DE3700296C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf einen Halbleiter-Differenz
verstärker gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Ein konventioneller Halbleiter-Differenzverstärker dieser
Art ist in Fig. 2 dargestellt. In dieser Fig. 2 sind mit
den Bezugszeichen Q 1 und Q 2 jeweils ein als Last dienender
dritter und vierter P Kanal MOS Transistor mit gleicher
Gatebreite und Gatelänge bezeichnet. Dagegen sind mit den
Bezugszeichen Q 3 und Q 4 jeweils ein erster und ein zweiter
Treiber N Kanal MOS Transistor mit gleicher Gatebreite und
Gatelänge bezeichnet. Zwei Eingangsanschlüsse tragen die
Bezugszeichen D und . Ein Verbindungsknoten zwischen den
Drainanschlüssen der Transistoren Q 1 und Q 3 ist mit dem Be
zugszeichen N bezeichnet. Dagegen trägt ein Verbindungskno
ten der Drainanschlüsse der Transistoren Q 2 und Q 4 das Be
zugszeichen . Dieses Bezugszeichen stellt gleichzeitig
einen Ausgangsanschluß des Halbleiter-Differenzverstärkers
dar. Ein N Kanal MOS Transistor Q 5 dient zur Leistungsab
schneidung bzw. Leitungsunterbrechung. Ein internes Signal
zur Leistungsabschneidung bzw. Leistungsunterbrechung trägt
das Bezugszeichen SE. Eine Versorgungsspannung ist mit dem
Bezugszeichen Vcc versehen, während eine Erdspannung das
Bezugszeichen GND trägt.
Im folgenden wird der Betrieb dieses Halbleiter-Differenz
verstärkers näher erläutert.
Zunächst sei angenommen, daß das interne Signal SE zur Lei
stungsabschneidung den H-Pegel (hohen logischen Pegel) ein
nimmt und daß der Transistor Q 5 eingeschaltet ist, so daß
der Differenzverstärker arbeitet.
In einem solchen Zustand weist der Transistor Q 1 einen
üblichen Gateabfluß auf, so daß die Schwankung der Spannung
am Knotenpunkt N relativ klein ist im Vergleich
zur Schwan
kung der Spannung am Eingangsanschluß D. Der Knotenpunkt N
arbeitet gleichzeitig als Gateeingang des Transistors Q 2,
so daß bei Gleichheit der Spannungen an den Eingangsan
schlüssen D und der Ausgangsanschluß dieselbe Spannung
aufweist, die auch am Knotenpunkt N anliegt. Die Spannungen
an den Eingangsanschlüssen D und sowie die Größen der
Transistoren Q 1 bis Q 4 sind so gewählt, daß die Transisto
ren Q 2 und Q 4 einen Gleichgewichtszustand im Pentodenbe
reich annehmen. Tritt in diesem Zustand eine kleine Span
nungsdifferenz zwischen den Eingangsanschlüssen D und auf,
so verlassen die Transistoren Q 2 und Q 4 den Gleichgewichts
zustand. Dies hat eine große Schwankung der Spannung am
Ausgangsanschluß zur Folge.
Nimmt dagegen das interne Signal SE zur Leistungsabschnei
dung bzw. Leistungsunterbrechung den L-Pegel (niedrigen lo
gischen Pegel) ein, um den Transistor Q 5 auszuschalten, so
werden alle Eindringströme bzw. Ströme, die durch die Tran
sistoren Q 1 bis Q 3 oder durch die Transistoren Q 2 bis Q 4
hindurchfließen, unterbrochen, so daß die gesamte Einrich
tung in den Ausschaltzustand überführt wird.
Bei dem so aufgebauten konventionellen Halbleiter-Diffe
renzverstärker wird die Spannungsdifferenz zwischen den
beiden Eingangsanschlüssen D und nur durch den N Kanal
MOS Transistor empfangen, so daß die Fähigkeit nur sehr ge
ring ist, die Spannung am Knotenpunkt N oder am Ausgangsan
schluß zur Spannungsversorgungsseite hochzuziehen. Es
ist daher nicht möglich, mit sehr hoher Empfindlichkeit auf
außerordentlich kleine Spannungsdifferenzen zwischen den
beiden Eingangsanschlüssen D und zu reagieren.
Aus der US-A- 40 04 245 ist ein Halbleiter-Differenzverstärker
zum Verstärken einer zwischen einem ersten und zweiten Eingangs
anschluß liegenden Spannungsdifferenz sowie zum Ausgeben eines
Ausgangssignales zum Ausgangsanschluß bekannt, der vier MOS
Transistoren des gleichen Leitfähigkeitstyps aufweist. Ein
erster und ein zweiter der vier MOS Transistoren sind source
seitig mit einer Quelle für einen eingeprägten Strom gekoppelt,
die ihrerseits mit einem positiven Potential verbunden ist.
Drainseitig sind der erste und zweite MOS Transistor über
einen Lastwiderstand gegen negatives Potential geschaltet.
Der drainseitige Anschluß dieser Transistoren bildet jeweils
einen positiven bzw. negativen Ausgangsanschluß des Halbleiter-
Differenzverstärkers. Über die Widerstände fällt während des
Betriebes eine dem Produkt aus dem anteiligen eingeprägten
Strom und dem Widerstandswert der Widerstände entsprechende
Spannung ab, die ohne weitere Schaltungsmaßnahmen den Spannungs
ausgangsbereich des Differentialverstärkers einschränken würde.
Zur Erweiterung des Arbeitsbereiches sind daher bei diesem
bekannten Differentialverstärker der dritte und vierte MOS
Transistor vorgesehen, die parallel zu den Lastwiderständen
geschaltet sind. Gateseitig sind der dritte und vierte MOS
Transistor als Kreuzschaltung mit dem Gate desjenigen der ersten
und zweiten MOS Transistoren verbunden, der nicht an den Last
widerstand angeschaltet ist, zu dem der dritte bzw. vierte MOS
Transistor parallel geschaltet ist. Aufgrund dieser Schaltungs
maßnahme kann der bekannte Differentialverstärker bei Eingangs
pegel betrieben werden, die nahe an der positiven oder negati
ven Versorgungsspannung liegen.
Aus der JP-A-60-2 13 108 sowie aus der Veröffentlichung "Patent
Abstracts of Japan", E-387, 11. März 1986, Band 10/Nr. 61, ist
ein Halbleiter-Differenzverstärker zum Verstärken einer
zwischen einem ersten und einem zweiten Eingangsanschluß
liegenden Spannungsdifferenz sowie zum Ausgeben eines Aus
gangssignals zu einem Ausgangsanschluß bekannt. Dieser
Halbleiter-Differenzverstärker weist einen ersten und einen
zweiten MOS-Transistor eines ersten Leitfähigkeitstyps so
wie einen dritten, vierten, fünften und sechsten MOS-Tran
sistor eines zweiten Leitfähigkeitstyps auf, wobei der
Gate-Anschluß des ersten MOS-Transistors mit dem ersten
Eingangsanschluß verbunden ist, wobei ferner der Gate-An
schluß des zweiten MOS-Transistors mit dem zweiten Ein
gangsanschluß verbunden ist, wobei ferner der Drain-An
schluß des ersten und dritten MOS-Transistors und die Gate-
Anschlüsse des dritten und vierten MOS-Transistors mitein
ander verbunden sind, wobei ferner die Drain-Anschlüsse des
zweiten und vierten und sechsten MOS-Transistors mit dem
Ausgangsanschluß verbunden sind, wobei ferner die Source-
Anschlüsse des ersten und zweiten MOS-Transistors mit einer
ersten Konstantspannungsquelle verbunden sind, wobei ferner
die Source-Anschlüsse des dritten und vierten MOS-Transi
stors mit einer zweiten Konstantspannungsquelle verbunden
sind, wobei ferner der Drain-Anschluß des fünften MOS-Tran
sistors mit den Drain-Anschlüssen der ersten und dritten
MOS-Transistoren verbunden ist, und wobei die Source-An
schlüsse des fünften und des sechsten MOS-Transistors mit
den Source-Anschlüssen des dritten und vierten MOS-Transi
stors verbunden sind. Bei diesem Halbleiter-Differenzver
stärker ist die Gate-Elektrode des fünften MOS-Transistors
an eine feste Vorspannung gelegt, wogegen die Gate-Elektro
de des sechsten MOS-Transistors mit einer veränderbaren
Vorspannung beaufschlagt wird, die mittels einer Auswahl
schaltung so eingestellt wird, daß die Offset-Spannung zwi
schen der Eingangsspannung und der Ausgangsspannung des
Verstärkers möglichst gering wird.
Gegenüber diesem Stand der Technik liegt der vorliegenden Er
findung die Aufgabe zugrunde, einen Halbleiter-Differenzverstär
ker der eingangs genannten Art so weiterzubilden, daß dieser
eine höhere Empfindlichkeit aufweist.
Diese Aufgabe wird bei einem Halbleiter-Differenzverstärker
nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 durch die im kenn
zeichnenden Teil des Patentanspruches 1 angegebenen Merkmale
gelöst.
Bevorzugte Weiterbildungen sind Gegenstand von Unteransprüchen.
Die Zeichnung stellt neben dem Stand der Technik ein Aus
führungsbeispiel der Erfindung dar. Es zeigt
Fig. 1 den Schaltungsaufbau eines Halbleiter-Differenz
verstärkers nach der Erfindung,
Fig. 2 den Schaltungsaufbau eines herkömmlichen Halblei
ter-Differenzverstärkers,
Fig. 3 ein Diagramm zur Erläuterung der Übertragungsei
genschaften zwischen Eingang und Ausgang bei einem
konventionellen und einem Halbleiter-Differenzver
stärker nach der Erfindung, und
Fig. 4 einen Schaltungsaufbau zur Erzielung eines vergrö
ßerten Verstärkungsfaktors bei Verwendung der her
kömmlichen Differenzverstärker gemäß Fig. 2.
Im folgenden wird zur Erläuterung der Erfindung zunächst
auf die Fig. 1 Bezug genommen.
Die Fig. 1 zeigt einen Halbleiter-Differenzverstärker nach
einem Ausführungsbeispiel der Erfindung. Gleiche Elemente
wie in Fig. 2 sind dabei mit den gleichen Bezugszeichen
versehen.
Entsprechend der Fig. 1 sind mit den Bezugszeichen Q 6 und
Q 7 jeweils ein fünfter und ein sechster P Kanal MOS Transi
stor mit gleicher Gatebreite und Gatelänge bezeichnet. Der
fünfte Transistor Q 6 liegt zwischen der Versorgungsspannung
Vcc und dem Knotenpunkt N, während sein Gateanschluß mit
dem Eingangsanschluß D verbunden ist. Ferner liegt der
sechste Transistor Q 7 zwischen der Versorgungsspannung Vcc
und dem Ausgangsanschluß , wobei sein Gateanschluß mit
der anderen Eingangsklemme verbunden ist.
Im folgenden wird die Arbeitsweise des in Fig. 1 gezeigten
Halbleiter-Differenzverstärkers näher beschrieben.
Die neuen beiden P Kanal MOS Transistoren Q 6 und Q 7 sind
symmetrisch links und rechts vorgesehen, so daß der Knoten
punkt N und der Ausgangsanschluß auf gleichen Spannun
gen gehalten werden, wenn sich die Eingangsanschlüsse D und
auf gleichen Spannungen befinden, ähnlich wie beim kon
ventionellen Differenzverstärker.
Im folgenden sei angenommen, daß zwischen den beiden Ein
gangsanschlüssen D und eine kleine Spannungsdifferenz
auftritt. Der Transistor Q 6 wird dann in einen leitenderen
Zustand überführt, wenn die Spannung am Anschluß D abfällt,
während der Transistor Q 6 in einen weniger leitenden Zu
stand überführt wird, wenn die Spannung am Anschluß D an
steigt. Das hat den Effekt, daß die Schwankung gegenüber
der Spannung am Knotenpunkt N ansteigt, die die Gatespan
nung des Transistors Q 2 ist. Da ferner die Änderungsrich
tung am Eingangsanschluß , also diejenige der Gatespannung
des Transistors Q 7, die gleiche ist wie die Änderungsrich
tung der Gatespannung des Transistors Q 2, erhöht sich die
Spannungsänderung am Ausgangsanschluß , die durch irgend
einen der Transistoren Q 6 und Q 7 hervorgerufen worden ist.
Die Fig. 3 zeigt ein Diagramm zur Erläuterung der Übertra
gungseigenschaften zwischen Eingangsanschluß und Ausgangs
anschluß beim konventionellen und beim Halbleiter-Diffe
renzverstärker nach der Erfindung. In der Fig. 3 sind die
Übertragungseigenschaften des konventionellen Differenzver
stärkers durch gestrichelte Linien dargestellt, während die
durchgezogenen Linien die Übertragungseigenschaften des
Halbleiter-Differenzverstärkers nach der Erfindung angeben.
Die Bezugszeichen V D , und bezeichnen in Fig. 3 die
Spannungen an den Anschlüssen D, und . Die Gatelänge L
und die Gatebreite W der Transistoren sind so gewählt, daß
die Transistoren Q 1 und Q 2 jeweils eine Gatelänge L = 2,0
µm und eine Gatebreite W = 25,0 µm, die Transistoren Q 3
und Q 4 eine Gatelänge L = 1,5 µm und eine Gatebreite W =
6,0 µm und die Transistoren Q 6 und Q 7 jeweils eine Gatelän
ge L = 2,0 µm und eine Gatebreite W = 20,0 µm aufweisen.
Ändert sich beispielsweise die Spannung V D von einem Wert
3,8 V auf einen Wert 3,7 V, wenn = 3,8 V ist, so beträgt
der Änderungsbetrag der Ausgangsspannung 0,6 V beim
Halbleiter-Differenzverstärker nach der Erfindung, während
der entsprechende Änderungsbetrag beim konventionellen Dif
ferenzverstärker nur 0,35 V beträgt. Der Verstärkungsfaktor
ist daher bei dem Differenzverstärker nach der Erfindung
gegenüber dem konventionellen Differenzverstärker um einen
Faktor von 70% vergrößert.
Es sei noch erwähnt, daß sich auf konventionellem Wege die
Empfindlichkeit des Differenzverstärkers dadurch steigern
läßt, daß er als Zweistufen-Differenzverstärker ausgebildet
wird. Die Fig. 4 zeigt einen derartigen Aufbau. In dieser
Fig. 4 sind drei Differenzverstärkerbereiche mit den Be
zugszeichen SA 1, SA 2 und SA 3 bezeichnet. Die Bezugszeichen
D ein 1 und bezeichnen zwei Eingangsanschlüsse des er
sten Differenzverstärkerbereichs SA 1. In ähnlicher Weise
bezeichnen die Bezugszeichen D ein 2, und D ein 3,
jeweils zwei Eingangsanschlüsse des zweiten Differenzver
stärkerbereichs SA 2 und des dritten Differenzverstärkerbe
reichs SA 3.
Diese drei Differenzverstärkerbereiche SA 1, SA 2 und SA 3
weisen jeweils einen Ausgangsanschluß D aus 1, D aus 2 und
D aus 3 auf. Mit dem Bezugszeichen SA ist ein Differenzver
stärker bezeichnet, der aus den drei genannten Differenz
verstärkerbereichen SA 1 bis SA 3 besteht.
Der Eingangsanschluß D des Differenzverstärkers SA ist mit
den Anschlüssen D ein 1 und verbunden, während der Ein
gangsanschluß mit den Anschlüssen und mit dem An
schluß D ein 2 verbunden ist. Dagegen ist der Ausgangsan
schluß D aus 1 mit dem Eingangsanschluß D ein 3 verbunden, wäh
rend der Ausgangsanschluß D aus 2 mit dem Eingangsanschluß
verbunden ist. Der Anschluß D aus 3 stellt den Ausgangs
anschluß des Differenzverstärkers SA dar.
Zunächst werden bei diesem Differenzverstärker die Verstär
kungen mit Hilfe der die erste Stufe bildenden Differenz
verstärkerbereiche SA 1 und SA 2 in zueinander umgekehrten
Richtungen durchgeführt, um auf diese Weise die Spannungs
differenz zwischen den Anschlüssen D aus 1 und D aus 2 relativ
zur Spannungsdifferenz zwischen den Eingangsanschlüssen D
und zu erhöhen. Diese Spannungsdifferenz wird weiter mit
Hilfe des Differenzverstärkerbereichs SA 3 verstärkt, der
die zweite Stufe bildet.
Um dieses konventionelle Verfahren durchzuführen, sind, wie
bereits erwähnt, drei Differenzverstärker SA 1, SA 2 und SA 3
als Grundeinheiten erforderlich, so daß relativ viel Platz
zum Aufbau der Verstärkereinheit benötigt wird. Im Gegen
satz dazu werden entsprechend der Erfindung nur zwei P Ka
nal MOS Transistoren zu einer Differentialverstärker-Grund
einheit hinzugefügt, um auf diese Weise den Verstärkungs
faktor zu vergrößern, wobei hierzu nur sehr wenig Platz be
nötigt wird.
Im folgenden wird das Verhältnis W/L von Gatebreite W zu
Gatelänge L eines MOS Transistors als Leitfähigkeitsfaktor
A bezeichnet. Sind die Leitfähigkeitsfaktoren A 6 und A 7 der
Transistoren Q 6 und Q 7 jeweils größer als die Leitfähig
keitsfaktoren A 1 und A 2 der Transistoren Q 1 und Q 2, so do
minieren bei den die Transistoren Q 4 und Q 7 sowie bei den
die Transistoren Q 3 und Q 6 enthaltenden Schaltungen jeweils
die CMOS-Invertereigenschaften. Daher ist auch bei einem
großen Verstärkungsfaktor, wenn die Eingangsspannung an die
Charakteristik des Differenzverstärkers angepaßt ist,
der erlaubte Bereich der Eingangsspannung zur Erzielung der
Anpassung klein bzw. schmal, während die Fähigkeit, als
Differenzverstärker zu arbeiten, der nur in Abhängigkeit
der relativen Differenz der Eingangsspannung betrieben
wird, schwach ausgebildet ist. Demzufolge ist es erwünscht,
die Leitfähigkeitsfaktoren A 6 und A 7 jeweils kleiner zu
wählen als die Leitfähigkeitsfaktoren A 1 und A 2.
Im obenbeschriebenen Ausführungsbeispiel dient der N Kanal
Transistor als Treiber bzw. Steuertransistor, während der P
Kanal MOS Transistor als Last- bzw. Belastungstransistor
dient. Es ist aber auch möglich, einen P Kanal MOS Transi
stor als Treiber bzw. Steuertransistor zu verwenden und ei
nen N Kanal MOS Transistor als Last- bzw. Belastungstransi
stor einzusetzen.
Die Leitfähigkeitsfaktoren A der Transistoren Q 1 und Q 2,
der Transistoren Q 3 und Q 4 sowie der Transistoren Q 6 und Q 7
sind beim beschriebenen Ausführungsbeispiel jeweils einan
der gleich. Es ist allerdings nur erforderlich, daß die
Leitfähigkeitsfaktorverhältnisse A der Transistoren Q 1, Q 3
und Q 6 mit den Leitfähigkeitsfaktorverhältnissen A der
Transistoren Q 2, Q 4 und Q 7 übereinstimmen, daß also A 1/A 2 =
A 3/A 4 = A 6/A 7 ist, so daß die Gleichstrom-(DC-Current)-Dif
ferenzverstärkereigenschaften nicht ungünstig beeinflußt
werden.
Weiterhin wird beim beschriebenen Ausführungsbeispiel der N
Kanal MOS Transistor als Leistungsabschneide- bzw. -aus
schalt MOS Transistor verwendet, der mit Erdpotential ver
bunden ist. Dieser Transistor kann aber auch durch jeden
anderen MOS Transistor ersetzt werden, durch den der Strom
unterbrochen werden kann, der vom P Kanal MOS Transistor
zum N Kanal MOS Transistor im Differenzverstärker fließt.
Wie aus der Beschreibung klar hervorgeht, werden gemäß der
Erfindung über die beiden Eingangsanschlüsse eingegebene
Eingangssignale durch den N Kanal und den P Kanal MOS Tran
sistor empfangen, so daß sehr kleine Spannungsdifferenzen
zwischen den Eingangsanschlüssen mit hoher Empfindlichkeit
detektiert und verarbeitet werden können.
Claims (4)
1. Halbleiter-Differenzverstärker zum Verstärken einer zwischen
einem ersten und einem zweiten Eingangsanschluß (D, ) liegen
den Spannungsdifferenz sowie zum Ausgeben eines Ausgangssi
gnales zu einem Ausgangsanschluß ( ),
- - mit einem ersten und einem zweiten MOS Transistor (Q 3, Q 4) eines ersten Leitfähigkeitstyps sowie einem dritten und vier ten Transistor (Q 1, Q 2) eines zweiten Leitfähigkeitstyps,
- - wobei der Gate-Anschluß des ersten MOS Transistors (Q 3) mit dem ersten Eingangsanschluß () verbunden ist,
- - wobei der Gate-Anschluß des zweiten MOS Transistors (Q 4) mit dem zweiten Eingangsanschluß (D) verbunden ist,
- - wobei der Drain-Anschluß des ersten und dritten MOS Transi stors (Q 3, Q 1) und die Gate-Anschlüsse des dritten und vier ten MOS Transistors (Q 1, Q 2) miteinander verbunden sind,
- - wobei die Drain-Anschlüsse des zweiten und vierten MOS Transistors (Q 4, Q 2) mit dem Ausgangsanschluß ( ) verbun den sind,
- - wobei die Source-Anschlüsse des ersten und zweiten MOS Transistors (Q 3, Q 4) mit einer ersten Konstantspannungs quelle (GND) verbunden sind, und
- - wobei die Source-Anschlüsse des dritten und vierten Transi stors (Q 1, Q 2) mit einer zweiten Konstantspannungsquelle (Vcc) verbunden sind,
dadurch gekennzeichnet,
- - daß ein fünfter und sechster MOS Transistor (Q 6, Q 7) des zweiten Leitfähigskeitstyps vorgesehen sind,
- - daß der Gate-Anschluß des fünften MOS Transistors (Q 6) mit dem ersten Eingangsanschluß () verbunden ist,
- - daß der Gate-Anschluß des sechsten MOS Transistors (Q 7) mit dem zweiten Eingangsanschluß (D) verbunden ist,
- - daß der Drain-Anschluß des fünften MOS Transistors (Q 6) mit den Drain-Anschlüssen der ersten und dritten MOS Transisto ren (Q 3, Q 1) verbunden ist,
- - daß der Drain-Anschluß des sechsten MOS Transistors (Q 7) mit den Drain-Anschlüssen des zweiten und vierten MOS Transistors (Q 4, Q 2) verbunden ist, und
- - daß die Source-Anschlüsse des fünften und des sechsten MOS Transistors (Q 6, Q 7) mit den Source-Anschlüssen des drit ten und vierten MOS Transistors (Q 1, Q 2) verbunden sind.
2. Halbleiter-Differenzverstärker nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß eine oder beide Konstantspannungsquellen
zur Versorgung des ersten bis sechsten MOS Transistors durch
eine Schalteinrichtung (Q 5) steuerbar sind.
3. Halbleiter-Differenzverstärker nach Anspruch 1 oder 2, da
durch gekennzeichnet, daß bei Leitfähigkeitsverhältnissen
A i = W i /L i aus Gatebreite (W i ) und Gatelänge (L i ) für die
jeweiligen MOS Transistoren mit i = 1, 2, . . ., 6 das Leit
fähigkeitsfaktorverhältnis A 1/A 2 von erstem und zweitem
MOS Transistor (Q 3, Q 4), das Leitfähigkeitsfaktorverhältnis
A 3/A 4 von drittem und viertem MOS Transistor (Q 1, Q 2) und
das Leitfähigkeitsfaktorverhältnis A 5/A 6 von fünftem und
sechstem MOS Transistor (Q 6, Q 7) einander gleich sind.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61002579A JPS62159905A (ja) | 1986-01-08 | 1986-01-08 | 半導体差動増幅器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3700296A1 DE3700296A1 (de) | 1987-07-09 |
DE3700296C2 true DE3700296C2 (de) | 1988-11-03 |
Family
ID=11533279
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19873700296 Granted DE3700296A1 (de) | 1986-01-08 | 1987-01-07 | Halbleiter-differenzverstaerker |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4780686A (de) |
JP (1) | JPS62159905A (de) |
DE (1) | DE3700296A1 (de) |
GB (1) | GB2186455B (de) |
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JPH0377413A (ja) * | 1989-08-10 | 1991-04-03 | Siemens Ag | 集積可能な差動増幅器 |
JP2968826B2 (ja) * | 1990-08-31 | 1999-11-02 | 富士通株式会社 | カレントミラー型増幅回路及びその駆動方法 |
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US5986479A (en) * | 1997-05-05 | 1999-11-16 | National Semiconductor Corporation | Fully switched, class-B, high speed current amplifier driver |
DE19909536C1 (de) | 1999-03-04 | 2000-06-15 | Siemens Ag | Integrierte Schaltung zur Erzeugung zweier Ausgangstakte mit zeitlich nicht überlappenden Pegeln |
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- 1987-01-07 DE DE19873700296 patent/DE3700296A1/de active Granted
- 1987-01-07 US US07/001,028 patent/US4780686A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2186455B (en) | 1989-11-01 |
JPS62159905A (ja) | 1987-07-15 |
DE3700296A1 (de) | 1987-07-09 |
JPH0471365B2 (de) | 1992-11-13 |
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D2 | Grant after examination | ||
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8320 | Willingness to grant licences declared (paragraph 23) |