DE4107299A1 - Verfahren und anordnung zur beruehrungslosen erfassung und/oder justierung des zentrierungsfehlers optisch wirksamer flaechen - Google Patents
Verfahren und anordnung zur beruehrungslosen erfassung und/oder justierung des zentrierungsfehlers optisch wirksamer flaechenInfo
- Publication number
- DE4107299A1 DE4107299A1 DE19914107299 DE4107299A DE4107299A1 DE 4107299 A1 DE4107299 A1 DE 4107299A1 DE 19914107299 DE19914107299 DE 19914107299 DE 4107299 A DE4107299 A DE 4107299A DE 4107299 A1 DE4107299 A1 DE 4107299A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- optical
- optic sensor
- fiber
- transmitter
- active surface
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23Q—DETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
- B23Q15/00—Automatic control or regulation of feed movement, cutting velocity or position of tool or work
- B23Q15/20—Automatic control or regulation of feed movement, cutting velocity or position of tool or work before or after the tool acts upon the workpiece
- B23Q15/22—Control or regulation of position of tool or workpiece
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
- G01B11/27—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes for testing the alignment of axes
- G01B11/272—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes for testing the alignment of axes using photoelectric detection means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0221—Testing optical properties by determining the optical axis or position of lenses
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Optical Couplings Of Light Guides (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Anordnung zur
berührungslosen Erfassung und/oder Justierung des Zentrie
rungsfehlers optisch wirksamer Flächen, insbesondere rota
tionssymmetrischer, sphärischer optischer Bauelemente mit
reflektierenden Oberflächen. Der Einbau von optischen Bau
elementen, insbesondere von rotatorischen optischen Linsen
und Spiegeln, in Geräten oder Baugruppen setzt die Fixierung
der optischen Achse dieser optischen Bauelemente bezüglich
einer mechanischen Achse voraus. Weicht die optische Achse
von einer geforderten Lage bezüglich der mechanischen Achse
ab, so liegt eine Dezentrierung vor. Zur Gewährleistung des
funktionellen Zusammenhanges der optischen Bauelemente in
Baugruppen oder Geräten, die sie enthalten, muß der Zentrie
rungsfehler hinreichend beseitigt werden. Dabei spielen
Verfahren und Anordnungen, mit denen die Lage der optischen
Bauelemente bezüglich einer mechanischen Aufnahme gezielt
verändert wird, eine besondere Rolle.
Der bekannte Stand der Technik beschreibt Verfahren, bei
denen eine auf einer Ringschneide aufliegende und um eine
Systemachse rotierende Linse mittels Autokollimationsver
fahren o.a. hinsichtlich ihrer Relativlage zur Rotations
achse kontrolliert und durch Manipulation zentriert wird.
Dabei werden beide optisch wirksamen Flächen mittels eines
Reflexbildgerätes von einer Seite bzw. mit zwei gegenüber
der jeweiligen Fläche angeordneten Reflexbildegeräten über
prüft.
Der technische Aufwand und die Anforderungen hinsichtlich
einer dabei notwendigen Vorzentrierung der Linse sowie
exakten geometrischen Anordnung des Reflexbildgerätes und
Justiereinrichtung ist hoch und die meßtechnische Auswertung
der Lage der Linse zur Rotationsachse bei ungünstiger Lage
der Krümmungsmittelpunkte der optisch wirksamen Flächen
problematisch.
Die Erfassung der Dezentrierung der Linse erfolgt durch
visuelle und elektronische Auswertung eines optischen Sig
nals. Eine elektronische Auswertung erfolgt beispielsweise
mittels ortsabhängiger oder ortsunabhängiger fotoelek
trischer Sensoren.
Bekannt sind fotoelektrische Empfänger (US-PS 1 09 217.
US-PS 35 42 476), bei denen die Empfängerfläche in vier
Teilsektoren aufgeteilt ist, wodurch eine Ortsauflösung
ermöglicht wird. Weiterhin sind Anordnungen ortsunbhängiger
Empfänger bekannt, bei denen das optische Signal mit dreh
barer Halbblende (DD-PS 2 45 058) oder Graukeil
(DD-PS 1 39 311) moduliert und die Intensitätsänderung
elektronisch ausgewertet wird.
Der Nachteil bei diesen Verfahren liegt in dem hohen Aufwand
bei der elektronischen Auswertung sowie der aufwendigen
Justierung der Auswerteeinrichtungen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren
und eine Anordnung zur berührungslosen Erfassung und
Justierung des Zentrierungsfehlers optisch wirksamer
Flächen, insbesondere rotationssymetrischer, sphärischer
optischer Bauelemente mit reflektierenden Oberflächen, zu
schaffen, wobei die den Zentrierungsfehler hervorrufende
Dezentrierung der optisch wirksamen Flächen bezüglich einer
mechanischen Aufnahme Sensors erfasst und die Lage des
optischen Bauelements gezielt verändert werden soll, bis
eine zentrierte Lage bezüglich der mechanischen Aufnahme
vorliegt.
Hinsichtlich des Verfahrens wird die Aufgabe erfindungsgemäß
dadurch gelöst, daß zunächst nach dem Anfahren einer Aus
gangsposition zwischen einem faseroptischen Sensor und der
mit einem Zentrierungsfehler behafteteten optisch wirksamen
Fläche eine rotatorische Relativbewegung eingeleitet wird.
Nachfolgend wird der faseroptische Sensor derart posi
tioniert, daß Anteile eines vom senderseitigen Lichtwellen
leiter des faseroptischen Sensors ausgesendetes Strahlungs
bündels nach Reflexion an der optisch wirksamen Fläche von
den empfängerseitigen Lichtwellenleiter des faseroptischen
Sensors empfangen werden.
Durch das sich anschließende Verschieben und/oder Verkippen
wird die Lage des optischen Bauelementes so verändert, daß
sich die Amplitude des von dem senderseitigen Lichtwellen
leiter empfangenen periodischen Signals, dessen Amplitude
durch den Zentrierungsfehler und die Frequenz durch die
Umdrehungsgeschwindigkeit der rotatorischen Relativbewegung
bestimmt ist, verringert. Der Vorgang der Positionierung des
faseroptischen Sensors mit anschließender Manipulation des
optischen Bauelementes wird solange wiederholt, bis der
Wechselanteil des empfangenen Signals hinreichend klein ist.
Die erfindungsgemäße Anordnung besteht aus einer Aufnahme,
auf der sich die optisch wirksame Fläche befindet,
mindestens einem, die Lage der optisch wirksamen Fläche
verändernden, von einer Positioniereinrichtung bewegten
Justiermanipulator und einer Auswerte- und Steuerungs
einrichtung mit faseroptischem Sensor sowie einem eine
rotatorische Relativbewegung zwischen Aufnahme und faser
optischen Sensor erzeugenden Antrieb mit Lageerkennung
wobei vor der optisch wirksamen Fläche ein mit einer Posi
tioniereinrichtung verbundener faseroptischer Sensor ange
ordnet ist.
Eine Anpassung an die geometrisch optischen Eigenschaften
der optisch wirksamen Fläche, die die Abbildung des
senderseitigen Strahlungsbündels auf den faseroptischen
Sensor beeinflußt, erfolgt durch senderseitige und empfän
gerseitige Lichtwellenleiter, die über eine mit ihnen ver
bundene Positioniereinrichtung zu einander verschiebbar
und/oder verkippbar sind, oder mehrere empfängerseitigen
Lichtwellenleiter, die in unterschiedlichen Abständen neben
dem senderseitigen Lichtwellenleiter angeordnet sind,
und/oder einer Formgebung der Stirnflächen der Lichtwellen
leiter bzw. einem optisches System, daß vor dem faser
optischen Sensor angebracht ist.
Die Erfindung wird nachstehend an einem Ausführungsbeispiel
näher erläutert. Die dazu gehörendern Zeichnungen zeigen:
Fig. 1 Anordnungsschema zur berührungslosen Erfassung
und Justierung des Zentrierungsfehlers optisch
wirksamer Flächen,
Fig. 2 Strahlengang bei der Antastung der optisch wirk
samen Fläche durch das optische Bauelement,
Fig. 3 Lageänderung des reflektierten Strahlungskegels
beim Auftreffen auf die empfängerseitigen Licht
wellenleiter.
Fig. 1 zeigt das Anordnungsschema zur berührungslosen Erfas
sung und Justierung des Zentrierungsfehlers optisch
wirksamer Flächen mittels faseroptischen Sensors, bei dem
das optische Bauelement 10 sich auf einer Ringschneide 11,
die mit der Aufnahme mit rotatorischem Antrieb 12 verbunden
ist, befindet. Der Justiermanipulator mit positionier
einrichtung 4 ist neben der Aufnahme mit rotatorischem
Antrieb 12 und Lageerkennung bzw. optischem Bauelement 10
deart angeordnet, daß er das optische Bauelement 10 bezüg
lich des faseroptischen Sensors 14 verschiebt und/oder ver
kippt.
Dem optischen Bauelement 10 gegenüberliegend ist ein faser
optischer Sensor 14, bestehend aus mit einem Sendebauelement
5 verbundenem senderseitigen Lichtwellenleiter 7 und zwei
benachbarten empfängerseitigen Lichtwellenleitern 6, 6′ ange
ordnet. Der empfängerseitige Lichtwellenleiter 6 ist mit der
Positioniereinrichtung 3 verbunden, die eine Relativlagen
änderung zwischen den empfängerseitigen und senderseitigen
Lichtwellenleitern 6, 6′, 7 bewirkt. Der faseroptische
Sensor 14 ist mit einer Positioniereinrichtung 2 verbunden,
die den faseroptischen Sensor 14 bezüglich des optischen
Bauelementes 10 verschiebt und/oder verkippt.
Die positioniereinrichtungen 2, 3, 4 sowie das Sendebau
element 5 sind mit einer Auswerte- und Steuereinrichtung 1
verbunden.
Die optische Achse des optischen Bauelementes 10, gebildet
durch eine gedachte Verbindung der Krümmungsmittelpunkte der
oberen und unteren optisch wirksamen Flächen 8, 9, weist
einen Zentrierungsfehler bezüglich der mechanischen, mit der
Rotationsachse der Aufnahme mit Antrieb 12 fluchtenden Achse
der Ringscheide 11 auf. Gemäß des ersten Verfahrensschrittes
wird der faseroptische Sensor 14 durch die positionier
einrichtungen 2, 3 in eine Ausgangslage gebracht.
Nachfolgend wird durch den rotatorischen Antrieb der Auf
nahme und Lageerkennung 12 eine Relativbewegung zwischen dem
optischen Bauelement 10 und dem faseroptischen Sensor 14
eingeleitet.
Anteile eines vom senderseitigen Lichtwellenleiter 7 auf das
rotierende optische Bauelement 10 abgebildeten divergenten
Strahlungsbündels werden durch die obere optisch wirksame
Fläche 8 reflektiert. Das reflektierte Strahlungsbündel
ändert periodisch seine Richtung, wobei die Rotations
geschwindigkeit die Periode und die Abweichung der Lage der
oberen optisch wirksamen Fläche 8 das Maß der Richtungs
änderung beeinflussen. Bei feststehendem faseroptischen
Sensor 14 ist die Richtungsänderung des reflektierten
Strahlungsbündels unabhängig von der Relativlage des sender
seitigen Lichtwellenleiters 7 bezüglich der oberen optisch
wirksamen Fläche 8.
Im folgenden Verfahrensschritt wird der faseroptische Sensor
14 durch die positioniereinrichtung 2 bezüglich der oberen
optisch wirksamen Fläche 8 derart positioniert, daß das
reflektierte Strahlungsbündel auf die empfängerseitigen
Lichtwellenleiter 6, 6′ trifft. Dabei ist vorzugsweise der
in Fig. 3 dargestellte Fall zu erreichen, bei dem die Rand
strahlen des reflektierten Strahlungsbündels die Stirn
flächen der empfängerseitigen Lichtwellenleiter 6, 6′
schneiden und durch die Richtungsänderung des reflektierten
Strahlungsbündels eine Anderung der bestrahlten Flächen der
empfängerseitigen Lichtwellenleiter eintritt.
Mit einer, durch die Fositioniereinrichtung 3 bewirkten,
Relativlagenänderung zwischen senderseitigem und empfänger
seitigen Lichtwellenleiter 7, 6, 6′ ist ebenfalls eine Posi
tionierung des empfängerseitigen Lichtwellenleiters 6 in den
Strahlengang des reflektierten Strahlungsbündels möglich.
Die Amplitude des Wechselanteils des von den empfänger
seitigen Lichtwellenleitern 6, 6′ empfangene Signals ist ein
Maß der Dezentrierung der oberen optisch wirksamen Fläche 8.
Der nachfolgende Verfahrensschritt ist gekennzeichnet durch
die Ermittlung der Justierstellen und -stellgrößen aus dem
Verlauf des empfangenen Signales und der rotatorischen
Relativlage.
Anschließend wird das optische Bauelement 10 bezüglich des
faseroptischen Sensors 14 mittels des Justiermanipulators
mit Positioniereinrichtung 4 derart verschoben und/oder
verkippt, daß eine Verringerung der Extrema des Wechsel
anteiles des empfangenen Signales eintritt.
Die Verfahrensschritte des Positionierens des faseroptischen
Sensors 14, der Ermittlung der Justierstellen und -größen
sowie der anschließenden Manipulation wird solange wieder
holt, bis der Wechselanteil des empfangenen Signals und
damit die Dezentrierung der oberen optisch wirksamen Fläche
8 hinreichend klein ist.
Fig. 2 zeigt den Strahlengang bezüglich der unteren optisch
wirksamen Fläche 9, deren Justierung analog zur oberen
optisch wirksamen Fläche 8 erfolgt. Im Ergebnis der Justie
rung ist die optische Achse des optischen Bauelementes 10
bezüglich der mechanischen Achse der Ringschneide 11 ausge
richtet.
Liste der verwendeten Abkürzungen und Bezugszeichen
1 Auswerte- und Steuereinrichtung
2 Positioniereinrichtung für faseroptischen Sensor
3 Positioniereinrichtung für senderseitigen bzw. empfängerseitige Lichtwellenleiter
4 Justiermanipulator mit Positioniereinrichtung
5 Sendebauelement
6 empfängerseitige Lichtwellenleiter
7 senderseitiger Lichtwellenleiter
8 obere optisch wirksame Fläche
9 untere optisch wirksame Fläche
10 optisches Bauelement
11 Ringschneide
12 Aufnahme für Ringschneide mit rotatorischem Antrieb und Lageerkennung
13 sich ändernde bestrahlte Fläche der Empfangsfasern
14 faseroptischer Sensor
2 Positioniereinrichtung für faseroptischen Sensor
3 Positioniereinrichtung für senderseitigen bzw. empfängerseitige Lichtwellenleiter
4 Justiermanipulator mit Positioniereinrichtung
5 Sendebauelement
6 empfängerseitige Lichtwellenleiter
7 senderseitiger Lichtwellenleiter
8 obere optisch wirksame Fläche
9 untere optisch wirksame Fläche
10 optisches Bauelement
11 Ringschneide
12 Aufnahme für Ringschneide mit rotatorischem Antrieb und Lageerkennung
13 sich ändernde bestrahlte Fläche der Empfangsfasern
14 faseroptischer Sensor
Claims (7)
1. Verfahren zur berührungslosen Erfassung und/oder Justie
rung des Zentrierungsfehlers optisch wirksamer Flächen,
insbesondere von optischen Linsen, wobei die optisch
wirksame Fläche eine Rotationsbewegung um eine Achse aus
führt, zu der die optisch wirksame Fläche ausge
richtet werden soll, durch folgende Verfahrensschritte
gekennzeichnet:
- a) Anfahren einer anordnungsspezifischen Ausgangslage zwischen einem faseroptischen Sensor (14) und der mit einem Zentrierungsfehler behafteten optisch wirksamen Fläche (8);
- b) Positionieren des faseroptischen Sensors (14) zur optisch wirksamen Fläche (8) derart, daß ein vom faser optischen Sensor (14) ausgesandtes Strahlungsbündel nach dessen Reflexion an der optisch wirksamen Fläche (8) vom faseroptischen Sensor (14) als sich mit der Frequenz der rotatorischen Relativbewegung änderndes periodisches Signal empfangen wird;
- c) Ermitteln der Justierstellen und -stellgrößen aus dem Verlauf des empfangenen Signals und der rotatorischen Relativlage;
- d) Verschieben und/oder Verkippen der optisch wirksamen Fläche (8) bezüglich des faseroptischen Sensors (14) derart, daß eine Verringerung der Extrema des Wechsel anteils des empfangenen Signals eintritt,
- e) Wiederholung des Vorgangs unter b) bis d) bis der Wechselanteil des empfangenen Signals hinreichend klein ist.
2. Anordnung zur berührungslosen Erfassung und/oder Justie
rung des Zentrierungsfehlers optisch wirksamer Flächen
bestehend aus einer Aufnahme, auf der sich die optisch
wirksame Fläche befindet, mindestens einem, die Lage der
optisch wirksamen Fläche verändernden, von einer
Positioniereinrichtung bewegten Justiermanipulator und
einer Auswerte- und Steuerungseinrichtung mit faser
optischem Sensor, bestehend aus mindestens einem sender
seitigen Lichtwellenleiter mit Sendebauelement und
mindestens einem Empfangsbauelement, sowie einem eine
rotatorische Relativbewegung zwischen Aufnahme und faser
optischen Sensor erzeugenden Antrieb mit Lageerkennung
dadurch gekennnzeichnet,
daß der faseroptische Sensor (14) der optisch wirksamen
Fläche (8) gegenüber steht und durch eine Positionier
einrichtung (2) bezüglich der optisch wirksamen
Fläche (8) bewegbar ist.
3. Anordnung nach Anspruch 2 dadurch gekennzeichnet,
daß senderseitiger Lichtwellenleiter (7) und empfänger
seitiger Lichtwellenleiter (6) durch eine Positionier
einrichtung (3) zu einander verschiebbar und/oder ver
kippbar angeordnet sind.
4. Anordnung nach Anspruch 2 dadurch gekennzeichnet,
daß mehrere empfängerseitige Lichtwellenleiter (6) neben
dem senderseitigen Lichtwellenleiter (7) so angeordnet
sind, daß sich die Stirnflächen der empfängerseitigen
Lichtwellenleiter (6) bei um die Achse des senderseitigen
Lichtwellenleiters (7) gedachten Kreisbögen mit veränder
lichen Radien nacheinander überlappen, aber mindesten
berühren.
5. Anordnung nach einem der Ansprüche 2 bis 4 dadurch
gekennzeichnet,
daß die Stirnflächen der Lichtwellenleiter (6, 7) eine
Formgebung erhalten, die ihre goemetrisch optischen
Eigenschaften an die der optisch wirksamen Fläche (8)
anpassen.
6. Anordnung nach einem der Ansprüche 2 bis 4 dadurch
gekennzeichnet,
daß vor dem faseroptischen Sensor ein optisches System
angeordnet ist, das die optische Abbildung des sender
seitigen Strahlungsbündels an die geometrisch optischen
Eigenschaften des zu justierenden optischen Bauelementes
anpaßt.
7. Anordnung nach einem der Ansprüche 2 bis 6 dadurch
gekennzeichnet,
daß für den senderseitigen Lichtwellenleiter (7) ersatz
weise eine das Strahlungsbündel erzeugende Beleuchtungs
einrichtung angeordnet ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19914107299 DE4107299A1 (de) | 1991-03-07 | 1991-03-07 | Verfahren und anordnung zur beruehrungslosen erfassung und/oder justierung des zentrierungsfehlers optisch wirksamer flaechen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19914107299 DE4107299A1 (de) | 1991-03-07 | 1991-03-07 | Verfahren und anordnung zur beruehrungslosen erfassung und/oder justierung des zentrierungsfehlers optisch wirksamer flaechen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4107299A1 true DE4107299A1 (de) | 1992-09-10 |
Family
ID=6426687
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19914107299 Withdrawn DE4107299A1 (de) | 1991-03-07 | 1991-03-07 | Verfahren und anordnung zur beruehrungslosen erfassung und/oder justierung des zentrierungsfehlers optisch wirksamer flaechen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4107299A1 (de) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0679473A1 (de) * | 1994-04-28 | 1995-11-02 | Wernicke & Co. GmbH | Anlage zum Schleifen wenigstens des Umfangsrandes von Brillengläsern |
FR2737145A1 (fr) * | 1995-07-26 | 1997-01-31 | Wernicke & Co Gmbh | Installation et procede de meulage d'au moins le bord peripherique de verres de lunettes |
DE19943284A1 (de) * | 1999-09-10 | 2001-03-15 | Univ Ilmenau Tech | Vorrichtung zur Justierung optischer Baugruppen |
WO2003012548A2 (de) * | 2001-07-26 | 2003-02-13 | Carl Zeiss Smt Ag | System zum vermessen eines optischen systems, insbesondere eines objektives |
DE10306669A1 (de) * | 2003-02-13 | 2004-09-09 | Bundesrepublik Deutschland, vertr. d. d. Bundesministerium für Wirtschaft und Arbeit, dieses vertr. d. d. Präsidenten der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt | Verfahren zur Überprüfung der Formgebung und Vorrichtung zur formgebenden Bearbeitung eines optisch transparenten Körpers |
DE102004029735A1 (de) * | 2004-06-21 | 2006-01-12 | Trioptics Gmbh | Verfahren zur Messung optischer Oberflächen innerhalb einer mehrlinsigen Anordnung |
EP1674822A1 (de) * | 2004-12-22 | 2006-06-28 | Novartis AG | Vorrichtung und Verfahren zum berührungslosen Abtasten der Geometrie einer Kontaktlinsengiessform |
CN109596070A (zh) * | 2018-12-20 | 2019-04-09 | 西安交通大学 | 一种通用面式非接触传感器的光学平行校准装置及方法 |
CN115302288A (zh) * | 2022-10-11 | 2022-11-08 | 四川工程职业技术学院 | 一种基于三点定位铣削精度修正的装置及方法 |
-
1991
- 1991-03-07 DE DE19914107299 patent/DE4107299A1/de not_active Withdrawn
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0679473A1 (de) * | 1994-04-28 | 1995-11-02 | Wernicke & Co. GmbH | Anlage zum Schleifen wenigstens des Umfangsrandes von Brillengläsern |
FR2737145A1 (fr) * | 1995-07-26 | 1997-01-31 | Wernicke & Co Gmbh | Installation et procede de meulage d'au moins le bord peripherique de verres de lunettes |
DE19943284A1 (de) * | 1999-09-10 | 2001-03-15 | Univ Ilmenau Tech | Vorrichtung zur Justierung optischer Baugruppen |
WO2003012548A2 (de) * | 2001-07-26 | 2003-02-13 | Carl Zeiss Smt Ag | System zum vermessen eines optischen systems, insbesondere eines objektives |
WO2003012548A3 (de) * | 2001-07-26 | 2003-04-17 | Zeiss Carl Semiconductor Mfg | System zum vermessen eines optischen systems, insbesondere eines objektives |
DE10306669B4 (de) * | 2003-02-13 | 2005-04-14 | Bundesrepublik Deutschland, vertr. d. d. Bundesministerium für Wirtschaft und Arbeit, dieses vertr. d. d. Präsidenten der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt | Verfahren zur Überprüfung der Formgebung und Vorrichtung zur formgebenden Bearbeitung eines optisch transparenten Körpers |
DE10306669A1 (de) * | 2003-02-13 | 2004-09-09 | Bundesrepublik Deutschland, vertr. d. d. Bundesministerium für Wirtschaft und Arbeit, dieses vertr. d. d. Präsidenten der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt | Verfahren zur Überprüfung der Formgebung und Vorrichtung zur formgebenden Bearbeitung eines optisch transparenten Körpers |
DE102004029735A1 (de) * | 2004-06-21 | 2006-01-12 | Trioptics Gmbh | Verfahren zur Messung optischer Oberflächen innerhalb einer mehrlinsigen Anordnung |
DE102004029735B4 (de) * | 2004-06-21 | 2008-09-18 | Trioptics Gmbh | Verfahren zur Messung optischer Oberflächen innerhalb einer mehrlinsigen Anordnung |
DE102004029735C5 (de) * | 2004-06-21 | 2011-09-15 | Trioptics Gmbh | Verfahren zur Messung optischer Oberflächen innerhalb einer mehrlinsigen Anordnung |
EP1674822A1 (de) * | 2004-12-22 | 2006-06-28 | Novartis AG | Vorrichtung und Verfahren zum berührungslosen Abtasten der Geometrie einer Kontaktlinsengiessform |
CN109596070A (zh) * | 2018-12-20 | 2019-04-09 | 西安交通大学 | 一种通用面式非接触传感器的光学平行校准装置及方法 |
CN115302288A (zh) * | 2022-10-11 | 2022-11-08 | 四川工程职业技术学院 | 一种基于三点定位铣削精度修正的装置及方法 |
CN115302288B (zh) * | 2022-10-11 | 2022-12-20 | 四川工程职业技术学院 | 一种基于三点定位铣削精度修正的装置及方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE4402642C2 (de) | Optoelektronische Vorrichtung zum Orten von Hindernissen | |
DE2202626C3 (de) | Vorrichtung zum Ausrichten von optischen Elementen | |
DE2934263B2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Messung der Scheitelbreckwerte in den Hauptschnitten torischer Brillengläser | |
DE2202172C3 (de) | Anordnung zum automatischen Nachführen | |
DE60224623T2 (de) | Wanddickenmessung eines transparenten Behälters mit einem Lichtfächer | |
DE4107299A1 (de) | Verfahren und anordnung zur beruehrungslosen erfassung und/oder justierung des zentrierungsfehlers optisch wirksamer flaechen | |
DE102015105613A1 (de) | Auflicht-Beleuchtung für variablen Arbeitsabstand | |
DE60132551T2 (de) | Verfahren und apparat zur messung der geometrischen struktur eines optischen bauteils durch lichtübertragung | |
DE10124850C2 (de) | Zielsimulationssystem | |
EP0249800A2 (de) | Vorrichtung zum Beleuchten von Bauteilen aus transparentem Material bei der Fehlerprüfung | |
DE69935034T2 (de) | Leseverfahren und -vorrichtung für reliefmarkierungen in einem durchsichtigen oder durchscheinenden behälter | |
DE3431616C2 (de) | ||
DE4439307C2 (de) | Beobachtungsoptik für ein 3D-Oberflächenmeßgerät mit hoher Genauigkeit | |
DE3207469C2 (de) | Anordnung zur Übertragung von mehreren Lichtkanälen zwischen zwei ralativ zueinander um eine gemeinsame Drehachse rotierenden Bauteilen | |
DE4222659C2 (de) | Abtastendes Hinderniswarngerät | |
EP0264591B1 (de) | Verfahren zur Vermessung der optischen Achse eines Leitstrahlprojektors und Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE3022365A1 (de) | Optische abtastvorrichtung | |
DE3444106C1 (de) | Optische Abtasteinrichtung zum Lesen von Strichcodesymbolen | |
WO1989011630A1 (en) | Process and device for measuring surfaces | |
DE19600520C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Dezentrierung von optischen Linsen | |
DE1958139B2 (de) | Anordnung zur optischen leitstrahllenkung von flugzeugen oder flugkoerpern | |
DD239468B1 (de) | Rundumlichtempfaenger mit vertikaler fokussierwirkung | |
DE3439581A1 (de) | Beruehrungslose optische abstandsmessung mit steuerbarer messrichtung | |
DE1673421C (de) | Vorriohtung zur beruhrungslosen Mes sung der Winkelgeschwindigkeit einer um laufenden Welle | |
DE3512002A1 (de) | Einrichtung zur bestimmung geometrischer abmessungen an messobjekten |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8122 | Nonbinding interest in granting licenses declared | ||
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |