DE3722797C2 - Ruecksetzschaltkreis - Google Patents
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Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf einen Rück
setzschaltkreis für einen Logikschaltkreis, der einen
MOS-Transistor mit einem an einer Versorgungsspannungs
quelle angeschlossenen Gate, ein Flipflop, das durch den
MOS-Transistor gesetzt wird und das rückgesetzt wird,
wenn ein Rücksetzeingangssignal einen niedrigen Pegel
aufweist, und eine Einrichtung, die ein Rücksetzaus
gangssignal in Abhängigkeit vom Zustand des Flipflops
erzeugt und an den Logikschaltkreis anlegt, enthält.
Ein gattungsgemäßer Rücksetzschaltkreis ist bereits aus
der DE-OS 33 36 640 sowie aus der US-PS 41 03 187 be
kannt.
Derartige, bekannte Rücksetzschaltkreise, die zum Er
kennen eines Spannungsabfalls einer Versorgungsspan
nungsquelle für logische Schaltkreise dienen, sollen
eine instabile Arbeitsweise der Logikschaltkreise oder
eines Gesamtsystems, in dem die Logikschaltkreise ent
halten sind, verhindern. Zum Erkennen eines derartigen
Spannungsabfalles ist bei diesen bekannten Rücksetz
schaltkreisen eine vergleichsweise komplizierte Schal
tung aus einer Vielzahl von diskreten Schaltkreiselemen
ten nötig, was einem kompakten Schaltungsaufbau entge
gensteht.
Allgemein müssen Rücksetzschaltungen ein wiederholtes
Rücksetzen verhindern, was auftreten kann, wenn die Ver
sorgungsspannung mehrfach innerhalb einer vergleichs
weise kurzen Zeitdauer abfällt und wieder aufgebaut
wird. Soweit keine besonderen Vorkehrungen gegen das
wiederholte Rücksetzen getroffen sind, wird der Logik
schaltkreis durch den Rücksetzschaltkreis wiederholt
rückgesetzt und anschließend in die normale Arbeitslage
geschaltet. Dieses wiederholte, kurzfristige Ein- und
Ausschalten des Systemes führt zu einem instabilen
Systemzustand, das üblicherweise nur durch einen Kon
densator mit großer Kapazität im Spannungsversorgungs
schaltkreis verhindert werden kann. Ein derartiger Kon
densator läßt sich nicht in einen integrierten Schalt
kreis integrieren und steht somit einem kompakten und
kostengünstigen Schaltungsaufbau entgegen.
Gegenüber diesem Stand der Technik liegt der vorliegen
den Erfindung die Aufgabe zugrunde, einen Rücksetz
schaltkreis der eingangs genannten Art so weiterzubil
den, daß bei einfachem und platzsparendem Aufbau des
Rücksetzschaltkreises eine stabile Arbeitsweise des
Logikschaltkreises gewährleistet ist.
Diese Aufgabe wird bei einem Rücksetzschaltkreis nach
dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 durch die im kenn
zeichnenden Teil des Patentanspruchs 1 angegebenen Merk
male gelöst.
Der Rücksetzschaltkreis gemäß der Erfindung enthält
einen MOS-Transistor mit einem an einer Versorgungs
spannungsquelle angeschlossenen Gate, mit einer ein
Rücksetzeingangssignal
empfangenden Source und einer Drain, die ein hohes Potential
aufweist, wenn das Rücksetzeingangssignal einen hohen Pegel
aufweist und die Versorgungsspannung unter eine vorgegebene
Schwelle abfällt, ein Flipflop, das derart angeschlossen
ist, daß es gesetzt wird, wenn die Drain des MOS-Transistors
einen hohen Pegel aufweist, und zurückgesetzt wird, wenn das
Rücksetzeingangssignal einen niedrigen Pegel aufweist, und
eine Einrichtung zum Erzeugen eines Rücksetzausgangssignals,
wenn das Flipflop in seinem gesetzten Zustand ist, wobei das
Rücksetzausgangssignal an den Logikschaltkreis angelegt
wird.
Der MOS-Transistor erkennt den Abfall der Versorgungsspan
nung unter Verwendung des Spannungspegels des Rücksetzein
gangssignals als einen Bezugswert. Durch Veränderung des
Spannungspegels des Rücksetzeingangssignals kann der Erken
nungswert (Schwelle) im Hinblick auf den Abfall der Versor
gungsspannung verändert werden. Das Flipflop speichert das
dem Logikschaltkreis zugeführte Rücksetzausgangssignal und
stabilisiert die Arbeitsweise des Logikschaltkreises. Der
MOS-Transistor und das Flipflop können durch einen einfachen
Aufbau und in geringer Größe hergestellt werden, so daß sie
als ein integraler Teil des Logikschaltkreises hergestellt
werden können, für den sie vorgesehen sind.
Ein Ausführungsbeispiel des Rücksetzschaltkreises gemäß der
Erfindundg wird im folgenden anhand von Zeichnungen näher er
läutert. Es zeigt
Fig. 1 ein Schaltbild, das eine Ausführungsform der Erfin
dung zeigt, und
Fig. 2 eine Wellenformdarstellung, die die Arbeitsweise des
Schaltkreises nach Fig. 1 zeigt.
Fig. 1 ist ein Schaltbild, das einen Rücksetzschaltkreis
nach einer Ausführungsform der Erfindung zeigt.
Der Rücksetzschaltkreis steuert das Setzen und das Zurück
setzen des Logikschaltkreises 1, beispielsweise eines Mikro
komputers. Der Rücksetzschaltkreis enthält einen Versor
gungsspannungsanschluß 10 für eine Verbindung mit einer Ver
sorgungsspannung VDD, deren Spannungsabfall überwacht werden
soll, einen Eingangsanschluß 11 zum Empfangen eines Rück
setzeingangssignals RI, einen p-Kanal-MOS-(Metalloxidhalb
leiter)-Transistor (pMOS) 12, einen Widerstand 13, einen n-
Kanal-MOS-Transistor (nMOS) 14, ein Setz-Rücksetz-Flipflop
(RS-FF) 15, einen Inverter 16, einen nMOS 17 und ein ODER-
Gatter 18 mit zwei Eingängen zum Erzeugen eines Rücksetz
ausgangssignals RO.
Der pMOS 12 erkennt einen Abfall der Versorgungsspannung VDD
(die normalerweise 5 V beträgt) unter Verwendung des Span
nungspegels des Rücksetzeingangssignals RI abzüglich der
Schwellenspannung VT des pMOS 12 als einen Bezugswert. Das
Gate des pMOS 12 ist mit dem Versorgungsspannungsanschluß 10
verbunden, die Source des pMOS 12 ist mit dem Eingangsan
schluß 11 verbunden und die Drain des pMOS 12 ist über einen
Widerstand 13 mit Erde und mit dem Gate des nMOS 14 verbun
den. Die Drain des nMOS 14 ist mit einem Setzeingangsan
schluß S des RS-FF 15 verbunden und die Source des nMOS 14
ist mit Erde verbunden.
Das RS-FF 15 speichert das Erkennungsausgangssignal des pMOS
12 und hat, abgesehen von dem Setzeingangsanschluß S, einen
Rücksetzeingangsanschluß R und einen Ausgangsanschluß Q. Das
RS-FF 15 enthält pMOS's 15-1, 15-3 und nMOS's 15-2, 15-4.
Der pMOS 15-1 und der nMOS 15-2 sind zwischen dem Eingangs
anschluß 11 und der Erde in Serie geschaltet. Der pMOS 15-3 und
der nMOS 15-4 sind zwischen dem Eingangsanschluß 11 und Erde
in Serie geschaltet. Die Gates des pMOS 15-1 und des nMOS
15-2 sind mit dem Ausgangsanschluß Q und dem Rücksetzein
gangsanschluß verbunden. Die Gates des pMOS 15-3 und des
nMOS 15-4 sind mit dem Setzeingangsanschluß S verbunden.
Der Eingangsanschluß 11 ist mit dem Eingang des Inverters 16
verbunden, dessen Ausgang mit einem Eingang des ODER-Gatters
18 und mit dem Gate des nMOS 17 verbunden ist. Die Drain des
nMOS 17 ist mit dem Rücksetzeingangsanschluß R und dem Aus
gangsanschluß Q des RS-FF 15 verbunden. Die Source des nMOS
17 ist mit Erde verbunden. Der Ausgang Q des RS-FF 15 ist
mit dem anderen Eingang des OR-Gatters 18 verbunden, dessen
Ausgang mit dem Logikschaltkreis 1 verbunden ist.
Die Fig. 2 zeigt die Arbeitsweise des Schaltkreises nach
Fig. 1. Es wird angenommen, daß die Versorgungsspannung
einige Male während einer Zeitdauer zwischen t 1 und t 3 wie
derholt abfällt und wiederhergestellt wird.
Die Zeitdauer vor dem Zeitpunkt t 1 ist eine Zeitdauer zum
Rücksetzen des Logikschaltkreises 1, während der ein Rück
setzeingangssignal RI mit einem niedrigen Pegel (= 0 V) von
außeralb an einen Eingangsanschluß 11 angelegt wird. Das
Rücksetzeingangssignal RI wird durch den Inverter 16 inver
tiert und wird an das ODER-Gatter 18 angelegt, das damit ein
Rücksetzausgangssignal RO mit einem hohen Pegel (5 V) ab
gibt. Das Rücksetzausgangssignal RO wird an den Logikschalt
kreis 1 angelegt, um die Schaltkreiselemente in dem Logik
schaltkreis 1 zurückzusetzen.
Zum Zeitpunkt t 1 wird das Rücksetzeingangssignal RI beendet
und auf einen hohen Pegel angehoben. Damit nimmt der Ausgang
des Inverters 16 einen niedrigen Pegel an und der Ausgang
(Rücksetzausgangssignal) RO des ODER-Gatters 18 nimmt einen
niedrigen Pegel an. Der Logikschaltkreis 1 beginnt mit sei
ner normalen Arbeitsweise.
Wenn während der Arbeitsweise des Logikschaltkreise 1 die
Versorgungsspannung VDD zum Zeitpunkt t 2 unter einem Bezugs
wert VREF (= 4,4 V) abfällt, der gleich ist dem Wert VDD der
Versorgungsspannung von 5 V abzüglich der Schwellenspannung
VT (= 0,6 V) des pMOS 12, wird der pMOS 12 eingeschaltet und
eine Potentialdifferenz wird an dem Widerstand 13 erzeugt.
Durch die Potentialdifferenz wird der nMOS 14 eingeschaltet.
Der Setzeingangsanschluß S des RS-FF 15 wird zum Erdpoten
tial abgesenkt und das RS-FF 15 wird gesetzt. Der Ausgang Q
des RS-FF 15 nimmt einen hohen Pegel an. Das Ausgangssignal
RO des ODER-Gatters 18 nimmt einen hohen Pegel an und setzt
den Logikschaltkreis 1 zurück. Dieser Zustand wird an dem
RS-FF 15 gehalten: d. h., daß, selbst wenn die Versorgungs
spannung VDD wieder auf 5 V angehoben wird, das Rücksetzaus
gangssignal RO auf seinem hohen Pegel gehalten wird, und der
Logikschaltkreis 1 wird zurückgesetzt festgehalten. Damit
wird, selbst wenn die Versorgungsspannung VDD einige Male
wiederholt abfällt und wiederhergestellt wird, der Logik
schaltkreis 1 zurückgesetzt festgehalten. Damit kann eine
instabile Arbeitsweise vermieden werden, die bei dem her
kömmlichen System auftritt.
Um die normale Arbeitsweise erneut zu starten, nimmt das
Rücksetzeingangssignal RI, beispielsweise zum Zeitpunkt t 3,
den niedrigen Pegel an. Dann nimmt der Ausgang des Inverters
16 einen hohen Pegel an und der nMOS 17 wird eingeschaltet.
Der Rücksetzeingang R des RS-FF 15 nimmt einen niedrigen Pe
gel an und das RS-FF 15 wird daher zurückgesetzt. Folglich
nimmt zum Zeitpunkt t 4 das Rücksetzeingangssignal RI wieder
dsen hohen Pegel an und das Ausgangssignal des Inverters 16
nimmt den niedrigen Pegel an. Der nMOS 17 wird ausgeschaltet
und das Ausgangssignal RO des ODER-Gatters 18 nimmt einen
niedrigen Pegel an. Das Rücksetzen des Logikschaltkreises 1
ist beendet und die normale Betriebsweise des Logikschalt
kreises 1 wird wieder aufgenommen. Wenn das RS-FF 15 aus ty
pischen Schaltkreiskomponenten hergestellt wird, kann es be
trieben werden, wenn seine Versorgungsspannung vom Rücksetz
eingangsanschluß 11 nicht niedriger als 3 V ist. Damit wird
eine zuverlässige Arbeitsweise des Rücksetzschaltkreises si
chergestellt, selbst dann, wenn das Rücksetzeingangssignal
RI und die Versorgungsspannung einen niedrigen Spannungspe
gel aufweisen. Mit anderen Worten, es kann derselbe Rück
setzschaltkreis ohne Änderung verwendet werden, um mit einem
Logikschaltkreis zusammenzuarbeiten, dessen Versorgungsspan
nung nicht kleiner ist als etwa 3 V.
Das Rücksetzeingangssignal RI kann den niedrigen Wert anneh
men, wenn festgestellt wird, daß der Logikschaltkreis 1 wäh
rend einer vorgegebenen Zeitdauer kein Signal erzeugt, das
anzeigt, daß er für diesen Zweck arbeitet, und ein Schalt
kreis 2 kann vorgesehen werden, um die Arbeitsweise des Lo
gikschaltkreises 1 zu überwachen, um die Erzeugung des Rück
setzeingangssignals RI zu steuern.
Alternativ hierzu kann ein Schaltkreis zum Erzeugen des
Rücksetzeingangssignals RI in regelmäßigen Abständen verwen
det werden.
Wenn, wie es gemäß der obigen Ausführungsform beschrieben
wurde, die Versorgungsspannung VDD von einem Betriebswert (=
5 V) unter den Bezugswert VREF (= 4,4 V) abfällt, wird der
Spannungsabfall durch den pMOS 12 erkannt und das RS-FF 15
wird gesetzt, und das Rücksetzausgangssignal RO auf einem
hohen Pegel gehalten. Die instabile Arbeitsweise des Logik
schaltkreises kann selbst dann verhindert werden, wenn die
Versorgungsspannung wiederholt abfällt. Der erkennende MOS-
Transistor, das Flipflop und der Rest der Schaltkreisele
mente könen in einem IC hergestellt werden. Keine diskreten
Schaltkreiskomponenten, wie beispielsweise ein Kondensator
mit großer Kapazität, sind erforderlich. Der Schaltkreis ist
einfach und kann mit niedrigen Kosten hergestellt werden.
Der durch den Schaltkreis beanspruchte Platzbedarf kann ver
mindert werden. Der Rücksetzschaltkreis kann daher als ein
integraler Teil des Logikschaltkreises 1 hergestellt werden
oder in den Logikschaltkreis eingebaut werden.
Darüber hinaus kann der Rücksetzschaltkreis verwendet werden,
wenn er mit einer Versorgungsspannung gespeist wird, die von
5 V verschieden ist. Wenn beispielsweise die Versorgungs
spannung VDD auf 4 V eingestellt ist, kann der Spannungspe
gel des Rücksetzeingangssignals ebenfalls auf 4 V einge
stellt werden. Das Ergebnis besteht darin, daß der Wert für
die Erkennung des Spannungsabfalls 3,4 V sein wird, wenn die
Schwellenspannung VT des pMOS 12 0,6 V ist.
Der Rücksetzschaltkreis der Erfindung kann daher in Gebieten
wie der Steuerung von Automobilen, der Steuerung von Werk
zeugmaschinen, der Steuerung von Handhabungsautomaten oder
bei Logikschaltkreisen mit IC-Karten verwendet werden, bei
denen eine hohe Zuverlässigkeit und Sicherheit gefordert
wird.
Verschiedene Abänderungen können durchgeführt werden. Bei
spielsweise kann der pMOS 12 durhc einen nMOS ersetzt wer
den, das RS-FF 15 kann durch einen Flipflop eines anderen
Typs oder durch irgendeinen anderen Schaltkreis ersetzt wer
den, der in der Lage ist, einen "Rücksetz"-Zustand zu spei
chern. Die Transistoren und die Gatter an den Eingängen und
Ausgängen des Flipflops können zusammen mit den Veränderun
gen des Flipflops modifiziert werden.
Claims (6)
1. Rücksetzschaltkreis für einen Logikschaltkreis (1),
der einen MOS-Transistor (12) mit einem an einer Versorgungs
spannungsquelle (VDD) angeschlossenen Gate, ein Flipflop (15),
das durch den MOS-Transistor (12) gesetzt wird und das zurück
gesetzt wird, wenn ein Rücksetzeingangssignal (RI) einen
niedrigen Pegel aufweist, und eine Einrichtung (18) enthält,
die ein Rücksetzausgangssignal (RO) in Abhängigkeit vom Zu
stand des Flipflops (15) erzeugt und an den Logikschaltkreis
(1) anlegt,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Source des MOS-Transistors (12) das Rücksetzeingangs signal (RI) empfängt und die Drain des MOS-Transistors (12) ein hohes Potential aufweist, wenn das Rücksetzeingangssignal (RI) einen hohen Pegel aufweist und die Versorgungsspannung (VDD) unter eine vorgegebene Schwelle abfällt,
daß das Flipflop (15) gesetzt wird, wenn die Drain des MOS- Transistors (12) einen hohen Pegel aufweist, und
daß die Einrichtung (18) das Rücksetzausgangssignal (RO) erzeugt, wenn das Flipflop (15) in seinem gesetzten Zustand ist.
daß die Source des MOS-Transistors (12) das Rücksetzeingangs signal (RI) empfängt und die Drain des MOS-Transistors (12) ein hohes Potential aufweist, wenn das Rücksetzeingangssignal (RI) einen hohen Pegel aufweist und die Versorgungsspannung (VDD) unter eine vorgegebene Schwelle abfällt,
daß das Flipflop (15) gesetzt wird, wenn die Drain des MOS- Transistors (12) einen hohen Pegel aufweist, und
daß die Einrichtung (18) das Rücksetzausgangssignal (RO) erzeugt, wenn das Flipflop (15) in seinem gesetzten Zustand ist.
2. Rücksetzschaltkreis nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die Drain des MOS-Transistors (12) über einen Wi
derstand (13) mit Erde verbunden ist.
3. Rücksetzschaltkreis nach Anspruch 2, gekennzeichnet
durch einen weiteren MOS-Transistor (14), der derart ange
schlossen ist, daß er eingeschaltet wird, wenn die Drain des
zuerst erwähnten MOS-Transistors (12) einen hohen Pegel auf
weist, wobei das Flipflop (15) gesetzt wird, wenn der zu
sätzliche MOS-Transistor (14) eingeschaltet ist.
4. Rücksetzschaltkreis nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch
einen das Rücksetzeingangssignal (RI) empfangenden Inverter
(16) und eine Einrichtung (18) zum Anlegen des Ausgangssig
nals des Inverters (16) als ein Rücksetzausgangssignal (RO)
an den Logikschaltkreis (1).
5. Rücksetzschaltkreis nach Anspruch 4, gekennzeichnet durch
einen zusätzlichen MOS-Transistor (17), der derart ange
schlossen ist, daß er eingeschaltet wird, wenn das Ausgangs
signal des Inverters (16) einen hohen Pegel aufweist, wobei
das Flipflop (15) zurückgesetzt wird, wenn der zusätzliche
MOS-Transistor (17) eingeschaltet ist.
6. Rücksetzschaltkreis nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch
eine Einrichtung (2) zum Einstellen des Rücksetzeingangssig
nals (RI) auf einen niedrigen Pegel, wenn festgestellt wird,
daß der Logikschaltkreis (1) während einer vorgegebenen
Zeitdauer kein Signal erzeugt, wobei das Signal ein Anzei
chen ist, daß der Logikschaltkreis (1) normal arbeitet.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61171374A JPH0693616B2 (ja) | 1986-07-21 | 1986-07-21 | リセツト回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3722797A1 DE3722797A1 (de) | 1988-02-04 |
DE3722797C2 true DE3722797C2 (de) | 1988-12-29 |
Family
ID=15921997
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3722797A Expired DE3722797C2 (de) | 1986-07-21 | 1987-07-10 | Ruecksetzschaltkreis |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4788454A (de) |
JP (1) | JPH0693616B2 (de) |
DE (1) | DE3722797C2 (de) |
FR (1) | FR2601832B1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10019479A1 (de) * | 2000-04-19 | 2001-10-25 | Infineon Technologies Ag | Schaltungsanordnung zum Initialisieren einer integrierten Schaltung beim Einschalten der Versorgungsspannung |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IT1215463B (it) * | 1987-05-07 | 1990-02-14 | Sgs Microelettronica Spa | Generatore di impulsi di riposizionamento in coincidenza colla salita dell'alimentazione, per circuiti integrati di tipo cmos. |
JPS6427094A (en) * | 1987-07-23 | 1989-01-30 | Mitsubishi Electric Corp | Mos-type semiconductor memory |
JPH0797721B2 (ja) * | 1987-10-08 | 1995-10-18 | 原田工業株式会社 | 自動車用アンテナ制御装置 |
JPH063679B2 (ja) * | 1987-10-30 | 1994-01-12 | 株式会社東芝 | 半導体装置の制御回路 |
JP2724893B2 (ja) * | 1989-12-28 | 1998-03-09 | 三菱電機株式会社 | 半導体集積回路装置 |
US5163168A (en) * | 1990-03-30 | 1992-11-10 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Pulse signal generator and redundancy selection signal generator |
US5115146A (en) * | 1990-08-17 | 1992-05-19 | Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. | Power-on reset circuit for controlling test mode entry |
US5121358A (en) * | 1990-09-26 | 1992-06-09 | Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. | Semiconductor memory with power-on reset controlled latched row line repeaters |
US5349586A (en) * | 1990-10-17 | 1994-09-20 | Nec Corporation | Stand by control circuit |
US5144159A (en) * | 1990-11-26 | 1992-09-01 | Delco Electronics Corporation | Power-on-reset (POR) circuit having power supply rise time independence |
US5111067A (en) * | 1991-04-29 | 1992-05-05 | Intel Corporation | Power up reset circuit |
US5369311A (en) * | 1992-03-06 | 1994-11-29 | Intel Corporation | Clock generator control circuit |
JP2797844B2 (ja) * | 1992-06-17 | 1998-09-17 | 三菱電機株式会社 | 半導体集積回路 |
US5416363A (en) * | 1993-04-22 | 1995-05-16 | Micron Semiconductor, Inc. | Logic circuit initialization |
US5463336A (en) * | 1994-01-27 | 1995-10-31 | Rockwell International Corporation | Supply sensing power-on reset circuit |
EP0685847B1 (de) * | 1994-05-31 | 2002-05-02 | STMicroelectronics S.r.l. | Niedrige Verlustleistungsinitialisierungsschaltung, insbesondere für Speicherregister |
US5543741A (en) * | 1994-12-30 | 1996-08-06 | Mitel Corporation | Reset circuit for generating reset pulse over an interval of reduced voltage supply |
US5801561A (en) * | 1995-05-01 | 1998-09-01 | Intel Corporation | Power-on initializing circuit |
JP3087653B2 (ja) * | 1996-05-24 | 2000-09-11 | 日本電気株式会社 | 半導体記憶装置 |
US5940345A (en) * | 1997-12-12 | 1999-08-17 | Cypress Semiconductor Corp. | Combinational logic feedback circuit to ensure correct power-on-reset of a four-bit synchronous shift register |
US6819539B1 (en) | 2001-08-20 | 2004-11-16 | Cypress Semiconductor Corp. | Method for circuit recovery from overstress conditions |
US7142400B1 (en) | 2002-03-27 | 2006-11-28 | Cypress Semiconductor Corp. | Method and apparatus for recovery from power supply transient stress conditions |
US7378886B2 (en) * | 2004-10-14 | 2008-05-27 | Fairchild Semiconductor | Voltage detection circuit with hysteresis for low power, portable products |
US7518419B1 (en) | 2006-12-15 | 2009-04-14 | National Semiconductor Corporation | Wideband power-on reset circuit |
US7388414B1 (en) * | 2007-03-30 | 2008-06-17 | National Semiconductor Corporation | Wideband power-on reset circuit with glitch-free output |
KR20140122567A (ko) * | 2013-04-10 | 2014-10-20 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 파워 온 리셋 회로를 포함하는 반도체 장치 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DD114326A1 (de) * | 1974-06-27 | 1975-07-20 | ||
JPS5931083B2 (ja) * | 1975-09-19 | 1984-07-31 | セイコーエプソン株式会社 | 半導体集積回路 |
US4366560A (en) * | 1980-09-22 | 1982-12-28 | Motorola, Inc. | Power down detector |
DE3336640A1 (de) * | 1982-10-13 | 1984-04-19 | General Electric Co., Schenectady, N.Y. | Elektrische steueranordnung mit netz-ein-reset-schaltung |
-
1986
- 1986-07-21 JP JP61171374A patent/JPH0693616B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1987
- 1987-07-10 DE DE3722797A patent/DE3722797C2/de not_active Expired
- 1987-07-16 US US07/074,251 patent/US4788454A/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-07-17 FR FR878710127A patent/FR2601832B1/fr not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10019479A1 (de) * | 2000-04-19 | 2001-10-25 | Infineon Technologies Ag | Schaltungsanordnung zum Initialisieren einer integrierten Schaltung beim Einschalten der Versorgungsspannung |
DE10019479B4 (de) * | 2000-04-19 | 2005-02-17 | Infineon Technologies Ag | Schaltungsanordnung zum Initialisieren einer integrierten Schaltung beim Einschalten der Versorgungsspannung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2601832B1 (fr) | 1991-03-08 |
JPS6327117A (ja) | 1988-02-04 |
DE3722797A1 (de) | 1988-02-04 |
JPH0693616B2 (ja) | 1994-11-16 |
US4788454A (en) | 1988-11-29 |
FR2601832A1 (fr) | 1988-01-22 |
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