DE3762472D1 - Verfahren und vorrichtung zur entladung nichtleitender proben waehrend einer ionenstrahl-analyse. - Google Patents
Verfahren und vorrichtung zur entladung nichtleitender proben waehrend einer ionenstrahl-analyse.Info
- Publication number
- DE3762472D1 DE3762472D1 DE8787401592T DE3762472T DE3762472D1 DE 3762472 D1 DE3762472 D1 DE 3762472D1 DE 8787401592 T DE8787401592 T DE 8787401592T DE 3762472 T DE3762472 T DE 3762472T DE 3762472 D1 DE3762472 D1 DE 3762472D1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- ray analysis
- samples during
- discharging non
- conductive samples
- ion ray
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/026—Means for avoiding or neutralising unwanted electrical charges on tube components
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR8610681A FR2602051B1 (fr) | 1986-07-23 | 1986-07-23 | Procede et dispositif pour la decharge d'echantillons isolants lors d'une analyse ionique |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3762472D1 true DE3762472D1 (de) | 1990-05-31 |
Family
ID=9337664
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE8787401592T Expired - Lifetime DE3762472D1 (de) | 1986-07-23 | 1987-07-07 | Verfahren und vorrichtung zur entladung nichtleitender proben waehrend einer ionenstrahl-analyse. |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4748325A (de) |
EP (1) | EP0254625B1 (de) |
JP (1) | JPS6334844A (de) |
DE (1) | DE3762472D1 (de) |
FR (1) | FR2602051B1 (de) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB8703012D0 (en) * | 1987-02-10 | 1987-03-18 | Vg Instr Group | Secondary ion mass spectrometer |
US4992661A (en) * | 1987-08-20 | 1991-02-12 | Hitachi, Ltd. | Method and apparatus for neutralizing an accumulated charge on a specimen by means of a conductive lattice deposited on the specimen |
JPH01220350A (ja) * | 1988-02-26 | 1989-09-04 | Hitachi Ltd | 帯電抑制方法及びその装置を用いた粒子線照射装置 |
US5059785A (en) * | 1990-05-30 | 1991-10-22 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Backscattering spectrometry device for identifying unknown elements present in a workpiece |
GB9122161D0 (en) * | 1991-10-18 | 1991-11-27 | Kratos Analytical Ltd | Charged particle energy analysers |
DE19724265A1 (de) * | 1997-06-09 | 1998-12-10 | Atomika Instr Gmbh | Sekundärionen-Massenspektrometer mit Lochmaske |
JP3260663B2 (ja) * | 1997-07-23 | 2002-02-25 | 沖電気工業株式会社 | ホール内表面の組成分布検出方法 |
FR2806527B1 (fr) * | 2000-03-20 | 2002-10-25 | Schlumberger Technologies Inc | Colonne a focalisation simultanee d'un faisceau de particules et d'un faisceau optique |
US6683320B2 (en) | 2000-05-18 | 2004-01-27 | Fei Company | Through-the-lens neutralization for charged particle beam system |
DE10358182B4 (de) * | 2003-12-12 | 2012-01-05 | 3D-Micromac Ag | Vorrichtung zur Beschichtung einer Probe |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5871546A (ja) * | 1981-10-23 | 1983-04-28 | Fujitsu Ltd | イオン注入装置 |
JPS58131731A (ja) * | 1982-01-29 | 1983-08-05 | Fujitsu Ltd | エネルギ−線照射方法 |
EP0104818A3 (de) * | 1982-09-29 | 1985-10-23 | Eaton Corporation | Ionenimplantationsvorrichtung |
JPS60117532A (ja) * | 1983-11-29 | 1985-06-25 | Shimadzu Corp | イオン照射装置 |
-
1986
- 1986-07-23 FR FR8610681A patent/FR2602051B1/fr not_active Expired
-
1987
- 1987-07-07 DE DE8787401592T patent/DE3762472D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1987-07-07 EP EP87401592A patent/EP0254625B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1987-07-14 US US07/072,867 patent/US4748325A/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-07-23 JP JP62184633A patent/JPS6334844A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2602051A1 (fr) | 1988-01-29 |
EP0254625B1 (de) | 1990-04-25 |
FR2602051B1 (fr) | 1988-09-16 |
JPS6334844A (ja) | 1988-02-15 |
EP0254625A1 (de) | 1988-01-27 |
US4748325A (en) | 1988-05-31 |
JPH0450699B2 (de) | 1992-08-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3382384D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur quantitativen analyse. | |
DE3585204D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur entdeckung eines objekts. | |
DE3750808D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Ionenätzung. | |
DE3684707D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur automatischen analysierung fuer immunchemie. | |
DE3779178D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur praeparation von gewebeproben. | |
DE69023107D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Teilchenanalyse. | |
DE3855018D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Analyse von Proben | |
DE3673226D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur untersuchung von oberflaechen. | |
DE3781654D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur ketonmessung. | |
DE3683958D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur guetepruefung von masken. | |
DE69018838D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Oberflächenanalyse. | |
DE3576857D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur automatischen kontinuierlichen analyse unter verwendung eines analysegeraetes. | |
EP0571053A3 (de) | Analyseverfahren und Vorrichtung für Biologische specimen. | |
DE3752020D1 (de) | Spektrometerobjektiv für Korpuskularstrahlmessgeräte und Verfahren zur Untersuchung von Proben. | |
DE3586559D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur bearbeitung von strahlungsbildern. | |
DE69013028D1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Beobachtung von EGG-Signalen mittels Mehrfach-Elektrode. | |
DE3863895D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur erzielung von seismischen messwerten. | |
DE3484334D1 (de) | Vorrichtung und verfahren zur ionenimplantation. | |
DE3585745D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur untersuchung von partikeln und zellen. | |
DE68924563D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Oberflächenanalyse. | |
DE3689539D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Betätigung einer elektrochemischen Messzelle. | |
DE3686067D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur automatischen mikrobiologischen analyse. | |
DE3587927D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Untersuchung von Tabletten. | |
DE3382706D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur relativwegmessung. | |
DE59008098D1 (de) | Verfahren zur Untersuchung einer Probe in einem Korpuskularstrahlgerät. |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |