DE3613012A1 - Verfahren zur herstellung eines sic-einkristall-substrats - Google Patents
Verfahren zur herstellung eines sic-einkristall-substratsInfo
- Publication number
- DE3613012A1 DE3613012A1 DE19863613012 DE3613012A DE3613012A1 DE 3613012 A1 DE3613012 A1 DE 3613012A1 DE 19863613012 DE19863613012 DE 19863613012 DE 3613012 A DE3613012 A DE 3613012A DE 3613012 A1 DE3613012 A1 DE 3613012A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- single crystal
- sic single
- substrate
- sic
- silicon carbide
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B25/00—Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
- C30B25/02—Epitaxial-layer growth
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B29/00—Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
- C30B29/10—Inorganic compounds or compositions
- C30B29/36—Carbides
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60084237A JPS61243000A (ja) | 1985-04-18 | 1985-04-18 | 炭化珪素単結晶基板の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE3613012A1 true DE3613012A1 (de) | 1986-11-06 |
| DE3613012C2 DE3613012C2 (enrdf_load_stackoverflow) | 1991-01-10 |
Family
ID=13824861
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19863613012 Granted DE3613012A1 (de) | 1985-04-18 | 1986-04-17 | Verfahren zur herstellung eines sic-einkristall-substrats |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61243000A (enrdf_load_stackoverflow) |
| DE (1) | DE3613012A1 (enrdf_load_stackoverflow) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3915053A1 (de) * | 1989-05-08 | 1990-11-15 | Siemens Ag | Verfahren zum herstellen von einkristallinem siliziumkarbid sic |
| DE4109005C1 (enrdf_load_stackoverflow) * | 1991-03-19 | 1992-09-10 | Cs Halbleiter- Und Solartechnologie Gmbh, 8000 Muenchen, De | |
| DE4234508A1 (de) * | 1992-10-13 | 1994-04-14 | Cs Halbleiter Solartech | Verfahren zur Herstellung eines Wafers mit einer monokristallinen Siliciumcarbidschicht |
| US5492752A (en) * | 1992-12-07 | 1996-02-20 | Oregon Graduate Institute Of Science And Technology | Substrates for the growth of 3C-silicon carbide |
| DE102015115961B4 (de) * | 2014-09-22 | 2021-02-18 | Sumco Corporation | Verfahren zur Herstellung eines einkristallinen SiC-Wafers |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5093576A (en) * | 1991-03-15 | 1992-03-03 | Cree Research | High sensitivity ultraviolet radiation detector |
| DE4121798A1 (de) * | 1991-07-02 | 1993-01-14 | Daimler Benz Ag | Mehrschichtige, monokristallines siliziumkarbid enthaltene zusammensetzung |
| US6110279A (en) * | 1996-03-29 | 2000-08-29 | Denso Corporation | Method of producing single-crystal silicon carbide |
| CN103628140B (zh) * | 2013-10-09 | 2016-08-17 | 东莞市天域半导体科技有限公司 | 一种超高温双层水冷石英管真空室用双密封结构 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1915549B2 (de) * | 1968-03-28 | 1976-03-04 | International Business Machines Corp., Armonk, N.Y. (V.St.A.) | Verfahren zum epitaktischen aufwachsen von siliciumcarbidschichten |
| DE3415799A1 (de) * | 1983-04-28 | 1984-10-31 | Sharp K.K., Osaka | Verfahren zur herstellung eines einkristall-substrats aus siliziumcarbid |
| DE3446956A1 (de) * | 1983-12-29 | 1985-07-11 | Sharp K.K., Osaka | Verfahren zum herstellen eines einkristall-substrates aus siliciumcarbid |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5443200A (en) * | 1977-09-13 | 1979-04-05 | Sharp Corp | Production of silicon carbide substrate |
-
1985
- 1985-04-18 JP JP60084237A patent/JPS61243000A/ja active Pending
-
1986
- 1986-04-17 DE DE19863613012 patent/DE3613012A1/de active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1915549B2 (de) * | 1968-03-28 | 1976-03-04 | International Business Machines Corp., Armonk, N.Y. (V.St.A.) | Verfahren zum epitaktischen aufwachsen von siliciumcarbidschichten |
| DE3415799A1 (de) * | 1983-04-28 | 1984-10-31 | Sharp K.K., Osaka | Verfahren zur herstellung eines einkristall-substrats aus siliziumcarbid |
| DE3446956A1 (de) * | 1983-12-29 | 1985-07-11 | Sharp K.K., Osaka | Verfahren zum herstellen eines einkristall-substrates aus siliciumcarbid |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| NL-Z: J. Crystal Growth, 70, 1984, 287-290 * |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3915053A1 (de) * | 1989-05-08 | 1990-11-15 | Siemens Ag | Verfahren zum herstellen von einkristallinem siliziumkarbid sic |
| DE4109005C1 (enrdf_load_stackoverflow) * | 1991-03-19 | 1992-09-10 | Cs Halbleiter- Und Solartechnologie Gmbh, 8000 Muenchen, De | |
| EP0504712A1 (de) * | 1991-03-19 | 1992-09-23 | Cs Halbleiter-Und Solartechnologie Gmbh | Verfahren zur Herstellung einer monokristallinen Siliciumcarbid-Schicht |
| DE4234508A1 (de) * | 1992-10-13 | 1994-04-14 | Cs Halbleiter Solartech | Verfahren zur Herstellung eines Wafers mit einer monokristallinen Siliciumcarbidschicht |
| US5471946A (en) * | 1992-10-13 | 1995-12-05 | Cs Halbleiter-Und Solartechnologie Gmbh | Method for producing a wafer with a monocrystalline silicon carbide layer |
| US5492752A (en) * | 1992-12-07 | 1996-02-20 | Oregon Graduate Institute Of Science And Technology | Substrates for the growth of 3C-silicon carbide |
| US5653798A (en) * | 1992-12-07 | 1997-08-05 | Oregon Graduate Institute Of Science And Technology | Method of making substrates for the growth of 3C-silicon carbide |
| DE102015115961B4 (de) * | 2014-09-22 | 2021-02-18 | Sumco Corporation | Verfahren zur Herstellung eines einkristallinen SiC-Wafers |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3613012C2 (enrdf_load_stackoverflow) | 1991-01-10 |
| JPS61243000A (ja) | 1986-10-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE3446956C2 (enrdf_load_stackoverflow) | ||
| DE3620329C2 (enrdf_load_stackoverflow) | ||
| DE3415799C2 (enrdf_load_stackoverflow) | ||
| DE3856278T2 (de) | Monokristallines Dünnschichtsubstrat | |
| DE69509678T3 (de) | Epitaktische züchtung von siliciumcarbid und so hergestellte siliciumcarbidstrukturen | |
| DE60101069T2 (de) | Siliziumkarbid und Verfahren zu seiner Herstellung | |
| DE10247017B4 (de) | SiC-Einkristall, Verfahren zur Herstellung eines SiC-Einkristalls, SiC-Wafer mit einem Epitaxiefilm und Verfahren zur Herstellung eines SiC-Wafers, der einen Epitaxiefilm aufweist | |
| DE3786148T2 (de) | Verfahren zur hetero-epitaktischen zuechtung. | |
| DE602004001802T3 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung von Einkristallen durch Dampfphasenabscheidung | |
| DE112009000360B4 (de) | Verfahren zum Wachsen eines Siliziumkarbideinkristalls | |
| DE69811824T2 (de) | SiC-Einkristall und Verfahren zu seiner Herstellung | |
| DE112010000867B4 (de) | Herstellungsverfahren für SiC-Einkristall vom n-Typ, dadurch erhaltener SiC-Einkristall vom n-Typ und dessen Anwendung | |
| DE2549738A1 (de) | Verfahren zur herstellung von lichtemittierenden dioden | |
| DE3613012A1 (de) | Verfahren zur herstellung eines sic-einkristall-substrats | |
| DE60025502T2 (de) | Sic-einkristall und herstellungsverfahren dafür | |
| DE2100692A1 (de) | Verfahren zum Herstellen einer epitaxisch gewachsenen Schicht eines GaAs tief 1 χ P tief χ Halbleitermaterial | |
| DE10313315A1 (de) | Verfahren zum Herstellen eines III-V-Verbundhalbleiters | |
| DE69906129T2 (de) | Grossflächige einkristalline monoatomschicht aus kohlenstoff vom diamant-typ und verfahren zu ihrer herstellung | |
| DE102019119200A1 (de) | Filmbildungsverfahren und Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung | |
| EP1805354B1 (de) | Verfahren zur herstellung von gruppe-iii-nitrid- volumenkristallen oder -kristallschichten aus metallschmelzen | |
| DE10034263A1 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Quasisubstrats | |
| DE3613021C2 (de) | SiC-Einkristall-Halbleiter und Verfahren zu seiner Herstellung | |
| DE69005323T2 (de) | Epitaktische Abscheidung durch MOCVD bei niedrigem Druck. | |
| DE1419717B2 (enrdf_load_stackoverflow) | ||
| EP1155170B1 (de) | Verfahren zur herstellung von nitrid-einkristallen |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
| D2 | Grant after examination | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |