DE4113093C2 - Vorrichtung und Verfahren zum größenmäßigen Separieren von für Halbleiteranwendungen geeigneten Siliciumstücken - Google Patents
Vorrichtung und Verfahren zum größenmäßigen Separieren von für Halbleiteranwendungen geeigneten SiliciumstückenInfo
- Publication number
- DE4113093C2 DE4113093C2 DE19914113093 DE4113093A DE4113093C2 DE 4113093 C2 DE4113093 C2 DE 4113093C2 DE 19914113093 DE19914113093 DE 19914113093 DE 4113093 A DE4113093 A DE 4113093A DE 4113093 C2 DE4113093 C2 DE 4113093C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- silicon
- semiconductor applications
- pieces
- cylindrical
- cylindrical sieve
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07B—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS BY SIEVING, SCREENING, SIFTING OR BY USING GAS CURRENTS; SEPARATING BY OTHER DRY METHODS APPLICABLE TO BULK MATERIAL, e.g. LOOSE ARTICLES FIT TO BE HANDLED LIKE BULK MATERIAL
- B07B1/00—Sieving, screening, sifting, or sorting solid materials using networks, gratings, grids, or the like
- B07B1/18—Drum screens
- B07B1/22—Revolving drums
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07B—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS BY SIEVING, SCREENING, SIFTING OR BY USING GAS CURRENTS; SEPARATING BY OTHER DRY METHODS APPLICABLE TO BULK MATERIAL, e.g. LOOSE ARTICLES FIT TO BE HANDLED LIKE BULK MATERIAL
- B07B1/00—Sieving, screening, sifting, or sorting solid materials using networks, gratings, grids, or the like
- B07B1/18—Drum screens
Landscapes
- Silicon Compounds (AREA)
- Combined Means For Separation Of Solids (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum größen
mäßigen Separieren von für Halbleiteranwendungen geeigne
ten Siliciumstücken.
Integrierte Schaltungen hoher Dichte erfordern
Halbleiterplättchen aus monokristallinem Silicium
hoher Reinheit. Besondere Probleme begründen hierbei
Verunreinigungen durch Übergangsmetalle, die u. a. Kup
fer, Gold, Eisen, Cobalt, Nickel, Chrom, Tantal, Zink
und Wolfram einschließen, und Verunreinigungen wie etwa
Kohlenstoff, Bor und Phosphor. Diese Verunreinigungen
rufen selbst in kleinen Mengen den Einbau von Fehler
stellen im Halbleitermaterial hervor, die schließlich
zu verschlechterten Bauteileigenschaften und zur Be
grenzung der Schaltungsdichte führen können.
Typischerweise wird polykristallines Silicium hoher
Reinheit durch chemische Gasphasenabscheidung (CVD-
Verfahren) eines hochreinen Chlorsilan-Gases auf einem
aufgeheizten Substrat erzeugt. Das resultierende Pro
dukt sind Stangen polykristallinen Siliciums. Zur Er
zeugung monokristallinen Siliciums, aus dem Silicium-
Halbleiterplättchen geschnitten werden kön
nen, muß das polykristalline Silicium weiterverarbeitet
werden.
Ein beträchtlicher Anteil des für die Halbleiterindu
strie erforderlichen monokristallinen Siliciums wird
nach dem wohlbekannten, zuerst durch Czochralski be
schriebenen Verfahren erzeugt. In einem typischen Czo
chralski-Verfahren werden Siliciumstücke in einem ge
eigneten Gefäß geschmolzen und ein Silicium-Impfkri
stall verwendet, um aus der Schmelze eine monokristal
line Stange aus für Halbleiteranwendungen geeignetem
Silicium zu ziehen. Die Steuerung dieses Kristallwachs
tumsprozesses erfordert es, daß die dem die Schmelze
enthaltenden Gefäß zugegebenen Siliciumstücke innerhalb
einer definierten Größenklasse oder eines definierten
Größenbereichs liegen. Daher ist es notwendig, daß die
während des CVD-Verfahrens erzeugten polykristallinen
Stangen in Stücke gebrochen und diese Stücke in geeig
nete Größenverteilungen sortiert werden.
Die Erfinder haben erkannt, daß Siebgeräte, die aus
herkömmlichen Materialien wie etwa rostfreiem Stahl ge
bildet sind, eine beachtliche Quelle für die Oberflä
chenkontamination der größensortierten Stücke sein kön
nen.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine effiziente
Vorrichtung zum größenmäßigen Separieren von für Halbleiteranwen
dungen geeigneten Siliciumstücken anzugeben, bei deren Verwendung
die Gefahr einer Berührungsverunreinigung der Siliciumstücke mini
miert ist.
Diese Aufgabe wird durch die im Anspruch 1 angegebenen Merkmale
gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind Gegenstand
der Unteransprüche. Weiterhin gibt Anspruch 5 ein Verfahren an,
mit dem für Halbleitervorrichtungen geeignete Siliciumstücke bei
minimaler Gefahr einer Berührungsverunreinigung größenmäßig sor
tiert werden können.
Die Verwendung von für Halbleiteranwendungen geeignetem Silicium
als Material des Siebes kann die Gefahr einer Verunreinigung der
zu sortierenden Siliciumstücke durch den Oberflächenkontakt mit
dem Sieb auf ein Mindestmaß reduzieren.
Das zylindrische Sieb kann aus parallelen Stangen
aus für Halbleiteranwendungen geeignetem Silicium, das
durch ein Standard-CVD-Verfahren hergestellt ist,
bestehen. Die parallelen Stangen können beispiels
weise durch einfache schmale quadratische Abstandshal
ter aus für Halbleiteranwendungen geeignetem Silicium,
die von größeren polykristallinen Siliciumstangen abge
trennt oder abgeschnitten sind, voneinander
auf Abstand gehalten sein. Eine
Spannvorrichtung sichert die
Position der parallelen Stangen und dieser inneren Ab
standshalter. Äußere Abstandshalter sind
entlang der Außenseite des zylindrischen Siebs angeord
net, um die Siebeigenschaften des
Siebs weiter zu definieren.
In einer typischen Anord
nung ist das zylindrische Sieb
schräg angeordnet, so daß die am oberen Ende des zy
lindrischen Siebs zugegebenen unsortierten Silicium
stücke sich aufgrund der Schwerkraft entlang des Siebs
nach unten bewegen, während das Sieb gedreht
wird. Die inneren und äußeren Silicium-Abstandshalter
sind derart in oder am zylindrischen Sieb angeordnet,
daß unerwünscht kleine Stücke im oberen Bereich durch
das rotierende zylindrische Sieb hindurchtreten, wäh
rend Stücke im gewünschten Größenbereich im unteren Ab
schnitt durch das rotierende zylindrische Sieb hin
durchtreten. Zu große Stücke treten am unteren Ende der
rotierenden zylindrischen Siebvorrichtung aus. Da die
Berührungsoberfläche des zylindrischen Siebs aus für
Halbleiteranwendungen geeignetem Silicium besteht, wird
als Ergebnis des Sortiervorgangs eine nur minimale
Oberflächenverunreinigung des sortierten Siliciums her
vorgerufen.
In den Zeichnungen stellt Fig. 1 eine Seitenansicht
eines zylindrischen Siebs dar. Fig. 1a zeigt eine
Querschnittsansicht des seitlichen Siebs.
In Fig. 1b ist eine Endansicht des zylindrischen Siebs
dargestellt.
Fig. 2 zeigt eine Endansicht eines zylindrischen Siebs
1, wobei ferner die internen Einzelheiten einer
Spannvorrichtung 4 und einer Absaug
haube 10 veranschaulicht sind.
In Fig. 3 ist eine Seitenansicht dargestellt, in der
Elemente eines Ausführungsbeispiels vorliegender Erfin
dung einschließlich einer Drehvorrichtung dargestellt
sind.
Genauer gesagt, ist in Fig. 1 der Zeichnungen eine
Seitenansicht eines zylindrischen Siebes 1
gezeigt, die die parallele Anordnung radial orientier
ter, durch innere Abstandshalter 3 getrennter Silici
umstangen 2 veranschaulicht. Die Siliciumstangen- und
Abstandshalter-Anordnung wird durch eine
Spannvorrichtung 4 zusammengehalten. Äußere
Abstandshalter 23 sind entlang der Siliciumstan
gen oder -stäbe 2 angeordnet und durch ein umschlingen
des Band 24 in ihrer Position gehalten. Fig. 1a zeigt
eine Querschnittsansicht des zylindrischen Siebes 1.
In Fig. 1a ist die Beziehung zwischen dem äußeren Ab
standshalter 23 und den Siliciumstangen 2 veranschau
licht. Fig. 1b ist eine Stirnseitenansicht des
zylindrischen Siebes 1 und zeigt die Beziehung zwischen
den inneren Abstandshaltern 3 und den Siliciumstan
gen 2.
In Fig. 2 ist eine Stirnansicht des zylindrischen Siebes
1 dargestellt, wobei die inneren Einzelheiten der
Spannvorrichtung 4 veranschaulicht sind. Die
Spannvorrichtung 4 weist einen inneren Ring 5 mit
mehreren Kerben oder Schlitzen auf, in die
Spannblöcke 6 eingepaßt sind. Der
innere Ring 5 ist vorder- und rückseitig mit einer
Deckplatte 8 verkleidet bzw. versehen. Der Spannblock 6
wird mittels einer Einstellschraube 7 eingestellt, um
Druck auf die Siliciumstangen 2 und die Abstandshalter
3 für die Beibehaltung ihrer Orientierung auszuüben.
Die zusammengebaute Spannvorrichtung 4 sitzt in
gerillten Reibantriebsrädern 9.
Eine Absaughaube 10
mit Absaugöffnungen 11 umgibt das zylin
drische Sieb.
Fig. 3 zeigt eine Blockbilddarstellung zur Veranschau
lichung der Beziehung bzw. gegenseitigen Lage der Ele
mente. Das zylindrische Sieb 1 mit der Spann
vorrichtung 4 sitzt auf den Reibantriebsrädern 9. Die
Reibantriebsräder 9 sind über eine durch eine Stütz
platte 13 laufende Welle 12 mit einer Riemenscheibe
14 verbunden. Die Stützplatte 13 ist an ei
nem Gehäuse 15 einer Antriebsanordnung angebracht. Die
Antriebsanordnung enthält das Gehäuse 15, an dem ein
mit einer Welle 17 verbundener Motor 16 angebracht ist.
Eine Riemenscheibe 18 ist an der Welle 17 in
Ausrichtung mit der Riemenscheibe
14 angeordnet. Die Riemenscheiben
14 und 18 sind über einen Riemen 19
miteinander verbunden. Die Drehbewegung des Motors 16
wird mittels der Riemenscheiben- und Riemen-Kombination
auf die Reibantriebsräder 9 übertragen, die gegenüber
der Spannvorrichtung bzw. den Spannringen 4 drehen und
hierdurch das zylindrische Sieb 1 zur Drehung veranlas
sen. Das Gehäuse 15 ist an einer Ba
sis 20 befestigt, an der eine Niveaueinstelleinrichtung
21 angebracht ist. Die Absaughaube 10 ist
am Gehäuse 15 der Antriebsanordnung befestigt und um
gibt im wesentlichen das zylindrische Sieb 1. Eine Zu
führrutsche 22 ist am Gehäuse 15 angebracht und derart
angeordnet, daß Siliciumstücke in die innere
Öffnung des zylindrischen Siebs 1 eingeführt wer
den können. Ein Behälter 25 zum Sammeln der durch das
zylindrische Sieb 1 hindurchtretenden Siliciumstücke
ist unterhalb des zylindrischen Siebes 1 und auf dem
Gehäuse 15 angeordnet.
Bei der Zuführrutsche sind
vorzugsweise alle Kontaktoberflächen aus für Halbleiteranwendun
gen geeignetem Silicium.
Für die Zwecke dieser Erfindung ist das für Halbleiter
anwendungen geeignete Silicium als Siliciummetall mit
einer Reinheit von mehr als 99,99% definiert. Die Si
liciumstücke, die durch die beschriebene Vorrichtung
und das beschriebene Verfahren separiert bzw. sortiert
werden können, können beispielsweise die Form von Broc
ken, Chips, Flocken oder Schuppen, Partikeln, Körnchen,
Pulver oder Pellets haben. Die beschriebene Vorrichtung
und das beschriebene Verfahren haben sich als besonders
wirksam beim Separieren von Silicium
stücken gezeigt, die beim Zerbrechen polykristalliner
Siliciumstäbe durch Schlageinwirkung bzw. in Gesteins
prallmühlen anfallen.
Die Berührungsoberfläche des zylindrischen Siebs muß
aus für Halbleiteranwendungen geeignetem Silicium sein.
Die Berührungsoberfläche umfaßt alle Oberflächen des
zylindrischen Siebs, mit denen die Siliciumstücke wäh
rend des separiervorgangs in Berührung gelangen. Auch
wenn es nicht notwendig ist, daß alle Berührungsober
flächen aus für Halbleiteranwendungen geeignetem Sili
cium bestehen, muß berücksichtigt werden, daß Oberflä
chen aus nicht für Halbleiteranwendungen geeignetem Si
licium eine Verunreinigungsquelle für das separierte
Material sein können. Daher sollte ein wesentlicher Be
reich der Kontaktoberfläche aus für Halbleiteranwendun
gen geeignetem Silicium bestehen. Wesentlich bedeutet
hier mehr als 90% des freiliegenden Oberflächenbe
reichs. Die für Halbleiteranwendungen geeignete Ober
fläche kann durch Komponenten aus festem bzw. massivem,
für Halbleiteranwendungen geeignetem Silicium, aus Ba
sismaterialien, die mit für Halbleiteranwendungen ge
eignetem Silicium überzogen sind oder aus einer Kombi
nation hieraus gebildet werden.
Das zylindrische Sieb kann beispielsweise
aus einer parallelen An
ordnung aus mit Öffnungen oder Löchern versehenen Plat
ten aus massivem, für Halbleiteranwendungen geeignetem
Silicium oder aus mit Öffnungen oder Löchern versehenen
Platten bestehen, die mit für Halbleiteranwendungen ge
eignetem Silicium beschichtet sind. Das zylindrische
Sieb kann beispielsweise auch eine einstückige Röhre aus
für Halbleiteranwendungen geeignetem Silicium mit Öff
nungen sein.
In einem bevorzugten Ausführungsbeispiel vorliegender
Erfindung ist das zylindrische Sieb aus parallelen,
durch innere Abstandshalter getrennten Siliciumstangen
aus für Halbleiteranwendungen geeignetem Silicium ge
bildet. Die internen Abstandshalter bewirken eine
Beabstandung der parallelen Siliciumstangen
oder -stäbe aus für Halbleiteranwendungen geeignetem
Silicium. "Stangen" bzw. "Stäbe" bezeichnen langge
streckte Komponenten, bei denen das Verhältnis des ma
ximalen Querschnittsdurchmessers zum minimalen Durch
messer kleiner als 2 ist, beispielsweise kreisförmige,
quadratische, rechteckige oder hexagonale Querschnitts
gestaltungen. Siliciumstangen mit rundem Querschnitt
sind bevorzugt, da sie durch Gasphasenabscheidung nach
chemischem Verfahren (CVD-Verfahren) einfach
hergestellt werden können.
Entlang der parallelen Siliciumstangen bzw. -stäbe aus
für Halbleiteranwendungen geeignetem Silicium können
äußere Abstandshalter angeordnet werden, die zur Steue
rung der Größe der Siliciumstücke, die durch den durch
die internen Abstandshalter geschaffenen Spalt durch
treten können, beihelfen. Die inneren und äußeren Ab
standshalter können aus jedem beliebigen Standard-Kon
struktionsmaterial oder aus jedem beliebigen derarti
gen, mit für Halbleiteranwendungen geeignetem silicium
beschichteten Material bestehen. Es ist jedoch bevor
zugt, daß die Abstandshalter aus massivem, für Halblei
teranwendungen geeignetem Silicium bestehen. Die Ab
standshalterkonfiguration kann ähnlich oder gleich der
jenigen sein, wie sie für die Stangen oder Stäbe be
schrieben wurde. Die optimale Anordnung und Größe der
Abstandshalter hängt von den Separierungs
anforderungen des jeweiligen zy
lindrischen Siebs ab.
Die äußeren Abstandshalter werden in der gewünschten
Lage durch ein umschlingendes Band gehalten. Das um
schlingende Band kann beispielsweise ein elastischer O-
Ring sein und kann aus solchen Materialien wie Butyl
kautschuk, Siliconkautschuk oder Urethankautschuk be
stehen.
Wenn massives, für Halbleiteranwendungen geeignetes Si
licium als Fertigungsmaterial verwendet wird, ist es
bevorzugt, daß das Material bei einer Temperatur von
800°C bis 1.350°C geglüht ist. Das
Ausglühen verleiht dem Material größere Festigkeit und
führt zu einem haltbaren, abnutzungsfesten zylindri
schen Sieb.
Das zylindrische Sieb ist mit einer Drehvorrichtung
versehen. Fig. 3 zeigt eine solche Drehvorrichtung.
Für den Fachmann ist ersichtlich, daß als Quelle für
die Drehenergie auch eine Handkurbel, ein Wechselstrom-
oder Gleichstrommotor oder ein Äquivalent dienen kann.
Die Drehenergiequelle kann mit dem zylindrischen Sieb
über Reibräder, Zahnräder oder dergleichen verbunden
sein, und zwar entweder direkt oder über eine Verbin
dungseinrichtung wie etwa einen Riemen oder eine Kette.
Ein zusätzliches Element vorliegender Erfindung kann in
einer Zuführrutsche bestehen, bei der alle Kontaktober
flächen aus für Halbleiteranwendungen geeignetem Sili
cium bestehen. Die Zuführrutsche erleichtert das Ein
bringen der Siliciumstücke in das zylindrische Sieb und
verringert Kontaktverunreinigungen der Siliciumstücke
während dieses Vorgangs auf ein Mindestmaß. Die Ober
fläche aus für Halbleiteranwendungen geeignetem Sili
cium kann in gleicher Weise gebildet sein, wie dies zu
vor für das zylindrische Sieb beschrieben wurde.
Die Absaug
haube, wie sie in Fig. 2 dargestellt ist, kann
hohlen, ebenen Aufbau besitzen, der das zylindrische
Sieb im wesentlichen einschließt. Die Absaug
haube hat an ihrem einen Ende einen langgestreckten
Sammelanschluß, der sich über die Länge
des zylindrischen Siebs erstreckt und in enger Nähe zum
zylindrischen Sieb angeordnet ist. Mehrere Absaugöff
nungen sind an der Innenoberfläche der Absaug
haube angeordnet. Am entgegengesetzten Ende des Staub
sammlers ist eine Auslaßöffnung angeordnet. Die Auslaß-
oder Absaugöffnung ist mit einer Standard-Absaug- und
Filtervorrichtung zum Sammeln und Entfernen von Parti
keln verbunden.
Das zylindrische Sieb ist auf einer Schräge von 5 bis
30°C bzw. schräg in einem Winkel von 5° bis 30° ange
ordnet, wobei die Siliciumstücke am höheren Ende des
zylindrischen Siebs zugeführt werden. Die Silicium
stücke bewegen sich aufgrund der Schwerkraft in Verbin
dung mit der Sieb-Drehbewegung längs des zylindrischen
Siebs nach unten.
Die äußeren Abstandshalter sind derart entlang des
Siebs angeordnet, daß kleinere Siliciumstücke mit einem
Durchmesser von weniger als 1/2 Zoll (weniger als ca.
12 mm) in den oberen 25 bis 50% der Länge des zylin
drischen Siebs entfernt werden, während Siliciumstücke
mit einem Durchmesser von weniger als 2,5 Zoll (ca.
63 mm) im verbleibenden Längenabschnitt des zylindri
schen Siebs entfernt werden. Siliciumstücke, die größer
als 2,5 Zoll (ca. 63 mm) sind, treten am unteren Ende
aus dem Sieb aus. Die ausgeschlossenen bzw. nicht durch
das Sieb hindurchgetretenen Siliciumstücke können,
falls gewünscht, für einen weiteren Siebvorgang wieder
verarbeitet werden.
Claims (5)
1. Vorrichtung zum größenmäßigen Separieren von für
Halbleiteranwendungen geeigneten Siliciumstücken, mit einem
zylindrischen Sieb (1), das mit einer Vorrichtung (9, 12, 14, 16
bis 19) zum Drehen des zylindrischen Siebes (1) verbunden ist,
dadurch gekennzeichnet, daß die mit den Siliciumstücken in
Berührung kommenden Oberflächen des Siebes im wesentlichen aus
für Halbleiteranwendungen geeignetem Silicum bestehen.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, bei der das zylindrische
Sieb (1) parallele, durch innere Abstandshalter (3) getrennte
Stangen oder Stäbe (2) aus für Halbleiteranwendungen geeignetem
Silicum aufweist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, bei der die Vorrichtung
(9, 12, 14, 16 bis 19) zum Drehen des zylindrischen Siebes eine
Drehenergie-Erzeugungseinrichtung ist, mit
- A) einer Basis (20) die die Drehenergie-Erzeugungseinrich tung (9, 12, 14, 16 bis 19) trägt, die ihrerseits mit dem zylin drischen Sieb (1) in Berührung steht,
- B) äußeren Abstandshaltern (23), die entlang der parallelen Stangen oder Stäbe (2) angeordnet sind,
- C) einer Zuführrutsche (22), die durch die Basis (20) abge stützt oder von dieser gehalten wird und so angeordnet ist, daß sie sich in ein Ende des zylindrischen Siebes (1) entleert, wobei die Berührungsoberflächen der Zuführrutsche (22) aus für Halbleiteranwendungen geeignetem Silicum bestehen, und
- D) einer Absaugkappe oder -haube (10), die das zylin drische Sieb (1) im wesentlichen umgibt.
4. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die
Stangen oder Stäbe (2) und die austauschbaren inneren Abstands
halter (3) durch eine Spannvorrichtung (4) in ihrer Position
gehalten sind.
5. Verfahren zum größenmäßigen Separieren von Stücken aus für
Halbleiteranwendungen geeignetem Silicium, bei dem die Stücke
aus für Halbleiteranwendungen geeignetem Silicum durch ein
zylindrisches Sieb (1) geführt werden, dessen Kontaktoberfläche
aus für Halbleiteranwendungen geeignetem Silicum besteht.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US51340990A | 1990-04-23 | 1990-04-23 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4113093A1 DE4113093A1 (de) | 1991-10-24 |
DE4113093C2 true DE4113093C2 (de) | 1998-08-27 |
Family
ID=24043144
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19914113093 Expired - Fee Related DE4113093C2 (de) | 1990-04-23 | 1991-04-22 | Vorrichtung und Verfahren zum größenmäßigen Separieren von für Halbleiteranwendungen geeigneten Siliciumstücken |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3024710B2 (de) |
DE (1) | DE4113093C2 (de) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5123636A (en) * | 1991-01-25 | 1992-06-23 | Dow Corning Corporation | Low-contaminate work surface for processing semiconductor grade silicon |
DE19719698A1 (de) * | 1997-05-09 | 1998-11-12 | Wacker Chemie Gmbh | Optoelektronische Klassiervorrichtung |
US6126015A (en) * | 1998-01-20 | 2000-10-03 | Haymaker; Roger L. | Solids separating device for different sized materials |
DE19847099A1 (de) * | 1998-10-13 | 2000-04-20 | Wacker Chemie Gmbh | Klassieren von Halbleitermaterial |
US6589332B1 (en) | 1998-11-03 | 2003-07-08 | Memc Electronic Materials, Inc. | Method and system for measuring polycrystalline chunk size and distribution in the charge of a Czochralski process |
DE102006016324A1 (de) * | 2006-04-06 | 2007-10-25 | Wacker Chemie Ag | Vorrichtung und Verfahren zum flexiblen Klassieren von polykristallinen Silicium-Bruchstücken |
ES2901018T3 (es) * | 2018-08-20 | 2022-03-21 | Buehler Ag | Dispositivo de limpieza de material a granel con separador de aire integrado y dispositivo de limpieza de material a granel con un bastidor de soporte hueco |
-
1991
- 1991-04-22 DE DE19914113093 patent/DE4113093C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1991-04-23 JP JP3091827A patent/JP3024710B2/ja not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
NICHTS ERMITTELT * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3024710B2 (ja) | 2000-03-21 |
JPH06236865A (ja) | 1994-08-23 |
DE4113093A1 (de) | 1991-10-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP1645333B1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zum kontaminationsarmen, automatischen Brechen von Siliciumbruch | |
DE60310627T2 (de) | Fliessfähige Späne, Verfahren und Vorrichtung zu ihrer Herstellung und ihrer Anwendung | |
EP1754539B1 (de) | Wirbelschicht-Strahlmühle und Verfahren zum Zerkleinern von Silicium | |
EP2055395B1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Aussieben von Partikeln | |
EP2662334B1 (de) | Polykristallines siliciumgranulat und seine herstellung | |
EP0876851B1 (de) | Optoelektronische Klassiervorrichtung | |
DE4113093C2 (de) | Vorrichtung und Verfahren zum größenmäßigen Separieren von für Halbleiteranwendungen geeigneten Siliciumstücken | |
US5165548A (en) | Rotary silicon screen | |
DE102006013714A1 (de) | Herstellungsverfahren eines granulären Siliciumkristalls | |
DE19700516A1 (de) | Einkristall-Ziehvorrichtung | |
EP2001798B1 (de) | Verfahren zum gewinnen und/oder rezyklieren von material | |
CH647888A5 (de) | Verfahren zum herstellen eines duennen und flexiblen bandes aus supraleitendem material. | |
EP3310499B1 (de) | Verfahren zum mechanischen klassieren von polysilicium | |
DE2845418C2 (de) | Verfahren zur Herstellung von Selenpellets zur Vakuumbedampfung und ihre Verwendung | |
DE1116198B (de) | Mit Leitflaechen versehene Granuliertrommel | |
DE112009001431B4 (de) | Einkristall-Herstellungsvorrichtung und Einkristall-Herstellungsverfahren | |
DE3011436A1 (de) | Verfahren zur kontinuierlichen fluorierung von kohle (kohlenstoff) und vorrichtung zur durchfuehrung einer feststoff-gas-reaktion | |
DE3805118A1 (de) | Verfahren zum tiegelfreien zonenziehen von halbleiterstaeben und induktionsheizspule zu seiner durchfuehrung | |
US5123636A (en) | Low-contaminate work surface for processing semiconductor grade silicon | |
EP3554723B1 (de) | Vorrichtung zum abscheiden vom polysilicium und entsprechendes verfahren | |
DE112012000265T5 (de) | Einkristallherstellungsvorrichtung und Verfahren zum Herstellen eines Einkristalls | |
DE102022102320A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Produktion von Siliziumkarbid | |
DE102015215858B4 (de) | Verfahren zur Wärmebehandlung von Granulat aus Silizium, Granulat aus Silizium und Verfahren zur Herstellung eines Einkristalls aus Silizium | |
DE102021116090A1 (de) | Polysiliciumstab und verfahren zur herstellung von polysiliciumstab | |
DE2435174A1 (de) | Vorrichtung zum kontaktieren des traegerstabes bei der abscheidung von halbleitermaterial aus der gasphase |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |