DE3632977A1 - Interferometeranordnung zur fernmessung von laengen - Google Patents
Interferometeranordnung zur fernmessung von laengenInfo
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02055—Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration
- G01B9/02062—Active error reduction, i.e. varying with time
- G01B9/02064—Active error reduction, i.e. varying with time by particular adjustment of coherence gate, i.e. adjusting position of zero path difference in low coherence interferometry
- G01B9/02065—Active error reduction, i.e. varying with time by particular adjustment of coherence gate, i.e. adjusting position of zero path difference in low coherence interferometry using a second interferometer before or after measuring interferometer
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- G01B2290/00—Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
- G01B2290/25—Fabry-Perot in interferometer, e.g. etalon, cavity
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Description
Die Erfindung betrifft die im Oberbegriff des Patentan
spruchs 1 definierte spezielle Interferometeranordnung,
mit welcher auch extrem kleine Längenänderungen von z.B.
nur wenigen µm außerordenlich genau sogar von der Ferne
meßbar sind. Eine solche Interferometeranordnung ist z.B.
in
2nd Internat. Conf. on Opt. Fiber Sensors, 5. bis 7.
Sept. 1984, Stuttgart, S. 361 bis 364, besonders Fig. 1
beschrieben, wobei dort die beiden Interferometer durch
relativ kompliziert aufgebaute Michelson-Interferometer
gebildet werden, die jeweils u.a. zwei ebene Spiegel ent
halten.
Für sich ist das sog. Fabry-Perot-Interferometer bekannt,
das ebenfalls zwei Spiegel enthält, zwischen denen reso
nanzartig das Licht hin und her reflektiert wird. Dieser
Interferometertyp ist sehr einfach aufgebaut, verglichen
mit dem Michelson-Interferometer. Zumindest einer der
beiden Spiegel des Fabry-Perot-Interferometers ist etwas
lichtdurchlässig, so daß dort der Lichtausgang - und evtl.
auch der Lichteingang - liegt. Für die Gestaltung des
Lichteinganges und -ausganges gibt es verschiedene bekann
te Möglichkeiten.
Die Erfindung löst die Aufgabe,
mittels einer besonders einfach aufgebauten Anordnung die Vibrationempfindlichkeit und Stoßempfindlichkeit der Interferometeranordnung zu verringern, also die Meßge nauigkeit bei erschwerten Meßbedingungen zu erhöhen, durch die im Patentanspruch 1 genannten Maßnahmen. Die Er findung eignet sich also z.B. als Meßgerät mit Sensor für Mikromanipulatoren höchster Präzision unter erschwerten Meßbedingungen.
mittels einer besonders einfach aufgebauten Anordnung die Vibrationempfindlichkeit und Stoßempfindlichkeit der Interferometeranordnung zu verringern, also die Meßge nauigkeit bei erschwerten Meßbedingungen zu erhöhen, durch die im Patentanspruch 1 genannten Maßnahmen. Die Er findung eignet sich also z.B. als Meßgerät mit Sensor für Mikromanipulatoren höchster Präzision unter erschwerten Meßbedingungen.
Die im Unteranspruch genannten Maßnahmen erhöhen die
Vibrationsunempfindlichkeit, Stoßunempfindlichkeit und
damit die Meßgenauigkeit besonders stark, nämlich selbst
dann, wenn beide Fabry-Perot-Interferometer vibrieren oder
gestoßen werden.
Die Erfindung und ihre Weiterbildung wird anhand des in
der Figur gezeigten Beispiels weiter erläutert. Dieses
Beispiel entspricht dem bekannten Beispiel mit den beiden
Unterschieden, daß als Interferometer jeweils ein beson
ders einfach aufgebautes Fabry-Perot-Interferometer dient,
und daß zumindest einer der vier Spiegel ein Retroreflek
tor ist, also ein Tripelspiegel, dessen drei polierter,
evtl. noch teilverspiegelte, Flächen senkrecht aufeinander
stehen.
In der Figur ist ein Beispiel gezeigt, bei welchem sowohl
die beweglichen Spiegel S 1, S 3 als auch die fest oder be
weglich angebrachten Spiegel S 2, S 4 beider Interferometer
jeweils Retroreflektoren darstellen. Das gezeigte Beispiel
enthält also, ebenso wie das bekannte Interferometer, den
Lichtsender S, welcher z.B. inkohärentes Licht 1 L liefert
und über eine Glasfaserleitung L 1 an das erste Interfero
meter S 1/ S 2 angeschlossen ist. Der bewegliche Spiegel S 1
dient als Sensor. Der bewegliche Spiegel S 1 kann nämlich
in der Richtung x um einen Wert verschoben werden, der von
der Ferne mit Hilfe des zweiten Interferometers S 3/ S 4
außerordentlich genau meßbar ist. Dieses zweite Interfero
meter S 3/ S 4 ist im Prinzip völlig gleich aufgebaut wie das
erste Interferometer mit dem Unterschied, daß statt des
Lichtsenders S nun die vom ersten Interferometer S 1/ S 2
kommende, z.B. etliche m lange Glasfaserlichtleitung L 2
einen Teil des Lichtes 2 L als Licht 3 L liefert, welches
den Lichtfluß 4 L erzeugt, von dem ein Teil 5 L über die
Glasfaser L 3 zum Detektor E fließt. Mit Hilfe eines Ein
stellorgans, z.B. eines extrem fein einstellbaren Manipu
lators, kann der bewegliche Spiegel S 3 in der y-Richtung
solange - z.B. auch automatisch - verschoben werden, bis im
Detektor E ein maximal starkes Empfangssignal auftritt.
Dann entspricht die jeweilige Stellung y des beweglichen
Spiegels S 3 der jeweiligen Stellung x des als Sensor die
nenden beweglichen Spiegels S 1.
Wird nun der Spiegel S 1 geringfügig bewegt, d.h. x gering
fügig verändert - z.B. nur einige µm bewegt -, dann muß
der bewegliche Spiegel S 3 seine Position y ebenfalls ge
ringfügig ändern, bis am Detektor E wieder ein maximales
Empfangssignal gemessen wird. Aus der Änderung der Posi
tion y kann man präzise und eindeutig die Änderung der
Position x ableiten.
Beim bekannten Interferometer waren die jeweiligen Spiegel
S 1 bis S 4 der beiden Michelson-Interferometer jeweils ebe
ne Spiegel. Diese Meßanordnung war außerordentlich vibra
tionsempfindlich und stoßempfindlich, was die Anwendung
dieser Meßanordnung zur Fernmessung von Positionen x außer
ordentlich erschwerte.
Die Erfindung beruht darauf, daß die zunächst nur theore
tisch gewonnene Vermutung experimentell bestätigt werden
konnte, daß die Verwendung von Retroreflektoren statt ebe
ner Spiegel S 1 bis S 4 die Stoßunempfindlichkeit und Vibri
ationsunempfindlichkeit außerordentlich erhöht, wodurch
die Meßgenauigkeit selbst unter solchen erschwerten Bedin
gungen erheblich verbessert werden. Die diesen Messungen
zugrundeliegende theoretische Anschauung beruht nämlich
darauf, daß rein theoretisch Drehungen von Retroreflekto
ren um ihre Spitze um nahezu 1° ohne weiteres bei dem
erfindungsgemäßen Interferometer zugelassen werden können,
ohne die Meßgenauigkeit allzu sehr zu gefährden, und daß
also Eigenvibriationen bzw. Schwankungen eines schweren,
trägen Spiegels, welche durch Vibriationen oder Stöße zur
Eigenbewegungen veranlaßt werden, relativ harmlos sind, -
vor allem wenn zumindest jene Spiegel, welche beweglich
gelagert werden müssen und daher ohnehin leicht zu einer
gewissen Lageinstabilität neigen, als Retroreflektoren
ausgebildet werden. Bei der Erfindung können also die
Vibrationen so stark sein, daß die betreffenden Retrore
flektoren ohne weiteres ziemlich unruhig um ihre Spitze,
an der sie bevorzugt gelagert werden, schwanken können.
Die Art des verwendeten Lichtes ist wie beim bekannten In
terferometer praktisch beliebig. Man kann z.B. monochroma
tisches oder inkohärentes verwenden, auch moduliertes oder
weißes Licht, wobei die Meßgenauigkeit im allgemeinen zu
nimmt, wenn das verwendete Licht viele solche Frequenzen,
also viele solche Wellenlängen aufweist, für die das den
Sensor enthaltende Interferometer resonanzartig abgestimmt
ist.
Es zeigte sich darüber hinaus, daß bei der Erfindung - be
sonders wenn alle Spiegel durch Retroreflektoren gebildet
werden - die durch Änderung von y gemessenen Interferenzen
außerordentlich spitze, schmale Resonanzen zeigen, und
zwar auch wenn bei der Erfindung nur relativ wenig Sorg
falt auf die Justierung der einzelnen Spiegel verwendet
wurde. Mit der Erfindung erhält man also trotz wenig Sorg
falt oft viel spitzere Resonanzen, als bei sorgfältigerer
vibriationsfreier und stoßfreier Lagerung der ebenen
Spiegel der bekannten Interferometeranordnung.
Wegen der Vibriationsunempfindlichkeit und Stoßunempfind
lichkeit der Erfindung kann man auch die Bewegungen x und
y der beweglichen Spiegel S 2, S 4 leichter durchführen bzw.
die Führungen dieser beweglichen Spiegel können entspre
chend größere seitliche Toleranzen, also auch ein größeres
Spiel aufweisen. Daher ist auch der Aufbau dieser (beim
Stand der Technik besonders empfindlichen) Führungen bei
der Erfindung sehr einfach.
Weil die Erfindung auch mit außerordentlich kleinen Bau
teilen herstellbar ist, kann man sie auch zur Fernmessung
von Bewegungen von sehr kleinen Objekten verwenden.
Statt den beweglichen Spiegel S 1 als Sensor und den beweg
lichen Spiegel S 3 zur Fernmessung zu verwenden, kann man
auch umgekehrt den beweglichen Spiegel S 3 als Sensor und
den beweglichen Spiegel S 1 zur Fernmessung verwenden. Die
Erfindung ist also auch insofern vielseitig verwendbar.
Durch die Erfindung wird also der Anwendungsbereich der
Interferometeranordnung, verglichen mit dem Anwendungsbe
reich der bekannten Interferometeranordnung, außerordent
lich vergrößert, ohne daß es Fälle gibt, in denen zwar
diese bekannte Anordnung, aber nicht die Erfindung ver
wendbar wäre.
Claims (2)
1. Interferometeranordnung zur Fernmessung von Längen (x),
mit einem Lichtsender (S),
mit zwei über eine feste Lichtleitung (L 2), z.B. Glas faserlichtleitung, verbundenen Interferometern (S 1/ S 2, S 3/ S 4), die jeweils zwei Spiegel (S 1/ S 2, S 3/ S 4) enthal ten, von denen jeweils zumindest einer (S 1, S 3) beweg lich (x, y) ist, und
mit einem Detektor (E),
dadurch gekennzeichnet, daß
beide Interferometer (S 1/ S 2, S 3/ S 4) jeweils Fabry-Perot- Interferometer sind, und
zumindest der bewegliche Spiegel (S 1, S 3) von zumindest einem der beiden Fabry-Perot-Interferometer (S 1/ S 2, S 3/ S 4) jeweils ein Retroreflektor ist.
mit einem Lichtsender (S),
mit zwei über eine feste Lichtleitung (L 2), z.B. Glas faserlichtleitung, verbundenen Interferometern (S 1/ S 2, S 3/ S 4), die jeweils zwei Spiegel (S 1/ S 2, S 3/ S 4) enthal ten, von denen jeweils zumindest einer (S 1, S 3) beweg lich (x, y) ist, und
mit einem Detektor (E),
dadurch gekennzeichnet, daß
beide Interferometer (S 1/ S 2, S 3/ S 4) jeweils Fabry-Perot- Interferometer sind, und
zumindest der bewegliche Spiegel (S 1, S 3) von zumindest einem der beiden Fabry-Perot-Interferometer (S 1/ S 2, S 3/ S 4) jeweils ein Retroreflektor ist.
2. Interferometer nach Patentanspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
jeweils beide Spiegel beider Fabry-Perot-Interferometer
(S 1/ S 2, S 3/ S 4) jeweils Retroreflektoren sind.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19863632977 DE3632977A1 (de) | 1986-09-29 | 1986-09-29 | Interferometeranordnung zur fernmessung von laengen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19863632977 DE3632977A1 (de) | 1986-09-29 | 1986-09-29 | Interferometeranordnung zur fernmessung von laengen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3632977A1 true DE3632977A1 (de) | 1988-03-31 |
Family
ID=6310556
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19863632977 Withdrawn DE3632977A1 (de) | 1986-09-29 | 1986-09-29 | Interferometeranordnung zur fernmessung von laengen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3632977A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10330363B4 (de) * | 2003-07-01 | 2005-08-11 | BAM Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung | Fabry-Pérot-Faserinterferometer |
RU2561771C1 (ru) * | 2014-03-24 | 2015-09-10 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Новосибирский государственный технический университет" | Способ измерения длин |
-
1986
- 1986-09-29 DE DE19863632977 patent/DE3632977A1/de not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10330363B4 (de) * | 2003-07-01 | 2005-08-11 | BAM Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung | Fabry-Pérot-Faserinterferometer |
RU2561771C1 (ru) * | 2014-03-24 | 2015-09-10 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Новосибирский государственный технический университет" | Способ измерения длин |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |