DE3802050C2 - Abschaltthyristor - Google Patents

Abschaltthyristor

Info

Publication number
DE3802050C2
DE3802050C2 DE3802050A DE3802050A DE3802050C2 DE 3802050 C2 DE3802050 C2 DE 3802050C2 DE 3802050 A DE3802050 A DE 3802050A DE 3802050 A DE3802050 A DE 3802050A DE 3802050 C2 DE3802050 C2 DE 3802050C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
layer
thyristor
emitter
resistance
turn
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE3802050A
Other languages
English (en)
Other versions
DE3802050A1 (de
Inventor
Hiromu Haruki
Fumiaki Kirihata
Osamu Hashimoto
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
Publication of DE3802050A1 publication Critical patent/DE3802050A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3802050C2 publication Critical patent/DE3802050C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/70Bipolar devices
    • H01L29/74Thyristor-type devices, e.g. having four-zone regenerative action
    • H01L29/7404Thyristor-type devices, e.g. having four-zone regenerative action structurally associated with at least one other device
    • H01L29/7408Thyristor-type devices, e.g. having four-zone regenerative action structurally associated with at least one other device the device being a capacitor or a resistor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/70Bipolar devices
    • H01L29/74Thyristor-type devices, e.g. having four-zone regenerative action
    • H01L29/744Gate-turn-off devices

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Thyristors (AREA)

Description

Die Erfindung bezieht sich auf einen Abschaltthyristor (GTO- Thyristor) gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Fig. 3 ist eine Schnittansicht, die den Hauptteil einer herkömmlichen, nachstehend als Segment bezeichneten Abschalt­ thyristoreinheit mit Vierschichtenaufbau aus einer p-Emitter­ schicht 1, einer n-Basisschicht 2, einer p-Basisschicht 3 und einer n-Emitterschicht 4 zeigt. Auf die p-Emitterschicht 1 ist als erste Hauptelektrode beispielsweise eine Anodenelek­ trode 5 aufgebracht. Auf die p-Basisschicht 3 ist eine Gate- bzw. Steuerelektrode 6 aufgebracht. Auf die n-Emitterschicht 4 ist als zweite Hauptelektrode eine Kathodenelektrode 7 aufgebracht. Die n-Emitterschicht 4 hat die Form eines Strei­ fens oder einer rechteckigen Insel.
Fig. 4 ist eine Draufsicht, die von oben auf die Kathoden­ elektrode 7 gesehen einen Abschaltthyristor mit vier Segmen­ ten zeigt, von denen eines in Fig. 3 gezeigt ist. In diesem Thyristor sind die Anoden und auch die Kathoden der vier Segmente parallel geschaltet, während die Gateelektroden 6 als gemeinsame Gateelektroden miteinander verbunden sind. Ein abschaltbarer Durchlaßstrom, nämlich eine Stromabschaltung als eines der wichtigen Merkmale des Abschaltthyristors, wird dadurch erreicht, daß aus der gemeinsamen Steuerelektrode 6 ein Steuerstrom abgeleitet wird.
In einem Abschaltthyristor, in dem mehrere Segmente parallel zueinander angeordnet sind, weichen die elektrischen Eigenschaften der jeweiligen Segmente, wie die Durchlaßspannungen und die Steueranschluß-Impedanzwerte, von­ einander ab, so daß bei dem Abschalten des Abschaltthyristors die Betriebsvorgänge bei dem Ableiten der Steuerströme aus den Gateelektroden der jeweiligen Segmente nicht unter den Segmenten gleich sind. Während der letzten Phase des Ab­ schaltvorgangs des Abschaltthyristors ergibt ein bestimmtes Segment, wie beispielsweise ein Segment mit niedriger Durch­ laßspannung oder hoher Steueranschluß-Impedanz, infolge der Konzentration des Stroms an dem bestimmten Segment einen "Abschaltausfall". Durch die Konzentration des Stroms an dem bestimmten Element ist eine Steigerung des abschaltbaren Durchlaßstroms des Abschaltthyristors verhindert. Bei dem Formen der jeweiligen Schicht oder Zone in einem herkömmli­ chen Diffusionsprozeß oder einem herkömmlichen Injektions­ prozeß zur Ladungsträger-Lebensdauerverkürzung bestehen Ein­ schränkungen hinsichtlich der gleichförmigen Gestaltung der elektrischen Eigenschaften aller Segmente, so daß keine merk­ liche Steigerung des abschaltbaren Durchlaßstroms zu erwarten ist.
Die Druckschrift EP 0 220 469 A1 offenbart einen Abschaltthyristor, bei dem eine Abstandsschicht aus polykristallinem Silizium zwischen einer flachen Anschlußelektrode und den Kathodenelektroden ausgebildet ist. Die elektrischen Eigenschaften dieser Schicht sind jedoch darin nicht näher beschrieben.
Weiterhin offenbart die US 3 611 072 einen Abschaltthyristor, bei dem der kathodenseitige Emitter unter den Gatebereich verlängert ist. Durch Ausnutzung des Widerstandsverhaltens der verlängerten Emitterzone wird beim Abschalten dieses Bauelementes eine gezielte Strromführung durch diese Emitterzone bewirkt.
Aus der US 4 127 863 ist ein Abschaltthyristor der eingangs genannten Art bekannt, bei dem auf die inselförmigen, mit jeweils einer Elektrode abgedeckten Emitterschichten eine durchgehende Halbleiterschicht ausgebildet wird, auf die nachfolgend eine durchgehende Elektrodenschicht aufgebracht wird. Die durchgehende Halbleiterschicht soll dazu dienen, den Stromfluß über die inselförmigen Emitter zu homogenisieren. Das Aufbringen des durchgehenden Halbleiterschicht auf die Kathodenelektroden der inselförmigen Emitter kann allerdings zu inhomogenen Übergangswiderständen zwischen den Kathodenelektroden und der durchgehenden Halbleiterschicht führen, insbesondere dann, wenn die Berührung nicht über der gesamten Kontaktfläche gleichmäßig ist.
Ferner können in der durchgehenden Halbleiterschicht Querströme auftreten, wenn die Potentiale an den Berührungspunkten voneinander abweichen.
Somit kann auch hier das Stromgleichgewicht der über die inselförmigen Emitter fließenden Ströme gestört sein, was zu einer erhöhten Verlustleistung während des Abschaltens des GTO-Transistors führt.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, einen Abschaltthyristor zu schaffen, der auch bei hohen Durchlaßströmen ein zuverlässiges Abschalten bei verhältnismäßig niedriger Durchlaßspannung ermöglicht.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die im Kennzeichnungsteil des Patentanspruchs 1 angegebenen Merkmale gelöst.
Durch die zwischen den inselförmigen Emittern und den darauf aufgebrachten Elektroden angeordneten Widerstandsschichten, deren Widerstandswert im Bereich zwischen 15 mΩ/mm² und 500 mΩ/mm² festgelegt ist, läßt sich ein homogener, über alle inselförmigen Emitter im wesentlichen gleichmäßig verteilter Stromübergang sicherstellen, wobei der Durchlaßspannungsabfall verhältnismäßig niedrige, unproblematische Werte aufweist.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nachstehend unter Bezugnahme auf die Zeichnungen näher erläutert.
Fig. 1 ist eine Schnittansicht von Hauptteilen des Abschaltthyristors gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel.
Fig. 2 ist eine Schnittansicht von Hauptteilen des Abschaltthyristors gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel.
Fig. 3 ist eine Schnittansicht von Hauptteilen eines herkömmlichen Abschaltthyristors.
Fig. 4 ist eine Draufsicht, die alle Segmente eines Abschaltthyristors zeigt.
Fig. 5 ist eine grafische Darstellung, die den Zusammenhang des Verhältnisses zwischen abschaltbaren Durch­ laßströmen bei dem Abschaltthyristor gemäß den Ausführungs­ beispielen bzw. bei dem Abschaltthyristor nach dem Stand der Technik sowie einer Durchlaßspannung mit dem spezifischen Widerstand der Widerstandsschicht veranschaulicht.
Die Fig. 1 und 2 zeigen zwei Ausführungsbeispiele des Ab­ schaltthyristors. Hierbei sind zur Bezeichnung gleichartiger Komponenten wie die in den Fig. 3 und 4 die gleichen Bezugs­ zeichen verwendet.
Bei dem in Fig. 1 gezeigten ersten Ausführungsbeispiel ist auf die obere Fläche der streifenförmigen oder inselförmigen n-Emitterschicht 4 in jedem von mehreren Segmenten eine Wi­ derstandsschicht 8 aufgebracht, die im Ausführungsbeispiel aus poly­ kristallinem Silicium besteht. Die Kathodenelektrode 7 ist auf der oberen Fläche der Widerstandsschicht 8 angeordnet.
Bei dem in Fig. 2 gezeigten zweiten Ausführungsbeispiel des Abschaltthyristors ist die Widerstandsschicht 8 nicht direkt auf die obere Fläche der n-Emitterschicht 4 aufgebracht, sondern zwischen eine auf die obere Fläche der n-Emitter­ schicht 4 aufgebrachte Metallschicht 9 und die untere Fläche der Kathodenelektrode 7 eingefügt. Diese Gestaltung ergibt eine freiere Wahl eines Materials für die Widerstandsschicht 8 aus einer Vielfalt von Materialien.
Durch das Einfügen der Widerstandsschicht 8 zwischen die n- Emitterschicht 4 und die Kathodenelektrode 7 in einem einzel­ nen Segment kann der abschaltbare Durchlaßstrom beträchtlich erhöht werden.
Die Fig. 5 zeigt das Verhältnis zwischen dem abschaltbaren Durchlaßstrom in dem Abschaltthyristor gemäß den Ausführungs­ beispielen und dem abschaltbaren Durchlaßstrom in dem Ab­ schaltthyristor nach dem Stand der Technik sowie die Durch­ laßspannung im Zusammenhang mit dem spezifischen Widerstand der Widerstandsschicht 8. Wenn für die Widerstandsschicht 8 auf der n-Emitterschicht 4 ein spezifischer Widerstand von 15 mOhm/mm2 oder darüber gewählt wird, ist ein beträchtlicher Anstieg des abschaltbaren Durchlaßstroms zu beobachten. Ande­ rerseits nimmt auch entsprechend dem Anstieg des Widerstands der Widerstandsschicht 8 die Durchlaßspannung zu, so daß die Durchlaßspannung über 1,5 V ansteigt, wenn der spezifische Widerstand 500 mOhm/mm2 übersteigt. Infolgedessen steigt die durch den über den Thyristor fließenden Strom verursachte Durchlaßverlustleistung des Thyristors an, so daß daher im Hinblick auf die Herstellungskosten ein Kühlkörpergebilde für den Abschaltthyristor teuer wird.
Daher ist es bei dem Abschaltthyristor gemäß den Ausführungs­ beispielen für das wirkungsvolle Verbessern des abschaltbaren Durchlaßstroms ohne eine bedeutende Erhöhung der Durchlaß­ spannung durch die Widerstandsschicht 8 vorteilhaft, den Widerstand der Widerstandsschicht 8 in einem Bereich von 15 mOhm/mm2 bis 500 mOhm/mm2 festzulegen.
Bei dem Abschaltthyristor gemäß den Ausführungsbeispielen ist zwischen die rechteckige oder inselförmige n-Emitterschicht und die Hauptelektrode die Widerstandsschicht eingefügt. Infolgedessen tritt an der Widerstandsschicht 8 ein Span­ nungsabfall auf, der insbesondere während der letzten Phase des Abschaltvorgangs die Stromkonzentration an einem bestimm­ ten Segment verhindert, so daß infolgedessen der Ausgleich der über die jeweiligen Segmente fließenden Ströme verbessert ist. Ferner wird durch den Spannungsabfall der Anodenstrom abgeleitet, so daß der abgeleitete Strom zu dem Steueran­ schluß fließt. Als Folge hiervon werden die über die jeweili­ gen Segmente fließenden Ströme und die Abschaltzeiten der jeweiligen Segmente einander angeglichen. Es ist daher er­ sichtlich, daß der abschaltbare Durchlaßstrom beträchtlich erhöht werden kann. Wenn im einzelnen der Widerstand der Widerstandsschicht 8 15 mOhm/mm2 übersteigt, werden die vor­ stehend beschriebenen Wirkungen weiter gesteigert, wobei der Anstieg der Durchlaßspannung dadurch in einem geeigneten Bereich gesteuert werden kann, daß der Widerstand der Wider­ standsschicht 8 nicht über 500 mOhm/mm2 hinausgehend gewählt wird.

Claims (2)

1. Abschaltthyristor mit einer ersten Hauptelektrode, einer auf der ersten Hauptelektrode angeordneten Emitterschicht eines ersten Leitungstyps, einer auf der Emitterschicht angeordneten ersten Basisschicht eines zweiten Leitungstyps, einer auf der ersten Basisschicht angeordneten zweiten Basisschicht des ersten Leitungstyps, mehreren auf der zweiten Basisschicht angeordneten, jeweils inselförmigen Emitterschichten des zweiten Leitungstyps, einer Steuerelektrode, die an einem Bereich der zweiten Basisschicht außerhalb der Bereiche angeordnet ist, an denen die mehreren Emitterschichten angeordnet sind, und mehreren zweiten Hauptelektroden, die jeweils auf den mehreren Emitterschichten angeordnet sind, gekennzeichnet durch mehrere Widerstandsschichten (8), die jeweils zwischen die mehreren Emitterschichten (4) des zweiten Leitungstyps und die mehreren zweiten Hauptelektroden (7) eingefügt sind, wobei der Widerstand jeder der mehreren Widerstandsschichten (8) in dem Bereich von 15 mOhm/mm² bis 500 mOhm/mm² festgelegt ist.
2. Abschaltthyristor nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch mehrere Metallschichten (9), die jeweils zwischen die mehre­ ren Emitterschichten (4) des zweiten Leitungstyps und die mehreren Widerstandsschichten (8) eingefügt sind.
DE3802050A 1987-01-29 1988-01-25 Abschaltthyristor Expired - Fee Related DE3802050C2 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1896387 1987-01-29
JP62196911A JPH0658959B2 (ja) 1987-01-29 1987-08-06 ゲ−ト・タ−ン・オフ・サイリスタ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3802050A1 DE3802050A1 (de) 1988-08-11
DE3802050C2 true DE3802050C2 (de) 1995-02-02

Family

ID=26355736

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE3802050A Expired - Fee Related DE3802050C2 (de) 1987-01-29 1988-01-25 Abschaltthyristor

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5010384A (de)
JP (1) JPH0658959B2 (de)
DE (1) DE3802050C2 (de)
FR (1) FR2610452B1 (de)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2960506B2 (ja) * 1990-09-19 1999-10-06 株式会社日立製作所 ターンオフ形半導体素子
DE4402884C1 (de) * 1994-02-01 1995-05-18 Daimler Benz Ag Abschaltbares Leistungshalbleiterbauelement
DE19640242C2 (de) * 1996-09-30 2002-01-10 Infineon Technologies Ag Kathodenanordnung für GTO-Thyristor
EP0833389B1 (de) * 1996-09-30 2008-03-05 Infineon Technologies AG GTO-Thyristor

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE755356A (fr) * 1969-08-27 1971-03-01 Westinghouse Electric Corp Interrupteur a semi conducteur a grille de commande pour courant eleve
US4127863A (en) * 1975-10-01 1978-11-28 Tokyo Shibaura Electric Co., Ltd. Gate turn-off type thyristor with separate semiconductor resistive wafer providing emitter ballast
DE2825794C2 (de) * 1978-06-13 1986-03-20 Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt Abschaltbarer Thyristor
CA1136773A (en) * 1978-08-14 1982-11-30 Norikazu Ohuchi Semiconductor device
JPS5526624A (en) * 1978-08-14 1980-02-26 Sony Corp Semiconductor device
JPS55165672A (en) * 1979-06-11 1980-12-24 Fujitsu Ltd Semiconductor device
JPS6043668B2 (ja) * 1979-07-06 1985-09-30 株式会社日立製作所 半導体装置
JPS5839466B2 (ja) * 1979-08-10 1983-08-30 ブリテイツシユ ガス コ−ポレ−シヨン 石炭ガス化プラント用スラグタツプおよびかかるスラグタツプを組入れた石炭ガス化プラントの改良
JPS5632793A (en) * 1979-08-24 1981-04-02 Fujitsu Ltd Wiring route determining system
JPS56125872A (en) * 1980-03-10 1981-10-02 Hitachi Ltd Semiconductor switchgear and its manufacture
US4411708A (en) * 1980-08-25 1983-10-25 Trw Inc. Method of making precision doped polysilicon vertical ballast resistors by multiple implantations
JPS5778173A (en) * 1980-11-04 1982-05-15 Hitachi Ltd Semiconductor device and manufacture thereof
EP0064613B1 (de) * 1981-04-30 1986-10-29 Kabushiki Kaisha Toshiba Halbleiteranordnung mit einer Verschiedenheit von Elementen, die parallel funktionieren
GB2100303B (en) * 1981-06-13 1984-08-01 Carclo Eng Group Plc Improvements in or relating to cardclothing
JPS5952551B2 (ja) * 1981-06-29 1984-12-20 株式会社東芝 ゲ−トタ−ンオフサイリスタ
JPS5952551A (ja) * 1982-09-20 1984-03-27 Sumitomo Metal Ind Ltd 電気集塵装置
JPS59121871A (ja) * 1982-12-28 1984-07-14 Toshiba Corp 半導体装置
DE3667362D1 (de) * 1985-10-15 1990-01-11 Siemens Ag Leistungsthyristor.

Also Published As

Publication number Publication date
JPS63301563A (ja) 1988-12-08
FR2610452A1 (fr) 1988-08-05
US5010384A (en) 1991-04-23
JPH0658959B2 (ja) 1994-08-03
DE3802050A1 (de) 1988-08-11
FR2610452B1 (fr) 1991-10-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3114972A1 (de) Mos-transistor
DE3024015A1 (de) Steuerbarer halbleiterschalter
DE2050289A1 (de)
DE2241306A1 (de) Transistor mit veraenderlichem ballastwiderstand
DE4022022A1 (de) Hochspannungshalbleitervorrichtung
DE2944069A1 (de) Halbleiteranordnung
DE19744678A1 (de) Thyristor mit isoliertem Gate
EP0283588B1 (de) Steuerbares Leistungs-Halbleiterbauelement
DE2021160A1 (de) Halbleiterschaltvorrichtung
DE4310606C2 (de) GTO-Thyristoren
DE4213423A1 (de) Bipolartransistor mit isolierter steuerelektrode
DE3802050C2 (de) Abschaltthyristor
EP0430133B1 (de) Leistungs-Halbleiterbauelement mit Emitterkurzschlüssen
DE19511382A1 (de) Thyristor mit isoliertem Gate
DE2534703C3 (de) Abschaltbarer Thyristor
DE2625009C2 (de) Thyristortriode
CH679962A5 (de)
DE4337209A1 (de) Abschaltbarer Thyristor
DE3120254C2 (de)
DE2844283A1 (de) Thyristor
DE2425364A1 (de) Gate-gesteuerter halbleitergleichrichter
DE19750827A1 (de) Leistungshalbleiterbauelement mit Emitterinjektionssteuerung
DE4439012A1 (de) Zweirichtungsthyristor
DE4234152A1 (de) In seiner leitfaehigkeit modulierter mosfet-typ
DE4114349C2 (de) Bipolartransistor mit isoliertem Gate (IGBT)

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8128 New person/name/address of the agent

Representative=s name: TIEDTKE, H., DIPL.-ING. BUEHLING, G., DIPL.-CHEM.

D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee