DE3714920C1 - Verfahren zur Herstellung einer Duennschicht-Solarzellenanordnung - Google Patents
Verfahren zur Herstellung einer Duennschicht-SolarzellenanordnungInfo
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 45
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 29
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 claims description 7
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 6
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 claims description 5
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000010439 graphite Substances 0.000 claims description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 4
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 claims description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 3
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 2
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 claims description 2
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 claims description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 79
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- 229910000676 Si alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- CSDREXVUYHZDNP-UHFFFAOYSA-N alumanylidynesilicon Chemical compound [Al].[Si] CSDREXVUYHZDNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001680 brushing effect Effects 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002144 chemical decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000003628 erosive effect Effects 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 1
- 238000006748 scratching Methods 0.000 description 1
- 230000002393 scratching effect Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002210 silicon-based material Substances 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/042—PV modules or arrays of single PV cells
- H01L31/0445—PV modules or arrays of single PV cells including thin film solar cells, e.g. single thin film a-Si, CIS or CdTe solar cells
- H01L31/046—PV modules composed of a plurality of thin film solar cells deposited on the same substrate
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Sustainable Development (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Sustainable Energy (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
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- Photovoltaic Devices (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung einer
Solarzellenanordnung in Reihenschaltung und integrierter
Dünnschichttechnik, gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Ein derartiges Verfahren ist aus der DE-Al 32 10 742 bekannt. Dort wird
in einem ersten Verfahrensschritt auf einem Glassubstrat eine als erste
Elektrodenschicht dienende, transparente Metallschicht großflächig
aufgedampft. Anschließend wird diese erste Elektrodenschicht,
vorzugsweise durch Ritzen, in bestimmten Bereichen abgetragen, um so bis
auf die Substratoberfläche herabreichende, erste Gräben zu erzeugen.
Durch diesen Verfahrensschritt ist bereits die Strukturierung in eine
Folge nebeneinander liegender, einzelner Solarzellen vorgegeben. Sodann
wird auf die nunmehr getrennten Zonen der ersten Elektrodenschicht eine
durchgehende Halbleiterschicht großflächig abgeschieden. Hierbei handelt
es sich vorzugsweise um amorphes Silizium, welches beispielsweise eine
pin-Schichtstruktur aufweist. Die großflächige Abscheidung der
Halbleiterschicht erfolgt im Quasi-Vakuum mit Hilfe eines
Glimmentladungsverfahrens aus einer beispielsweise silanhaltigen
Gasatmosphäre, siehe etwa die US-PS 40 64 521. Anschließend werden auf
der durchgehenden Halbleiterschicht, die intern so strukturiert ist, daß
einfallende elektromagnetische Energie, insbesondere in Form von Licht,
in elektrische Ladung umgewandelt wird, separate Kontaktelemente
aufgebracht, welche später zur Reihenverschaltung der einzelnen
Solarzellen dienen sollen. Diese Kontaktelemente, beispielsweise aus
Aluminium bestehend, werden mit Hilfe von Maskierungsverfahren oder auf
photolithographischem Wege streifenförmig aufgedampft, und zwar in etwa
oberhalb der durch die bereichsweise Entfernung der ersten
Elektrodenschicht entstandenen Gräben. In einem nächsten
Verfahrensschritt wird eine durchgehende, zweite Elektrodenschicht,
beipielsweise aus Indiumzinnoxid (ITO) bestehend, über der
Halbleiterschicht mit den darauf befindlichen Kontaktelementstreifen
aufgedampft. Dies geschieht im allgemeinen ebenfalls im Vakuum. In der
so entstandenen Solarzellenanordnung sind die einzelnen Solarzellen noch
durch die durchgehende zweite Elektrodenschicht an ihrer Oberseite
elektrisch kurzgeschlossen. Um diesen Kurzschluß aufzuheben, wird die
zweite Elektrodenschicht sowie die Halbleiterschicht neben den
Kontaktelementstreifen bis in die Oberfläche der ersten
Elektrodenschicht hinein eingeritzt (zweite Gräben), beispielsweise
ebenso wie im Falle der ersten Elektrodenschicht unter Verwendung eines
Laserstrahles. Hiermit sind die einzelnen Solarzellen elektrisch nahezu
voneinander isoliert. Um eine Reihenverschaltung der Solarzellen
untereinander zu bewirken, wird die Anordnung anschließend einer
Wärmebehandlung unterzogen, sodaß durch die Erhitzung die metallischen
Kontaktelemente dornenartig durch die Halbleiterschicht bis zur
Oberfläche der jeweiligen ersten Elektrodenschicht der benachbarten
Solarzelle hindurchschmelzen. Somit sind die elektrischen Kontakte
zwischen den ersten und zweiten Elektrodenschichten je zweier
benachbarter Solarzellen hergestellt.
Dieses bekannte Herstellungsverfahren erweist sich insgesamt als relativ
aufwendig. Zwar werden abgesehen von der ersten Elektrodenschicht
weitere zwei Schichten, nämlich die Halbleiterschicht sowie die zweite
Elektrodenschicht durch Vakuumverfahren großflächig abgeschieden, jedoch
sind diese beiden Verfahrensschritte durch einen zwischengeschalteten
Verfahrensschritt zur Aufbringung der streifenförmigen, metallischen
Kontaktelemente unterbrochen. Dies geschieht unter Anwendung eines
Maskierungsverfahrens bzw. auf lithographischem Wege. Diese beiden
Verfahrensvarianten sind relativ aufwendig und bedingen eine
Unterbrechung des Vakuumprozesses. Weiterhin ist die Herstellung der
Reihenverschaltung der einzelnen Solarzellen durch Wärmebehandlung mit
einer gewissen Unsicherheit verbunden. Das gleichmäßige
Hindurchschmelzen der metallischen Kontaktelemente durch die
Halbleiterschicht ist nur schwer zu kontrollieren und die Kontaktierung
daher möglicherweise ungleichmäßig.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren der
eingangs genannten Art bereitzustellen, welches verfahrenstechnisch
möglichst einfach durchzuführen ist, wobei die Reihenverschaltung der
einzelnen Solarzellen so zuverlässig und gleichmäßig wie möglich
erfolgen soll.
Diese Aufgabe wird gemäß der Erfindung durch die im kennzeichnenden Teil
des Patentanspruchs 1 gegebenen Maßnahmen gelöst.
Demnach wird nunmehr davon Abstand genommen, die Kontaktelemente bereits
auf der großflächig abgeschiedenen Halbleiterschicht aufzubringen. Auf
diese wird vielmehr sofort anschließend großflächig die zweite
Elektrodenschicht aufgebracht. Diese beiden Verfahrensschritte können
somit unter Beibehaltung des Vakuums durchgeführt werden. Erst daran
anschließend werden in seitlicher Versetzung zu den die erste
Elektrodenschicht strukturierenden ersten Gräben zweite Gräben in die
beiden großflächig abgeschiedenen Schichten eingebracht, und zwar bis
zur Oberfläche der verbleibenden Flächenbereiche der ersten
Elektrodenschicht herab. Erst nach diesem an sich bereits aus der DE-Al
32 10 742 bekannten Verfahrensschritt werden die Kontaktelemente
aufgebracht, und zwar schichtförmig unter Ausfüllung der zweiten Gräben.
Hierdurch werden die durch die zweiten Gräben getrennten Flächenbereiche
der zweiten Elektrodenschicht wieder kurzgeschlossen. Daher werden
anschließend weitere Gräben, und zwar in seitlicher Versetzung zu den
zweiten Gräben und parallel zu diesen, eingebracht, welche mindestens
bis zur Oberfläche der Halbleiterschicht hinabreichen und so die
schichtförmigen Kontaktelemente voneinander trennen. Damit ist die
Reihenverschaltung der einzelnen Solarzellen vollendet.
Durch das erfindungsgemäße Verfahren entsteht ein System von jeweils
drei Gräben, welche in seitlicher Versetzung parallel zueinander
verlaufen. Die ersten Gräben durchtrennen die erste Elektrodenschicht,
die zweiten Gräben die zweite Elektrodenschicht sowie die
Halbleiterschicht und die dritten (weiteren) Gräben die schichtförmigen
Kontaktelemente sowie die zweite Elektrodenschicht.
Im vorliegenden Zusammenhang ist noch auf die ältere, nicht
vorveröffentlichte Deutsche Patentanmeldung P 35 45 385.0-33
hinzuweisen. In dieser ist ebenfalls ein Verfahren zur Herstellung einer
Solarzellenanordnung in Reihenschaltung und integrierter
Dünnschichttechnik beschrieben. Auch dort werden auf einer durch erste
Gräben strukturierten, auf einem Substrat aufgebrachten, ersten
Elektrodenschicht nacheinander im Vakuum großflächig eine
Halbleiterschicht sowie eine zweite Elektrodenschicht abgeschieden.
Anschließend wird die zweite Elektrodenschicht durch Ätzen oder
Laserritzen mit Gräben einer gewissen Breite, welche in seitlicher
Versetzung in etwa parallel zu den ersten Gräben verlaufen, versehen. In
einem weiteren Strukturierungsschritt wird dann ein Teil der nach
Einbringung dieser Gräben freigelegten Halbleiterschicht entfernt,
beispielsweise durch Anwendung von Ultraschall. Anschließend werden
separate Kontaktelemente angebracht, welche jedoch nur die schmaleren
Gräben in der Halbleiterschicht ausfüllen. Es muß darauf geachtet
werden, daß hierbei kein Kurzschluß zwischen den verbleibenden Bereichen
der zweiten Elektrodenschicht entsteht. Daher sind die Gräben in dieser
Elektrodenschicht breiter auszuführen als diejenigen in der
Halbleiterschicht, und die Kontaktelemente sind mit äußerster Sorgfalt
so aufzubringen, daß keine Kurzschlüsse entstehen.
Gegenüber dem eingangs genannten, bekannten Verfahren ist bei dem nicht
vorveröffentlichten Verfahren also bereits die Verbesserung vorgenommen
worden, daß die Halbleiterschicht und die zweite Elektrodenschicht
direkt nacheinander ohne Unterbrechung des Vakuums großflächig
abgeschieden werden. Allerdings sind die folgenden Strukturierungs- und
Kontaktierungsschritte mit so großer Sorgfalt auszuführen, daß dies
wiederum eine Fehlerquelle im Verfahrensablauf darstellt. Auch dieses
Verfahren ist demnach noch verbesserungsbedürftig.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren werden die letzten Strukturierungs
und Kontaktierungsschritte so ausgeführt, daß das Entstehen von
Kurzschlüssen zwischen den verbliebenen Flächenbereichen der zweiten
Elektrodenschicht ohne weiteres in Kauf genommen wird, sodaß hierdurch
schon eine wesentliche Vereinfachung des Verfahrensablaufs eintritt, da
die Genauigkeitsanforderungen verringert sind. Die Kontaktelemente
werden schichtförmig aufgebracht, und zwar gemäß einer ersten Variante
großflächig und gemäß einer zweiten Variante mittels einer
Maskierungstechnik bereits in separaten Flächenbereichen unter
Aussparung der für die weiteren Gräben vorgesehen Zonen. Bei der ersten
Variante werden die weiteren Gräben durch die zunächst geschlossene
Schicht für die Kontaktelemente hindurch ausgehoben.
Vorteilhafte Weiterbildungen des erfindungsgemäßen Verfahrens sind in
den Unteransprüchen enthalten.
Anschließend wird die Erfindung in zwei Ausführungsbeispielen anhand der
Abbildungen näher beschrieben. Es zeigen in schematischer Weise:
Fig. 1 bis Fig. 6 eine erste Variante des erfindungsgemäßen Verfahrens
unter Anwendung eines Maskierungsverfahrens bei der Aufbringung der
schichtförmigen Kontaktelemente,
Fig. 7 bis Fig. 9 eine zweite Variante des erfindungsgemäßen Verfahrens,
wobei die Kontaktelemente zunächst als durchgehende Schicht großflächig
abgeschieden werden.
Fig. 1 zeigt im Querschnitt ein transparentes Substrat 1, beispielsweise
aus Glas bestehend. Auf diesem ist ganzflächig eine transparente, erste
Elektrodenschicht 2 aufgebracht, welche beispielsweise aus einem
transparenten leitenden Oxid (TCO) besteht, etwa Indiumoxid, Zinnoxid
oder Indiumzinnoxid (ITO). Die Beschichtung kann beispielsweises durch
reaktives Sputtern oder Aufdampfen erfolgen. Die erste Elektrodenschicht
2 wird anschließend gemäß Fig. 2 in gewissen Bereichen 3 (erste Gräben)
wieder entfernt, wodurch bereits die Aufteilung in einzelne Solarzellen
vorgegeben ist. Die ersten Gräben 3 verlaufen vorzugsweise parallel und
in regelmäßigen Abständen. Diese Strukturierung kann durch Laserstrahl,
Elektroerosion oder andere
einschlägige Verfahren, beispielsweise durch Photolithographie,
erfolgen.
Hierauf werden (Fig. 3) direkt nacheinander zwei Schichten großflächig
abgeschieden, und zwar eine Halbleiterschicht 4 sowie eine zweite
Elektrodenschicht 5. Die Halbleiterschicht 4 kann beispielsweise aus
amorphem Silizium, aber auch aus amorphem Germanium, Legierungen
hieraus, auch mit Beimengungen von Wasserstoff, Halogen oder
Kohlenstoff, oder aus anderen einschlägigen Materialien bestehen, welche
geeignet sind, durch Absorption einfallender elektromagnetischer
Strahlung, insbesondere von Licht, getrennte elektrische Ladungen zu
erzeugen. Im Falle amorphen Siliziums kann die Halbleiterschicht 4
beispielsweise eine pin-Struktur aufweisen. Als gängiges Verfahren zum
Abscheiden der Halbleiterschicht sei das Glimmentladungsverfahren
genannt, es kommen aber auch andere, im Vakuum durchzuführende Verfahren
infrage, beispielsweise die chemische oder thermische Zersetzung
siliziumhaltiger Verbindungen in der Gasphase.
Die zweite Elektrodenschicht 5 wird unmittelbar nach der
Halbleiterschicht 4 ebenfalls im Vakuum großflächig abgeschieden, z. B.
durch Sputtern oder Aufdampfen von Aluminium, Silber, Nickel,
Aluminium-Silizium-Legierungen, als Einzel- oder Mehrfachschichten.
Gemäß Fig. 4 werden in seitlicher Versetzung zu den ersten Gräben 3 und
parallel zu diesen zweite Gräben 6 ausgehoben, welche bis auf die
Oberfläche der verbleibenden Flächenbereiche der ersten
Elektrodenschicht (2) herabreichen. Diese zweiten Gräben 6 durchtrennen
sowohl die zweite Elektrodenschicht 5 als auch die Halbleiterschicht 4.
Die Erzeugung der Gräben 6 kann mittels Ultraschallschneidwerkzeug oder
durch Laserstrahl erfolgen. Diese Werkzeuge können in drei Dimensionen
äußerst genau gesteuert werden. Durch die Abtragung hervorgerufene
Kurzschlüsse zwischen zweiter und erster Elektrodenschicht 5 bzw. 2 im
Randbereich der Gräben 6 sind nicht schädlich, insofern sind die
Genauigkeitsanforderungen begrenzt. Wichtig ist lediglich, daß am Grund
der zweiten Gräben 6 die erste Elektrodenschicht 2 freigelegt wird.
Fig. 5 zeigt eine Variante der Aufbringung der Kontaktelemente. Mittels
einer Maskierungstechnik werden Kontaktelemente 7 flächen- bzw.
schichtförmig aufgebracht, und zwar so, daß die zweiten Gräben 6
vollständig ausgefüllt werden und in seitlicher Versetzung zu diesen
parallele, streifenförmige Zonen 8 freibleiben. Das Material der
Kontaktelemente 7 muß in erster Linie elektrisch leitfähig sein. Im
vorliegenden Ausführungsbeispiel wird eine leitfähige Metall- oder
Graphitpaste gewählt. Diese kann beispielsweise durch Siebdruck
aufgebracht werden.
Gemäß Fig. 6 werden schließlich, ausgehend von den freigebliebenen
Bereichen 8, weitere Gräben 9 ausgehoben, welche mindestens bis zur
Oberfläche der Halbleiterschicht 4 herabreichen. Diese weiteren Gräben 9
können beispielsweise durch Ätzen erzeugt werden. Hierbei wirken die
bereits durch die freien Bereiche 8 voneinander getrennt aufgebrachten
Kontaktelemente 7 als Ätzmaske. In diesem Falle empfiehlt sich die
Verwendung einer Graphitpaste für die Kontaktelemente 7, da diese Paste
gegen Ätzmittel für die metallische zweite Elektrodenschicht 5 resistent
ist. Durch diese Verfahrensweise ist der durch Auffüllung der zweiten
Gräben 6 mit dem Material der Kontaktelemente 7 hergestellte Kurzschluß
zwischen den ersten und zweiten Elektrodenschichten 2 und 5 wieder
aufgehoben (weitere Gräben 9), und somit die Reihenverschaltung der
einzelnen Solarzellen 10 vollendet. Beim Erzeugen der weiteren Gräben 9
spielt es ersichtlich keine Rolle, ob an deren Rändern Material der
Kontaktelemente 7 die darunter liegenden Randbereiche der zweiten
Elektrodenschicht 5 etwas überlappt. Es muß lediglich sichergestellt
sein, daß der Boden der weiteren Gräben 9 von leitendem Material
freigehalten wird.
Fig. 7 stellt eine zweite Variante des Aufbringens der Kontaktelemente
dar. Demnach wird nach Abscheidung und Strukturierung (zweite Gräben 6)
der Halbleiterschicht 4 sowie der zweiten Elektrodenschicht 5
großflächig eine elektrisch leitende Schicht 11 aufgebracht. Auch
hierbei kann es sich um eine Metall- oder Graphitpaste handeln, welche
beispielsweise durch Siebdruck (ohne Maske) Sprühen, Bestreichen o. ä.
schichtförmig abgelagert wird. Anschließend (Fig. 8) werden
streifenförmige Bereiche 12 in seitlicher Versetzung zu den zweiten
Gräben 6 und parallel zu diesen freigelegt, wodurch getrennte
Kontaktelemente 7 entstehen. Diese freien Bereiche 12 werden mit einem
"weichen" Werkzeug, z. B. aus Aluminium, gebildet, ohne daß dabei die
metallische zweite Elektrodenschicht 5 beschädigt wird. Bei dieser
Variante können somit sämtliche Gräben 3, 6 sowie die freien Bereiche 12
etwa mit CNC-gesteuerten Bearbeitungsmaschinen erzeugt werden. Dadurch
wird eine gewisse Homogenität des Verfahrensablaufs erreicht, was
produktionstechnisch von Vorteil ist. Die Graphitpaste wird bei
Temperaturen unter 120°C ausgehärtet. Gemäß Fig. 9 können anschließend
die weiteren Gräben 9, beispielsweise durch Ätzen, ausgehoben werden, im
vorliegenden Ausführungsbeispiel auch bis zur Oberfläche der ersten
Elektrodenschicht 2 hinab. Hierbei werden entweder zwei verschiedene
Ätzmittel verwendet, oder nur eines, welches sowohl die metallische
zweite Elektrodenschicht 5 als auch die Halbleiterschicht 4 herauslösen
kann.
Claims (7)
1. Verfahren zur Herstellung einer Solarzellenanordnung in
Reihenschaltung und integrierter Dünnschichttechnik, bei dem auf einem
transparenten Substrat eine erste, mindestens semitransparente
Elektrodenschicht großflächig aufgebracht sowie anschließend in
bestimmten Bereichen (erste Gräben) wieder abgetragen, sodann auf dieser
eine zur Umwandlung einfallender elektromagnetischer Strahlung in
elektrische Energie geeignet strukturierte Halbleiterschicht großflächig
abgeschieden und darauf im weiteren Verfahrensablauf eine zweite
Elektrodenschicht großflächig aufgebracht wird, wonach letztere und die
Halbleiterschicht in dem Muster der abgetragenen Bereiche der ersten
Elektrodenschicht in seitlicher Versetzung folgenden, separaten
Bereichen (zweite Gräben) wieder abgetragen werden, und bei dem der
Reihenverschaltung der einzelnen Solarzellen dienende Kontaktelemente
angebracht werden, dadurch gekennzeichnet, daß die zweite
Elektrodenschicht (5) unmittelbar nach der Halbleiterschicht (4)
aufgebracht wird und die Kontaktelemente (7) auf den nach Erzeugung der
zweiten Gräben (6) verbliebenen Flächenbereichen der zweiten
Elektrodenschicht (5) unter Ausfüllung der zweiten Gräben (6)
schichtförmig aufgebracht und neben den zweiten Gräben (6) im
wesentlichen parallel zu diesen mindestens bis zur Oberfläche der
Halbleiterschicht (4) hinabreichende, die schichtförmigen
Kontaktelemente (7) voneinander separierende, weitere Gräben (9)
eingebracht werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
zweiten Gräben (6) in einem Schritt, beispielsweise durch
Ultraschall- oder Laseranwendung, ausgehoben werden.
3. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß als Material der Kontaktelemente (7) eine
leitfähige Paste, beispielsweise eine Graphit- oder Metallpaste, gewählt
wird.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß zur Aufbringung der Kontaktelemente (7) zunächst
eine durchgehende elektrisch leitende Schicht (11) großflächig
abgeschieden und anschließend in den für die weiteren Gräben (9)
vorgesehenen Zonen (12) wieder entfernt wird.
5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß die Kontaktelemente mittels einer
Maskierungstechnik bereits in separaten Flächenbereichen unter
Aussparung (8) der für die weiteren Gräben (9) vorgesehenen Zonen
aufgebracht werden.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß als
Maskierungstechnik ein Siebdruckverfahren angewendet wird.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 4 bis 6, dadurch
gekennzeichnet, daß die bereits in separaten Flächenbereichen
vorhandenen Kontaktelemente (7) als Ätzmaske für die Einbringung der
weiteren Gräben (9) durch Ätzen verwendet werden.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3714920A DE3714920C1 (de) | 1987-05-05 | 1987-05-05 | Verfahren zur Herstellung einer Duennschicht-Solarzellenanordnung |
EP19880106300 EP0289865A3 (de) | 1987-05-05 | 1988-04-20 | Verfahren zur Herstellung einer Dünnschicht-Solarzellenanordnung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3714920A DE3714920C1 (de) | 1987-05-05 | 1987-05-05 | Verfahren zur Herstellung einer Duennschicht-Solarzellenanordnung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3714920C1 true DE3714920C1 (de) | 1988-07-14 |
Family
ID=6326860
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3714920A Expired DE3714920C1 (de) | 1987-05-05 | 1987-05-05 | Verfahren zur Herstellung einer Duennschicht-Solarzellenanordnung |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0289865A3 (de) |
DE (1) | DE3714920C1 (de) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4225385A1 (de) * | 1992-07-31 | 1994-02-03 | Siemens Solar Gmbh | Verfahren zur kostengünstigen Herstellung einer Schicht eines Verbindungshalbleiters |
DE4324318C1 (de) * | 1993-07-20 | 1995-01-12 | Siemens Ag | Verfahren zur Serienverschaltung einer integrierten Dünnfilmsolarzellenanordnung |
EP0749161A2 (de) * | 1995-06-15 | 1996-12-18 | Kanegafuchi Kagaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Integriertes Dünnschicht-Sonnenzellenmodul und Herstellungsverfahren |
DE202010013136U1 (de) | 2010-12-16 | 2011-02-17 | Malibu Gmbh & Co. Kg | Dünnschicht-Photovoltaikmodul |
EP2393122A1 (de) * | 2009-01-29 | 2011-12-07 | Kyocera Corporation | Photoelektrische umwandlungszelle, photoelektrisches umwandlungsmodul und verfahren zur herstellung einer photoelektrischen umwandlungszelle |
US8859889B2 (en) | 2010-04-20 | 2014-10-14 | Kyocera Corporation | Solar cell elements and solar cell module using same |
US9276149B2 (en) | 2011-08-03 | 2016-03-01 | Stmicroelectronics S.R.L. | Thin film solar cell module including series-connected cells formed on a flexible substrate by using lithography |
DE102020108847A1 (de) | 2020-03-31 | 2021-09-30 | Heliatek Gmbh | Anordnung von Zellen in einem photovoltaischen Element |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4064521A (en) * | 1975-07-28 | 1977-12-20 | Rca Corporation | Semiconductor device having a body of amorphous silicon |
DE3210742A1 (de) * | 1981-03-31 | 1982-10-21 | RCA Corp., 10020 New York, N.Y. | Solarzellenbatterie und verfahren zum herstellen der batterie |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59172274A (ja) * | 1983-03-18 | 1984-09-28 | Sanyo Electric Co Ltd | 光起電力装置の製造方法 |
US4724011A (en) * | 1983-05-16 | 1988-02-09 | Atlantic Richfield Company | Solar cell interconnection by discrete conductive regions |
US4650524A (en) * | 1984-06-20 | 1987-03-17 | Sanyo Electric Co., Ltd | Method for dividing semiconductor film formed on a substrate into plural regions by backside energy beam irradiation |
US4755475A (en) * | 1986-02-18 | 1988-07-05 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Method of manufacturing photovoltaic device |
DE3635770A1 (de) * | 1986-10-21 | 1988-04-28 | Siemens Ag | Verfahren zum einbringen von trenngraeben in aus transparenten leitfaehigen metalloxiden bestehenden schichten, wie sie fuer frontelektroden bei der serienverschaltung von duennschichtsolarzellen in modulen verwendet werden |
-
1987
- 1987-05-05 DE DE3714920A patent/DE3714920C1/de not_active Expired
-
1988
- 1988-04-20 EP EP19880106300 patent/EP0289865A3/de not_active Withdrawn
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4064521A (en) * | 1975-07-28 | 1977-12-20 | Rca Corporation | Semiconductor device having a body of amorphous silicon |
DE3210742A1 (de) * | 1981-03-31 | 1982-10-21 | RCA Corp., 10020 New York, N.Y. | Solarzellenbatterie und verfahren zum herstellen der batterie |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4225385A1 (de) * | 1992-07-31 | 1994-02-03 | Siemens Solar Gmbh | Verfahren zur kostengünstigen Herstellung einer Schicht eines Verbindungshalbleiters |
DE4324318C1 (de) * | 1993-07-20 | 1995-01-12 | Siemens Ag | Verfahren zur Serienverschaltung einer integrierten Dünnfilmsolarzellenanordnung |
EP0749161A2 (de) * | 1995-06-15 | 1996-12-18 | Kanegafuchi Kagaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Integriertes Dünnschicht-Sonnenzellenmodul und Herstellungsverfahren |
EP0749161A3 (de) * | 1995-06-15 | 1998-07-15 | Kanegafuchi Kagaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Integriertes Dünnschicht-Sonnenzellenmodul und Herstellungsverfahren |
EP2393122A1 (de) * | 2009-01-29 | 2011-12-07 | Kyocera Corporation | Photoelektrische umwandlungszelle, photoelektrisches umwandlungsmodul und verfahren zur herstellung einer photoelektrischen umwandlungszelle |
EP2393122A4 (de) * | 2009-01-29 | 2013-03-13 | Kyocera Corp | Photoelektrische umwandlungszelle, photoelektrisches umwandlungsmodul und verfahren zur herstellung einer photoelektrischen umwandlungszelle |
US8859889B2 (en) | 2010-04-20 | 2014-10-14 | Kyocera Corporation | Solar cell elements and solar cell module using same |
DE202010013136U1 (de) | 2010-12-16 | 2011-02-17 | Malibu Gmbh & Co. Kg | Dünnschicht-Photovoltaikmodul |
EP2466640A2 (de) | 2010-12-16 | 2012-06-20 | Malibu GmbH & Co. Kg | Dünnschicht-Photovoltaikmodul |
US9276149B2 (en) | 2011-08-03 | 2016-03-01 | Stmicroelectronics S.R.L. | Thin film solar cell module including series-connected cells formed on a flexible substrate by using lithography |
US10256356B2 (en) | 2011-08-03 | 2019-04-09 | Stmicroelectronics S.R.L. | Thin film solar cell module including series connected cells formed on a flexible substrate by using lithography |
DE102020108847A1 (de) | 2020-03-31 | 2021-09-30 | Heliatek Gmbh | Anordnung von Zellen in einem photovoltaischen Element |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0289865A3 (de) | 1990-09-26 |
EP0289865A2 (de) | 1988-11-09 |
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8100 | Publication of the examined application without publication of unexamined application | ||
D1 | Grant (no unexamined application published) patent law 81 | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
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8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |