DE4017288A1 - Ionenfalle fuer ionen niedriger energie - Google Patents
Ionenfalle fuer ionen niedriger energieInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft allgemein eine Ionenfalle
für ein Elektronen-Injektorsystem, um das Triften von positi
ven Ionen in einen Elektronenstrahlerzeugerbereich zu verhin
dern, wo diese Ionen sonst zu einer Katode des Elektronen
strahlerzeugers hin beschleunigt werden und auf sie auftref
fen können.
Im Betrieb erzeugt ein Elektronenstrahl von einem Elektronen
strahlerzeuger längs seines Weges Ionen aus den Restgasen in
dem Gerät, wenn Gasmoleküle durch den Elektronenstrahl ge
troffen werden. Durch den Elektronenstrahl erzeugte positive
Ionen können in den Strahlerzeuger-Elektrodenbereich trif
ten, wo sie dann leicht, durch das Potential der Strahlerzeu
ger-Elektroden fokussiert, zu der Katode hin beschleunigt
werden und auf sie auftreffen.
Die Lebensdauer einer Katode in einem Elektronen-Injektor-
System wird durch Verdampfungs- und Zerstäubungseffekte
beschränkt. Falls die Katode mit Ionen hoher Energie bombar
diert wird, wird das Katodenmaterial zerstäubt und es ent
steht ein Schaden, der die wirksame Betriebslebensdauer der
Katode begrenzt. Deswegen werden bei manchen Systemen Ionen
fallen benutzt, um die Ionen einzufangen, bevor sie in einen
Beschleunigungsbereich um eine Strahlerzeuger-Elektrode ein
treten. Das kann dadurch geschehen, daß eine Platte in den
Ionenweg gestellt wird, damit die Ionen auf die Platte auf
treffen, statt in den Elektrodenbereich zu triften. Bei An
wendungen, bei denen die Elektronen den gleichen Weg in der
umgekehrten Richtung laufen, wie die von ihnen erzeugten
Ionen, müssen die Ionen auf andere Weise, z. B. elektrosta
tisch, zur Platte hin abgelenkt werden.
US-PS 47 43 794 stellt eine Art von Ionenfalle für eine Kato
denstrahlröhre vor. Bei dieser Röhrenart besitzt eine Halb
leiterkatode einen ringförmigen Emissionsbereich, der eine
Zentralachse der Röhre umgibt. Ein erstes Elektrodengitter
bei der Katode besitzt eine Öffnung, die sich ausreichend
weit von der Achse erstreckt, um von dem Ringbereich emit
tierte Elektronen durchzulassen. Eine weitere Elektrode, ein
Schirmgitter, ist weiter von der Katode entfernt angeordnet
und wird mit einem höheren Potential als die erste Elektrode
betrieben, so daß eine positive Linse gebildet wird, die den
ringförmigen Elektronenstrahl zu einer Überkreuzung ungefähr
im Bereich einer Öffnung im Schirmgitter konvergieren läßt,
durch die der Elektronenstrahl hindurchtritt. Die Öffnung im
Schirmgitter besitzt einen geringeren Durchmesser als der
ringförmige Emissionsbereich, so daß irgendwelche positive
Ionen, die in der Nähe der Achse erzeugt werden und durch
die Öffnung im Schirmgitter hindurchtreten, parallel zur
Achse beschleunigt werden und im Zentralbereich der Katode
auftreffen. Sie können damit den ringförmigen Emissionsbe
reich nicht treffen. Positive Ionen, die weiter von der
Achse weg erzeugt werden, werden in eine Richtung beschleu
nigt, die von der Achse und der Öffnung im Schirmgitter weg
führt. Diese Auslegung hindert die Mehrzahl von in der Röhre
erzeugten positiven Ionen daran, auf den ringförmigen Emiss
ionsbereich der Katode aufzutreffen. Die einzigen positiven
Ionen, die auf den ringförmigen Emissionsbereich auftreffen,
sind solche, die in einem engen Bereich zwischen der Katode
und der ersten Elektrode entstehen. Diese Elektronen besit
zen jedoch eine relativ geringe Energie, so daß sie im Emis
sionsbereich nur wenig Schaden anrichten können.
US-PS 35 86 901 stellt eine weitere Art von Ionenfalle dar,
mit der die Auftreffgeschwindigkeit positiver Ionen auf Elek
tronenstrahlerzeuger-Katoden reduziert wird. Diese Ionenfal
le enthält zwei Titananoden in engem Abstand voneinander mit
öffnungen, durch welche der Elektronenstrahl von der Katode
läuft. Die der Katode am nächsten liegende Anode besitzt
eine kleinere Öffnung und wird mit einem höheren positiven
Potential bezüglich der Katode als die andere Anode betrie
ben. Dadurch wird ein Potentialberg erzeugt und jedes außer
halb des Bereichs zwischen der Katode und Anode erzeugte po
sitive Ion muß diesen Berg überwinden, bevor es zu der Kato
de hin angezogen wird.
US-PS 47 20 832 beschreibt einen weiteren Gerätetyp, mit dem
verhindert wird, daß Verunreinigungsionen ein optisches Fen
ster in einem Laser verunreinigen. Das Gerät dieses US-Pa
tents enthält Magnetpaare an jeder Seite der optischen
Achse, die geladene Partikel, welche sich längs der Achse zu
dem Fenster hin bewegen, mit Magnetfeldern beaufschlagen, um
sie so von der Achse weg ablenken. Eine Anzahl von Ringschei
ben mit Öffnungen längs der Achse sind mit Abstand von den
Magneten so angeordnet, daß die abgelenkten geladenen Parti
kel an den Ringscheiben gesammelt werden.
Es ist ein Ziel der vorliegenden Erfindung, eine verbesserte
und wirksame Ionenfalle zu schaffen, um durch einen Elektro
nenstrahl in einem Elektronen-Injektor-System erzeugte Ionen
daran zu hindern, in einen Beschleunigungsbereich eines Elek
tronenstrahl-Erzeugers des Systems einzutreten, wobei die Io
nenfalle wirksam durch den Elektronenstrahl bei seinem Hin
durchtreten selbst erregt wird und einen breiten Bereich von
Ionen niedrigerer Energie einfangen kann.
Eine erfindungsgemäße Ionenfalle besteht aus mindestens zwei
als Sektor eines Zylinders ausgebildeten Elementen, die Ele
mente sind mit Abstand voneinander angeordnet, formen ein zy
lindrisches Gebilde, und jedes Element besitzt Endplatten
und eine Anzahl von sich im wesentlichen parallel zu den End
platten nach innen zur Mitte des zylindrischen Gebildes hin
erstreckenden Rippen, einen Einschnitt in Form eines Kreis
sektors, der in den Endplatten und den Rippen in der Nähe
des Zentrums angeordnet ist und eine Mittelbohrung bildet,
durch die ein Elektronenstrahl von dem Elektronenstrahl-Er
zeuger läuft, wobei die Elemente elektrisch leitend und an
mit je einem isolierenden Element einer Außenhülle befestigt
sind, und es ist ein leitfähiger Draht elektrisch mit jedem
Element verbunden, um dieses Element auf einem vorbestimmten
Potential zu halten.
Bei einer bevorzugten Ausführung der Erfindung besitzt die
Zentralbohrung im wesentlichen den gleichen Durchmesser wie
der Elektronenstrahl.
Bei einer weiteren bevorzugten Ausführung der Erfindung sind
zwei Elemente vorhanden mit jeweils halbzylindrischem Auf
bau.
Bei einer weiteren erfindungsgemäßen Ausführung sind vier
Elemente vorhanden mit jeweils der Form eines Viertelzylin
ders, und die Spannung jedes Sektors wird auf einem unter
schiedlichen Wert gehalten.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand der Zeichnung bei
spielsweise näher erläutert; in dieser zeigt:
Fig. 1 eine schematische Darstellung einer bevorzugten Aus
führung eines Elektronenstrahlgeräts mit einer erfin
dungsgemäßen Ionenfalle.
Ein Elektronenstrahl wird in Fig. 1 durch eine Katode 1 er
zeugt und durch eine Anode 2 längs einer Mittellinie 12 zu
einem Beschleuniger 5 hin beschleunigt. Der Elektronenstrahl
wird durch Spulen 3 und 4 fokussiert, zwischen denen eine Io
nenfalle angeordnet ist. Die Ionenfalle besteht aus zwei
halbzylindrischen Elementen 10 und 11, die gegeneinander iso
liert und mit Abstand voneinander angeordnet sind. Die halb
zylindrischen Elemente 10 und 11 besitzen zentrale halbkreis
förmige Öffnungen an ihren einander zugewendeten Seiten, und
die Öffnungen bilden eine Zentralbohrung, welche die Mittel
linie 12 umgibt, längs der der Elektronenstrahl läuft. Das
Element 10 ist an einer Stütze 15 mit einem isolierten kera
mischen Abstandshalter 6 angebracht, während das Element 11
an der Stütze 15 mit einem isolierenden keramischen Abstands
halter 7 angebracht ist. Die Stütze 15 kann z. B. der Außen
mantel des Geräts sein.
Jedes halbzylindrische Element besteht aus Titan und besitzt
eine Anzahl von sich nach innen erstreckenden Rippen, so daß
ein Prallplattenraum gebildet wird. Das Element 11 besitzt
eine Endplatte 21 an dem katodenseitigen Ende und eine weite
re Endplatte 25 am gegenüberliegenden Ende.
Die sich nach innen erstreckenden Rippen 22, 23 und 24 sind
zwischen den Endplatten 21 und 25 angeordnet. In gleicher
Weise besitzt das Element 10 Endplatten 21′ und 25′ und da
zwischen Rippen 22′, 23′ und 24′. Jede Rippe und Platte ist
mit einem zentralen halbkreisförmigen Einschnitt an der In
nenkante versehen, und diese Einschnitte bilden zusammen die
Mittelbohrung. Die halbkreisförmigen Einschnitte 16, 16′, 17
und 17′ in den Endplatten 21 bzw. 21′ und der benachbarten
Rippe 22 bzw. 22′ sind gleich groß und besitzen parallel zu
der Achse verlaufende ebene Innenkanten. Die nächste Rippe
23 bzw. 23′ hat jedoch einen etwas größeren zentralen Ein
schnitt 18 bzw. 18′, und die darauffolgende Rippe 24 bzw.
24′ einen noch etwas größeren zentralen Einschnitt 19 bzw.
19′, und der Einschnitt 20 bzw. 20′ in der Endplatte 25 bzw.
25′ ist noch größer. Diese zuletzt erwähnten zentralen Ein
schnitte bilden nicht eine zylindrische Zentralbohrung, wie
die Einschnitte in der Endplatte 21 bzw. 21′ und der Rippe
22 bzw. 22′, sondern eine solche mit leicht konischer Form.
Die Basis des Konus sitzt an einer Stelle, die am weitesten
von der Katode abgewendet ist. Die Innenkanten der Öffnungen
in den Rippen 23, 23′, 24 und 24′ und in den Endplatten 25
und 25′ sind so geneigt, daß sie zu der Oberfläche der Kegel
form mit einem Neigungswinkel von ca. 7° parallel sind.
Der Innendurchmesser der durch die Endplatten 21, 21′ und
die Rippen 22, 22′ ausgebildeten Mittelbohrung ist so ausge
legt, daß der Strahl leicht die Kanten streift. Die Elemente
10 und 11 sind durch die Isolatoren 6 bzw. 7 gegeneinander
isoliert. Die Elemente 10 und 11 werden damit durch die Elek
tronen des Strahls durch den streifenden Strahl aufgeladen.
Um das Fallenelement 10 auf ca. -1500 V zu halten, wird ein
entsprechender Ableitwiderstand und ein Funkenspalt zwischen
dem Element 10 und Masse über eine elektrische Zuleitung 8
angeschlossen. Wenn der Strahl abgeschaltet wird, entlädt
sich das Element 10 langsam über den Ableitwiderstand und
bleibt einige Zeit zu einem gewissen Grad funktionsbereit.
Wenn so das Element 10 negativ aufgeladen ist, werden zu der
Katode 1 hin triftende positive Ionen 30 in ihren Bahnen
nach der Darstellung in Fig. 1 abgelenkt. Das zweite Element
11 der Falle kann über eine Zuleitung 9 oder durch einen wei
teren Ableitwiderstand mit Funkenspalt an Masse angeschlos
sen werden, wenn es gewünscht ist, das Element 11 auf einem
gewissen Potential, z. B. -200 V, zu halten. In diesem Fall
werden auch positive Ionen, die in enge Nachbarschaft zum
zweiten Element 11 kommen, mit einer der Titanplatten im Ele
ment 11 kollidieren. Die Zuleitungen 8 und 9 sind gegen die
Stütze 15 durch Isolatoren 26 bzw. 27 isoliert.
Die Ionenfalle kann auch in mehr Elemente als zwei unter
teilt sein. Beispielsweise kann die Ionenfalle aus vier Vier
telsektor-Elementen bestehen, die auf noch weiter unterteil
ten unterschiedlichen Potentialen gehalten werden können. Da
durch ergibt sich ein noch größerer Bereich von Ionen niedri
ger Energie, die eingefangen werden können.
Der Durchmesser der Durchgangsbohrung und die Ionenfalle
werden miteinander so ausgelegt, daß sie eine einzige Stufe
eines Differentialpumpsystems bilden. Die Eintrittsbohrung
für den Elektronenstrahl muß sorgfältig an den Durchmesser
des jeweiligen Elektronenstrahls angepaßt werden. Die Größe
der Stahlabdeckung durch die Zentralöffnung an der Endplatte
21 und der Rippe 22 kann jedoch mit der Fokussierungsspule 3
eingestellt werden. Wenn bei dem System ein Auftreffen der
Strahlrandbereiche auf den Rand der Öffnungen nicht ge
wünscht wird, kann eine Hochspannungs-Leistungsversorgung an
die Leitung 8 angeschlossen werden, um das entsprechende Po
tential an dem Element 10 zu halten.
Durch in der Nähe der Katode angeordnete Ionenpumpen 40 und
41 kann die Anzahl von Gasmolekülen in dem Bereich auf einem
niedrigen Wert gehalten werden.
Claims (14)
1. Ionenfalle für einen Elektronenstrahl-Erzeuger, dadurch
gekennzeichnet, daß mindestens zwei elektrisch leitende
Elemente (10, 11) in Form eines Zylindersektors vorgese
hen sind, die voneinander mit Abstand angeordnet sind und
zusammen ein zylindrisches Gebilde formen, wobei jedes
Element (10, 11) Endplatten (21′, 25′; 21, 25) und eine
Anzahl von Rippen (22′, 23′, 24′; 22, 23, 24) besitzt,
welche im wesentlichen parallel zu den Endplatten (21,
25) nach innen zur Mitte des zylindrischen Gebildes abste
hen, daß ein kreissektorförmiger Einschnitt (16′, 17′,
18′, 19′, 20′; 16, 17, 18, 19, 20) in der Nähe des Zen
trums ausgebildet ist und eine Zentralbohrung bildet,
durch die ein Elektronenstrahl von einem Elektronen
strahl-Erzeuger (1) läuft; daß die Elemente an einem Au
ßenmantel (15) durch isolierende Elemente (6, 7) ange
bracht sind mit je einer an jedem Element angeschlossenen
Zuleitung (8, 9), um das Element auf einem vorbestimmten
Potential zu halten, und daß die Zentralbohrung im wesent
lichen den gleichen Durchmesser wie der Elektronenstrahl
besitzt.
2. Ionenfalle nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die am nächsten zum Elektronenstrahl-Erzeuger (1) sitzen
den Endplatten (21; 21′) und die benachbarten Rippen (22;
22′) jeweils Einschnitte (16, 17; 16′, 17′) identischer
Größe besitzen, die eine zylindrische Zentralbohrung
bilden, während die Einschnitte (18, 19, 20; 18′, 19′, 20′)
in den anderen Rippen (23, 24; 23′, 24′) bzw. Endplatten
(25; 25′) mit zunehmendem Abstand vom Elektronenstrahl-Er
zeuger (1) langsam größer werden, um so eine konische Zen
tralbohrung zu bilden mit geringer Steigung, deren Grund
fläche in der am weitesten vom Elektronenstrahl-Erzeuger
(1) entfernten Endplatte (25; 25′) sitzt.
3. Ionenfalle nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß
die Steigung der konischen Zentralbohrung etwa 7° be
trägt.
4. Ionenfalle nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
die durch die Einschnitte (16, 17; 16′, 17′) in den dem
Elektronenstrahl-Erzeuger am nächsten sitzenden Endplat
ten (21; 21′) und benachbarten Rippen (22; 22′) parallel
zur Zentralachse (12) liegen und die durch die Einschnit
te (18, 19, 20; 18′, 19′, 20′) in den anderen Rippen (23,
24; 23′, 24′) und Endplatten (25; 25′) parallel zur Konus
verjüngung geneigt sind.
5. Ionenfalle nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß
die zylindrische Bohrung einen geringfügig kleineren
Durchmesser als der Elektronenstrahl an dieser Stelle be
sitzt, so daß der Umfang des Strahls die Innenkanten der
Bohrung streift, um die Elemente (10, 11) aufzuladen, daß
die Zuleitungs (8 oder 9) zu mindestens einem Element (10
oder 11) über einen Ableitwiderstand und einen Luftspalt
mit Masse verbunden ist, um das Element auf einem vorbe
stimmten Potential zu halten.
6. Ionenfalle nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß
die zylindrische Bohrung einen etwas größeren Durchmesser
als der Elektronenstrahl an dieser Stelle besitzt, und
daß die Zuleitung zu mindestens einem Element mit einer
Hochspannungsquelle verbunden ist, um das zugehörige Ele
ment auf einer vorbestimmten Spannung zu halten.
7. Ionenfalle nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß
die Elemente (10, 11) einschließlich Endplatten (21, 25;
21′, 25′) und Rippen (22, 23, 24; 22′, 23′, 24′) aus Titan ge
bildet sind.
8. Ionenfalle nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß
die Elemente einschließlich Endplatten und Rippen aus
Titan gebildet sind.
9. Ionenfalle nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß
zwei halbzylindrische Elemente vorgesehen sind.
10. Ionenfalle nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß
vier Elemente in Form von Viertelzylindern vorgesehen
sind und daß die Zuleitungen zu den Elementen auf unter
schiedlichen vorbestimmten Potentialen gehalten sind.
11. Ionenfalle nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß
die Zuleitung zu mindestens einem anderen Element mit
Masse verbunden ist.
12. Ionenfalle nach Anspruch 6, daß zwei halbzylindrische
Elemente vorgesehen sind.
13. Ionenfalle nach Anspruch 6,daß vier Elemente in Form von
Viertelzylindern vorgesehen sind und daß die Zuleitungen
zu den Elementen auf unterschiedlichen vorbestimmten Po
tentialen gehalten sind.
14. Ionenfalle nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß
die Zuleitung zu mindestens einem anderen Element mit
Masse verbunden ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CA601265 | 1989-05-29 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4017288A1 true DE4017288A1 (de) | 1990-12-06 |
Family
ID=4140131
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4017288A Withdrawn DE4017288A1 (de) | 1989-05-29 | 1990-05-29 | Ionenfalle fuer ionen niedriger energie |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5028837A (de) |
JP (1) | JPH0384838A (de) |
DE (1) | DE4017288A1 (de) |
FR (1) | FR2647593A1 (de) |
GB (1) | GB2233148A (de) |
SE (1) | SE9001778L (de) |
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-
1990
- 1990-05-16 US US07/524,060 patent/US5028837A/en not_active Expired - Fee Related
- 1990-05-17 SE SE9001778A patent/SE9001778L/ not_active Application Discontinuation
- 1990-05-28 FR FR9006588A patent/FR2647593A1/fr active Pending
- 1990-05-29 DE DE4017288A patent/DE4017288A1/de not_active Withdrawn
- 1990-05-29 JP JP2139559A patent/JPH0384838A/ja active Pending
- 1990-05-29 GB GB9011969A patent/GB2233148A/en not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2647593A1 (fr) | 1990-11-30 |
SE9001778L (sv) | 1990-11-30 |
SE9001778D0 (sv) | 1990-05-17 |
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JPH0384838A (ja) | 1991-04-10 |
GB2233148A (en) | 1991-01-02 |
US5028837A (en) | 1991-07-02 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |