DE3628017A1 - Thermischer durchflusssensor - Google Patents
Thermischer durchflusssensorInfo
- Publication number
- DE3628017A1 DE3628017A1 DE3628017A DE3628017A DE3628017A1 DE 3628017 A1 DE3628017 A1 DE 3628017A1 DE 3628017 A DE3628017 A DE 3628017A DE 3628017 A DE3628017 A DE 3628017A DE 3628017 A1 DE3628017 A1 DE 3628017A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- heating resistor
- flow meter
- substrate
- fluid
- resistor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 55
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims description 54
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 32
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 13
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 13
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 9
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 claims description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910021332 silicide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- FVBUAEGBCNSCDD-UHFFFAOYSA-N silicide(4-) Chemical compound [Si-4] FVBUAEGBCNSCDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000002356 single layer Substances 0.000 claims description 3
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 2
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 48
- 238000000034 method Methods 0.000 description 14
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 13
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 9
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 5
- 235000011837 pasties Nutrition 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- YCIMNLLNPGFGHC-UHFFFAOYSA-N catechol Chemical compound OC1=CC=CC=C1O YCIMNLLNPGFGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 2
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052845 zircon Inorganic materials 0.000 description 2
- GFQYVLUOOAAOGM-UHFFFAOYSA-N zirconium(iv) silicate Chemical compound [Zr+4].[O-][Si]([O-])([O-])[O-] GFQYVLUOOAAOGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PIICEJLVQHRZGT-UHFFFAOYSA-N Ethylenediamine Chemical compound NCCN PIICEJLVQHRZGT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 1
- 239000003153 chemical reaction reagent Substances 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- -1 etc.) Chemical compound 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000007261 regionalization Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01F—MEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
- G01F1/00—Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow
- G01F1/68—Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow by using thermal effects
- G01F1/684—Structural arrangements; Mounting of elements, e.g. in relation to fluid flow
- G01F1/6845—Micromachined devices
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N3/00—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages
- H04N3/02—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by optical-mechanical means only
- H04N3/08—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by optical-mechanical means only having a moving reflector
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N3/00—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages
- H04N3/02—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by optical-mechanical means only
- H04N3/08—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by optical-mechanical means only having a moving reflector
- H04N3/09—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by optical-mechanical means only having a moving reflector for electromagnetic radiation in the invisible region, e.g. infrared
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Fluid Mechanics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Measuring Volume Flow (AREA)
Description
Die Erfindung bezieht sich auf einen thermischen Durchflußmesser
gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruches 1.
Insbesondere bezieht sich die Erfindung auf einen
Durchflußmesser des Typs "hot film" mit einem Heizwiderstand
und einem die Temperatur eines Fluides erfassenden
Widerstand, wobei beide aus einem dünnen Film
bestehen, der auf einem isolierenden Substrat aufgebracht ist.
Thermische Durchfluß-Sensoren oder Durchflußmesser,
auch Strömungsmesser genannt, bei denen ein Hauptstromrohr
und ein Bypaßrohr, durch welches ein Teil des
Hauptstromes fließt, verwendet werden und an welches
eine Heizeinrichtung angeschlossen ist, werden in
großem Umfange verwendet. Derartige Durchflußmesser
erfassen die Durchflußrate aus der Wärmeverteilung,
die sich einstellt, wenn das Fluid durch das Beipaßrohr
fließt, während dieses beheizt wird. Derartige
Durchflußmesser haben eine ausgezeichnete Genauigkeit,
so daß sie in großem Umfange für die Kontrolle oder
Steuerung der Durchflußrate von Halbleitergasen etc.
verwendet werden. Sie sind jedoch nicht geeignet für
eine Miniaturisierung und/oder eine Massenproduktion.
Darüber hinaus sind ihre Herstellkosten so groß, daß
sie nur für begrenzte Anwendungsfälle eingesetzt
werden.
Ein weiterer bekannter thermischer Durchflußsensor
enthält einen Heizwiderstand (genannt: "heißer Draht")
und einen die Fluidtemperatur messenden Meßwiderstand
(genannt: "kalter Draht"), wobei die Durchflußmenge
auf der Basis von Änderungen der Wärmemenge errechnet
wird, die von dem Heizwiderstand auf das ihn umgebende
Fluid übertragen wird. Berücksichtigt man die
Temperatur des Fluides, die durch den die Temperatur
des Fluides messenden Widerstandes ermittelt wird, so
wird die Temperaturdifferenz zwischen dem Fluid und
dem Heizwiderstand auf einem konstanten Wert gehalten,
so daß eine Kompensation für Änderungen der Fluidtemperatur
durchgeführt werden kann und unabhängig
von der Wärmekapazität des Heizwiderstandes eine
schnelle Meßantwort erhalten werden kann. Für den
Heizwiderstand und den Fluidtemperatur-Meßwiderstand
wird ein Draht aus Platin, Wolfram etc. verwendet.
Allerdings ist der Widerstand des Drahtes klein und
der Widerstandswert der Durchflußsensoren streut in
weiten Bereichen, so daß die Heiztemperatur schlecht
eingestellt werden kann und die Genauigkeit der Temperaturmessung
ungenügend ist. Darüber hinaus ist bei
Verwendung eines dünnen Drahtes die Herstellung
schwierig, so daß eine Massenproduktion nicht möglich
ist.
Weiterhin existiert ein Durchflußmesser des Typs
"hot wire", bei dem ein dünner Metallfilm, der in
einem Muster auf einem isolierenden Substrat angeordnet
ist, anstelle des oben erwähnten Durchflußmessers
des Typs "hot film" verwendet wird. Aufgrund
der Anwendung eines dünnen, in einem Muster verteilten
Metallfilmes kann der Durchflußmesser miniaturisiert
werden. Da weiterhin eine gewisse Anzahl von Einheiten
auf einem einzigen Substrat untergebracht werden kann,
ist eine Massenproduktion möglich; auch treten geringere
Streuungen auf. Daher wird dieser Typ von Durchflußmessern derzeit gründlich untersucht.
Weiterhin existiert auch noch ein Durchflußmesser mit
einem Heiz-Diffusions-Widerstand (oder Transistor) und
einem die Fluidtemperatur erfassenden Diffusions-
Widerstand (oder Transistor), wobei beide auf einem
Siliziumchip aufgebracht sind. Dieser Durchflußmesser
wird unter Anwendung einer Silizium-Verarbeitungstechnik
hergestellt, so daß eine Massenproduktion gut
möglich ist. Allerdings variieren die Temperaturcharakteristiken
der Sensoren, so daß es schwierig ist, eine
hohe Heiztemperatur zu erreichen.
Der Durchflußsensor des Typs "hot film" enthält einen
Heizwiderstand und einen Fluidtemperatur-Meßwiderstand
ähnlich wie der Durchflußsensor des Typs "hot wire".
Auch ist das Wirkungsprinzip des Durchflußmessers des
Typs "hot film" gleich dem des Durchflußmessers des
Typs "hot wire", was durch folgende Gleichung (1) dargestellt
werden kann:
wobei I der durch den Heizwiderstand fließende Strom,
Rh der Widerstand des Heizwiderstandes, Th die Temperatur
des Heizwiderstandes, Ta die Fluidtemperatur
(d. h. die Temperatur des Fluidtemperatur-Meßwiderstandes),
U die Durchflußrate des Fluides und A bzw. B
Konstanten sind.
Zunächst wird dem Heizwiderstand ein elektrischer
Strom zugeführt, so daß in ihm Wärme erzeugt wird.
Wenn die Durchflußrate des zu messenden Fluides hoch
ist, so wird eine große Wärmemenge von dem Heizwiderstand
an das Fluid übertragen. Ist umgekehrt die Durchflußrate
des Fluides klein, so wird dagegen nur eine
geringe Wärme von dem Heizwiderstand zu dem Fluid übertragen.
Folglich kann die Durchflußrate des Fluides
dadurch bestimmt werden, daß man Änderungen der von
dem Heizwiderstand an das Fluid übertragenen Wärmemenge
in folgender Weise mißt: der an den Heizwiderstand angelegte
elektrische Strom wird auf einem festen Wert
gehalten und die Temperaturen des Heizwiderstandes und
des Fluides werden gemessen, während das Fluid fließt.
Alternativ hierzu kann die Temperaturdifferenz zwischen
dem Fluid und dem Heizwiderstand auf einem festen Wert
gehalten werden, indem der an den Heizwiderstand angelegte
elektrische Strom geregelt wird. Aus den Änderungen
des elektrischen Stromes kann dann die Durchflußrate
des Fluides errechnet werden. Üblicherweise
wird aus Gründen einer schnellen Meßantwort die letzt
genannte Methode angewandt, bei der die Temperaturdifferenz
zwischen dem Fluid und dem Heizwiderstand
auf einem festen Wert gehalten wird.
Unabhängig davon, welche der beiden beschriebenen
Methoden man verwendet, müssen die Temperatur Ta des
Fluides und die Temperatur Th des Heizwiderstandes
kontinuierlich gemessen werden. Zu diesem Zwecke benötigt
man also einen Fluidtemperatur-Meßwiderstand,
der die Temperatur des Fluides mißt zusätzlich zur
Temperatur des Heizwiderstandes. Um sowohl die Temperatur
des Fluides als auch die des Heizwiderstandes
mit hoher Genauigkeit messen zu können, müssen der
Heizwiderstand und der die Temperatur des Fluides
messende Widerstand thermisch voneinander isoliert
sein. Herkömmliche thermische Durchflußmesser mußten
daher eine solche Struktur haben, daß der Heizwiderstand
und der die Fluidtemperatur messende Widerstand
auf separaten Platten angeordnet waren, was den Nachteil
hat, daß die herkömmlichen Durchflußmesser relativ
groß bzw. sperrig waren und für eine Massenproduktion
nicht geeignet waren.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, den
thermischen Durchflußmesser der eingangs genannten
Art dahingehend zu verbessern, daß er bei kleiner
Bauweise genaue Meßergebnisse liefert und zwar in
kurzer Meßzeit. Weiterhin soll er in Massenproduktion
herstellbar sein.
Diese Aufgabe wird bei einem Durchflußmesser der gattungsbildenden
Art durch die im kennzeichnenden Teil
des Patentanspruches 1 angegebenen Merkmale gelöst.
Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der
Erfindung sind den Unteransprüchen zu entnehmen.
Der thermische Durchflußmesser nach der Erfindung, der
die obige Aufgabe löst sowie zahlreiche weitere Nachteile
des Standes der Technik vermeidet, enthält ein
ätzbares Substrat, einen auf dem Substrat aufgebrachten
elektrisch isolierenden Film, dessen Ätzcharakteristik
von der des Substrates verschieden ist, einen
auf dem isolierenden Film aufgebrachten Heizwiderstand
und einen Fluidtemperatur-Meßwiderstand, der auf dem
isolierenden Film in einem vorgegebenen Abstand von
dem Heizwiderstand angeordnet ist, wobei der Abschnitt
des Substrates, der mindestens einem von beiden Widerständen,
d. h. dem Heizwiderstand und dem Fluidtemperatur-
Meßwiderstand zugeordnet ist und die Umgebung
dieses Bereiches weggeätzt ist.
Im einem bevorzugten Ausführungsbeispiel besteht das
Substrat aus Silizium.
In einem bevorzugten Ausführungsbeispiel besteht der
isolierende Film aus einem einschichtigen Film oder
einem mehrschichtigen Film, der zumindest aus einem
der nachfolgenden Materialien besteht: Aluminium,
Zircon, Stickstoffsilicid und Siliziumoxid. Alternativ
hierzu kann der isolierende Film auch aus einer isolierenden
Paste hergestellt sein.
In einem bevorzugten Ausführungsbeispiel sind der Heizwiderstand
und der Fluidtemperatur-Meßwiderstand aus
Platin, Nickel, einer Nickellegierung oder einem Thermistor-
Material.
Mit der Erfindung werden folgende Ziele erreicht:
(1) Es wird ein thermischer Durchflußmesser geschaffen, bei dem der Heizwiderstand und der Fluidtemperatur- Meßwiderstand auf einem einzigen Substrat angeordnet sind, wobei ein Teil des Substrates, das zumindest einem dieser Widerstände entspricht sowie die Umgebung dieses Teiles mittels Ätzen entfernt sind, so daß diese Widerstände thermisch voneinander isoliert sind und der Sensor miniaturisiert werden kann;
(2) es wird ein thermischer Durchflußmesser geschaffen, der eine ausgezeichnete thermische Isolierung zwischen dem Heizwiderstand und dem Fluidtemperatur- Meßwiderstand aufweist, was zu einer verbesserten Meßgenauigkeit führt;
(3) es wird ein thermischer Durchflußmesser geschaffen, der weniger elektrische Energie verbraucht;
(4) es wird ein thermischer Durchflußmesser geschaffen, der eine schnelle (thermische) Meßantwort liefert;
(5) es wird ein thermischer Durchflußmesser geschaffen, der in Massenproduktion herstellbar ist;
(6) es wird ein thermischer Durchflußmesser geschaffen, bei dem der isolierende Film aus einem pastösen Material sein kann, so daß die Herstellung des isolierenden Filmes unter den Bedingungen einer Massenproduktion einfach auszuführen ist;
(7) es wird ein thermischer Durchflußmesser geschaffen, bei dem der isolierende Film, der durch Sintern eines pastösen Materiales bei hoher Temperatur hergestellt wird, sehr fest mit dem Substrat verbunden ist, wodurch eine verbesserte mechanische Festigkeit des fertigen Sensors erreicht wird; und
(8) es wird ein thermischer Durchflußmesser geschaffen, bei dem eine gute thermische Isolierung zwischen den beiden Widerständen und dem Substrat vorhanden ist und zwar aufgrund der geringen thermischen Leitfähigkeit des pastösen Materiales, aus dem der isolierende Film auf dem Substrat gebildet ist.
(1) Es wird ein thermischer Durchflußmesser geschaffen, bei dem der Heizwiderstand und der Fluidtemperatur- Meßwiderstand auf einem einzigen Substrat angeordnet sind, wobei ein Teil des Substrates, das zumindest einem dieser Widerstände entspricht sowie die Umgebung dieses Teiles mittels Ätzen entfernt sind, so daß diese Widerstände thermisch voneinander isoliert sind und der Sensor miniaturisiert werden kann;
(2) es wird ein thermischer Durchflußmesser geschaffen, der eine ausgezeichnete thermische Isolierung zwischen dem Heizwiderstand und dem Fluidtemperatur- Meßwiderstand aufweist, was zu einer verbesserten Meßgenauigkeit führt;
(3) es wird ein thermischer Durchflußmesser geschaffen, der weniger elektrische Energie verbraucht;
(4) es wird ein thermischer Durchflußmesser geschaffen, der eine schnelle (thermische) Meßantwort liefert;
(5) es wird ein thermischer Durchflußmesser geschaffen, der in Massenproduktion herstellbar ist;
(6) es wird ein thermischer Durchflußmesser geschaffen, bei dem der isolierende Film aus einem pastösen Material sein kann, so daß die Herstellung des isolierenden Filmes unter den Bedingungen einer Massenproduktion einfach auszuführen ist;
(7) es wird ein thermischer Durchflußmesser geschaffen, bei dem der isolierende Film, der durch Sintern eines pastösen Materiales bei hoher Temperatur hergestellt wird, sehr fest mit dem Substrat verbunden ist, wodurch eine verbesserte mechanische Festigkeit des fertigen Sensors erreicht wird; und
(8) es wird ein thermischer Durchflußmesser geschaffen, bei dem eine gute thermische Isolierung zwischen den beiden Widerständen und dem Substrat vorhanden ist und zwar aufgrund der geringen thermischen Leitfähigkeit des pastösen Materiales, aus dem der isolierende Film auf dem Substrat gebildet ist.
Im folgenden wird die Erfindung anhand eines Ausführungsbeispieles
im Zusammenhang mit der Zeichnung ausführlicher
erläutert. Es zeigt:
Fig. 1(A), 1(B) und 1(C) schematische Schnittzeichnungen verschiedener
Herstellstufen des thermischen Durchflußmessers
nach der Erfindung;
Fig. 2 eine Draufsicht des thermischen Durchflußmessers,
der nach den Arbeitsschritten der
Fig. 1(A), 1(B) und 1(C) erhalten wird; und
Fig. 3 ein Prinzipschaltbild des thermischen Durchflußmessers,
der mit den Arbeitsschritten
Fig. 1(A), 1(B) und 1(C) erhalten wird.
Die Erfindung schafft einen thermischen Durchflußmesser,
bei dem sowohl der Heizwiderstand als auch der Fluidtemperatur-
Meßwiderstand auf einem einzigen Substrat
mit kleinen Ausmaßen angeordnet sind, wobei zumindest
ein Teil des Substrates, der mindestens einem dieser
beiden Widerstände entspricht sowie zusätzlich angrenzende
Teile dieses Bereiches weggeätzt sind, so daß
diese Widerstände thermisch voneinander isoliert sind,
womit man hohe Leistungsfähigkeit, Miniaturisierung
und Massenproduzierbarkeit erhält.
Die Fig. 1(A), 1(B) und 1(C) zeigen die Verfahrensschritte
zur Herstellung des thermischen Durchflußmessers
nach der Erfindung.
Die Herstellschritte laufen wie folgt ab: auf einem
Substrat aus Silizium oder ähnlichem, das leicht geätzt
werden kann, wird ein isolierender Film 2 aus
Aluminium oder ähnlichem, der eine ausgezeichnete
elektrische Isolation bildet und chemisch widerstandsfähig
ist, durch ein Vakuum-Dampfabscheiden, eine Aufsprühmethode,
ein plasmaunterstütztes, chemisches
Dampfabscheiden etc. aufgebracht. Sodann wird ein
dünner Metallfilm 3 aus Platin oder ähnlichem aufgebracht,
wobei dieser Film einen hohen Widerstands-/
Temperatur-Koeffizienten hat. Dieser Film wird mit
den gleichen Methoden aufgebracht wie der isolierende
Film 2. Er wird auf dem isolierenden Film 2 aufgebracht
(vgl. Fig. 1(A)). Darauf wird der dünne Metallfilm
3 mittels einer Ätztechnik in eine vorgegebene
Form gebracht, womit ein Heizwiderstand 4 und ein
Fluidtemperatur-Meßwiderstand 5 gebildet werden, wobei
diese beiden in einem vorgegebenen Abstand zueinander
auf dem isolierenden Film 2 liegen (vgl. Fig. 1(B)).
Der Abschnitt des Substrates 1, der dem Heizwiderstand
4 entspricht sowie angrenzende Bereiche dieses Abschnittes
werden dann mittels einer Ätztechnik entfernt.
Dies führt zu einer Diaphragma- bzw. Membranstruktur,
bei der der Heizwiderstand 4 ausschließlich
von dem isolierenden Film 2 getragen wird (vgl. Fig. 1(C)).
Wie in Fig. 2 dargestellt sind elektrische Anschlüsse
44, die mit dem Heizwiderstand 4 verbunden
sein müssen, außerhalb der "Membran" 100 angeordnet,
womit verhindert wird, daß die Membran 100 bei den
nachfolgenden Arbeitsschritten für die Verbindung einer
Zufuhrleitung zu dem Heizwiderstand 4 bricht. Wahlweise
kann auch eine Einrichtung zur Steuerung des Widerstandes
des Heizwiderstandes 4 außerhalb der Membran
100 angeordnet sein.
Das für den isolierenden Film 2 verwendete Material
muß nicht Aluminium sein; es kann auch aus Keramik
(z. B. Zirkon, etc.), Stickstoffsilicid, Siliziumoxid
etc. sein. Der isolierende Film muß nicht notwendigerweise
ein einschichtiger Film sein; er kann auch ein
mehrschichtiger Film sein. Der isolierende Film kann
auch aus einer Mischung aus zwei oder mehreren Arten
von Filmmaterialien bestehen. Die Dicke des isolierenden
Filmes sollte möglichst gering sein, um den Effekt der
thermischen Isolierung zu vergrößern; andererseits hat
ein extrem dünner Film nur eine geringe mechanische
Festigkeit, so daß die Dicke des Filmes in der Größenordnung
von vorzugsweise 1 µm bis 10 µm liegen sollte.
Das Material für die dünne Metallschicht 3 muß nicht
unbedingt Platin sein; es kann stattdessen auch Nickel
oder eine Nickellegierung verwendet werden, aufgrund
des höheren Widerstands-/Temperatur-Koeffizienten.
Statt des dünnen Metallfilmes 3 können anstatt von
Metallen auch Feucht-Widerstands-Materialien verwendet
werden, wie sie in Thermistoren verwendet werden.
Als Ätztechnik für das Ätzen des Siliziumsubstrates
kann entweder eine isotropische Ätztechnik verwendet
werden mit einem Ätzmittel, das aus einer Lösung aus
Flourwasserstoffsäure und Salpetersäure besteht oder
eine anisotrope Ätztechnik, bei der eine Lösung aus
Ethylendiamin-Pyrokatechin-Wasser verwendet wird.
Obwohl in dem oben beschriebenen Ausführungsbeispiel
derjenige Bereich des Substrates 1, der dem Heizwiderstand
4 und dessen Umgebung entspricht, mittels einer
Ätztechnik entfernt wurde, kann natürlich auch der Teil
des Substrates 1 entfernt werden, der dem Fluidtemperatur-
Meßwiderstand 5 und dessen Umgebung entspricht oder
auch Teile des Substrates 1, die beiden Widerstände 4
und 5 und deren Umgebung entspricht. In der Tat wird
die Entfernung von Teilen des Substrates, die beiden
Widerständen 4 und 5 und deren Umgebung entspricht,
bevorzugt, da der thermische Isolationseffekt hierdurch
verbessert wird und damit auch eine schnelle thermische
Meßantwort.
Der resultierende Chip des thermischen Durchflußmessers
ist sehr klein und hat eine Größe von nur einigen Millimetern,
so daß er in Wafer-Technik hergestellt werden
kann, bei dem mehrere Chips gleichzeitig produziert
werden. Ein durch Schneiden des Wafers erhaltener Chip
wird dann auf einer (nicht dargestellten) Stützplatte
befestigt und mit den notwendigen Elementen mit Leitungen
verbunden, womit man dann den thermischen Durchflußmesser
gemäß Fig. 3 erhält.
Fig. 3 zeigt einen Durchflußmesser mit den beschriebenen
Heiz- und Fluidtemperatur-Meßwiderständen, wobei
der Fluidtemperatur-Meßwiderstand 6 und der Heizwiderstand
7 in einem Durchflußweg 10 angeordnet sind, durch
welchen das Fluid in Richtung der Pfeile fließt. Der
Fluidtemperatur-Meßwiderstand 6 ist stromaufwärts zum
Heizwiderstand 7 angeordnet. Der Fluidtemperatur-Meßwiderstand
6 und der Heizwiderstand 7 sind mit elektrischen
Widerstandselementen 8 bzw. 9 in einer Brückenschaltung
verbunden. Der Verbindungspunkt zwischen
den Widerstandselementen 8 und 9 ist geerdet. Die
Brückenschaltung ist mit einem Rückkopplungsschaltkreis
verbunden, in welchem die Potentialdifferenz
zwischen einem Brückenzweig (zusammengesetzt aus dem
Temperaturmeßwiderstand 6 und dem Widerstandselement
8) und der andere Brückenzweig (zusammengesetzt aus dem
Temperaturmeßwiderstand 7 und dem elektrischen Widerstandselement
9) mit einem Differentialverstärker 11 verstärkt
werden. Das Ausgangssignal des Differentialverstärkers
11 steuert das Basispotential eines Transistors
12, dessen Emitter mit dem gemeinsamen Verbindungspunkt
des Fluidtemperatur-Meßwiderstandes 6 und
des Heizwiderstandes 7 verbunden ist, womit der Transistor
getrieben wird. Sowohl der Fluidtemperatur-Meßwiderstand
6 als auch der Heizwiderstand 7 werden durch
den Rückkopplungsschaltkreis gesteuert, so daß die
Temperaturdifferenz zwischen dem Widerstand 6 und dem
Widerstand 7 unabhängig von Temperaturänderungen des
Fluides auf einem festen Wert gehalten werden kann.
Das Fluid kann hierbei beispielsweise ein Öl, ein
chemisches Reagens, ein Gas etc. sein, das durch den
Strömungsweg 10 fließt.
Wenn der Transistor 12 eingeschaltet ist, wird elektrischer
Strom von einem Eingangsanschluß 13 zu dem
Heizwiderstand 7 geleitet, so daß in letzterem Wärme
erzeugt wird.
Will man die Durchflußrate auch dann bestimmen, wenn
sich die Temperatur des Fluides ändert, so ist - wie
in Fig. 3 gezeigt - der Fluidtemperatur-Meßwiderstand
6 stromaufwärts zum Heizwiderstand 7 in einer Brückenschaltung
anzuordnen, so daß die Temperatur des Fluides
gemessen wird. Dabei wird der zum Heizwiderstand 7 zugeführte
elektrische Strom durch den Rückkopplungsschaltkreis
so gesteuert, daß die Temperaturdifferenz
zwischen dem Fluid und dem Heizwiderstand konstant gehalten
wird. Wird die Temperaturdifferenz in der beschriebenen
Weise auf einem konstanten Wert gehalten,
so kann unabhängig von der Wärmekapazität des Heizwiderstandes
eine schnelle Meßantwort auf Änderungen
der Durchflußrate erhalten werden. Hält man die Temperaturdifferenz
auf einem hohen Wert, so kann der Ausgang
(Signalausgang) des Durchflußmessers vergrößert
werden.
Ein anderer Durchflußmesser nach der Erfindung kann in
gleicher Weise wie im Ausführungsbeispiel 1 hergestellt
werden mit Ausnahme, daß der isolierende Film aus einer
Paste ist.
Auf einem Siliziumsubstrat wird eine Glaspaste oder
ähnliches, die eine ausgezeichnete elektrische Isolationsfähigkeit
hat, mittels einer Filmauftragetechnik
wie z. B. Siebdrucken, Drall-Auftragen (spin-coating),
Aufsprühen etc. aufgetragen, sodann getrocknet und gesintert,
womit man den isolierenden Film 2 erhält. Das
für den isolierenden Film dabei verwendete Material
muß nicht unbedingt eine Glaspaste sein. Es kann auch
eine dielektrische Paste, eine keramische Paste etc.
sein. Wünschenswert ist es, daß der thermische Ausdehnungskoeffizient
dieses pastösen Materiales möglichst
nahe bei dem des Siliziumsubstrates 1 liegt, so daß
(mechanische) Spannungen des isolierenden Filmes minimiert
werden, womit man eine feste Bindung des isolierenden
Filmes an das Substrat erhält.
Um den Effekt der thermischen Isolierung des isolierenden
Filmes zu verbessern, wird vorzugsweise pastöses
Material mit einer sehr geringen thermischen Leitfähigkeit
verwendet. Die Dicke des isolierenden Filmes soll
sehr klein sein, um seine thermische Kapazität zu verringern
und den Effekt der thermischen Isolierung zu
vergrößern. Allerdings haben extrem dünne Filme wieder
den Nachteil geringer mechanischer Festigkeit, so daß
die Dicke des Filmes in der Größenordnung von vorzugsweise
1 µm bis einige 10 µm liegen sollte.
Sodann wird ein dünner Metallfilm 3 aus Platin oder
ähnlichem mit einem hohen Widerstands-/Temperatur-
Koeffizienten auf dem isolierenden Film 2 mittels
Vakuumdampfabscheidetechnik, Aufsprühtechnik etc. aufgebracht.
Danach folgt die Musterbildung des dünnen
Metallfilmes 3 in gleicher Weise wie im Ausführungsbeispiel 1. Damit erhält man den Heizwiderstand 4 und
den Fluidtemperatur-Meßwiderstand 5 in einem vorgegebenen
Abstand auf dem isolierenden Film 2. Danach wird
die Diaphragma- bzw. Membranstruktur in dem Abschnitt
des Substrates 1 gebildet, der mindestens einem der
beiden Widerstände 4 und 5 und deren Umgebung entspricht
und zwar in gleicher Weise wie im Ausführungsbeispiel 1
beschrieben, womit man den thermischen Durchflußsensor
erhält. Als Ätzprozeß für das Siliziumsubstrat
kann entweder eine anisotrope Ätztechnik mit
einem Ätzmittel wie z. B. einem System von Äthylendiamin-
pyrokatechol-Wasser, eine wässrige Lösung aus
Kaliumhydroxid oder ähnliches verwendet werden, wobei
darauf zu achten ist, daß die Glaspaste damit nicht
geätzt wird.
Der fertige Durchflußmesser arbeitet dann in gleicher
Weise wie der des Ausführungsbeispieles 1 (vgl. auch
Fig. 3).
Es sei darauf hingewiesen, daß verschiedene Modifikationen
von einem Fachmann durchgeführt werden können,
ohne daß der Schutzumfang und das Wesen der Erfindung
verlassen werden. Entsprechend sei darauf hingewiesen,
daß der Schutzumfang der Patentansprüche nicht durch
die obige Beschreibung eingeschränkt wird und daß die
Patentansprüche alle patentfähigen Merkmale der vorliegenden
Erfindung enthalten, einschließlich all
diejenigen Merkmale, die vom Fachmann des vorliegenden
Gebietes als Äquivalente angesehen werden.
Claims (5)
1. Thermischer Durchflußmesser mit einem Substrat und
darauf je einem Heizwiderstand und einem Temperaturmeßwiderstand,
dadurch gekennzeichnet,
daß unmittelbar auf dem Substrat (1) ein elektrisch
isolierender Film (2) aufgebracht ist, daß
das Substrat (1) und der Film (2) beide ätzbar
sind, jedoch unterschiedliche Ätzcharakteristiken
bzw. Ätzeigenschaften haben, daß der Heizwiderstand
(4) und der Temperaturmeßwiderstand (5) in
einem Abstand zueinander auf dem Film (2) aufgebracht
sind und daß ein Abschnitt (100) des Substrates,
der mindestens einem der beiden Widerstände
(4 oder 5) und dessen Umgebung entspricht,
weggeätzt ist.
2. Thermischer Durchflußmesser nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß das Substrat (1) aus
Silizium ist.
3. Thermischer Durchflußmesser nach Anspruch 1 oder
2, dadurch gekennzeichnet, daß der isolierende
Film (2) ein einschichtiger oder ein mehrschichtiger
Film ist, wobei er aus Aluminium und/oder
Zirkon und/oder Stickstoffsilicid und/oder Siliziumoxid
ist.
4. Thermischer Durchflußmesser nach Anspruch 1 oder
2, dadurch gekennzeichnet, daß der isolierende
Film aus einer isolierenden Paste (2) hergestellt
ist.
5. Thermischer Durchflußmesser nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß der Heizwiderstand (4)
und der Fluidtemperatur-Meßwiderstand (5) aus
Platin und/oder Nickel und/oder einer Nickellegierung
und/oder einem Thermistormaterial sind.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60183611A JPS6243522A (ja) | 1985-08-20 | 1985-08-20 | 流量センサ |
JP60185100A JPS6244627A (ja) | 1985-08-22 | 1985-08-22 | 流量センサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3628017A1 true DE3628017A1 (de) | 1987-03-05 |
DE3628017C2 DE3628017C2 (de) | 1988-12-29 |
Family
ID=26501975
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3628017A Granted DE3628017A1 (de) | 1985-08-20 | 1986-08-19 | Thermischer durchflusssensor |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5108193A (de) |
DE (1) | DE3628017A1 (de) |
GB (1) | GB2179748B (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1989005963A1 (en) * | 1987-12-23 | 1989-06-29 | Siemens Aktiengesellschaft | Silicon-based mass airflow sensor |
DE19601592C1 (de) * | 1996-01-18 | 1997-05-07 | Bosch Gmbh Robert | Sensor und Verfahren zur Herstellung eines Sensors |
DE19860725A1 (de) * | 1998-12-30 | 2000-08-17 | Abb Patent Gmbh | Verfahren zur Durchflußmessung mit einer Heißfilmanemometeranordnung |
Families Citing this family (34)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE69129104T2 (de) * | 1990-12-14 | 1998-11-19 | Anritsu Corp | Fühlvorrichtung zur messung des charakteristischen wertes eines zu messenden elementes unter verwendung der veränderungen des thermischen widerstands |
JP2846518B2 (ja) * | 1992-03-18 | 1999-01-13 | 株式会社日立製作所 | 空気流量検出器及びそれを使用したエンジン制御装置 |
US5419190A (en) * | 1992-08-03 | 1995-05-30 | Thermal Instrument Co. | Apparatus and method for measurement of mass flow rates in a large conduit |
US5392647A (en) * | 1993-06-07 | 1995-02-28 | Ricoh Seiki Company, Ltd. | Flow sensor |
US5441343A (en) * | 1993-09-27 | 1995-08-15 | Topometrix Corporation | Thermal sensing scanning probe microscope and method for measurement of thermal parameters of a specimen |
US5786744A (en) * | 1994-03-24 | 1998-07-28 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Hybrid sensor |
US5461910A (en) * | 1994-06-16 | 1995-10-31 | Alnor Instrument Company | Fluid flow direction and velocity monitor |
US5557972A (en) * | 1994-09-13 | 1996-09-24 | Teledyne Industries, Inc. | Miniature silicon based thermal vacuum sensor and method of measuring vacuum pressures |
US5753815A (en) * | 1994-11-17 | 1998-05-19 | Ricoh Company, Ltd. | Thermo-sensitive flow sensor for measuring flow velocity and flow rate of a gas |
JP3282773B2 (ja) * | 1994-12-12 | 2002-05-20 | 東京瓦斯株式会社 | 熱式流量計 |
DE19512111C2 (de) * | 1995-04-03 | 1999-01-07 | Ifm Electronic Gmbh | Wärmeübergangskontroll- und/oder -meßgerät |
NO951427D0 (no) * | 1995-04-11 | 1995-04-11 | Ngoc Minh Dinh | Fremgangsmåte og anordning for måling av mönster i en delvis varmeledende overflate |
US5709470A (en) * | 1995-07-10 | 1998-01-20 | Cnc Development, Inc. | Method and apparatus for detecting ice buildup |
AT2267U1 (de) * | 1997-02-04 | 1998-07-27 | E & E Elektronik Gmbh | Heissfilmanemometer sowie verfahren zu seiner herstellung |
DE19710559A1 (de) * | 1997-03-14 | 1998-09-17 | Bosch Gmbh Robert | Sensor mit einem Dünnfilmelement |
US6032527A (en) * | 1998-07-01 | 2000-03-07 | Memsys, Inc. | Solid state microanemometer |
US6447520B1 (en) * | 2001-03-19 | 2002-09-10 | Advanced Medical Optics, Inc. | IOL insertion apparatus with IOL engagement structure and method for using same |
US6257354B1 (en) | 1998-11-20 | 2001-07-10 | Baker Hughes Incorporated | Drilling fluid flow monitoring system |
JP2000343702A (ja) * | 1999-06-04 | 2000-12-12 | Canon Inc | 液体吐出ヘッド及び該液体吐出ヘッドを用いた液体吐出装置 |
DE10065723A1 (de) * | 2000-12-29 | 2002-07-04 | Bosch Gmbh Robert | Anordnung zur Temperaturmessung und -regelung |
DE10222616A1 (de) * | 2002-05-17 | 2003-12-04 | Univ Albert Ludwigs Freiburg | Fingerabdruck-Verifikationsmodul |
US6796172B2 (en) * | 2002-07-31 | 2004-09-28 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Flow sensor |
US6871535B2 (en) | 2002-08-14 | 2005-03-29 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Flow direction detector |
US7131766B2 (en) * | 2003-07-16 | 2006-11-07 | Delphi Technologies, Inc. | Temperature sensor apparatus and method |
US7481213B2 (en) * | 2004-02-11 | 2009-01-27 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Medicament dispenser |
US7467630B2 (en) * | 2004-02-11 | 2008-12-23 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Medicament dispenser |
DE102004051113B4 (de) * | 2004-10-21 | 2006-11-30 | X-Fab Semiconductor Foundries Ag | Verfahren und Messanordnung zur elektrischen Ermittlung der Dicke von Halbleitermembranen durch Energieeintrag |
US20060159091A1 (en) * | 2005-01-19 | 2006-07-20 | Arjen Boers | Active multicast information protocol |
WO2007034240A2 (en) * | 2005-09-20 | 2007-03-29 | Bae Systems Plc | Sensor device with backside contacts |
EP2037234A1 (de) * | 2007-09-14 | 2009-03-18 | General Electric Company | Flüssigkeitsdetektor |
KR101144808B1 (ko) * | 2008-09-01 | 2012-05-11 | 엘지전자 주식회사 | 박막형 태양전지 제조방법 및 이를 이용한 박막형 태양전지 |
RU2451295C1 (ru) * | 2010-12-28 | 2012-05-20 | Общество с ограниченной ответственностью "МЭМС-РЕЗЕРВ" | Термоанемометр и способ его изготовления |
RU2509995C1 (ru) * | 2012-07-10 | 2014-03-20 | федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский университет "МИЭТ" (Национальный исследовательский университет МИЭТ) | Мембранный термоанемометр |
RU2548612C2 (ru) * | 2013-08-05 | 2015-04-20 | Федеральное государственное унитарное предприятие "Центральный аэрогидродинамический институт имени профессора Н.Е. Жуковского" (ФГУП "ЦАГИ") | Способ изготовления термоанемометра (варианты) |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2527505A1 (de) * | 1974-06-28 | 1976-01-15 | Rca Corp | Durchflussmessumformer |
DE2302615B2 (de) * | 1973-01-19 | 1976-02-12 | Schmidt, Dieter W., Dipl.-Phys. Dr.; Wagner, Wolfgang J., Dipl.-Phys. Dr.; 3400 Göttingen | Temperaturabhaengiger elektrischer widerstand und verfahren zu seiner herstellung |
DE2919433A1 (de) * | 1979-05-15 | 1980-12-04 | Bosch Gmbh Robert | Messonde zur messung der masse und/oder temperatur eines stroemenden mediums und verfahren zu ihrer herstellung |
DE3327653A1 (de) * | 1982-08-16 | 1984-02-16 | VEB Geräte- und Regler-Werke Teltow, DDR 1530 Teltow | Widerstandsstruktur auf einem siliziumchip fuer einen multisensor |
EP0137687A1 (de) * | 1983-08-26 | 1985-04-17 | Innovus | Thermischer Massendurchflussmesser |
DE3430075A1 (de) * | 1984-08-16 | 1986-02-27 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Verfahren zum herstellen einer messsonde zur verwendung bei der messung der temperatur oder masse eines stroemenden mediums |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2527739C3 (de) * | 1975-06-21 | 1978-08-31 | W.C. Heraeus Gmbh, 6450 Hanau | Verfahren zur Herstellung eines elektrischen Meßwiderstandes für ein Widerstandsthermometer |
DE2925975A1 (de) * | 1979-06-27 | 1981-01-15 | Siemens Ag | Mengendurchflussmesser |
DE3029446A1 (de) * | 1980-08-02 | 1982-03-11 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Duennschichtanordnung |
DE3138910A1 (de) * | 1981-09-30 | 1983-04-14 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Mengendurchflussmesser |
US4478077A (en) * | 1982-09-30 | 1984-10-23 | Honeywell Inc. | Flow sensor |
GB8301666D0 (en) * | 1983-01-21 | 1983-02-23 | Hotfoil Ltd | Temperature sensor |
JPS6013220A (ja) * | 1983-07-04 | 1985-01-23 | Esutetsuku:Kk | ガス流量センサ−及びその製造方法 |
JPS60243549A (ja) * | 1984-05-05 | 1985-12-03 | ゲゼルシヤフト、フユール、ゲレーテバウ、ミツト、ベシユレンクテル、ハフツング | ガスの触媒燃焼用のセンサの製造方法 |
DE3417305A1 (de) * | 1984-05-10 | 1985-11-14 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Vorrichtung zur messung der masse eines stroemenden mediums |
US4594889A (en) * | 1984-12-06 | 1986-06-17 | Ford Motor Company | Mass airflow sensor |
JPS61178614A (ja) * | 1985-02-02 | 1986-08-11 | Nippon Soken Inc | 直熱型流量センサ |
DE3604202C2 (de) * | 1985-02-14 | 1997-01-09 | Nippon Denso Co | Direkt beheizte Strömungsmeßvorrichtung |
JPS61194317A (ja) * | 1985-02-25 | 1986-08-28 | Nippon Soken Inc | 直熱型流量センサ |
-
1979
- 1979-08-23 GB GB8619623A patent/GB2179748B/en not_active Expired
-
1986
- 1986-08-19 DE DE3628017A patent/DE3628017A1/de active Granted
-
1991
- 1991-01-23 US US07/644,735 patent/US5108193A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2302615B2 (de) * | 1973-01-19 | 1976-02-12 | Schmidt, Dieter W., Dipl.-Phys. Dr.; Wagner, Wolfgang J., Dipl.-Phys. Dr.; 3400 Göttingen | Temperaturabhaengiger elektrischer widerstand und verfahren zu seiner herstellung |
DE2527505A1 (de) * | 1974-06-28 | 1976-01-15 | Rca Corp | Durchflussmessumformer |
DE2919433A1 (de) * | 1979-05-15 | 1980-12-04 | Bosch Gmbh Robert | Messonde zur messung der masse und/oder temperatur eines stroemenden mediums und verfahren zu ihrer herstellung |
DE3327653A1 (de) * | 1982-08-16 | 1984-02-16 | VEB Geräte- und Regler-Werke Teltow, DDR 1530 Teltow | Widerstandsstruktur auf einem siliziumchip fuer einen multisensor |
EP0137687A1 (de) * | 1983-08-26 | 1985-04-17 | Innovus | Thermischer Massendurchflussmesser |
DE3430075A1 (de) * | 1984-08-16 | 1986-02-27 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Verfahren zum herstellen einer messsonde zur verwendung bei der messung der temperatur oder masse eines stroemenden mediums |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1989005963A1 (en) * | 1987-12-23 | 1989-06-29 | Siemens Aktiengesellschaft | Silicon-based mass airflow sensor |
DE19601592C1 (de) * | 1996-01-18 | 1997-05-07 | Bosch Gmbh Robert | Sensor und Verfahren zur Herstellung eines Sensors |
US6259350B1 (en) | 1996-01-18 | 2001-07-10 | Robert Bosch Gmbh | Sensor and method for manufacturing a sensor |
DE19860725A1 (de) * | 1998-12-30 | 2000-08-17 | Abb Patent Gmbh | Verfahren zur Durchflußmessung mit einer Heißfilmanemometeranordnung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2179748A (en) | 1987-03-11 |
US5108193A (en) | 1992-04-28 |
GB2179748B (en) | 1989-09-06 |
DE3628017C2 (de) | 1988-12-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3628017A1 (de) | Thermischer durchflusssensor | |
DE3856076T2 (de) | Nachweis von flüssigkeitsströmungen | |
DE3877795T2 (de) | Stroemungssensor. | |
DE19527861B4 (de) | Massenflusssensor sowie Verfahren zur Herstellung | |
DE69830345T2 (de) | Thermische druchflussmessung oder messung anderer eigenschaften eines fluids durch bestimmung einer frequenz | |
DE69513749T2 (de) | Thermischer Mikrodurchflusssensor und sein Herstellungsverfahren | |
DE3854124T2 (de) | Wärmeflussmessgerät. | |
DE68919870T2 (de) | Integrierte Dünnschichtmembrane. | |
DE10035665B4 (de) | Heizelement-Luftmassenmesser und Brennkraftmaschinensteuervorrichtung zur Verwendung desselben | |
DE19746692C2 (de) | Flußratenmeßelement und ein dieses verwendender Flußratensensor | |
DE19751101A1 (de) | Wärmeempfindliches Flussratenmesselement und dieses verwendender Flussratensensor | |
DE68914464T2 (de) | Metallisierungssysteme für heiz-/sensorelemente. | |
DE19942675B4 (de) | Strömungssensor | |
DE69528218T2 (de) | Flüssigkeitseigenschaftsfühler mit metallplattierten Ringen für verbessertes Packaging | |
DE68926554T2 (de) | Durchflussensor | |
DE3627465A1 (de) | Direkt-beheizte stroemungsmessvorrichtung | |
WO2003027654A2 (de) | Sensorbaustein mit einem sensorelement, das von einem heizelement umgeben ist | |
DE10063070B4 (de) | Flußsensor des Wärmeerzeugungstyps | |
EP0629862A1 (de) | Vorrichtung zur Messung einer radialen Gas- oder Flüssigkeitsströmung mit einer Wheatstone-Brücke von vier temperaturempfindlichen Widerständen | |
DE10001347B4 (de) | Wärmeempfindlicher Durchsatzsensor | |
DE19945168A1 (de) | Thermoempfindlicher Flussratensensor und Herstellungsverfahren dafür | |
DE4439222C2 (de) | Massenflußsensor mit Druckkompensation | |
DE4008150A1 (de) | Katalytischer gassensor | |
EP1248968B1 (de) | Anordnung zur temperaturmessung und -regelung | |
DE10232651B4 (de) | Flusssensor |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8363 | Opposition against the patent | ||
8331 | Complete revocation |