DE4010297A1 - Adaptereinrichtung fuer eine automatische pruefvorrichtung zum pruefen von schaltungsplatinen - Google Patents

Adaptereinrichtung fuer eine automatische pruefvorrichtung zum pruefen von schaltungsplatinen

Info

Publication number
DE4010297A1
DE4010297A1 DE19904010297 DE4010297A DE4010297A1 DE 4010297 A1 DE4010297 A1 DE 4010297A1 DE 19904010297 DE19904010297 DE 19904010297 DE 4010297 A DE4010297 A DE 4010297A DE 4010297 A1 DE4010297 A1 DE 4010297A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
needle
needles
adapter device
positions
circuit board
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19904010297
Other languages
English (en)
Inventor
Rainer Dipl Ing Ott
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Test Plus Electronic GmbH
Original Assignee
Test Plus Electronic GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Test Plus Electronic GmbH filed Critical Test Plus Electronic GmbH
Priority to DE19904010297 priority Critical patent/DE4010297A1/de
Publication of DE4010297A1 publication Critical patent/DE4010297A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card

Description

Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Adaptereinrichtung wie sie im Oberbegriff des Anspruches 1 angegeben ist.
Mehr ins einzelne gehend betrifft die Erfindung eine der Short-Wire- Technik zuzurechnende Adaptereinrichtung, wie sie zusammen mit bekannten automatisch arbeitenden Prüfeinrichtungen für Schaltungs­ platinen Verwendung findet.
Schaltungsplatinen (gedruckte Schaltungen und dergleichen) sind heutigentags übliche Bestandteile elektronischer Geräte. Diese Platinen werden weitgehend automatisiert hergestellt und mit elektronischen Bauteilen bestückt. Sie werden vor dem Einbau in das jeweilige Gerät auf ihre Funktionsfähigkeit überprüft. Der hohen Investitionskosten für eine derartige Prüfeinrichtung wegen wird angestrebt, diese Prüfung einer jeweiligen Platine in kürzester Zeitdauer durchzuführen. Bei entsprechend gesteigerter Taktfrequenz der Prüfung der Baugruppen verfälschen dann längere Leitungen und die auftretenden Induktivitäten der erforderlichen Verbindungsdrähte von der jeweiligen Baugruppe zur Prüfvorrichtung zunehmend mehr und mehr die Signalqualität der digitalen Signale der Prüfung und damit das Prüfergebnis. Dies sind Gründe, weshalb man von einer z. B. aus dem deutschen Gebrauchsmuster 88 01 329 bekannten Long-Wire-Adapterein­ richtung zu einer Short-Wire-Einrichtung des Oberbegriffes des Anspruches 1 übergegangen ist.
Naturgemäß weisen Schaltungsplatinen unterschiedlicher Typen - auf die Fläche der Schaltungsplatine des jeweiligen Typs bezogen - sehr verschiedene Verteilungen der jeweiligen Schaltungspunkte auf, an denen die Prüfung der Funktion eines Anteils der Schaltung anzusetzen hat.
Da aber eine zu verwendende Prüfvorrichtung eine sehr kostspielige Investition ist, verwendet man solche Vorrichtungen mit standardisier­ tem Kontaktfeld-Raster. Das Kontaktfeld einer solchen Prüfvorrichtung kann aber natürlich nicht beliebig viele Prüfanschlüsse haben, um allen möglichen Kontaktstellen einer jeglichen zu prüfenden Schaltungsplatine zu entsprechen. Zur Anpassung dieses vorgegebenen Kontaktfeld-Rasters der Prüfvorrichtung und der Verteilung der im Prüfverfahren jeweils elektrisch zu kontaktierenden relevanten Schaltungspunkte der Platine aneinander, verwendet man daher zusätzlich Adaptereinrichtungen, die dann auf den jeweiligen Typ der Schaltungsplatine individuell angepaßt sind. Für die Ausführung der Kontaktierungen bedient man sich als Nadeln bezeichneter Stifte, die in einer oder mehreren Platten der Adaptereinrichtung eingefügt sind.
In der Adaptereinrichtung auf der einen (Ober-)Seite zur Kontaktierung mit der Schaltungsplatine herausragende Nadeln sind elektrisch mit Kontaktgegenstücken anderer Nadeln verbunden, die auf der anderen (Unter-)Seite der Einrichtung zur Kontaktgabe mit dem Kontaktfeld- Raster der Prüfvorrichtung hervorragen. Innerhalb der Adaptereinrich­ tung sind diese elektrischen Leitungsverbindungen mittels Drähte ausgeführt. Diese Drähte können vergleichweise zur Technik des obengenannten Gebrauchsmusters relativ kurz gehalten sein. Ihre Befestigung an den Nadeln bzw. Stiften wird aber in beiden Techniken in der Weise vorgenommen, daß man das jeweilige Drahtende um die jeweilige Nadel bzw. den jeweiligen Stift mittels einer Wickelvorrich­ tung herumwickelt, was als Wire-Wrap-Technik bezeichnet wird.
Ein Beispiel des einschlägigen Standes der Technik zeigt die Figur auf Seite 11 in "iee productronic", 30. Jahrgang (1985), Nr. 3, Seite 10 ff. Die als "Nadelbettadapter" bezeichnete Adaptereinrichtung umfaßt eine als "probe plate" bezeichnete Nadel-Trägerplatte und ein dazu parallel und im Abstand angeordnetes Translator-Board, in die Nadeln bzw. Stifte als Prüfstifte eingefügt sind. An den in das Translator-Board eingefügten Stiften zeigt diese Figur, wie die Drahtenden der erwähnten Leitungsverbindungen um den jeweiligen der Stifte herumgewickelt sind.
Dieses Herumwickeln der Drahtenden ist für beide Enden eines jeweiligen Drahtes an den bereits im Board eingesetzten Stift auszuführen, wobei dies, da diese Adaptereinrichtungen jeweils in Einzelfertigung hergestellt werden, regelmäßig in Handarbeit ausgeführt wird.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, Vereinfachungen hinsichtlich der Herstellung derartiger Adaptereinrichtungen zu finden, womit diese preisgünstiger gemacht werden können.
Entsprechend der Erfindung wird diese Aufgabe durch die Merkmale des Patentanspruches 1 gelöst, wobei der Anspruch 4 eine diesem ersten Aspekt nachgeordnete spezielle Weiterbildung angibt, und dem Patent­ anspruch 7 liegt eine weitere Variante des die gestellte Aufgabe lösenden Gedankens zugrunde.
Grundlage der vorliegenden Erfindung gemäß Anspruch 1 ist, die Anzahl der von Hand auszuführenden leitenden Verbindungen weitgehend automatisiert herzustellen. Die dazu benutzte Idee ist, mit Maschinen automatisiert vorzufertigende Teile, nämlich Auf-/Einsteck-Zusatzteile mit daran befestigtem und elektrisch verbundenem Leitungsdraht, zu verwenden und nur noch das jeweils zweite Ende des Leitungsdrahtes auf die in der Trägerplatte feststehenden Nadel zu wickeln bzw. mit einer Kontaktierungsfläche versehene Zusatzteile zu benutzen, die direkte Kontaktierung von nur wenig gegeneinander versetzten Positionen jeweils eines Kontaktes der Schaltungsplatine und der Prüfvorrichtung ausführen.
Gemäß dem oben erwähnten weiteren Gedanken kann eine solche Verein­ fachung durch automatische Fertigung auch darin bestehen, solche Leitungsverbindungen mit gewickelten Drahtenden durch Anwendung der Leiterbahntechnik zu ersetzen. Auch damit kann kostspielige Handarbeit durch Prozesse mit z. B. computergesteuerter Unterstützung ersetzt werden.
Fig. 1 zeigt ein Beispiel für drei Varianten der Erfindung.
Fig. 2 zeigt vergrößert ein Zusatz-Nadelteil der Variante mit Draht-Verbindungsleitung.
Fig. 3 bis 5 zeigen vergrößerte Ansichten (von oben) für Zusatz- Nadelteile für versetzte direkte Kontaktierung gemäß der zweiten Variante und
Fig. 6 zeigt vergrößert im Ausschnitt eine Leiterbahn-Ausführung zur dritten Variante.
Die beigefügte Fig. 1 zeigt eine Prinzipdarstellung eines Teiles einer erfindungsgemäßen Adaptereinrichtung 1. Mit 2 ist eine Nadel- Trägerplatte bezeichnet in die Nadeln bzw. Stifte 4 1 bis 4 4 eingesetzt sind. Diese Nadeln können, wie dies früher ausgeführt wurde, in Löcher der Trägerplatte 2 eingeschlagen sein. Zweckmäßiger ist es, eine Befestigungsweise mit einer Rastverbindung oder dgl. gemäß dem genannten Gebrauchsmuster G 88 01 329 vorzusehen.
Die Nadeln 4 1 und 4 3 sind so ausgeführt, daß sie der Kontaktgabe mit den Kontaktstiften 5 1 und 5 3 dienen, die Kontakt-Nadeln der hier nicht näher dargestellten Prüfvorrichtung 11 sind. Die Nadeln 4 2 und 4 4 dienen der Ausführung von Kontaktierungen mit Kontaktierungspunkten der nur andeutungsweise dargestellten Schaltungsplatine 100. (Diejenigen, z. B. aus dem Gebrauchsmuster 88 01 329 bekannten weiteren Teile der Prüfvorrichtung, die der Auflage und dem Ansaugen der Schaltungsplatine 100 dienen, sind hier weggelassen.) Die in der Fig. 1 oberen Enden der Nadeln 4 2 und 4 4 enthalten federnde Kontaktelemente 6, wie sie für derartige einschlägige Adaptervorrichtungen üblich sind. Aufgrund der federnden Eigenschaft werden die Köpfe 40 kontak­ tierend gegen die Kontaktierungspunkte 41 der Schaltungsplatine ange­ drückt. Die Positionen der Nadeln 4 2 und 4 4 sind so gewählt, daß sie den vorgegebenen Kontaktierungspunkten der Schaltungsplatine entspre­ chen. Die unteren Enden der Nadeln 4 1 und 4 3 können entsprechende federnde Einsätze haben. Üblich ist es, daß die Nadeln 5 der Prüfvor­ richtung derartig ausgebildet sind. Die Nadeln 4 1 und 4 3 sind in der Trägerplatte 2 so plaziert, daß sie mit den Positionen der vorgegebenerweise zu kontaktierenden Stifte 5 1 und 5 3 korrespondieren.
Die Nadel 4 1 ist an ihrem unteren Ende in dem Anspruch 1 entsprechend erfindungsgemäßer Weise ausgeführt. Mit 7 ist ein Zusatz-Nadelteil bezeichnet, dessen konstruktive Einzelheiten aus der Fig. 2 näher hervorgehen und das vorgefertigt mit einem Draht als Leitungsverbin­ dung versehen ist. Wie aus der Figur ersichtlich, ist dieses Zusatz- Nadelteil 7 mit seinem Ende 17 auf das Ende 114 der Nadel 4 1 klemmend aufgesteckt. Die elektrische Verbindung zwischen diesem Zusatz-Nadel­ teil 7 und dem mit ihm verbundenen Ende 8 1 des Drahtes 8 hat aufgrund der Herstellung stets zuverlässigen elektrischen Kontakt. Die erfindungsgemäß vorgesehene Verbindung mit Zusatz-Nadelteil ist wesentlich preiswerter herzustellen. Das Zusatz-Nadelteil 7 kann auch in das untere Ende der Nadel 4 1 zu stecken ausgeführt sein. In jedem Falle braucht diese Steckverbindung nur mechanisch ausreichend klemmend zu sein, damit das Zusatz-Nadelteil 7 nicht von der Nadel 4 1 herunterfällt. Elektrische Verbindungsfunktion hat diese Steckver­ bindung nicht, so daß damit verbundene etwaige Wackelkontakte hier irrelevant sind. Die Steckverbindung ist auch so stabil ausgeführt, daß das in der Fig. 1 untere Ende des Zusatz-Nadelteils 7 als stabile Anlage für die Kontaktierung mit dem federnd gegengedrückten Stift 5 1 dient.
In an sich bekannter Weise ist das Ende 8 2 des Drahtes 8 mit einem vorzugsweise verjüngten unteren Ende der Nadel 4 2 durch Wire-Wrap- Technik in mechanisch und elektrisch zuverlässige Verbindung gebracht.
Das vorangehend beschriebene Beispiel sieht vor, daß das vorgesehene Zusatz-Nadelteil 7 auf/in das Ende 114 einer Nadel der ersten Gruppe, d. h. einer mit einem Kontaktstift 5 der Prüfvorrichtung elektrisch zu kontaktierenden Nadel, gesteckt wird und dieses Nadelteil auch diesen Kontakt bewirkt. Zur Erfindung gehört aber auch die Ausgestaltung, das Zusatz-Nadelteil auf/in das (untere) Ende einer (mit der Schaltungs­ platine 11 zu kontaktierenden) Nadel der zweiten Gruppe zu stecken. Eine noch weitere Möglichkeit ist, die "Verdrahtung" oberhalb der Trägerplatte 2 anzuordnen und dort das Zusatz-Nadelteil 7 nach dem beschriebenen Prinzip der Erfindung anzuwenden.
Die Fig. 2 zeigt in vergrößerter Darstellung das Zusatz-Nadelteil 7. Dieses ist in der Fig. 2 auf ein vorzugsweise verjüngtes Ende 114 der Nadel 4 1 aufgesteckt, wobei die Verjüngung außerdem als Anschlag­ justierung dient. Das gemäß der Erfindung in vorgefertigter Weise leitend befestigte Ende 8 1 des Drahtes 8 ist (zur Zugentlastung) insbesondere durch wenigstens ein Loch hindurchgesteckt und/oder wenigstens etwa eine Windung zusammen mit seiner den Draht umgebenden Kunststoffisolierung aufgewickelt und jeweils ist das blanke Ende angelötet. Die Wahl geeigneter Abmessungen ergibt sich aus den jeweiligen Randbedingungen, sowie z. B. Dichte der Nadeln in der Nadelträgerplatte und dergleichen.
Die Fig. 1 zeigt desweiteren eine Nadel 4 11, die als beiden Gruppen von Nadeln zugehörig anzusehen ist, weil sie die Funktion einer Nadel der ersten Gruppe mit der Funktion einer Nadel der zweiten Gruppe - zusammen mit dem Zusatz-Nadelteil 71 - in sich vereinigt. Wie dargestellt, hat die Nadel 4 11 einen Abstand von der Nadel 4 2, der z. B. etwa gleich dem Rastermaß ist bzw. der nur ein geringes Vielfaches des Durchmessers der Nadeln beträgt. Zu kontaktieren ist diese Nadel mit dem Stift 5 11 der Prüfvorrichtung 11, der - als ein Beispiel - mit der Nadel 4 2 fluchtet. Diese Nadel 4 2 ist aber mit einem anderen Kontakt als demjenigen Kontakt 41 11 der Schaltungs­ platine kontaktiert, mit dem die Nadel 4 11 zu kontaktieren ist. Die Variante mit den Merkmalen des Anspruches 4 liefert auf der Basis des Erfindungsgedankens beruhend auch hier auf die aufgabengemäße Verein­ fachung mittels eines automatisch vorfertigbaren Zusatzteils.
Die Abmessung der Kontaktierungsfläche 171 des auf-/einsteckbaren Zusatz-Nadelteils 71 ist entsprechend dem - vorzugsweise vorgegeben maximalen - Versatz von Nadel 4 11 und Stift 5 11 zueinander bemessen, wobei der Versatz auf die Ausrichtung der Nadeln bezogen ist. Diese Abmessung entspricht auch etwa einem Mehrfachen der Dicke des Auf-/Einsteckteils des Zusatz-Nadelteils 71. Es kann aber auch - etwa abgestuft - individuelle Bemessung der Kontaktierungsfläche 171 vorgesehen sein. Auch die Form dieser Fläche 171 kann unterschiedlich sein. Es können, wie in den Fig. 3 bis 5 angegebene Formen, z. B. für den Einzelfall auszuwählen, vorgesehen sein. Fig. 3 zeigt die rotationssymmetrische Form der Fig. 1 und Fig. 4 zeigt eine länglich-symmetrische bzw. Fig. 5 eine platzsparende, nur einseitige Verbreitung des Zusatz-Nadelteils 71′ und 71′′.
Die Ausführung der Leitungsverbindung der Nadeln 4 3 und 4 4 miteinander ist entsprechend den im Anspruch 7 explizit angegebenen Merkmalen ausgeführt. Mit 9 ist eine Leiterplatte, z. B. eine kupferkaschierte Kunststoffplatte bezeichnet. Sie liegt auf der in der Fig. 1 oberen Oberfläche der Nadel-Trägerplatte 2 fest auf. An den Stellen des Durchgangs der Nadeln 4 3 und 4 4 durch diese Platte 9 ist durch je eine Lötverbindung 10 eine elektrische Verbindung mit einer Leiterbahn 19 auf der Oberfläche der Platte 9 hergestellt. Wie für Leiterplatten üblich, ist eine elektrisch leitende Verbindung im Bereich zwischen den Durchtritten der Nadeln 4 3 und 4 4 und um deren jeweiligen Durch­ tritt herum belassen, und zwar zumindest elektrisch isoliert gegenüber anderen Bereichen der elektrisch leitenden Oberflächenschicht der Platte 9. Im Bereich der Durchdringung der Nadel 4 2 weist diese Platte z. B. eine so große Bohrung auf, daß eine elektrische Kontaktgabe mit dieser Nadel ausgeschlossen ist. Eine Kontaktgabe zwischen der Nadel 4 1 und dieser Platte 9 kann z. B., wie dargestellt, durch entsprechend verkürzte Ausführung der Nadel bewirkt sein. Es kann aber der Einheit­ lichkeit halber auch im Bereich der Nadel 4 1 eine der elektrischen Isolation dienende Bohrung in der Platte 9 vorgesehen sein, wie dies ebenfalls dargestellt ist.
An sich könnte man sämtliche vorzusehenden elektrischen Leitungsver­ bindungen auch in der Ausführung des Anspruches 4 ausgestalten und für notwendige Überkreuzungen von verbindenden Leiterbahnen auf der Platte 9 diese u. a. in an sich bekannter Mehrschichttechnik ausführen. Eine besonders günstige Ausführung einer dem ganzen Erfindungsgedanken entsprechenden Adaptereinrichtung ist je nach spezifischer Anforderung eine Ausführungsform wie für die Nadeln 4 1 und 4 2 oder eine Aus­ führungsform wie für die Nadeln 4 3 und 4 4. Die letztere Ausgestaltung ist insbesondere für sehr nahe beieinander stehende, elektrisch miteinander zu verbindende Nadeln geeignet, da kurze Verbindungswege (auf der Platte 9) selten der Notwendigkeit einer Überkreuzung mit einer anderen Leiterbahn unterliegen. Noch gravierender kann in diesem Falle aber der Vorteil sein, daß bei so relativ eng nebeneinander­ stehenden Nadeln die Wire-Wrap-Technik schwierig oder gar nicht ausführbar ist.
Fig. 6 zeigt in vergrößerter Aufsicht einen Anteil der Oberfläche bzw. Metallkarschierung 119 der Leiterplatte 9, und zwar der Umgebung der Nadeln 4 3 und 4 4. Die Leiterbahn ist wieder mit 1g bezeichnet. Die Umgebung dieser Leiterbahn 19 kann aus der Kaschierung der Leiterplatte 9 weggeätzt sein oder es kann eine (wie dargestellt) diese Leiterbahn 19 gegenüber der Umgebung isolierende Trennfuge 219, z. B. durch Fräsen hergestellt, vorgesehen sein.

Claims (11)

1. Adaptereinrichtung, zu verwenden in einer Prüfvorrichtung für Schaltungsplatinen, wobei die Adaptereinrichtung eine Nadel-Trägerplatte mit darin angeordneten Nadeln hat und die individuellen Positionen der Nadeln einer ersten Gruppe dieser Nadeln vorgegebenen Positionen von Kontakten der Prüfvorrichtung und die Positionen der Nadeln einer zweiten Gruppe den Positionen von Kontakten der betreffenden Schaltungsplatine entsprechen, wobei eine Nadel dieser ersten Gruppe mit einer Nadel der zweiten Gruppe mittels einer Draht-Leitungsverbindung (8) elektrisch verbunden ist und dazu das eine Nadelende (8 2) um das Nadelende der in der Trägerplatte feststehenden, elektrisch zu verbindenden Nadel (4 2) gewickelt ist, gekennzeichnet dadurch,
daß ein Zusatz-Nadelteil (7) vorgesehen ist, das mit einem für eine mechanische Steckverbindung mit einem Nadelende (114) verwendeten Auf-/Einsteckende (17) ausgebildet ist, wobei das Auf-/Einsteckende (17) und das Nadelende (114) miteinander klemmend entsprechend angepaßt geformt sind, und
an das Zusatz-Nadelteil (7) das andere Drahtende (8 1) der Draht- Leitungsverbindung (8) elektrisch verbunden befestigt ist, und dadurch,
daß nur das eine Drahtende (8 2) in bisher üblicher Weise auf die feststehende Nadel (4 2) gewickelt ist.
2. Adaptereinrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet dadurch, daß das andere Drahtende (8 1) durch wenigstens ein Loch des Zusatz-Nadel­ teils (7) hindurchgesteckt befestigt und angelötet elektrisch verbunden ist.
3. Adaptereinrichtung nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet dadurch, daß das Zusatz-Nadelteil (7) an seinem dem Auf-/Einsteckende (17) entgegengesetzten Ende zur direkten Kontaktierung mit einem Kontaktstift (5 1) der Prüfvorrichtung ausgebildet ist.
4. Adaptereinrichtung zu verwenden in einer Prüfvorrichtung für Schaltungsplatinen, wobei die Adaptereinrichtung eine Nadel-Trägerplatte mit darin an9eordneten Nadeln hat und die individuellen Positionen der Nadeln einer ersten Gruppe dieser Nadeln vorgegebenen Positionen von Kontakten der Prüfvorrichtung und die Positionen der Nadeln einer zweiten Gruppe den Positionen von Kontakten der betreffenden Schaltungsplatine entsprechen, insbesondere nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet dadurch,
daß auch wenigstens eine Nadel (4 11) vorhanden ist, die beiden Gruppen zuzurechnen und die dazu vorgesehen ist, eine direkte Kontaktverbindung eines solchen Kontaktes (41 11) der Schaltungsplatine mit einem solchen Kontakt (5 11) der Prüfvorrichtung zu ermöglichen, bei denen die Positionen der beiden Kontakte - bezogen auf die Ausrichtung der Nadel (4 11) - maximal nur um ein solch geringes Maß zueinander versetzt sind, das in der Größenordnung des Nadelrasters liegt bzw. das nicht mehr als ein vorgegeben begrenztes Vielfaches des Durchmessers der Nadeln beträgt, und
daß das auf/in die Nadel (4 11) zu steckende Zusatz-Nadelteil (71) mit einer seinem Auf-/Einsteckende abgewandten Kontaktfläche (171) versehen ausgebildet ist, deren Abmessung quer zur Ausrichtung der Nadel (4 11) auf das Maß des Versatzes abgestimmt dieses übertrifft.
5. Adaptereinrichtung nach Anspruch 4, gekennzeichnet dadurch, daß diese Abmessung auf das vorgegeben maximale Maß des Versatzes abgestimmt ist.
6. Adaptereinrichtung nach Anspruch 4 oder 5, gekennzeichnet dadurch, daß eine gestreckte Form der Kontaktfläche vorgesehen ist, die auf die Richtung des Versatzes abgestimmt ist (Fig. 4; 5).
7. Adaptereinrichtung zu verwenden in einer Prüfvorrichtung für Schaltungsplatinen, wobei die Adaptereinrichtung eine Nadel-Trägerplatte mit darin angeordneten Nadeln hat und die individuellen Positionen der Nadeln einer ersten Gruppe dieser Nadeln vorgegebenen Positionen von Kontakten der Prüfvorrichtung und die Positionen der Nadeln einer zweiten Gruppe den Positionen von Kontakten der betreffenden Schaltungsplatine entsprechen, insbesondere nach einem der Ansprüche 1 bis 6, gekennzeichnet dadurch, daß anstelle einer jeweiligen Draht- Leitungsverbindung einer Nadel (4 3) der ersten und einer Nadel (4 4) der zweiten Gruppe eine Leiterbahn-Verbindung (9, 10) vorgesehen ist, wozu auf der der Schaltungsplatine zugewandten Oberfläche der Nadel- Trägerplatte (2) wenigstens in dem für solche Leiterbahnverbindungen vorgesehenen Bereich eine Leiterplatte (9) mit den vorgesehenen Leiterbahnen aufgebracht ist.
8. Adaptereinrichtung nach Anspruch 7, gekennzeichnet dadurch, daß die jeweilige als Leitungsverbindung vorgesehene Leiterbahn (19) der Leiterplatte (9) mittels Lötverbindung (10) mit den jeweiligen Nadeln (4 2, 4 4) elektrisch verbunden ist.
9. Adaptereinrichtung nach Anspruch 7 oder 8, gekennzeichnet dadurch, daß die Leiterplatte eine Ein-Lagen-Leiterbahnplatte (9) ist.
10. Vorgefertigtes Zusatz-Nadelteil (7) zur Verwendung in einer Adaptereinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 9, gekennzeichnet dadurch , daß ein elektrischer Leitungsdraht (8) mit seinem einen Drahtende (8 1) an diesem Nadelteil (7) elektrisch leitend mechanisch fest angebracht ist und ein Ende (17) dieses Nadelteils (7) als Auf-/Einsteckende für eine mechanische Steckverbindung mit einer Nadel der Adapterein­ richtung ausgebildet ist (Fig. 2).
11. Vorgefertigtes Zusatz-Nadelteil (71) zur Verwendung in einer Adaptereinrichtung nach einem der Ansprüche 4 bis 9, das als auf-/einsteckbares Zusatz-Nadelteil (71) für eine Nadel (4 11) mit einer dem Auf-/Einsteckende des Zusatz-Nadelteils abgewandten, quer zu diesem Ende ausgerichteten Kontaktierungsfläche (171) mit einer ein Mehrfaches der Dicke des Auf-/Einsteckendes betragenden Abmessung versehen ist.
DE19904010297 1990-03-30 1990-03-30 Adaptereinrichtung fuer eine automatische pruefvorrichtung zum pruefen von schaltungsplatinen Withdrawn DE4010297A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19904010297 DE4010297A1 (de) 1990-03-30 1990-03-30 Adaptereinrichtung fuer eine automatische pruefvorrichtung zum pruefen von schaltungsplatinen

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19904010297 DE4010297A1 (de) 1990-03-30 1990-03-30 Adaptereinrichtung fuer eine automatische pruefvorrichtung zum pruefen von schaltungsplatinen

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE4010297A1 true DE4010297A1 (de) 1991-10-02

Family

ID=6403433

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19904010297 Withdrawn DE4010297A1 (de) 1990-03-30 1990-03-30 Adaptereinrichtung fuer eine automatische pruefvorrichtung zum pruefen von schaltungsplatinen

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE4010297A1 (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4226069A1 (de) * 1992-08-06 1994-02-10 Test Plus Electronic Gmbh Adaptereinrichtung für eine automatische Prüfvorrichtung zum Prüfen von Schaltungsplatinen
DE20103967U1 (de) * 2001-03-07 2002-07-11 Ptr Mestechnik Gmbh & Co Kg Schalt-Federkontaktstift
DE10147510A1 (de) * 2001-09-26 2003-04-30 Grant Boctor Direktkontakthülse-InCircuit-Prüfadapter unter Anwendung der Direktkontakthülse

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4226069A1 (de) * 1992-08-06 1994-02-10 Test Plus Electronic Gmbh Adaptereinrichtung für eine automatische Prüfvorrichtung zum Prüfen von Schaltungsplatinen
WO1994004015A1 (de) 1992-08-06 1994-02-17 Test Plus Electronic Gmbh Adaptereinrichtung für eine automatische prüfvorrichtung zur prüfen von schaltungsplatinen
DE20103967U1 (de) * 2001-03-07 2002-07-11 Ptr Mestechnik Gmbh & Co Kg Schalt-Federkontaktstift
DE10206756B4 (de) * 2001-03-07 2004-05-13 Ptr Messtechnik Gmbh & Co. Kg Schalt-Federkontaktstift
DE10147510A1 (de) * 2001-09-26 2003-04-30 Grant Boctor Direktkontakthülse-InCircuit-Prüfadapter unter Anwendung der Direktkontakthülse

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0263244B1 (de) Vorrichtung zum elektronischen Prüfen von Leiterplatten mit Kontaktpunkten in extrem feinem Raster (1/20 bis 1/10 Zoll)
DE3908481C2 (de)
DE2525166C2 (de) Kontakt-Sondenvorrichtung
DE3790062C2 (de)
DE102013110548A1 (de) Steckverbinderteil mit einer Widerstandkodierung
DE3827937A1 (de) Elektrischer messwertaufnehmer
DE4129925A1 (de) Bauelement-testplatte fuer einen halbleiter-bauelement-tester mit einem rekonfigurierbaren koaxialen verbindungsgitter, und verfahren zu dessen gebrauch
DE102017222016A1 (de) Verbindungsvorrichtung zum Verbinden einer Stromschiene eines Halbleitermoduls mit einer weiterführenden Stromschiene, Leistungselektronikvorrichtung mit einer Verbindungsvorrichtung und Verfahren zum Herstellen einer Leistungselektronikvorrichtung
DE2418440A1 (de) Schaltbrettmodul fuer einen integrierten stromkreis
DE4010297A1 (de) Adaptereinrichtung fuer eine automatische pruefvorrichtung zum pruefen von schaltungsplatinen
DE3129417C2 (de)
EP3545729A1 (de) Leiterplatte und verfahren zur herstellung der leiterplatte
DE102015104794A1 (de) Induktives Bauelement sowie Verfahren zur Herstellung eines induktiven Bauelements
WO1989008265A1 (en) Device for testing printed circuit boards
DE2326861C2 (de)
DE102018105857A1 (de) Vorrichtung zum Messen von Strom und Verfahren zur Herstellung
DE102019121385A1 (de) Vorrichtung und verfahren zum montieren eines magnetfeldsensor-chips an einer stromschiene
DE4238747C2 (de) Anordnung zur Verbindung von Koaxialleitungen für koaxiale Hochfrequenzsteckverbindungen
DE19700057C2 (de) Datenschiene für den Europäischen Installationsbus (EIB)
DE102004049575A1 (de) Elektrisches Anschlusselement und Verfahren zum Anschließen eines Leiterkabels
DE102013112149B4 (de) Anschlusseinheit für Solargeneratoren, Solargenerator mit Anschlusseinheit sowie Verfahren zum Herstellen derselben
DE2637894B2 (de) Vorrichtung zum Verbinden der AnschluBstifte eines Meßobjekts mit den Anschlußleitungen einer Meßschaltung
DE3920232A1 (de) Steckbare folienverdrahtung und verfahren zu ihrer herstellung
WO2007143961A1 (de) Elektrisches verbindungselement
DE102010040542B4 (de) Überbrückungsbaustein und Verfahren mit einem Überbrückungsbaustein

Legal Events

Date Code Title Description
8139 Disposal/non-payment of the annual fee