch die Meßkammer zu
realisierende totale Strahlversatz sein. Soll darüber hinaus die Meßge
nauigkeit für die Gasdichte weiter erhöht, und/oder der Meßbereich für
die Gasdichte verbreitert werden, muß das durch die Vergrößerung des to
talen Strahlversatzes, d. h. durch die Gestaltung der Meßkammer erfolgen.
Eine Möglichkeit, den totalen Strahlversatz zu vergrößern, ist die
Vergrößerung des Winkels β zwischen den optischen Fenstern der
Meßkammer und der Meßstrahlrichtung (s. o.). Ist diese Möglichkeit
ausgeschöpft, kann man die Länge der Meßkammer in Strahlrichtung
erweitern. Allerdings geht diese Möglichkeit auf Kosten der Kompaktheit
des Meßkopfes. Um trotzdem den Meßkopf kompakt zu gestalten, leitet man
den Meßstrahl mehrfach durch die Meßkammer.
Fig. 3a zeigt eine Ausführungsform des Meßkopfes mit Mehrfachdurchlauf,
wobei die Bezeichnungen der Fig. 1 beibehalten wurden. Im Unterschied zu
der in Fig. 1 dargestellten Anordnung hat hier die Meßkammer 3 zwei
Paare optischer Fenster 4. Die Faltung des Meßstrahles 2 erfolgt durch
Spiegel 7. Die Ein- bzw. Auskopplung des Meßstrahles erfolgt hier neben je
einem der Spiegel 7. Gezeigt ist ein einfacher Umlauf des Meßstrahles. Die
Anordnung kann auch so ausgelegt werden, daß der Meßstrahl mehrfach
umläuft, bevor er ausgekoppelt wird. Die Auskopplung des Strahles kann
auch dadurch erfolgen, daß einer der Spiegel 7 teildurchlässig beschichtet
wird (nicht gezeigt). Benutzt man die Auskopplung durch eine
teildurchlässige Schicht, so kann die Faltung des Meßstrahles statt durch
die Spiegel 7 auch durch Prismen erfolgen (nicht gezeigt).
Ändert sich die Gasdichte in der Meßkammer, werden die Strahlen
außerhalb der Meßkammer parallel versetzt. Die Figurebene ist die
Versatzebene. Dabei kann es, insbesondere bei einem Mehrfachumlauf, dazu
kommen, daß sich in der dargestellten Anordnung die Versatzgebiete
überlappen. Das hat zur Folge, daß der Dichtemeßbereich nicht mehr
eindeutig auf der Signalerfassungseinheit 5 abbildbar ist. Es kann daher
zweckmäßig sein, die Anordnung so zu gestalten, daß bei konstanter
Gasdichte in der Meßkammer der Meßstrahl nach jedem Umlauf senkrecht
zur Figurebene versetzt wird. Man erreicht das z. B. dadurch, daß man den
optischen Sender 1 so ausrichtet, daß der Meßstrahl einen kleinen Winkel
zur Figurebene aufweist (nicht gezeigt). Die dichtebedingten
Versatzgebiete sind dann im Bereich der Signalerfassungseinheit 5 für jeden
Umlauf senkrecht zur Figurebene versetzt, so daß durch die Faserzeile nur
der Dichte bedingte Strahlversatz nach dem letzten Umlauf erfaßt wird.
Eine weitere Möglichkeit, die Meßgenauigkeit für die Gasdichte zu
erhöhen, und/oder den Meßbereich für die Gasdichte zu verbreitern, erhält
man dadurch, daß man den Strahlversatz nach einem einfachen Durchlauf
durch die Meßkammer mit einem Strahltransformator, z. B. ein
Strahlaufweitungssystem nach Art eines Kepler-Fernrohres, verstärkt.
Fig. 3b zeigt eine Ausführungsform des Meßkopfes mit Strahltransformator.
Die Bezeichnungen der Fig. 1 wurden hier ebenfalls beibehalten. 8
symbolisiert den Strahltransformator.
Für die Zuverlässigkeit des Dichtesensors, d. h. für die Wirkungsweise des
parallelen Strahlversatzes, ist es wichtig, daß die Baugruppen des
Meßkopfes, d. h. der optische Sender, die Meßkammer und die
Signalerfassungseinheit, sehr genau zum Meßstrahl einjustiert sind, und daß
diese Justierung über die Standzeit des Sensors erhalten bleibt. Die
Kontrolle der Justierung kann durch zusätzliche Lichtleitfasern erfolgen.
Fig. 4 zeigt eine Ausführungsform des Meßkopfes mit Selbstkontrolle des
Sensors. Die Selbstkontrolle ist für eine Ausführungsform des Meßkopfes
nach Fig. 1 dargestellt. Auf analoge Weise lassen sich auch die anderen
Ausführungsformen kontrollieren. In Fig. 4 bezeichnet 9 die Kontrolle am
Eingang. Ist der Meßstrahl nicht in der Abbildungsebene polarisiert, oder z. B.
zirkular polarisiert, dann tritt die Reflexion 9 selbst dann auf, wenn der
Winkel β (vergl. Fig. 1) den Wert des Brewster-Winkels hat. Die Kontrolle
am Ausgang 10 ist für den Fall dargestellt, daß der totale Strahlversatz,
der den Dichtemeßbereich markiert, geringer ist als der
Meßstrahldurchmesser und die Signalerfassungseinheit z. B. nur aus zwei
Lichtleitfasern besteht. Genutzt wird hier die Rückreflexion von einer
Fasereintrittsfläche der Signalerfassungseinheit. Mit 6′ sind die Fasern für
die Kontrolle des Justierzustands bezeichnet.
Claims (8)
1. Vorrichtung zum Messen der Dichteänderung von Gasen mit optischen Mitteln,
bestehend aus einem Meßkopf und einem Auswerte- und Steuergerät, wobei der Meßkopf
einen optischen Sender, eine Meßkammer mit optischen Fenstern und eine
Signalerfassungseinheit aufweist und der optische Sender einen hinreichend schwach
divergenten Meßlichtstrahl aus sendet, der die Meßkammer durchdringt, wobei der
Meßlichtstrahl (2) in Abhängigkeit von der Gasdichte in der Meßkammer (3) im
Vergleich zur ursprünglichen Strahlrichtung versetzt ist und der Meßlichtstrahl nach
Durchlaufen der Meßkammer (4) auf die Signalerfassungseinheit (5) trifft, die in Form
nebeneinander liegender, paralleler Lichtleitfasern (6) ausgebildet ist,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Signalerfassungseinheit (5) aus zwei parallel zueinander angeordneten
Lichtleitfasern gebildet ist, daß die Lichtleitfasern in der Strahlversatzebene so
angeordnet sind, daß der Meßlichtstrahl jede Einzelfaser senkrecht trifft, daß das optische
Signal in jeder Faser zum Auswerte- und Steuergerät geführt ist, wo es mit Hilfe eines
optoelektronischen Wandlers ein elektrisches Signal erzeugt, das einer elektronischen
Signalverarbeitungs- und Darstellungseinheit zugeführt ist, welche die Auswertung und
Darstellung der Meßsignale in Dichteeinheiten besorgt, und daß diese Auswertung mit
Hilfe eines Rechners erfolgt, welcher die Signale der zwei vom Meßstrahl beleuchteten
Fasern unter der Annahme einer über den Strahlquerschnitt bekannten
Intensitätsverteilung auswertet und damit die Strahlposition bestimmt.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß sich eine Meßlichtquelle im Auswerte- und Steuergerät befindet und daß ihr Licht mit
einer Lichtleitfaser dem optischen Sender des Meßkopfes zugeführt wird, wobei der
optische Sender durch das offene Ende der Lichtleitfaser gebildet wird.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß der optische Sender zusätzlich einen optischen Adapter aufweist, der eine
hinreichend schwache Divergenz des Meßlichtstrahls im Meßkopf gewährleistet.
4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Meßlichtstrahl im Meßkopf mit Hilfe von Spiegeln mehrfach durch die
Meßkammer geleitet wird, bevor er auf die Signalerfassungseinheit trifft.
5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Meßkammer des Meßkopfes mindestens zwei Paare optischer Fenster hat und
jedes Paar optischer Fenster planparallel zueinander angebracht ist und gegenüber dem
Meßlichtstrahl in einem von Null verschiedenen Winkel geneigt ist, wobei die einzelnen
Paare optischer Fenster so angeordnet sind, daß, wenn sie vom Meßlichtstrahl
nacheinander durchlaufen werden, sich die jeweiligen Strahlversätze addieren.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Meßkopf zusätzlich einen Strahltransformator enthält, der nach der Meßkammer
zum Meßlichtstrahl so angeordnet ist, daß er den durch die Meßkammer erzeugten
Strahlversatz vergrößert, bevor der Meßlichtstrahl auf die Signalerfassungseinheit trifft.
7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 oder 4 bis 6,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Reflexionen des Meßlichtstrahles an den optischen Fenstern der Meßkammer und
an der Signalerfassungseinheit für die Selbstkontrolle des Sensors genutzt werden, wobei
das reflektierte Licht durch zusätzliche Lichtleitfasern erfaßt wird.
8. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6,
dadurch gekennzeichnet,
daß die optischen Fenster der Meßkammer gegenüber dem Meßlichtstrahl um den
Brewster-Winkel geneigt sind.
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
DE19934329102 DE4329102C2 (de) | 1993-08-30 | 1993-08-30 | Vorrichtung zum Messen der Dichteänderung von Gasen |
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DE19934329102 DE4329102C2 (de) | 1993-08-30 | 1993-08-30 | Vorrichtung zum Messen der Dichteänderung von Gasen |
Publications (2)
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