DE3930632A1 - Verfahren zur direkten phasenmessung von strahlung, insbesondere lichtstrahlung, und vorrichtung zur durchfuehrung dieses verfahrens - Google Patents

Verfahren zur direkten phasenmessung von strahlung, insbesondere lichtstrahlung, und vorrichtung zur durchfuehrung dieses verfahrens

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Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur direkten Phasenmessung von Strahlung, insbesondere Lichtstrahlung, die von einem Körper mit diffus reflektierender Oberfläche reflektiert wird. Weiter­ hin betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zur Durchführung eines derartigen Verfahrens.
Das Verfahren der direkten Phasenmessung kann dazu benutzt werden, um Linienbilder quantitativ auszuwerten, wie sie bei interferometrischen Methoden oder bei der Projektion von Linien­ mustern auf Objektive oder bei Moir´-Methoden entstehen. Die genannten Methoden dienen zur Messung des optischen Weges oder zur Messung der Änderungen des optischen Weges, hervorgerufen durch Verschiebungen oder Verformungen lichtstreuender Objekte oder Brechzahländerungen transparenter Objekte. Projektions- oder Moir´-Methoden dienen u.a. der Bestimmung von drei­ dimensionalen Formen von Objekten oder deren Änderung.
Es ist bereits bekannt, Linienbilder auf der Oberfläche eines räumlichen Körpers mit der Phasenshift-Technik auszuwerten. Ein derartiges Verfahren ist in der DE-OS 37 23 555 beschrieben, das sich allerdings nur auf Projektions- und Moir´-Verfahren be­ zieht. Auf den Inhalt dieser Vorveröffentlichung wird Bezug genommen. Bei dem vorbekannten Verfahren werden mindestens drei phasenverschobene Bilder in einen Rechner eingelesen und ausgewertet. Zur vollständigen, automatischen Bestimmung des räumlichen Verlaufs der Oberfläche des Körpers, also zur Bestimmung aller drei Raumkoordinaten für jeden Punkt der Oberfläche des Körpers, ist es erforderlich, mindestens drei phasenverschobene Bilder in den Rechner einzulesen und auszuwerten, da in der Gleichung für die gemessene Intensität eines jeweiligen Bildpunktes drei Unbekannte vorliegen:
I = a (x) (1 + m (x) cos Φ)
Hierin bedeuten
I = Intensität (gemessen)
a = Untergrundhelligkeit
m = Kontrast
Φ = Phasenverschiebung (gesuchte Größe)
Da lediglich die Intensität gemessen werden kann, befinden sich in der obengenannten Gleichung drei Unbekannte. Zur Ermittlung der gesuchten Phasenverschiebung ist es also erforderlich, drei Gleichungen zu erhalten, was dadurch erfolgt, daß drei phasenver­ schobene Bilder aufgenommen werden. Die Einzelheiten sind in der DE-OS 37 23 555 beschrieben, auf deren Inhalt Bezug genommen wird.
Bei dem vorbekannten Verfahren kann der räumliche Verlauf der Oberfläche eines Körpers auch mit nur einer einzigen Aufnahme berechnet werden, wenn zusätzliche weitere Informationen einge­ geben werden. In der Praxis ist es jedoch oft wünschenswert oder sogar erforderlich, den räumlichen Verlauf der Oberfläche eines Körpers automatisch ohne zusätzlich einzugebende Informationen zu ermitteln. In diesem Fall müssen bei dem vorbekannten Verfah­ ren drei Aufnahmen gemacht werden. Während der Zeitspanne zwi­ schen diesen Aufnahmen kann sich die Oberfläche des Körpers ver­ ändern. Hierdurch können dann zu ungenaue oder gar unbrauchbare Ergebnisse entstehen. Insbesondere bei der Schwingungsanalyse muß der Oberflächenverlauf durch eine einzige Aufnahme festge­ stellt werden können.
Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren der eingangs ange­ gebenen Art zur direkten Phasenmessung von Strahlung und eine Vorrichtung zur Durchführung eines derartigen Verfahrens vorzu­ schlagen, mit denen mit einer einzigen Aufnahme eine vollstän­ dige Phasenmessung möglich ist.
Bei einem Verfahren der eingangs angegebenen Art wird diese Auf­ gabe durch die im kennzeichnenden Teil des Anspruchs 1 angege­ benen Merkmale gelöst. Danach wird der Körper mit kohärenter Strahlung (z.B. Laserstrahlung) einer vorbestimmten Frequenz bestrahlt. Es wird die (diffus) reflektierte Strahlung von einer Abbildungsoptik in eine Bildebene abgebildet, in der sich ein Sensor mit einer Vielzahl von vorzugsweise regelmäßig angeord­ neten Sensorelementen befindet. Bei einem analogen Sensor (z.B. Röhrenkamera) entspricht das Sensorelement der Auflösung. Auf den Sensor wird eine Referenzstrahlung mit gleicher Frequenz und definierter Phasenlage überlagert, so daß ein Interferenzfeld auf dem Sensor entsteht. Der Referenzstrahl wird dabei so ein­ gestellt, daß eine Periode des Interferenzfeldes mindestens drei Sensorelemente überdeckt. Die Abbildungsoptik wird derart aus­ gebildet bzw. eingestellt, daß die Bilder der durch die Strah­ lung auf dem Körper erzeugten speckles in der Bildebene eben­ falls mindestens drei Sensorelemente überdecken. Aus den Intensi­ tätssignalen der mindestens drei Sensorelemente wird die Phase der Strahlung von dem Körper bestimmt.
Bei der Bestrahlung eines diffus reflektierenden Körpers oder diffus streuenden Körpers (z.B. Mattscheibe) mit kohärenter Strahlung, wie beispielsweise Laserlicht, werden sogenannte speckles sichtbar. Der physikalische Mechanismus, der dieser speckle-Bildung zugrundeliegt, ist bekannt.
Der durchschnittliche Durchmesser eines speckles errechnet sich nach der Formel (Literatur: Charles Vest: Holografic Interferometry, Seite 35; Verlag: John Wiley & Sons, New York)
d = 1,5×L×z/D
Hierin bedeuten:
d = durchschnittlicher speckle-Durchmesser
L = Wellenlänge der Strahlung
z = Bildweite (Abstand der Hauptebene der Abbildungsoptik von der Bildebene)
D = Durchmesser der Abbildungsoptik (bzw. des Objektivs der Abbildungsoptik)
Den Bildern der speckles in der Bildebene wird eine Referenz­ strahlung mit einer vorgegebenen Trägerfrequenz überlagert. Die Referenzstrahlung besitzt eine definierte Phasenlage. Durch die Überlagerung der Referenzstrahlung mit der vom Körper reflektier­ ten Strahlung entsteht ein Interferenzmuster. Dieses Interferenzmuster, das der Trägerfrequenz entspricht, wird so eingestellt, daß eine Periode auf mindestens drei Sensorelemente (Pixel) entfällt. Das für jedes speckle entstehende Interferenz­ muster wird von mindestens drei Sensorelementen (pixel = picture element) empfangen. Man erhält also pro speckle mindestens drei Stützstellen für die Bestimmung der Phasenlage. Für eine Gruppe von drei Sensorelementen kann damit die Phasenlage eindeutig berechnet werden. Im Endergebnis wird durch diese Verfahrens­ weise das Auflösungsvermögen des Sensors auf ein Drittel reduziert, da für die Phasenbestimmung eines Punktes drei Sensorelemente erforderlich sind. Hierfür erhält man jedoch den großen Vorteil, daß man die Phasenlage mit einer einzigen Auf­ nahme eindeutig bestimmen und berechnen kann. Aus der Phasenlage kann auf die Koordinaten der Oberfläche des Körpers geschlossen werden beispielsweise nach dem Verfahren der DE-OS 37 23 555.
Bei gerichteten Strahlen, wie sie bei spiegelnden oder trans­ parenten Objekten auftreten, treten keine speckles auf. Das Interferenzfeld auf dem Sensor zwischen der von dem Objekt kommenden Strahlung und der Referenzstrahlung ist dann so einzustellen, daß eine Periode dieses Interferenzfeldes mindestens drei Sensorelemente überdeckt.
Das erfindungsgemäße Verfahren eignet sich besonders für die Schwingungsanalyse (Analyse von dynamischen Verformungen), für die zerstörungsfreie Werkstoffprüfung, für die Konturprüfung (beispielsweise von Zähnen), für die Verformungsmessung (Analyse statischer Verformungen), für interferometrische und projizieren­ de Verfahren, für Moir´ und auch für die Spannungsoptik.
Vorteilhafte Weiterbildungen des Verfahrens sind in den Unter­ ansprüchen beschrieben.
Die Sensorelemente (pixel) können zeilenweise längs paralleler Linien vorzugsweise gleichbeabstandet angeordnet sein. Vorzugs­ weise wird die Abbildungsoptik derart ausgebildet bzw. einge­ stellt, daß die Bilder der durch die Strahlung auf dem Körper erzeugten speckles in der Bildebene mindestens drei nebenein­ ander liegende Sensorelemente einer Zeile überdecken. Es werden dann drei in einer Zeile nebeneinander liegende Stützstellen für die Bestimmung der Phasenlage verwendet.
Vorzugsweise wird die Referenzstrahlung durch einen Lichtwellen­ leiter in die Abbildungsoptik eingeleitet. Eine andere Möglich­ keit besteht darin, die Referenzstrahlung durch eine vor oder in der Abbildungsoptik angeordnete Blende mit mehreren, vorzugswei­ se zwei, Aperturen zu erzeugen. Die Referenzstrahlung kann auch durch einen vor oder in der Abbildungsoptik angeordneten opti­ schen Keil (Prisma) erzeugt werden, der einen Teil, vorzugsweise eine Hälfte, der Apertur der Abbildungsoptik überdeckt. Dieses Verfahren ist als "Shearing-Verfahren" bereits bekannt, das zur Verformungsmessung verwendet wird. Es wurde in der Literatur­ stelle Applied Optics, Vol. 18, No. 7, April 1, 1979, S. 1046- 1051, beschrieben (Y.Y. Hung and C.Y. Liang, Image-Shearing camera for direct measurement of surface strains). Die Abbildung erfolgte hier nicht auf einen optoelektronischen Sensor mit der Besonderheit, daß die Periode der Trägerfrequenz auf mindestens drei pixel abgestimmt ist, sondern auf normales Silberschicht­ fotomaterial.
Die Referenzstrahlung kann auch durch ein vor oder in der Abbil­ dungsoptik angeordnetes optisches Gitter erzeugt werden.
Vorzugsweise werden auf den Sensor mehrere Referenzstrahlungen mit jeweils einer vorbestimmten, vorzugsweise konstanten Träger­ frequenz mit definierter Phasenlage überlagert. Es können zwei Referenzstrahlungen überlagert werden. Die Referenzstrahlungen können jeweils verschiedene Frequenzen aufweisen.
Die oben angegebene Aufgabe wird auch durch eine Vorrichtung nach dem Anspruch 12 gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen dieser Vorrichtung sind in den weiteren Unteransprüchen beschrieben.
Die Erfindung betrifft weiterhin ein Verfahren zur direkten Phasenmessung von Strahlung, insbesondere Lichtstrahlung oder Infrarotstrahlung, die ein transparentes Medium durchläuft oder die von einer spiegelnden Oberfläche reflektiert wird. Die oben angegebene Aufgabe wird bei einem derartigen Verfahren durch die kennzeichnenden Merkmale des Anspruchs 11 gelöst. Weiterhin betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 11, die aus den Merkmalen des Anspruchs 22 besteht.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nachstehend anhand der beigefügten Zeichnungen im einzelnen beschrieben. In den Zeich­ nungen zeigt
Fig. 1 eine Darstellung des Verfahrens in einer schema­ tischen Ansicht,
Fig. 2 einen Sensor mit Sensorelementen (pixel) in einer schematischen Darstellung,
Fig. 3 eine Abbildungsoptik in einer schematischen Dar­ stellung,
Fig. 4 den Verlauf der Intensität der Strahlung im Ver­ hältnis zu einer Zeile des Sensors in einer schematischen Darstellung,
Fig. 5 eine Abbildungsoptik mit einem Lichtwellenleiter,
Fig. 6 eine Abbildungsoptik mit einer Blende mit mehreren Aperturen,
Fig. 7 eine Abbildungsoptik mit einem Gitter,
Fig. 8 eine Abbildungsoptik mit einem Keil (Prisma) und
Fig. 9 eine Darstellung des Verfahrens für Phasen­ objekte.
Die Fig. 1 zeigt eine Schemadarstellung des erfindungsgemäßen Verfahrens sowie einer Vorrichtung zur Durchführung dieses Ver­ fahrens. Von der Strahlungsquelle 1 wird kohärente Strahlung (Laserstrahlung) 2 einer vorbestimmten Frequenz auf den Körper 3 mit diffus reflektierender Oberfläche 4 gestrahlt.
Die von der Oberfläche 4 des Körpers 3 reflektierte Strahlung 5 wird von einer Abbildungsoptik 6 in eine Bildebene 7 abgebildet. In der Bildebene 7 ist ein Sensor 8 mit einer Vielzahl von regel­ mäßig angeordneten Sensorelementen 9 (Fig. 2) angeordnet. Der Sensor kann ein CCD-Sensor bzw. eine CCD-Matrix sein. Bei den zur Zeit erreichbaren Sensorelement-Dichten befinden sich etwa 100 Sensorelemente (pixel) pro mm auf dem Sensor.
Der Sensor 8 wird weiterhin von einer Referenzstrahlungquelle 10 mit einer Referenzstrahlung 11 mit einer vorbestimmten, vorzugs­ weise konstanten Trägerfrequenz mit definierter Phasenlage be­ strahlt. Die Frequenz der Referenzstrahlung ist vorzugsweise genauso groß wie die Frequenz der Strahlung 2.
Die Abbildungsoptik 6 ist derart ausgebildet bzw. eingestellt, daß die Bilder der durch die Strahlung 2 auf der Oberfläche 4 des Körpers 3 erzeugten speckles in der Bildebene 8 mindestens drei Sensorelemente 9 überdecken. Dies wird anhand der Fig. 2 deutlich: Das dort angedeutete speckle 12 überdeckt mindestens drei Sensorelemente 13, 14, 15. Aus den Intensitätssignalen der mindestens drei Sensorelemente wird die Phase der Strahlung 5 von der Oberfläche 4 des Körpers 3 durch eine in der Zeichnung nicht dargestellte Recheneinheit bestimmt.
Wie aus Fig. 2 ersichtlich, sind die Sensorelemente zeilenweise längs paralleler Linien gleichbeabstandet angeordnet. Die Abbil­ dungsoptik 6 ist derart ausgebildet bzw. eingestellt, daß die Bilder der durch die Strahlung 2 auf der Oberfläche 4 des Kör­ pers 3 erzeugten speckles 12 in der Bildebene mindestens drei nebeneinanderliegende Sensorelemente 13, 14, 15 einer Zeile überdecken.
In der Fig. 4 ist schematisch die Intensität I dargestellt. Durch die Interferenz der Strahlung 5 von der Oberfläche 4 des Körpers 3 mit der Referenzstrahlung 11 wird der in der Fig. 4 gezeigte Intensitätsverlauf I erzeugt. Über drei Sensorelemente 21, 22, 23 verläuft mindestens eine volle Schwingung der Inten­ sität I, wie aus Fig. 4 ersichtlich. Die drei Sensorelemente 21, 22, 23 können also als Stützstellen für die Bestimmung der Phasenlage herangezogen werden. Aus den Intensitäten der drei Sensorelemente 21, 22, 23 wird die Phasenlage bestimmt bzw. errechnet. Drei nebeneinander liegende Sensorelemente ergeben also einen Wert für die Phasenlage. Anschließend wird das Verfahren mit den Sensorelementen 22, 23, 24 als Stützstellen für die Bestimmung der nächsten Phasenlage wiederholt. Auf diese Weise wird innerhalb einer Zeile fortgeschritten und anschlie­ ßend auch zeilenweise fortgeschritten.
Die Fig. 3 zeigt die Abbildungsoptik 6 in einer ausführlicheren Darstellung. Die von der Oberfläche 4 des Körpers kommende Strahlung wird von der Abbildungsoptik 6 in die Bildebene 7 abgebildet. Der Durchmesser D des Objektivs 6 und die Bildweite z sind derart gewählt, daß zusammen mit der Wellenlänge L der Strahlung der entstehende speckle-Durchmesser d so groß wird, daß er mindestens drei Sensorelemente überdeckt.
In der Fig. 5 ist eine Abbildungsoptik gezeigt, in die ein Lichtwellenleiter 31 eingeleitet wird. Durch diesen Licht­ wellenleiter wird die Referenzstrahlung erzeugt.
In der in Fig. 6 dargestellten Abbildungsoptik befindet sich eine Blende 32 mit mehreren Aperturen 33 vor dem Objektiv 6. Durch diese Blende mit den beiden Aperturen wird die Referenz­ strahlung erzeugt.
In der Fig. 7 ist ein anderes Ausführungsbeispiel für die Erzeugung der Referenzstrahlung gezeigt. Vor dem Objektiv 6 befindet sich eine optisches Gitter 34 zur Erzeugung der Referenzstrahlung.
In der Ausführungsform der Fig. 8 ist vor dem Objektiv 6 ein optischer Keil 35 bzw. ein Prisma angeordnet, welches die obere Hälfte der Abbildungsoptik 6 überdeckt. Es wird also das soge­ nannte Shearing-Verfahren durchgeführt.
In der Fig. 9 ist ein Aufbau zur Phasenmessung mit transparenten Objekten dargestellt. Dieser Aufbau eignet sich grundsätzlich auch für die Phasenmessung bei Objekten mit spiegelnder Ober­ fläche. Eine kohärente Strahlung, ausgehend von einer Laserdiode 36, wird nach der Strahlteilung für den Referenzstrahl 37 im Strahlteiler 38 aufgeweitet mit einer teleskopischen Linsen­ anordnung 39. Der aufgeweitete Strahl durchläuft die Probe 40, wo er in Abhängigkeit einer Brechzahländerung, hervorgerufen durch Temperatur-, Druck- oder Konzentrationsänderung, eine Phasenverschiebung erfährt. Die Probe 40 wird dann mit einem Objektiv 41 auf den Sensor 42 abgebildet. Auf den Sensor 42 wird das Objektlicht 43 mit dem Referenzstrahl 37 überlagert, der z.B. über einen Spiegel 44 in einen Lichtwellenleiter 45 ein­ gekoppelt wird.
Falls wahlweise im Objektstrahl eine Mattscheibe angeordnet wird, entsteht diffuse Strahlung, die dann wieder so abgebildet wird, daß die speckles mindestens drei Sensorelemente über­ decken.

Claims (22)

1. Verfahren zur direkten Phasenmessung von Strahlung, insbe­ sondere Lichtstrahlung und Infrarotstrahlung, die von einem Körper (3) mit diffus reflektierender Oberfläche (4) reflektiert wird, dadurch gekennzeichnet,
daß der Körper (3) mit kohärenter Strahlung (2) einer bestimmten Frequenz bestrahlt wird,
daß die reflektierte Strahlung (5) von einer Abbildungsoptik (6) in eine Bildebene (7) abgebildet wird, in der sich ein Sensor (8) mit einer Vielzahl von vorzugsweise regelmäßig angeordneten Sensorelementen (9) befindet,
daß auf den Sensor (8) eine Referenzstrahlung (11) mit gleicher Frequenz und definierter Phasenlage überlagert wird, so daß durch die Überlagerung eine vorzugsweise konstante Trägerfrequenz entsteht,
daß die Abbildungsoptik (6) derart ausgebildet bzw. einge­ stellt wird, daß die Bilder der durch die Strahlung (5) auf dem Körper (3) erzeugten speckles (12) in der Bildebene (7) mindestens drei Sensorelemente (13, 14, 15) überdecken,
daß der Referenzstrahl so eingekoppelt wird, daß die Periode der Trägerfrequenz mindestens drei Sensorelemente (13, 14, 15) überdeckt
und daß aus den Intensitätssignalen der mindestens drei Sensorelemente die Phase der Strahlung (5) von dem Körper (3) bestimmt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Sensorelemente (9) zeilenweise längs paralleler Linien vor­ zugsweise gleichbeabstandet angeordnet sind.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Abbildungsoptik (6) derart ausgebildet bzw. eingestellt wird, daß die Bilder der durch die Strahlung (2) auf dem Körper (3) erzeugten speckles in der Bildebene (7) min­ destens drei nebeneinander liegende Sensorelemente (13, 14, 15) einer Zeile überdecken.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Referenzstrahlung (11) durch einen Lichtwellenleiter (31) in die Abbildungsoptik (6) einge­ leitet wird (Fig. 5).
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Referenzstrahlung (11) durch eine vor oder in der Abbildungsoptik (6) angeordnete Blende (32) mit meh­ reren, vorzugsweise zwei, Aperturen (33) erzeugt wird (Fig. 6).
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Referenzstrahlung (11) durch einen vor oder in der Abbildungsoptik (6) angeordneten optischen Keil (35) (Prisma) erzeugt wird, der einen Teil, vorzugsweise eine Hälfte, der Apertur der Abbildungsoptik (6) überdeckt (Fig. 8).
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Referenzstrahlung (11) durch ein vor oder in der Abbildungsoptik (6) angeordnetes optisches Gitter (34) erzeugt wird (Fig. 7).
8. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß auf den Sensor (8) mehrere Referenz­ strahlungen mit jeweils einer vorbestimmten, vorzugsweise konstanten Trägerfrequenz mit definierter Phasenlage über­ lagert werden.
9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß zwei Referenzstrahlungen überlagert werden.
10. Verfahren nach Anspruch 8 oder 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Referenzstrahlungen jeweils verschiedene Frequenz aufweisen.
11. Verfahren zur direkten Phasenmessung von Strahlung, insbeson­ dere Lichtstrahlung oder Infrarotstrahlung, die ein transpa­ rentes Medium durchläuft oder die von einer spiegelnden Ober­ fläche reflektiert wird, dadurch gekennzeichnet,
daß die durch das transparente Medium (40) getretene oder von der spiegelnden Oberfläche reflektierte, kohärente Strahlung (43) auf einen Sensor (42) mit einer Vielzahl von vorzugsweise regelmäßig angeordneten Sensorelementen mit einer Referenzstrahlung (37) mit gleicher Frequenz und definierter Phasenlage so überlagert wird, daß eine Periode des durch die Überlagerung entstehenden Interferenzfeldes mindestens drei Sensorelemente überdeckt
und daß aus den Intensitätssignalen der mindestens drei Sensorelemente die Phase der durch das transparente Medium getretenen oder von der spiegelnden Oberfläche reflektierten Strahlung (43) bestimmt wird.
12. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 10, bestehend aus
einer Strahlungsquelle (1), insbesondere einer Lichtquelle, zur Abgabe von kohärenter Strahlung (2) einer vorbestimmten Frequenz auf einen Körper (3) mit diffus reflektierender Oberfläche (4),
einer Abbildungsoptik (6) zum Abbilden der von dem Körper (3) reflektierten Strahlung (5) in eine Bildebene (7),
einem in der Bildebene (7) angeordneten Sensor (8) mit einer Vielzahl von vorzugsweise regelmäßig angeordneten Sensor­ elementen (9),
einer Referenzstrahlungsquelle (10) zur Überlagerung des Sensors (8) mit einer Referenzstrahlung (11) mit gleicher Frequenz und definierter Phasenlage, so daß durch die Über­ lagerung eine vorzugsweise konstante Trägerfrequenz ent­ steht,
wobei die Abbildungsoptik (6) derart ausgebildet bzw. ein­ gestellt ist, daß die Bilder der durch die Strahlung (2) auf dem Körper (3) erzeugten speckles in der Bildebene (7) min­ destens drei Sensorelemente (13, 14, 15) überdecken,
wobei der Referenzstrahl so eingekoppelt wird, daß die Periode der Trägerfrequenz mindestens drei Sensorelemente (13, 14, 15) überdeckt
und wobei ein Rechner vorgesehen ist, der aus den Intensi­ tätssignalen der mindestens drei Sensorelemente (13, 14, 15) die Phase der Strahlung (5) von dem Körper (3) bestimmt.
13. Vorrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Sensorelemente (9) zeilenweise längs paralleler Linien vorzugsweise gleichbeabstandet angeordnet sind (Fig. 2).
14. Vorrichtung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß die Abbildungsoptik (6) derart ausgebildet bzw. eingestellt ist, daß die Bilder der durch die Strahlung (2) auf dem Körper (3) erzeugten speckles in der Bildebene (7) min­ destens drei nebeneinander liegende Sensorelemente (13, 14, 15) in einer Zeile überdecken.
15. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 11 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß die Referenzstrahlungsquelle aus einem in die Abbildungsoptik (6) führenden Lichtwellenleiter (31) besteht (Fig. 5).
16. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 11 bis 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Referenzstrahlungsquelle aus einer vor oder in der Abbildungsoptik (6) angeordneten Blende (32) mit mehreren, vorzugsweise zwei, Aperturen (33) besteht (Fig. 6).
17. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 11 bis 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Referenzstrahlungsquelle aus einem vor oder in der Abbildungsoptik (6) angeordneten optischen Keil (35) (Prisma) besteht, der einen Teil, vorzugsweise eine Hälfte, der Apertur der Abbildungsoptik (6) überdeckt (Fig. 8) .
18. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 11 bis 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Referenzstrahlungquelle aus einem vor oder in der Abbildungsoptik (6) angeordneten optischen Gitter (34) besteht (Fig. 7).
19. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 11 bis 18, gekenn­ zeichnet durch mehrere Referenzstrahlungsquellen zur Bestrahlung des Sensors (8) mit jeweils einer Referenz­ strahlung mit einer vorbestimmten, vorzugsweise konstanten Trägerfrequenz mit definierter Phasenlage.
20. Vorrichtung nach Anspruch 19, gekennzeichnet durch zwei Referenzstrahlungquellen.
21. Vorrichtung nach Anspruch 19 oder 20, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Referenzstrahlungen jeweils verschiedene Frequenz aufweisen.
22. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 11, bestehend aus
einer Strahlungsquelle (36), insbesondere einer Lichtquelle, zur Abgabe von kohärenter Strahlung einer vorbestimmten Frequenz auf ein transparentes Medium (40) oder einen Körper mit einer spiegelnden Oberfläche,
einem Sensor (42) mit einer Vielzahl von vorzugsweise regel­ mäßig angeordneten Sensorelementen,
einer Referenzstrahlungsquelle zur Bestrahlung des Sensors (42) mit gleicher Frequenz wie die durch das transparente Medium getretene oder von dem Körper mit spiegelnder Ober­ fläche reflektierte Strahlung,
wobei eine Periode des durch die Überlagerung entstehenden Interferenzfeldes mindestens drei Sensorelemente überdeckt,
und einem Rechner, der aus den Intensitätssignalen der mindestens drei Sensorelemente die Phase der durch das transparente Medium (40) getretenen oder von der spiegelnden Oberfläche reflektierten Strahlung bestimmt.
DE3930632A 1989-09-13 1989-09-13 Verfahren zur direkten phasenmessung von strahlung, insbesondere lichtstrahlung, und vorrichtung zur durchfuehrung dieses verfahrens Ceased DE3930632A1 (de)

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