DE3722941C2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- DE3722941C2 DE3722941C2 DE19873722941 DE3722941A DE3722941C2 DE 3722941 C2 DE3722941 C2 DE 3722941C2 DE 19873722941 DE19873722941 DE 19873722941 DE 3722941 A DE3722941 A DE 3722941A DE 3722941 C2 DE3722941 C2 DE 3722941C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- redox
- component
- circuit element
- electrodes
- electronic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 17
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 12
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 11
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 11
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 7
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 6
- 239000012620 biological material Substances 0.000 claims description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 4
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 2
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 22
- 102000004169 proteins and genes Human genes 0.000 description 22
- 230000027756 respiratory electron transport chain Effects 0.000 description 14
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 108010057366 Flavodoxin Proteins 0.000 description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 5
- 102100030497 Cytochrome c Human genes 0.000 description 4
- 108010075031 Cytochromes c Proteins 0.000 description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 3
- 238000011161 development Methods 0.000 description 3
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 3
- KZMAWJRXKGLWGS-UHFFFAOYSA-N 2-chloro-n-[4-(4-methoxyphenyl)-1,3-thiazol-2-yl]-n-(3-methoxypropyl)acetamide Chemical compound S1C(N(C(=O)CCl)CCCOC)=NC(C=2C=CC(OC)=CC=2)=C1 KZMAWJRXKGLWGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 108010052832 Cytochromes Proteins 0.000 description 1
- 102000018832 Cytochromes Human genes 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000007385 chemical modification Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 230000033116 oxidation-reduction process Effects 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 238000012549 training Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/12—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y10/00—Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C13/00—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
- G11C13/0002—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using resistive RAM [RRAM] elements
- G11C13/0009—RRAM elements whose operation depends upon chemical change
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C13/00—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
- G11C13/0002—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using resistive RAM [RRAM] elements
- G11C13/0009—RRAM elements whose operation depends upon chemical change
- G11C13/0014—RRAM elements whose operation depends upon chemical change comprising cells based on organic memory material
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C13/00—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
- G11C13/0002—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using resistive RAM [RRAM] elements
- G11C13/0009—RRAM elements whose operation depends upon chemical change
- G11C13/0014—RRAM elements whose operation depends upon chemical change comprising cells based on organic memory material
- G11C13/0019—RRAM elements whose operation depends upon chemical change comprising cells based on organic memory material comprising bio-molecules
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K10/00—Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having potential barriers
- H10K10/701—Organic molecular electronic devices
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2213/00—Indexing scheme relating to G11C13/00 for features not covered by this group
- G11C2213/70—Resistive array aspects
- G11C2213/77—Array wherein the memory element being directly connected to the bit lines and word lines without any access device being used
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10S428/901—Printed circuit
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/24—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
- Y10T428/24802—Discontinuous or differential coating, impregnation or bond [e.g., artwork, printing, retouched photograph, etc.]
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/24—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
- Y10T428/24942—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including components having same physical characteristic in differing degree
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/31504—Composite [nonstructural laminate]
- Y10T428/31678—Of metal
- Y10T428/31681—Next to polyester, polyamide or polyimide [e.g., alkyd, glue, or nylon, etc.]
- Y10T428/31685—Natural source polyamide [e.g., casein, gelatin, etc.]
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/31504—Composite [nonstructural laminate]
- Y10T428/31725—Of polyamide
- Y10T428/31768—Natural source-type polyamide [e.g., casein, gelatin, etc.]
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Hybridschaltkreis
element nach dem Anspruch 1.
Ein derartiges Hybridschaltkreiselement kann verschie
dene elektronische Redox-Bauelemente enthalten, die unter Verwen
dung von Oxidation-Reduktionsmaterialien, wie z. B. Redox
proteinen, hergestellt werden.
Ein Beispiel eines üblichen Gleichrichterbauelements für
integrierte Schaltkreise hat den in Fig. 1 dargestellten
Aufbau. In Fig. 1 sind ein p-Typ Siliziumsubstrat 11,
eine n-Typ Zone 12, eine p-Typ Zone 13 und eine n-Typ Zone
14 dargestellt. Weiter sind SiO2-Filme 15 und Elektro
den 16 und 17 dargestellt. Das heißt, es wird zwischen
den zwei Elektroden 16 und 17 eine p-n-Übergangszone
(die p-Typ Zone 13 - die n-Typ Zone 14) ausgebildet, so
daß sich eine Gleichrichtercharakteristik ergibt.
Das oben beschriebene übliche Gleichrichterbauelement
kann fein bearbeitet werden, und man
erhält eine 256K-bit LSI (large scale integration) im
praktischen Gebrauch, die die Gleichrichterbauelemente und
Transistoren ähnlichen Aufbaus umfaßt.
Um die Speicherkapazität und die Arbeitsgeschwindigkeit
eines integrierten Schaltkreises zu steigern, ist es
wesentlich, die Größe der Bauelemente zu vermindern. Es
besteht jedoch z.B. bei einem Bauelement unter Verwendung
von Si die Begrenzung darin, daß die mittlere freie Weglänge der Elektronen
in µm/s in der Größenordnung von 0,2 µm
liegt und daß daher feinere Muster in Si nicht gebildet werden können.
Es ist daher zu er
warten, daß sich die Siliziumtechnologie, die sich von Tag
zu Tag weiter entwickelt, bald hinsichtlich der Ver
minderung der Bauelementgröße an einer Grenze befindet. Es be
steht daher ein starkes Bedürfnis, ein neues elektrisches
Schaltkreiselement zu schaffen, das die technologische
Grenze der oben erwähnten 0,2 µm durchbrechen kann.
Es wurde daher ein Gleichrichterbauelement mit einer Gleich
richtcharakteristik ähnlich der einer p-n-Übergangszone,
die durch p-Typ und n-Typ Halbleiter ausgebildet wird,
und ein Transistor, der eine Transistorcharakte
ristik ähnlich der eines p-n-p-Übergangszonentransistors
aufweist, unter Verwendung von Elektronenübergangspro
teinen, die in einem Organismus existieren, d.h. unter
Verwendung ihrer Redoxpotentialdifferenz, entwickelt.
Dies führte zu dem Ergebnis, daß es möglich wurde,
äußerst kleine Bauelemente bis zum biomolekularen Bereich zu
erhalten, wodurch eine hohe Dichte und hohe Arbeitsge
schwindigkeit der Schaltkreise möglich wird. Diese Bauele
mente sind in der DE 36 00 564 A1 be
schrieben.
Um weiter einen elektronischen Redox-Bauelementschaltkreis
mit derartigen Elementen auszubilden, wurden Bauele
mente, wie z.B. Widerstände, Kondensatoren, die eine hohe
Affinität für diese Bauelemente zeigten, entwickelt.
Dieser Entwicklung folgte eine Entwicklung, wie man einen
Schaltkreis mit diesen Elementen bildete. Es kann dies
bezüglich angenommen werden, daß es möglich ist, den
Schaltkreis unter Verwendung von elektrischen Redoxele
menten aus Biomaterialien und üblichen Halbleiterbauelemen
ten zu bilden.
Aus der Literaturstelle "Funkschau", 20/1984, Seiten
41-44 ist ein Biosensor bekannt, bei dem eine organisch-
biologische Schicht auf einem Halbleiterbauelement,
nämlich einem Feldeffekttransistor, angeordnet und mit
ihm elektrisch funktionell verbunden ist.
In Anbetracht des oben gesagten ist es Aufgabe der vor
liegenden Erfindung, ein Hybridschaltkreiselement zu
schaffen, das elektrische Redox-Bauelemente und übliche
Halbleiterelemente umfaßt.
Diese Aufgabe wird durch die in Anspruch 1 gekennzeichne
te Erfindung gelöst.
Eine Weiterbildung des erfindungsgemäßen
Hybridschaltkreiselements und Verfahren zu seiner Herstellung sind
Gegenstand der Unteransprüche.
Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeichnung
dargestellt und werden im folgenden näher beschrieben. Es
zeigen:
Fig. 1 ein Diagramm zur Darstellung eines Beispiels
eines üblichen Gleichrichterbauelements;
Fig. 2a) ein Diagramm zur Darstellung eines Beispiels
eines Redox-Gleichrichterbauelements;
Fig. 2b) ein Diagramm zur Darstellung der Redoxpotentiale
des in Fig. 2a) dargestellten Gleichrichterbau
elements;
Fig. 3 ein Diagramm zur Darstellung eines Beispiels
eines Redox-Schaltelements;
Fig. 4 ein Diagramm zur Darstellung eines Beispiels
eines Redox-Widerstands;
Fig. 5 ein Diagramm zur Darstellung eines
Redox-Kondensators;
Fig. 6 eine Schnittansicht zur Darstellung des Aufbaus
einer Anordnung mit Redox-Gleichrichterbauelementen;
Fig. 7 eine Schnittansicht zur Darstellung des Aufbaus
mit Redox-Schaltelementen;
Fig. 8 ein Diagramm zur Darstellung eines Schaltkreises
aus elektronischen monolithischen Redox-Bauelementen;
Fig. 9 und 10 Schnittansichten zur Darstellung des Aufbaus
von Hybridschaltkreiselementen gemäß einem ersten
und einem zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung;
und
Fig. 11 eine perspektivische Explosionsansicht zur Dar
stellung des in Fig. 7 gezeigten elektrischen
Redox-Schaltelements.
Zuerst sollen ein Gleichrichterbauelement, ein Schaltelement,
ein Widerstands und ein Kondensator beschrie
ben werden, die elektronische Redoxelemente sind.
In dem Gleichrichterbauelement D, das in Fig. 2a) darge
stellt ist, werden zwei Arten von Elektronenübertragungs
proteinen mit unterschiedlichem Redoxpotential, nämlich
z.B. ein Flavodoxinmolekül 1 und ein Cytochrom-c-Molekül 2,
miteinander zur Ausbildung einer Verbindung verbunden, und
ein Paar Elektroden 4a und 4b werden mit den entsprechenden
Molekülen verbunden. Bei dem so ausgebildeten Gleichrichterbau
element D ist das Redoxpotential des Flavodoxinmoleküls 1
von dem des Cytochrom-c-Moleküls 2 unterschiedlich, wie dies
in Fig. 2b) dargestellt ist, so daß, wenn zwischen den
Molekülen eine Spannung aufgebracht wird, das Gleichrichterbau
element eine Kennlinie zeigt, bei der die Elektronen von dem
negativen Niveau zum positiven Niveau in dem Redoxpotential
fließen, wie dies durch die ausgezogene Linie mit Pfeil dar
gestellt ist, wobei es jedoch für sie schwierig ist, in der
entgegengesetzten Richtung zu fließen, wie dies mittels
einer gestrichelten Linie mit Pfeil dargestellt ist. D.h.,
die Kennlinie des Gleichrichterbauelements ist ähnlich der
Gleichrichterkennlinie einer p-n-Übergangsdiode, die durch
Verbinden eines n-Typ Halbleiters und eines p-Typ Halblei
ters ausgebildet ist.
In Fig. 3a) ist ein Schaltelement
dargestellt. Es umfaßt ein Cytochrom-c-Molekül 2, das an
beiden Enden mit einem Flavodoxinmolekül 1 verbunden ist.
Weiter sind Elektroden 4c, 4d und 4e mit den entsprechenden
Molekülen 1, 2 und 1 verbunden. Das so ausgebildete Schalt
element Tr weist die in Fig. 3b) dargestellte Kennlinie
auf. Wenn keine Spannung an den Elektroden 4c, 4d und 4e
anliegt, weist es eine Potentialcharakteristik auf, die
mittels der ausgezogenen Linie a dargestellt ist. Wenn an
der Elektrode 4c eine negative Spannung V2 in bezug auf die
Elektrode 4e anliegt, wird die Redoxpotentialcharakteristik
durch die Linie b wiedergegeben. Wenn zusätzlich zur Span
nung V2 eine negative Spannung V1 an der Elektrode 4d in
bezug zur Elektrode 4e anliegt, wird die Redoxpotential
charakteristik durch die Linie 4c wiedergegeben. Im Falle
der Redoxpotentialcharakteristik a oder b fließt in dem
Bauelement kein Strom. Im Falle der Redoxpotentialcharakteri
stik c fließt jedoch ein Strom. Es kann daher bei einer
zwischen den Elektroden 4c und 4e anliegenden Spannung V2
das Anliegen der Spannung V1 zwischen den Elektroden 4d
und 4e so gesteuert werden, daß daß das Bauelement eine Schalt
charakteristik aufweist.
In Fig. 4 ist ein Widerstand
dargestellt. Bei dem Widerstand sind die oben be
schriebenen Verbindungen (zwei Verbindungen im Falle von
Fig. 4) in einer antiparallelen Verbindung zwischen einem
Paar Elektroden 4f und 4g angeordnet. Bei dem Widerstand
R kann der Widerstand auf einen gewünschten Wert
durch Änderung der Anzahl der Verbindungen eingestellt
werden.
Für den Kondensator C kann bei
spielsweise ein Proteinmolekül verwendet werden, das hin
sichtlich der Elektronenübertragung inaktiv ist und eine
hohe Dielektrizitätskonstante aufweist, wobei dieses Proteinmolekül
als Dielektrikum verwendet wird und zwischen einem Paar
Elektroden 4h und 4i angeordnet ist.
Der tatsächliche Aufbau des oben beschriebenen Gleichrich
terbauelements ist in Fig. 6 dargestellt.
In Fig. 6 ist ein Substrat 76 mit einer hohen Isoliereigen
schaft dargestellt. Mehrere Metallelektroden 77 aus Ag, Au
oder Al sind parallel auf dem Substrat 76 angeordnet. Ein
erster Elektronenübertragungsproteinfilm 78 aus Cytochrom-
c-Molekülen ist auf dem Substrat 76 entsprechend einem LB
(Langmuir-Blodgett) Verfahren oder ähnlichem ausgebildet.
Auf dem ersten Elektronenübertragungsproteinfilm 78 ist
ein zweiter Elektronenübertragungsproteinfilm 79 aus Flavo
doxinmolekülen entsprechend dem LB-Verfahren oder ähnlichem
ausgebildet. Weiter sind mehrere Elektroden 80 auf dem
zweiten Elektronenübertragungsproteinfilm 79 so angeordnet,
daß sie senkrecht zu den vorher erwähnten Elektroden 77
verlaufen. In Fig. 6 kann der Film 78 ein monomolekularer
Film organischer, synthetischer Moleküle sein, der ent
sprechend dem LB-Verfahren ausgebildet ist, und die Filme
78 und 79 können ein Stapel monomolekularer Filme aus orga
nischen, synthetischen Molekülen sein, die entsprechend dem
LB-Verfahren hergestellt sind. Weiter kann der Film 78 ein
monomolekularer Film sein, der durch chemische Modifikation
ausgebildet ist, d.h. es kann ein monomolekularer Film sein,
der durch chemisches Modifizieren der Elektrode 77 mit or
ganischen, synthetischen Molekülen ausgebildet ist.
Der tatsächliche Aufbau des oben beschriebenen Schaltele
ments ist in Fig. 7 dargestellt.
In Fig. 7 ist ein Substrat 86 mit einer Isoliereigenschaft
vorgesehen. Auf dem Substrat 86 sind mehrere Metallelektro
den 87 aus Ag, Au oder Al parallel ausgebildet. Ein erster
Elektronenübertragungsproteinfilm 88 aus Flavodoxinmolekü
len ist auf den Elektroden 87 ausgebildet. Auf dem ersten
Elektronenübertragungsproteinfilm 88 sind mehrere parallele
Elektroden 90 so ausgebildet, daß sie senkrecht zu den
Elektroden 87 angeordnet sind. Über dem ersten Elektronen
übertragungsproteinfilm 88 ist ein zweiter Elektronenüber
tragungsproteinfilm 89 aus Cytochrom-c-Molekülen mittels
des LB-Verfahrens oder ähnlichem so ausgebildet, daß er mit
den Elektroden 90 verbunden ist. Ein dritter Elektronen
übertragungsproteinfilm 91 aus Flavodoxinmolekülen ist über
dem zweiten Elektronenübertragungsproteinfilm 89 durch das
LB-Verfahren oder ähnlichem ausgebildet. Schließlich sind
mehrere parallele Elektroden 92 auf dem dritten Elektronen
übertragungsproteinfilm 91 so angeordnet, daß sie senkrecht
zu den parallelen Elektroden 90 verlaufen.
Wenn die oben beschriebenen verschiedenen Bauelemente mit dem
leitenden Protein, das Elektronen in allen Richtungen über
tragen kann, verbunden sind, und das Protein, das keine
Elektronen übertragen kann, als Isolator verwendet wird,
wird ein elektrisches, monolithisches Redox-Schaltkreiselement nur
unter Verwendung von Proteinmolekülen geschaffen.
In Teil (c) von Fig. 8 ist ein monolithisches Schaltkreis
element nur aus Proteinmolekülen dargestellt, dessen equi
valenter Schaltkreis eine Kombination der Teile (a) und (b)
von Fig. 8 darstellt. D.h., die Gleichrichterbauelemente D1
bis D4 (siehe Fig. 2), die Schaltelemente Tr1 und Tr2
(siehe Fig. 3), die Widerstandselemente R1 und R2 (R1 be
stehend aus D1 und D2, und R2 bestehend aus D3 und D4) und
der Kondensator C1 (siehe Fig. 5) werden verwendet, und
diese Bauelemente sind mit den leitenden Proteinmolekülen 4
verbunden, die Elektronen in allen Richtungen übertragen
können, während sie durch die isolierenden Proteinmoleküle
5 mit einer niedrigen Dielektrizitätskonstanten isoliert
sind, wenn dies erforderlich ist. Es wird somit ein Hoch
geschwindigkeitsschaltkreis hoher Dichte geschaffen, dessen
Größe äußerst klein bis zu einem biomolekularen Niveau hin
ist.
Fig. 9 zeigt ein Hybridschaltkreiselement gemäß einer
ersten Ausführungsbeispiel der Erfindung. Auf einem Substrat 1
ist eine Si-Schicht 2 (die im allgemeinen ein LSI darstellt)
ausgebildet. Auf einem Teil der Si-Schicht 2 ist eine Iso
lierschicht aus SiO2, Si3N4 oder Polyimid ausgebildet.
Weiter ist ein elektronisches, monolithisches Redoxschalt
kreiselement 4, z.B. wie es in Fig. 8 dargestellt ist, vor
gesehen. Dieses Schaltkreiselement kann jedoch einen einfacheren Aufbau
aufweisen. Schließlich sind in Fig. 9 Leiter 5 vorgesehen,
die das elektrische Redoxschaltkreiselement 4 mit der Si-
Schicht 2 verbinden. In dem Ausführungsbeispiel wird das elek
trische Redoxschaltkreiselement 4 durch die Isolierschicht
3 auf der Si-Schicht 2 ausgebildet, und die Si-Schicht 2
ist elektrisch mit dem elektrischen Redoxschaltkreiselement
4 über die Leiter 5 verbunden.
In dem oben beschriebenen Ausführungsbeispiel sind das elektri
sche Redoxschaltkreiselement und die Si-Schicht miteinander
auf dem gleichen Substrat verbunden. Die Kennlinie des sich
ergebenden Schaltkreises ist daher die Kombination der hohen
Dichte und der Hochgeschwindigkeitseigenschaft des elektri
schen Redoxschaltkreiselements und der Kennlinie des Halb
leiterbauelements.
Fig. 10 zeigt ein Hybridschaltkreiselement gemäß einem
zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung. In Fig. 10 sind die
Teile, die denen in Fig. 9 entsprechen, mit gleichen Bezugs
zeichen versehen. Bei dem zweiten Ausführungsbeispiel ist das
elektrische Redoxschaltkreiselement 4 auf der gesamten
oberen Fläche der Si-Schicht 2 über der Isolierschicht 3
angeordnet, und das elektrische Redoxschaltkreiselement 4
ist mit der Si-Schicht 2 mittels Leitern verbunden, die sich
durch die Isolierschicht 3 erstrecken, so daß ein vielschich
tiger Aufbau aus dem elektrischen Redoxschaltkreiselement 4
und der Si-Schicht 2 ausgebildet wird. Statt der Si-Schicht
kann ebenfalls eine GaAs-Schicht verwendet werden.
Das zweite Ausführungsbeispiel ergibt, ähnlich wie das erste
Ausführungsbeispiel, einen Schaltkreis, der die Vorteile der
zwei Bauelemente aufweist, und der Integrationsgrad des Schalt
kreises ist gesteigert.
Im folgenden soll nun das Verdrahtungsverfahren eines
elektronischen Redox-Bauelements beschrieben werden, d.h. ein
Verfahren zur Ausbildung der Elektroden in dem elektroni
schen Redox-Bauelement (siehe Fig. 11). Fig. 11 stellt eine
perspektivische Explosionsansicht dar, die den Aufbau des
Schaltelements von Fig. 7 darstellt. Die Metallelektroden
87, 90 und 92 bestehen aus Metall, z.B. aus Pt, Ag, Au oder
Al. Die Elektroden 87 sind parallel angeordnet, die Elektro
den 90 sind parallel angeordnet und die Elektroden 92 sind
ebenfalls parallel angeordnet. Diese Elektroden sind unter
Verwendung von Masken in gewünschten Mustern ausgebildet,
wobei die Masken durch optische Belichtung unter Verwendung
eines Energiestrahls, z.B. sichtbarer Strahlen, ultravio
letter Strahlen oder X-Strahlen, ausgebildet wurden. Die
Vakuumbeschichtung von Pt, Au oder Al kann bei Raumtempe
ratur erreicht werden. Beispielsweise kann Au bis zu einer
Dicke im Bereich von einigen Hundertsteln nm bis zu eini
gen Tausendsteln nm vakuumbeschichtet werden.
Diese Elektroden können in dem gewünschten Verdrahtungs
muster entsprechend dem CVD (chemical vapor deposition
=chemische Bedampfung) Verfahren unter Verwendung von
molekularen Strahlen, Ionenstrahlen oder Laserstrahlen vor
gesehen werden. Bei diesem Verfahren wird der Strahl ent
sprechend einem gewünschten Muster direkt auf das Metall
aufgebracht, und die Elektroden können bei einer Temperatur
unter 50°C ausgebildet werden.
Die oben beschriebenen zwei Verdrahtungsverfahren sind in
den Fällen der Fig. 9 und 10 anwendbar, in denen das elek
tronische Redoxschaltkreiselement 4 mit der Si-Schicht 2 ver
bunden wird.
Wie oben beschrieben, werden die Metallverdrahtungsmuster
entsprechend einem Metallverdrahtungsmuster-Ausbildungsver
fahren ausgebildet, das das gleiche ist, wie für einen
integrierten Halbleiterschaltkreis, d.h., daß das Verfahren
unter Verwendung von Masken, die durch optische Belichtung
unter Verwendung eines Energiestrahls oder dem Verfahren
des direkten Ausbildens des Musters eines Metallfilms ent
sprechend dem CVD-Verfahren unter Verwendung von Molekularstrahlen, Ionen
strahlen oder Laserstrahlen, ausgebildet wird. Man erhält
somit einen Schaltkreis mit ultrahoher Dichte und ultra
hoher Geschwindigkeit, der hinsichtlich seiner Größe äußerst
klein bis hin zu einem molekularen Bereich hergestellt
werden kann.
In den oben beschriebenen Ausführungsbeispielen sind die Elek
troden linear und parallel angeordnet. Es sind jedoch
Abänderungen möglich.
Bei den oben beschriebenen Ausführungsbeispielen werden Elektro
nenübertragungsproteine zur Ausbildung des elektronischen
Redox-Bauelements verwendet; es können jedoch ebenfalls Elekro
nenübertragungsmaterialien verwendet werden, die als Schein
biomaterialien bekannt sind.
Wie oben beschrieben, besteht das Hybridschaltkreiselement
aus dem elektronischen Redox-Bauelement und dem Halbleiterbauelement.
Die Kennlinie des beschriebenen Hybridschaltkreiselements
ist daher eine Kombination der hohen Dichte und der
Hochgeschwindigkeitskennlinie des elektronischen Redox-Bauelements
und der Kennlinie des Halbleiter-Bauelements.
Claims (5)
1. Hybridschaltkreiselement,
gekennzeichnet durch ein elektronisches
Redox-Bauelement (4), das aus Redoxmaterialien her
gestellt ist, und ein Halbleiterelement (2), das
mit dem elektrischen Redox-Bauelement (4) verbunden
ist, wobei diese Bauelemente (2, 4) elektrisch mit
einander durch elektrische Leiter (5) verbunden sind.
2. Hybridschaltkreiselement nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die
Redoxmaterialien aus einer Gruppe vom Biomaterialien
und Scheinbiomaterialien ausgewählt sind, die in
ihnen eine Elektronenübertragung gestatten.
3. Verfahren zur Herstellung eines Hybridschaltkreis
elements nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet durch folgende Schritte:
Ausbilden eines gewünschten Metallverdrahtungsmusters mittels einer durch optische Belichtung unter Verwendung eines Energiestrahls ausgebildeten Maske auf einer ein elektronisches Redox-Bauelement bildenden Schicht,
Verbinden des elektronischen Redox-Bauelements mit dem Halb leiterbauelement, und
elektrisches Verbinden der zwei Bauelemente miteinander mit elektrischen Leitern.
Ausbilden eines gewünschten Metallverdrahtungsmusters mittels einer durch optische Belichtung unter Verwendung eines Energiestrahls ausgebildeten Maske auf einer ein elektronisches Redox-Bauelement bildenden Schicht,
Verbinden des elektronischen Redox-Bauelements mit dem Halb leiterbauelement, und
elektrisches Verbinden der zwei Bauelemente miteinander mit elektrischen Leitern.
4. Verfahren zur Herstellung eines Hybridschaltkreis
elements nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet durch folgende Schritte:
Ausbilden eines gewünschten Metallverdrahtungsmusters mittels direktem musterförmigen Aufbringen eines Metall films nach einem chemischen Bedampfungsverfahren auf dem Redox-Bauelement,
Verbinden des elektronischen Redox-Bauelements mit dem Halb leiterbauelement, und
elektrisches Verbinden der zwei Bauelemente miteinander mit elektrischen Leitern.
Ausbilden eines gewünschten Metallverdrahtungsmusters mittels direktem musterförmigen Aufbringen eines Metall films nach einem chemischen Bedampfungsverfahren auf dem Redox-Bauelement,
Verbinden des elektronischen Redox-Bauelements mit dem Halb leiterbauelement, und
elektrisches Verbinden der zwei Bauelemente miteinander mit elektrischen Leitern.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet,
daß das chemische Bedampfungsverfahren ein
Molekular-, Ionen
strahl- und Laserstrahl-Verfahren ist.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61164198A JPH0682827B2 (ja) | 1986-07-11 | 1986-07-11 | ハイブリツド回路素子 |
JP61164191A JPS6319858A (ja) | 1986-07-11 | 1986-07-11 | 生物電気素子回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3722941A1 DE3722941A1 (de) | 1988-01-21 |
DE3722941C2 true DE3722941C2 (de) | 1991-12-12 |
Family
ID=26489387
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19873722941 Granted DE3722941A1 (de) | 1986-07-11 | 1987-07-10 | Hybridschaltkreiselement und verfahren zu seiner herstellung |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US4902555A (de) |
DE (1) | DE3722941A1 (de) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2813428B2 (ja) * | 1989-08-17 | 1998-10-22 | 三菱電機株式会社 | 電界効果トランジスタ及び該電界効果トランジスタを用いた液晶表示装置 |
US5258627A (en) * | 1991-12-04 | 1993-11-02 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Department Of Health & Human Services | Semiconductor structure using protein as its active element |
GB9207086D0 (en) * | 1992-03-31 | 1992-05-13 | Sharp Kk | Improvements relating to information technology |
JP3233699B2 (ja) * | 1992-09-04 | 2001-11-26 | 株式会社サンギ | 半導体集積回路 |
JPH0722669A (ja) * | 1993-07-01 | 1995-01-24 | Mitsubishi Electric Corp | 可塑性機能素子 |
US5756380A (en) * | 1995-11-02 | 1998-05-26 | Motorola, Inc. | Method for making a moisture resistant semiconductor device having an organic substrate |
DE10126578C2 (de) * | 2001-05-31 | 2003-06-18 | Infineon Technologies Ag | Verwendung von Molekül- bzw. Polymerschichten als Speicherelemente |
WO2004035195A2 (en) * | 2002-10-18 | 2004-04-29 | The University Of Iowa Research Foundation | Magnetically modified electrodes containing at least one catalyst component that mediates a subatomic particle transfer process |
US7935957B2 (en) * | 2005-08-12 | 2011-05-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Memory device and a semiconductor device |
CN102632675B (zh) * | 2012-04-17 | 2014-07-16 | 电子科技大学 | 一种纳米复合介电薄膜的制备方法 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4103064A (en) * | 1976-01-09 | 1978-07-25 | Dios, Inc. | Microdevice substrate and method for making micropattern devices |
US4371883A (en) * | 1980-03-14 | 1983-02-01 | The Johns Hopkins University | Current controlled bistable electrical organic thin film switching device |
US4507672A (en) * | 1980-03-14 | 1985-03-26 | The Johns Hopkins University | Method of fabricating a current controlled bistable electrical organic thin film switching device |
JPS57148367A (en) * | 1981-03-09 | 1982-09-13 | Nec Corp | Manufacture of solid state color image pickup element |
FR2522200A1 (fr) * | 1982-02-23 | 1983-08-26 | Centre Nat Rech Scient | Microcircuits et procede de fabrication, notamment pour technologie a effet josephson |
US4613541A (en) * | 1985-01-12 | 1986-09-23 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Electronic device using electron transport proteins |
US4727007A (en) * | 1985-05-31 | 1988-02-23 | Brown University Research Foundation, Inc. | Holographic devices employing metallic charge-transfer salts |
DE3721793A1 (de) * | 1986-07-01 | 1988-04-07 | Mitsubishi Electric Corp | Elektrisches element mit verwendung von oxidations-reduktions-substanzen |
DE3721799C2 (de) * | 1986-07-01 | 1993-12-23 | Mitsubishi Electric Corp | Integrierte Redox-Bauelementschaltung und Verfahren zum Herstellen |
-
1987
- 1987-07-10 DE DE19873722941 patent/DE3722941A1/de active Granted
- 1987-07-13 US US07/072,305 patent/US4902555A/en not_active Expired - Fee Related
-
1989
- 1989-06-23 US US07/370,940 patent/US5011786A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5011786A (en) | 1991-04-30 |
US4902555A (en) | 1990-02-20 |
DE3722941A1 (de) | 1988-01-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3721799C2 (de) | Integrierte Redox-Bauelementschaltung und Verfahren zum Herstellen | |
DE1903961B2 (de) | Integrierte Halbleiterschaltung und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
DE3213887A1 (de) | Elektrolumineszierende anordnung | |
WO2006061000A2 (de) | Gatter aus organischen feldeffekttransistoren | |
DE3722941C2 (de) | ||
DE2917942C2 (de) | Analog-Digital-Wandler | |
DE69616687T2 (de) | Elektronisches bauelement, welches eine dünnschichtstruktur mit passiven elementen enthält | |
DE1564218A1 (de) | Verfahren zur Herstellung von Transistoren | |
DE1614300B2 (de) | Feldeffekttransistor mit isolierter Steuerelektrode | |
DE2363089C3 (de) | Speicherzelle mit Feldeffekttransistoren | |
DE2354567A1 (de) | Digital-analog-umsetzer | |
DE3832463A1 (de) | Optische ansteuerschaltung und halbleitervorrichtung zur verwirklichung dieser ansteuerschaltung | |
DE2727944C2 (de) | ||
DE1814213C3 (de) | J-K-Master-Slave-Flipflop | |
DE2840278A1 (de) | Einstellbare daempfungsvorrichtung | |
DE2852200A1 (de) | Integrierte logische schaltung | |
DE2800363A1 (de) | Halbleiteranordnung und verfahren zu deren herstellung | |
DE3941323C2 (de) | Halbleiterelement mit einer integrierten Induktivität und Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE1262348B (de) | In integrierter Schaltung ausgebildeter Informationsspeicher mit Vierschichtdioden und Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE1564136C3 (de) | Verfahren zum Herstellen von Halbleiterbauelementen | |
DE2435227A1 (de) | Festkoerperelement mit einer halbleitenden glaszusammensetzung, welches eigenschaften negativen widerstands und schwellwertschalteigenschaften aufweist | |
DE3145771C2 (de) | ||
DE1439529B2 (de) | : Halbleiterbauelement mit einem planaren Halbleiterelement auf einer Kontaktierungsplatte und Verfahren zum Herstellen desselben | |
DE102007016081A1 (de) | Strahlungsemittierende Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer strahlungsemittierenden Vorrichtung | |
DE3235412A1 (de) | Integrierte halbleiterschaltungsvorrichtung und verfahren zu ihrer herstellung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8320 | Willingness to grant licences declared (paragraph 23) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |