DE3911357A1

DE3911357A1 - Verfahren zum gegenseitigen justieren zweier bauteile einer anzeigeeinrichtung

Info

Publication number: DE3911357A1
Application number: DE3911357A
Authority: DE
Inventors: Kurt Manfred Tischer
Original assignee: Nokia Unterhaltungselektronik Deutschland GmbH
Current assignee: Nokia Deutschland GmbH
Priority date: 1989-04-07
Filing date: 1989-04-07
Publication date: 1990-10-18

Description

Technisches Gebiet

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum gegenseitigen Justie ren zweier Bauteile einer Anzeigeeinrichtung, welche Bauteile jeweils ein regelmäßiges Bauteilemuster aufweisen. Solche Bau teile können Frontschirme mit Leuchtstoffmustern oder Elektro denaufbauten mit regelmäßiger Anordnung der Elektroden sein. Zum Beispiel sind bei Flüssigkristalldisplays zwei Substrat platten mit Elektrodenmustern gegeneinander zu justieren, während bei flachen Anzeigeeinrichtungen verschiedene Elektro denanordnungen zueinander zu justieren sind und eine Elektro denanordnung gegenüber dem Schirm zu justieren ist.

Stand der Technik

Das Justieren derartiger Bauteile erfolgt herkömmlicherweise entweder mechanisch oder optisch mit Hilfe von Justiermarken. Beim mechanischen Justieren werden die zu justierenden Bau teile an Lehren angelegt, die so ausgerichtet sind, daß die Bauteilemuster auf den beiden Bauteilen die richtige gegen seitige Lage aufweisen sollten. Sind die Muster jedoch auf grund von Fertigungstoleranzen gegenüber den Bauteilen etwas verschoben, sind die beiden Muster nach dem Justieren der Bauteile nicht richtig aufeinander ausgerichtet.

Bessere Justierergebnisse sind mit Hilfe von optischen Justier marken erzielbar. Die Justiermarken werden zugleich mit dem Aufbringen von Bauteilemustern auf ein jeweiliges Bauteil aufgebracht. Ist das Bauteilemuster etwas gegenüber einem Bauteil verschoben, sind auch die Justiermarken verschoben, was sich jedoch nicht mehr so stark wie bei mechanischer Ju stierung auswirkt, da nun versucht wird, die Bauteilemuster unmittelbar mit Hilfe der Justiermarken zueinander zu justie ren.

In der Praxis zeigte es sich immer wieder, daß Bauteilemuster beim Anbringen an ein Bauteil abhängig vom Aufbringungsort unterschiedliche Verschiebungen erfahren. Dies sei wie folgt veranschaulicht. Es sei eine Vielzahl zueinander paralleler Leuchtstoffstreifen zum Herstellen eines rechteckigen Bild schirmes auf eine Frontscheibe aufzubringen. Z. B. durch un gleichmäßige Temperaturverteilung über die Frontscheibe beim Herstellvorgang werde ein Schirm erhalten, bei dem die Leucht stoffstreifen mitsamt den in den Ecken des Schirmes angebrach ten Justiermarken in den linken und rechten Randbereichen genau die richtigen Lagen einnehmen, jedoch im mittleren Be reich des Schirmes etwas gegenüber der Sollage verschoben sind. Das gegenüber diesem Schirm zu justierende Elektrodenbauteil entspreche in bezug auf die Lagen der Elektroden und der zuge ordneten Justiermarken genau den Anforderungen. Werden nun die beiden Bauteile mit Hilfe der Justiermarken zueinander ju stiert, decken sich Elektroden und Leuchtstoffstreifen in den linken und rechten Randbereichen genau, während es in der Mitte zu einem leichten Versatz kommt.

Fehler der eben genannten Art sind mit herkömmlichen Justier methoden unvermeidbar. Es besteht daher seit langem das Prob lem, Verfahren zum gegenseitigen Justieren zweier Bauteile einer Anzeigeeinrichtung so auszugestalten, daß auch bei un gleichmäßig verteilten Musterabweichungen sehr gute Justier ergebnisse erzielbar sind.

Darstellung der Erfindung

Das erfindungsgemäße Verfahren nutzt eine Erkenntnis, die auch bei herkömmlichen Justierverfahren eingesetzt wird, daß näm lich zum Festlegen der räumlichen Anordnung eines Bauteiles jeweils ein Punkt und eine Richtung festgelegt werden müssen. Bei den bekannten Verfahren waren die festgelegten Punkte entweder die Lagen mechanischer Anschlagpunkte oder die Lagen optischer Justiermarken. Beim erfindungsgemäßen Verfahren sind die aufeinander zu justierenden Punkte dagegen die optischen Schwerpunkte der Bauteilemuster. Die beiden Bauteile werden so zueinander bewegt, daß die optischen Schwerpunkte auf einer gemeinsamen Achse zur Deckung gebracht werden, die im wesent lichen rechtwinklig auf den Mustern steht, und gleichzeitig ein vorgegebener Winkel zwischen zwei vorgegebenen Muster linien eingehalten wird. Die Richtungen der vorgegebenen Mu sterlinien werden während des Justierverfahrens ermittelt.

Der Vorteil dieses Verfahrens sei aufbauend auf dem oben ge nannten Beispiel erläutert. Es sei zunächst angenommen, daß sich alle Leuchtstoffstreifen genau in Sollage befinden. Leuch ten diese Streifen, befindet sich der Schwerpunkt der leuch tenden Fläche genau im geometrischen Mittelpunkt der Fläche. Sind dagegen die Leuchtstoffstreifen im mittleren Bereich etwas verschoben, wie oben angegeben, decken sich der geome trische Mittelpunkt der rechteckigen Fläche und der Schwer punkt der Helligkeitsverteilung nicht mehr. Sind z. B. die Streifen im mittleren Bereich etwas nach rechts verschoben, ist auch der optische Schwerpunkt gegenüber dem aus den Ecken lagen berechneten Mittelpunkt etwas verschoben. Wird nun auf diesen optischen Schwerpunkt statt auf den geometrischen Mit telpunkt justiert, führt dies dazu, daß nicht mehr, wie oben zum Stand der Technik beschrieben, die Elektroden und Leucht stoffstreifen in den Randbereichen deckungsgleich sind, dage gen eine Verschiebung im mittleren Bereich vorhanden ist, sondern es ist nun so, daß über den gesamten Schirm eine leichte Verschiebung zwischen Elektroden und Leuchtstoff streifen besteht. Dabei sind beim Beispiel die Leuchtstoff streifen in den Randbereichen etwas nach rechts gegenüber den Elektroden verschoben, während die Leuchtstoffstreifen im mittleren Bereich des Schirms etwas nach links verschoben sind, jedoch nicht mehr so viel wie bei der herkömmlichen Methode.

Um das erfindungsgemäße Verfahren ausüben zu können, muß nicht notwendigerweise der optische Schwerpunkt der Bauteilemuster selbst bestimmt werden, sondern zum einfachen Ausführen des Verfahrens reicht es aus, hierzu ein Hilfsmuster zu verwenden, z. B. die aus dem Stand der Technik bekannten Justiermarken in den Ecken einer rechteckigen Anordnung. Bei den herkömmli chen Justierverfahren wurde dann, wenn vier Justiermarken in den vier Ecken eines Musters verwendet wurden, nicht von allen vier Marken Gebrauch gemacht. Dies, weil es zum Festlegen der Lage eines Bauteiles im Raum genügt, entweder einen Punkt und eine Richtung, wie oben genannt, oder zwei Punkte festzulegen. Es konnte daher nur versucht werden, z. B. die Justiermarken in zwei sich entsprechenden Ecken zweier Bauteilemuster zur Deckung zu bringen, oder es wurden die Justiermarken für ein jeweils einziges Eck zur Deckung gebracht und mit Hilfe eines oder auch zweier anderer jeweiliger Justiermarken wurde ver sucht, eine richtungsmäßige Übereinstimmung herzustellen. Beim erfindungsgemäßen Verfahren kann dagegen die Lageinformation aus allen Justiermarken durch die optische Schwerpunktbildung genutzt werden. Es werden dann nicht zwei Justiermarken zur Deckung gebracht, sondern es werden die beiden optischen Schwerpunkte zur Deckung gebracht.

Vorzugsweise wird das Hilfsmuster so gelegt, daß es möglichst viel Information über den Aufbau des Bauteilemusters liefert. So ist es zweckmäßig, bei einem rechteckförmigen Muster mit Streifen entlang der kurzen Rechteckseite Justiermarken ent lang der langen Ränder zu positionieren, insbesondere in den Mitten der langen Ränder. Beim obigen Veranschaulichungs beispiel hätte dies zur Folge, daß zwar die Justiermarken in den Ecken auf Sollage wären, jedoch die Justiermarken in der Mitte der langen Ränder zusammen mit den Leuchtstoffstreifen etwas nach links verschoben wären. Dadurch könnte mit Hilfe der Justiermarken die oben erläuterte Mittelung der Verschie bung der beiden Bauteilemuster ausgeführt werden.

Diese Ausmittelung von Verschiebungsfehlern durch optische Schwerpunktbildung nimmt das vorweg, was bei Anzeigeeinrich tungen verschiedentlich durch Korrekturmittel an der fertigen Anzeigeeinrichtung bewerkstelligt wird, nämlich Verschiebe fehler optisch auszumitteln.

Wenn zwei Bauteile in der genannten Art und Weise zueinander justiert worden sind, ist es am zweckmäßigsten, die beiden Bauteile sofort in der Justieranordnung miteinander zu verbin den. In Fällen, in denen dies nicht erforderlich ist, z. B. weil ein langwieriger Prozeß bei höheren Temperaturen zum Ver binden ausgeführt werden muß, ist es von Vorteil, so zu ver fahren, daß mit Hilfe des genannten Justierverfahrens Abwei chungen der Lagewerte von Bauteilemustern ausgemessen werden, die gegenüber Sollagewerten bestehen. Zwei miteinander ver bundene Lehren werden mit Hilfe der gemessenen Abweichungs werte so eingestellt, daß die ausgemessenen Bauteilemuster gerade wieder zur Deckung kommen, wenn die Bauteile an die verstellten Lehren gelegt werden. Das Einstellen der Lehren kann auf unterschiedliche Art und Weise erfolgen. Z. B. können die Lehren fest miteinander verbunden sein und an den Anschlä gen einer jeden Lehre werden gerade diejenigen Verstellungen vorgenommen, die erforderlich sind, um die gemessenen Lage abweichungen für das anzulegende Bauteil zu kompensieren. Es können aber auch die Anschläge für eines der beiden Bauteile dauernd festgehalten werden, und die Anschläge der anderen Lehre werden im Ausmaß der summierten gemessenen Abweichungen verstellt. Auch ist es möglich, die Anschläge an beiden Lehren konstant zu halten, jedoch die beiden Lehren gegeneinander um das Ausmaß der summierten gemessenen Abweichungen zu verstel len.

Kurze Beschreibung der Figuren

Fig. 1 schematische Draufsicht auf eine Frontscheibenlehre und eine an diese angelegte Frontscheibe mit einem Bild schirm mit Leuchtstoffstreifen;

Fig. 2 eine schematische Draufsicht auf eine Wannenlehre mit einer an diese angelegten Wanne mit eingebauter Elek trodenanordnung mit streifenförmigen Elektroden;

Fig. 3 schematischer Querschnitt durch eine Wanne und eine Frontscheibe, die an jeweils zugehörigen Lehren anlie gen;

Fig. 4 schematische Darstellung einer Vorrichtung zum Ermit teln des Schwerpunktes eines Bauteilemusters;

Fig. 5a-c Diagramme zum Erläutern der Funktion der Vor richtung gemäß Fig. 4;

Fig. 6a-c Diagramme entsprechend denen von Fig. 5, jedoch für ein Mittelungsverfahren für eine andere relative Raumrichtung als die für Fig. 5 maßgeblich ist; und

Fig. 7 schematische Draufsicht auf eine Justierblende, wie sie in der Vorrichtung gemäß Fig. 4 einsetzbar ist, mit einem darunterliegenden Bildschirm mit Justiermar ken, die ebenso wie Löcher in der Justierblende übertrieben groß dargestellt sind.

Wege zum Ausführen der Erfindung

Die in Fig. 1 dargestellte Frontscheibe 10 weist einen recht eckigen Bildschirm 11 mit einer Vielzahl von Leuchtstoffstrei fen 12 auf, die zur kurzen Seite des Bildschirms parallel sind. Von den Leuchtstoffstreifen 12 ist nur ein kleiner Teil sche matisch dargestellt. Die Frontscheibe 10 verfügt über drei Anschlagpunkte 13.10, mit denen sie an Anschlägen 14.15 einer Frontscheibenlehre 15 anliegt.

In der in Fig. 2 dargestellten Wanne 16 ist eine rechteckige Elektrodenanordnung 17 fest montiert. Die Elektrodenanordnung weist eine Vielzahl von Elektroden 18 auf, die parallel zur kurzen Seite der Elektrodenanordnung 17 verlaufen. Die Wanne 16 verfügt über drei Anschlagpunkte 13.16, mit denen die Wanne an Anschlägen 14.19 einer Wannenlehre 19 anliegt.

In dem in Fig. 3 dargestellten Schnitt liegen die Wanne 16 mit darüber angeordneter Frontscheibe 10 auf einer Unterlage 20, die die Frontscheibenlehre 15 und die Wannenlehre 19 trägt. Beide Lehren weisen zwei rechtwinklig zueinander stehende Schenkel auf, mit zweien der jeweils drei Anschläge am langen Schenkel und dem dritten Anschlag am kurzen Schenkel.

Es sei angenommen, daß die Leuchtstoffstreifen 12 exakt nach einem vorgegebenen regelmäßigen Muster liegen, das zudemhin eine genau gegebene Lage zu den Anschlagpunkten 13.10 an der Frontscheibe 10 hat. Weiterhin sei angenommen, daß die Elek troden 18 genau in einer vorgegebenen regelmäßigen Lage lie gen, die darüber hinaus eine genau vorgegebene Ausrichtung gegenüber den Anschlagpunkten 13.16 an der Wanne 16 aufweist. Die Anschläge 14.15 und 14.19 an den beiden Lehren 15 bzw. 19 sind so eingestellt, daß die Leuchtstoffstreifen 12 und die Elektroden 18 in vorgegebener Weise genau zueinander justiert sind.

Die für die beschriebenen Idealmuster geltenden Stellungen der Anschläge können entweder berechnet werden, was einen einma ligen Kalibriervorgang darstellt, oder zum Kalibrieren können eine Kalibrierfrontscheibe und eine Kalibrierwanne verwendet werden, mit Hilfe derer alle bei Justiervorgängen verwendete Lehren eingestellt werden. Alle später mit ersten Lehren aus gemessenen und an zweiten Lehren eingestellten Lagewertunter schiede beziehen sich dann auf Lagewerte dieser Kalibrierbau teile.

Bei der in Fig. 4 schematisch dargestellten Justiervorrichtung liegt eine Frontscheibe 10 auf einem durchsichtigen Justier tisch 21. Auf diesem ist eine Frontscheibenlehre 15 angebracht, die wie vorstehend beschrieben kalibriert ist. An die An schläge 14.15 dieser Frontscheibenlehre 15 wird nun eine Front scheibe 10 mit ihren Anschlagpunkten 13.10 angelegt. Über dem Justiertisch 21 ist eine Justierblende 22 angeordnet, die über eine Blendenverstelleinrichtung parallel zur Frontscheibe in x-Richtung (lange Richtung des Bildschirms 11) und y-Richtung (kurze Richtung des Bildschirms) verschiebbar ist und darüber hinaus in ihrer Ebene verdrehbar ist. Unter dem Justiertisch 21 ist eine Beleuchtungseinrichtung 24 dargestellt, die ultra violettes Licht aussendet, um die Leuchtstoffstreifen 25 im Bildschirm zum Leuchten anzuregen. Das von den Leuchtstoff streifen 25 emittierte Licht fällt durch die Justierblende 22 hindurch auf einen Lichtempfänger 26, dessen Ausgangssignal einem Rechner 27 zugeführt wird. Der Rechner 27 gibt so lange Verstellsignale an die Blendenverstelleinrichtung 23 ab, bis diese die Justierblende 22 in eine Stellung verfahren hat, in der die durch die Justierblende 22 tretende Lichtmenge ein Maximum erreicht. Dieser Vorgang wird nun anhand der Fig. 5a bis c sowie 6a bis c näher erläutert.

In den Fig. 5 und 6 sind die Begrenzungen von Leuchtstoff streifen strichpunktiert dargestellt, während die Begrenzungen von Blendenschlitzen mit durchgezogenen Linien gezeichnet sind. Die Fig. 5a bis c zeigen jeweils einen Schlitz, der die Länge und Breite eines Leuchtstoffstreifens 25 aufweist. Es wird darauf hingewiesen, daß alle Figuren die tatsächlichen Ver hältnisse nicht maßstabsgetreu wiedergeben. So sind tatsäch liche Leuchtstoffstreifen im Verhältnis zu ihrer Breite erheb lich länger, als dies in den Fig. 5 und 6 wiedergegeben ist. Die Justierblende 22 weist eine Vielzahl von Blendenschlitzen 28 auf, wobei jedoch nicht so viele Blendenschlitze vorhanden sein müssen, wie Leuchtstoffstreifen vorhanden sind. Es sollte jedoch mindestens ein Schlitz vorhanden sein, der einem Leuchtstoffstreifen in der Mitte des Bildschirms 11 zugeordnet ist, sowie jeweils ein Schlitz, der in Zuordnung zu jeweils einem Leuchtstoffstreifen am Rand des Bildschirms steht.

Jeder Blendenschlitz 28 ist in der Mitte durch eine Abdeckung 29 abgedeckt, wodurch ein linker Teilschlitz 30. l und ein rechter Teilschlitz 30. r gebildet sind. Die Meßgenauigkeit wird um so höher, je schmaler die Teilschlitze im Verhältnis zur gesam ten Schlitzbreite sind.

Bei der Darstellung gemäß Fig. 5a ist davon ausgegangen, daß bei der Vorrichtung gemäß Fig. 4 die Justierblende 22 etwas im Gegenuhrzeigersinn gegenüber den Leuchtstoffstreifen 12 verdreht ist. Es tritt dann Licht vom darunterliegenden Leucht stoffstreifen nur durch den oberen Bereich des rechten Teil schlitzes 30. r und den unteren Bereich des linken Teilschlit zes 30. l. Wird nun die Justierblende 22 im Uhrzeigersinn so weit verdreht, daß die Teilschlitze parallel zum Leuchtstoff streifen liegen, daß jedoch der Leuchtstoffstreifen 12 noch nicht genau unter dem gesamten Blendenschlitz 28 liegt, er geben sich die Verhältnisse gemäß Fig. 5b, gemäß denen der rechte Teilschlitz 30. r ganz, der linke Teilschlitz 30. l aber nur halb ausgeleuchtet ist. Die ausgeleuchteten Bereiche sind jeweils schraffiert dargestellt. Beide Teilschlitze sind erst dann ganz ausgeleuchtet, wenn die Justierblende noch etwas nach rechts verschoben ist, und zwar so weit, daß der Leucht stoffstreifen 12 genau unter dem Blendenschlitz 28 liegt. Dann erkennt der Lichtempfänger 26 maximale Helligkeit.

Nun können die Verhältnisse so sein, daß genaue Deckung gemäß Fig. 5c für die Randbereiche des Bildschirms 11 erzielt ist, daß jedoch in einem relativ breiten Mittenbereich ein Zustand gemäß Fig. 5b vorliegt. Wird dann die Blende 22 etwas nach rechts verschoben, ergibt sich insgesamt eine Helligkeits steigerung. Diese Lage mit maximaler Helligkeit wird dann als die Lage ordnungsgemäßen Justierens bewertet.

Um je nach konkretem Aufbau einer Anzeigeeinrichtung optimale Justierergebnisse beim Ermitteln des optischen Schwerpunktes zu erhalten, ist es ratsam, beim Ausmitteln Bedingungen zu simulieren, wie sie im tatsächlichen Betrieb auftreten. So kann es von Vorteil sein, den Blendenschlitz 28 etwas schmaler zu wählen als die Leuchtstoffstreifen, wenn für den prakti schen Betrieb ebenfalls vorgesehen ist, daß auf die Leucht stoffstreifen Elektronenstrahlen fallen, die schmaler sind als die Leuchtstoffstreifen selbst.

Bei Anordnungen mit streifenförmigen Mustern in y-Richtung ist es in der Regel ausreichend, in x-Richtung und in bezug auf den Verdrehwinkel zur x-Richtung genau zu justieren. Auf kleine Verschiebungen in y-Richtung, die mit der Justierblende gemäß Fig. 5 nur ungenau erfaßbar sind, kommt es nicht an. Sollen jedoch auch derartige Verschiebungen optisch ausgemit telt werden, kann eine Blende gemäß Fig. 6 eingesetzt werden. Bei dieser verläuft ein oberer Teilschlitz 30. o entlang dem oberen Rand von Leuchtstoffstreifen 12 und ein unterer Teil schlitz 30. u verläuft parallel dem unteren Rand. Der Abstand der Außenränder der beiden Teilschlitze entspricht im wesent lichen der Länge der Leuchtstoffstreifen. Dies führt dazu, daß dann, wenn die Endränder der Leuchtstoffstreifen gerade mit den Außenrändern der Teilschlitze zusammenfallen, eine maximal mögliche Fläche der Leuchtstoffstreifen 12 durch die Teil schlitze 30. o und 30. u hindurch sichtbar ist, wie dies in Fig. 6c dargestellt ist. Bei einer starken gegenseitigen Ver schiebung zwischen Bildschirm und Justierblende sind dagegen nur durch einen der Teilschlitze hindurch Leuchtstoffstreifen erkennbar, z. B. durch den unteren Teilschlitz 30. u, wie in Fig. 6a eingezeichnet. Bei beinahe richtigem Justierergebnis, wie in Fig. 6b dargestellt, ist ein Teilschlitz ganz ausge leuchtet und der andere teilweise. Auch hier ergibt sich wie der maximale Helligkeit, wenn eine möglichst große Fläche der Leuchtstoffstreifen 12 durch die Teilschlitze 30. o und 30. u hindurch sichtbar ist.

Sobald eine Justierblende 22 in die Lage maximaler Helligkeit verschoben ist, wird ausgemessen, wie weit ihr Mittelpunkt in x- und y-Richtung gegenüber der Kalibrierlage verschoben ist, und um welchen Winkel sie verdreht werden mußte. Entsprechende Werte werden für die Elektrodenanordnung 17 gewonnen. Diese wird nicht mit UV-Licht bestrahlt, sondern sie wird mit sichtbarem Licht durchleuchtet. Eine zu verwendende Justier blende ist in der vorbeschriebenen Art und Weise entsprechend an die Abmessungen der Elektroden in der Elektrodenanordnung 17 anzupassen.

Anstatt eine gesonderte Justierblende 22 zu verwenden, ist es auch möglich, eine Elektrodenanordnung 17 selbst als Blende einzusetzen, um so unmittelbar die Blende auf das leuchtende Leuchtstoffmuster nach einem optischen Schwerpunktbildungs verfahren auszurichten.

Werden für eine Frontscheibe 10 und eine Wanne 16 gesondert Justierwerte der oben genannten Art ermittelt, um diese Bau teile außerhalb der Justiervorrichtung zu verbinden, werden die Abweichungswerte auf die Anschläge 14.15 der Frontschei benlehre bzw. die Anschläge 14.19 der Wannenlehre 19 übertra gen. Beim Übertragen wird jeweils von einer Stellung der An schläge ausgegangen, die für den Kalibriervorgang gilt. Bevor zugt ist es hierbei, die Anschläge an einer der beiden Lehren unverändert zu lassen, und an den Anschlägen der anderen Lehre die summierten Abweichungswerte einzustellen. Äquivalent hier zu ist es möglich, die Anschläge an beiden Lehren unverändert zu lassen, aber die beiden Lehren um die Summenabweichungs werte gegeneinander zu verschieben.

Eine Zusammenbaueinrichtung mit zwei Lehren, wie z. B. die Einrichtung gemäß Fig. 3, kann ein Frittgestell sein, um die Frontscheibe 10 einer Anzeigeeinrichtung über eine Frittnaht 31 mit einer Wanne 16 zu verbinden. Vorzugsweise werden hierbei die Anschläge an einer der Lehren unverändert gelassen und nur die anderen Anschläge mit den Summenabweichungen verstellt.

In Fig. 7 ist eine Justierblende 22′ dargestellt, die zum Er mitteln des optischen Schwerpunktes eines Bauteilemusters kreisförmige Justiermarken am Bauteilemuster ausnutzt, die als Hilfsmuster dienen. Es sei wiederum ein Bildschirm 11 auszu richten, der entlang seiner langen Seiten Justiermarken trägt, und zwar jeweils eine an den beiden jeweiligen langen Seiten und eine in der jeweiligen Mitte der langen Seiten, also ins gesamt sechs Justiermarken. Die Justiermarken sind in Fig. 7 strichpunktiert dargestellt, ebenso wie der von ihnen umschlos sene Bildschirm 11. Dieser Bildschirm liegt unter der Justier blende 22′. Bei der Darstellung ist vom eingangs genannten Erläuterungsbeispiel ausgegangen, gemäß dem die Leuchtstoff streifen und damit auch die Justiermarken 32. m in der Mitte der Längsränder nach links gegenüber ihrer Sollage verschoben sind, während sich die Justiermarken 32. l am linken Rand und 32. r am rechten Rand jeweils in Sollage befinden. Der so be schaffene Bildschirm ist nun derart gegenüber der Justierblen de 22′ ausgemittelt, daß das von den Justiermarken insgesamt abgestrahlte Licht optimale Helligkeit aufweist. Dabei sind die rechten Justiermarken 32. r und die linken Justiermarken 32. l etwas gegenüber den zugehörigen Justierlöchern 33 nach rechts verschoben, während die mittleren Justiermarken 32. m etwas nach links verschoben sind.

Mit Hilfe von Justierblenden der beschriebenen Art ist es mög lich, zugleich mit einer optischen Schwerpunktsbestimmung eine Richtungsbestimmung auszuführen. Es ist jedoch auch möglich, den Lichtempfänger 26 so auszugestalten, daß er eine insgesamt leuchtende Fläche betrachtet und dabei ein Signal für maximale Helligkeit ausgibt, wenn er genau über dem optischen Schwer punkt der leuchtenden Fläche steht. Die Fläche kann selbst leuchtend sein, wie ein Leuchtstoffschirm, oder durchleuchtet, wie ein Elektrodenmuster. Ist auf diese Art und Weise der optische Schwerpunkt festgelegt, muß noch eine Richtung be stimmt werden. Dies kann durch ein Mittelungsverfahren er folgen, wie anhand der Fig. 5a und 5b erläutert, oder dadurch, daß die Richtung einer Musterlinie z. B. mit einem Mikroskop parallel zu einer vorgegebenen Linie gestellt wird.

Die Ausführungsbeispiele betreffen das gegenseitige Justieren einer Frontscheibe und einer Wanne mit Hilfe von an diesen Bauteilen vorhandenen Bauteilemustern. Statt einer Frontscheibe und einer Wanne können auch andere Bauteile zueinander justiert werden, z. B. die unterschiedlichen Einzelelektrodenanordnun gen einer zusammengesetzten Elektrodenanordnung.

Die beiden auszurichtenden Muster können beliebige vorgegebene Richtungen gegeneinander einschließen. In der Praxis werden jedoch fast ausschließlich diejenigen Fälle auftreten, in denen die Musterlinien in zwei Richtungen parallel zueinander laufen, wie bei den beschriebenen Ausführungsbeispielen, oder in denen die Musterlinien rechtwinklig zueinander stehen, z. B. wenn die Elektrodenmuster zweier Elektrodeneinzelein richtungen zueinander justiert werden.

Es wird darauf hingewiesen, daß die Aussage, daß die optischen Schwerpunkte der zu justierenden Bauteilemuster miteinander zur Deckung gebracht werden, nicht bedeutet, daß diese in einem Punkt zusammenfallen. Vielmehr werden diese Schwerpunkte auf einer gemeinsamen Achse zur Deckung gebracht, die im we sentlichen rechtwinklig auf den Mustern steht. Sind die Muster eben, steht die Achse rechtwinklig zur Musterebene. Sind die Muster dagegen gekrümmt, steht die Achse rechtwinklig auf der Tangentialebene, die am Ort des optischen Schwerpunkts durch das Muster geht.

Wird zum Justieren eines Bauteilemusters ein Hilfsmuster ver wendet, wie anhand des Beispiels gemäß Fig. 7 erläutert, wird das Hilfsmuster zweckmäßigerweise so gelegt, daß der optische Mittelpunkt des Hilfsmusters mit dem optischen Mittelpunkt des Bauteilemusters übereinstimmt. Dem Prinzip nach kann jedoch auch so vorgegangen werden, daß zwischen den beiden optischen Mittelpunkten ein Versatz besteht, der jedoch genau bekannt sein muß. Entsprechendes gilt, wenn die Richtung einer Bau teile-Musterlinie mit Hilfe einer Hilfslinie bestimmt wird.

Diese wird zweckmäßigerweise so auf dem Bauteil in bezug zum Bauteilemuster angebracht, daß die Hilfslinie parallel zu den Musterlinien verläuft.

Claims

1. Verfahren zum gegenseitigen Justieren zweier Bauteile einer Anzeigeeinrichtung, welche Bauteile jeweils ein regelmäßi ges Bauteilemuster aufweisen, dadurch gekennzeichnet, daß

- die jeweiligen optischen Schwerpunkte der Bauteilemuster ermittelt werden,
- in jedem Bauteilemuster die jeweilige Richtung einer Musterlinie ermittelt wird, und
- die beiden Bauteile zueinander bewegt werden, wobei
- - durch einen Verschiebevorgang die optischen Schwerpunkte auf einer gemeinsamen Achse zur Deckung gebracht werden, die im wesentlichen rechtwinklig auf den Mustern steht, und
- - durch eine Verdrehbewegung die genannten Richtungen so eingestellt werden, daß sie einen vorgegebenen Winkel einschließen.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich net, daß der optische Schwerpunkt eines Bauteilemusters unmittelbar durch optisches Auswerten dieses Musters er zielt wird.

3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich net, daß der optische Schwerpunkt eines Bauteilemusters mittelbar dadurch bestimmt wird, daß der optische Schwer punkt eines Hilfsmusters bestimmt wird, das so auf dem Bau teil in bezug zum Bauteilemuster angebracht ist, daß die beiden optischen Schwerpunkte deckungsgleich sein sollten.

4. Verfahren nach Anspruch 1, d adurch gekennzeich net, daß die Richtung einer Bauteile-Musterlinie unmit telbar durch optisches Auswerten des Bauteilemusters er mittelt wird.

5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich net, daß die Richtung einer Bauteile-Musterlinie mittel bar durch optisches Auswerten einer Hilfslinie bestimmt wird, die so in bezug zum Bauteilemuster auf dem Bauteil angebracht ist, daß die Hilfslinie parallel zu den Muster linien verlaufen sollte.

6. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich net, daß als Bauteilemuster das Leuchtstoffmuster auf der Frontscheibe einer Anzeigeeinrichtung verwendet wird.

7. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich net, daß als Bauteilemuster ein Elektrodenmuster ver wendet wird.

8. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeich net, daß als Hilfsmuster Hilfsmarken verwendet werden, die nahe den Rändern eines Bauteilemusters angebracht sind.

9. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich net, daß das Zueinanderbewegen der Bauteile dadurch erfolgt, daß

- in einem einmalig auszuführenden Kalibriervorgang ein stellbare Anschläge an zwei miteinander verbundenen Leh ren so eingestellt werden, daß dann, wenn ein erstes Bau teil mit vorgegebener Lage des optischen Schwerpunkts und vorgegebener Musterlinienrichtung mit Anschlagpunkten an den Anschlägen der ersten Lehre liegt und ein zweites Bauteil mit vorgegebener Lage des optischen Schwerpunkts und vorgegebener Musterlinienrichtung mit Anschlagpunk ten an den Anschlägen der zweiten Lehre liegt, die bei den Muster zueinander justiert sind, und
- bei jedem aktuellen Justieren zweiter Bauteile wie folgt verfahren wird:
- - es werden die optischen Schwerpunkte und Richtungen der Bauteilemuster ermittelt,
- - dann werden die Lagen der ermittelten optischen Schwer punkte und Richtunge in bezug auf die jeweils zugehö rigen Anschlagpunkte gemessen,
- - es wird berechnet, wie weit die gemessenen Werte gegen über denen abweichen, die im Kalibriervorgang festge legt wurden, und
- - schließlich werden die Anschläge an den Lehren so ver stellt, daß die tatsächlichen optischen Schwerpunkte und Richtungen mit den optischen Schwerpunkten bzw. Rich tungen zusammenfallen, die im Kalibriervorgang festge legt wurden, wenn die zu justierenden Bauteile mit ihren jeweiligen Anschlagpunkten an diese Anschläge gelegt werden.

10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeich net, daß als Anordnung miteinander verbundener Lehren ein Frittgestell verwendet wird, das zum Verbinden einer Frontscheibe mit einer Wanne dient, wobei die Frontscheibe ein Leuchtstoffmuster trägt und an der Wanne eine Elektrode mit regelmäßigem Elektrodenmuster befestigt ist, das gegen über dem Leuchtstoffmuster auszurichten ist.