DE3586211T2 - Spektrophotometer fuer mehrere wellenlaengen. - Google Patents
Spektrophotometer fuer mehrere wellenlaengen.Info
- Publication number
- DE3586211T2 DE3586211T2 DE8585102785T DE3586211T DE3586211T2 DE 3586211 T2 DE3586211 T2 DE 3586211T2 DE 8585102785 T DE8585102785 T DE 8585102785T DE 3586211 T DE3586211 T DE 3586211T DE 3586211 T2 DE3586211 T2 DE 3586211T2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- wavelength range
- detector device
- light detector
- light
- channel
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims description 8
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 claims description 5
- YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N Deuterium Chemical compound [2H] YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052805 deuterium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 238000004811 liquid chromatography Methods 0.000 claims description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 7
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 4
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2803—Investigating the spectrum using photoelectric array detector
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
- Die vorliegende Erfindung betrifft ein Mehrfachwellenlängen-Spektrophotometer, insbesondere für Flüssigchromatographie, und genauer gesagt ein Mehrfachwellenlängen-Spektrophotometer, das Wellenlängen eines Spektrums gleichzeitig überwacht.
- Bei Mehrfachwellenlängen-Spektrophotometern ist die Empfindlichkeit oder das Signal zu Rausch Verhältnis (S/N-Verhältnis) schlechter als jenes eines Einfachwellenlängen-Spektrophotometers, weil die Empfindlichkeit eines Mehrkanal-Lichtdetektors, der durch eine Photodiodenanordnung gebildet ist, die bei dem Mehrfachwellenlängen-Spektrophotometer benutzt wird, schlechter ist als jene eines Einzelkanal-Lichtdetektors, der durch eine einzelne Photodiode oder einen Photovervielfacher (Photomultiplier) gebildet ist, die bei dem Einfachwellenlängen-Spektrophotometer benutzt sind, und zwar aufgrund von Schnittstellendefekten zwischen benachbarten Photodioden in der Photodiodenanordnung des Mehrkanal- Lichtdetektors. Das S/N-Verhältnis des Mehrfachwellenlängen-Spektrophotometers ist insbesondere sehr niedrig in dem Wellenlängenbereich niedriger Intensität einer Lichtquelle. Einige bekannte Mehrfachwellenlängen-Spektrophotometer, die beispielsweise in Analytical Chemistry, Band 55, Nr. 8, Juli 1983, Seiten 836A, 838A und 842A beschrieben sind, bieten die folgenden Lösungen zum Reduzieren dieses Nachteils.
- Ein bekanntes Spektrophotometer benutzt aufeinanderfolgend zwei Arten von Lichtquellen, beispielsweise eine Deuteriumlampe (D&sub2;-Lampe) für den ultravioletten Wellenlängenbereich bzw. eine Wolframlampe (W- Lampe) für den sichtbaren Wellenlängenbereich. Dieses Spektrophotometer ist jedoch sehr teuer und arbeitet sehr langsam, weil die verschiedenen Wellenlängen nicht gleichzeitig sondern nur aufeinanderfolgend gemessen werden können.
- Ein weiteres bekanntes Spektrophotometer, das eine D&sub2;-Lampe benutzt, reduziert das S/N-Verhältnis in dem sichtbaren Wellenlängenbereich durch eine Datenverarbeitung, die "Wellenlängenbündelung" genannt wird, was eine Integration aller Signale zwischen zwei voreingestellten Wellenlängen ist. Hierdurch wird die Wellenlängen-Auflösung jedoch verschlechtert.
- Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, die Nachteile des bekannten Mehrfachwellenlängen-Spektrophotometers zu eliminieren und ein Mehrfachwellenlängen-Spektrophotometer mit einem hohen S/N-Verhältnis zu schaffen.
- Diese Aufgabe wird gemäß der Erfindung durch ein Mehrfachwellenlängen-Spektrophotometer gelöst, wie es im Patentanspruch 1 definiert ist.
- Das erfinderische Spektrophotometer eliminiert den zusätzlichen Aufwand einer zweiten Lichtquelle, die niedrige Betriebsgeschwindigkeit eines aufeinanderfolgend überwachenden Spektrophotometers und die niedrige Wellenlängen-Auflösung der bekannten Spektrophotometer, wie sie oben vorgestellt sind, und verbessert, das bedeutet erhöht, das S/N-Verhältnis besonders in dem Wellenlängenbereich, in dem die Lichtintensität der Lichtquelle niedrig ist.
- Vorteilhafte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend in Verbindung mit den Zeichnungsseiten beschrieben, wobei
- Fig. 1 ein Diagramm ist, das die Intensität über der Wellenlänge einer Lichtquelle zeigt, die aus einer D&sub2;-Lampe besteht,
- Fig. 2 eine diagrammäßige Ansicht des optischen Systems eines Ausführungsbeispiels des Spektrophotometers gemäß der Erfindung ist,
- Fig. 3 ein Blockdiagramm eines elektrischen Schaltkreises zum Verarbeiten der Signale von den zwei Lichtdetektoren des Spektrophotometers gemäß der Erfindung ist,
- Fig. 4 und 5 Diagramme sind, die Absorptionsspektren einer Probe zeigen, die durch den ersten und den zweiten Lichtdetektor des Spektrophotometers gemäß der Erfindung gemessen sind,
- Fig. 6 ein Diagramm ist, das von den Diagrammen der Figuren 4 und 5 abgeleitet ist, und zwar nach dem erfinderischen Durchschnittsbildungsbetrieb, und
- Fig. 7 eine diagrammäßige Ansicht eines optischen Systems eines weiteren Ausführungsbeispiels des Spektrophotometers gemäß der Erfindung ist.
- Fig. 1 zeigt ein Diagramm der Intensität über der Wellenlänge einer D&sub2;- Lampe, das durch Benutzen einer Siliziumphotodioden-Anordnung als Lichtdetektor gemessen wurde. Die Lichtintensität einer D&sub2;-Lampe ist sehr gering in dem sichtbaren Wellenlängenbereich, d. h. in dem Bereich oberhalb etwa 400 nm. Als ein Ergebnis dieser Kennlinie haben die Signale einer Probe, die beispielsweise in einem Flüssigchromatographen gemessen sind, der eine solche D&sub2;-Lampe verwendet, im allgemeinen ein niedriges S/N-Verhältnis im sichtbaren Wellenlängenbereich.
- Fig. 2 zeigt ein optisches System des Spektrophotometers, das eine Lichtquelle 1, eine Kondensorlinse 2, eine Durchflußzelle 3 und einen Monochromator umfaßt, der durch einen Eintrittsschlitz 4, ein konkaves Gitter 5 und zwei Mehrkanal-Lichtdetektoren gebildet ist, die aus zwei Siliziumphotodioden-Anordnungen 6 und 7 bestehen. Der Lichtstrahl wird durch das konkave Gitter 5 dispergiert. Normalerweise wird die Interferenz erster Ordnung in einem ersten Wellenlängenbereich gleichzeitig durch die Siliziumphotodioden-Anordnung 6 detektiert. Die Anordnung 7 detektiert gleichzeitig die Interferenz zweiter Ordnung in einem zweiten Wellenlängenbereich, der zumindest teilweise den ersten Wellenlängenbereich überlappt.
- Da die Interferenz zweiter Ordnung eine Dispersion aufweist, die das Doppelte der Interferenz erster Ordnung beträgt, und da die Photodiodenanordnung 7 eine Hälfte des Wellenlängenbereichs des durch die Photodiodenanordnung 6 detektierten Wellenlängenbereichs detektiert, kann die identische Photodiodenanordnung für beide Photodiodenanordnungen 6 und 7 benutzt werden.
- In Fig. 3 erzeugen Treiber 9 und 10 Treiberimpulse ∅&sub1;, und ∅&sub2;, die Photodiodenanordnungen 6 bzw. 7 durch entsprechende Befehlssignale von einem Prozessor 8 antreiben. Der Treiber 9 führt weiterhin einen Startimpuls SP zu der Photodiodenanordnung 6. Ein Wellenlängenabtastendimpuls (Ende der Abtastung) EOS wird von der Photodiodenanordnung 6 zu der Photodiodenanordnung 7 als ein Startimpuls für die Photodiodenanordnung 7 und von der Photodiodenanordnung 7 zu dem Prozessor 8 geführt. Die Ausgangssignale (Anordnungssignal) AS der Photodiodenanordnungen 6 und 7 werden zu einem A/D-Wandler 15 durch Verstärker 11 und 12 und Abtast- und Halteschaltkreise 13 und 14 geführt. Befehlssignale C werden auch zu dem A/D-Wandler 15 geführt. Die Ausgangssignale AS werden durch den A/D-Wandler 15 in Antwort auf die Befehlssignale C in digitale Signale gewandelt und in den Prozessor 8 gelesen.
- Fig. 4 zeigt ein Beispiel der Interferenz erster Ordnung eines Absorptionsspektrums einer Flüssigkeitsprobe, die in einem Chromatograph durch die Photodiodenanordung 6 in dem Wellenlängenbereich von 200 bis 600 nm gemessen ist. Große Rauschsignale werden in dem Wellenlängenbereich von mehr als 400 nm angezeigt, in dem die Lichtintensität der D&sub2;- Lampe niedrig ist.
- Fig. 5 zeigt ein Beispiel der Interferenz zweiter Ordnung eines Absorptionsspektrums der gleichen Flüssigkeitsprobe, die durch die Photodiodenanordnung 7 in dem Wellenlängenbereich von 400 bis 600 nm gemessen ist.
- Der Prozessor 8 führt eine Glättungs- oder Durchschnittsbildungsoperation für die Ausgangssignale der Photodiodenanordnungen 6 und 7 durch, wie es in den Figuren 4 und 5 in zwei Schritten wie folgt gezeigt ist.
- Die Ausgangssignale für die Kanäle 1, 2, 3, ..., 60 der Photodiodenanordnung 7 seien B(1), B(2), ..., B(60). Der erste Schritt der Durchschnittsbildungsoperation wird durch ein Durchschnittsbilden der Ausgangssignale zweier benachbarter Kanäle als (B(1) + B (2))/2, (B(3) + B(4))/2, ..., (B(59) + B(60))/2 erhalten. Jene erhaltenen Signale haben im wesentlichen die gleiche Wellenlängenauflösung von 6 nm wie die Ausgangssignale jedes Kanals der Photodiodenanordnung 6, wie es dem folgenden entnommen werden kann.
- Für den zweiten Schritt der Durchschnittsbildungsoperation seien die Ausgangssignale der Kanäle 1, 2, 3, ..., 60 der Photodiodenanordnung 6 A(1), A(2), A(3), ..., A(60). Die Ausgangssignale A(31), A(32), ..., A(60) zeigen die Signale des Spektrums von über 400 nm. Die Durchschnittssignale, die durch den zweiten Schritt der Durchschnittsbildungsoperation erhalten werden, sind
- Das Spektrum, das jene Signale enthält, ist in Fig. 6 gezeigt. Dieses Spektrum zeigt ein hohes S/N-Verhältnis auch in dem sichtbaren Wellenlängenbereich von 400 bis 600 nm.
- Abhängig von dem S/N-Verhältnis der Spektren in den Fig. 4 und 5 kann ein gewichtetes Durchschnittsbilden durchgeführt werden als
- Wenn das S/N-Verhältnis der Ausgangssignale der Photodiodenanordnung 6 (Fig. 4) höher als das S/N-Verhältnis der Ausgangssignale der Photodiodenanordnung 7 (Fig. 5) ist, wird ein größerer Gewichtungsfaktor k&sub1; genommen, verglichen mit dem Gewichtungsfaktor k&sub2;.
- Die obige Beschreibung betrifft die Spektrumsdaten. Im Falle des Aufzeichnens eines Chromatogramms wird eine feste Wellenlänge zur Messung benutzt.
- Fig. 7 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel der Lichtdetektoren bzw. der Photodiodenanordnungen. Das dispergierte Licht wird durch eine Photodiodenanordnung 60 detektiert, die 150 Kanäle aufweist. Die Kanäle 1 bis 60 detektieren die Interferenz erster Ordnung in dem Wellenlängenbereich von 200 bis 600 nm. Die Kanäle 61 bis 150 detektieren die Interferenz zweiter Ordnung in dem Wellenlängenbereich von 303 bis 600 nm. Aufgrund der Tatsache, daß nur eine Photodiodenanordnung 60 benutzt wird, ist nur ein Satz eines Photodiodenanordnungstreibers, eines Verstärkers und eines Abtast- und Halteschaltkreises in dem Schaltkreis der Fig. 3 notwendig.
- Bei dem ersten Ausführungsbeispiel, das in Fig. 2 gezeigt ist, kann die Photodiodenanordnung 7 angeordnet sein, eine Interferenz negativer erster Ordnung zu detektieren anstelle der Interferenz zweiter Ordnung.
- Die obige Beschreibung hat sich auf eine D&sub2;-Lampe und Silizium-Photodiodenanordnungen bezogen. Die vorliegende Erfindung kann jedoch auch auf andere Lichtquellen und/oder Detektoren, beispielsweise eine W- Lampe oder eine Mikro-Kanalplatte usw. angewendet werden.
Claims (8)
1. Mehrfachwellenlängen-Spektrophotometer, insbesondere für
Flüssigchromatographie, das aufweist: eine Lichtquelle (1), eine
Probenzelle (3), ein Gitter (5) zum Dispergieren eines Lichtstrahls von der
Lichtquelle (1) und eine Mehrkanal-Lichtdetektor-Einrichtung (6, 7;
60) zum Detektieren von Licht, das durch das Gitter (5) in einem
ersten Wellenlängenbereich dispergiert ist,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Mehrkanal-Lichtdetektor-Einrichtung (6, 7; 60) aus einem ersten
Teil (6) besteht, der angeordnet ist zum Detektieren einer
Interferenz erster Ordnung des ersten Wellenlängenbereichs, und aus
einem zweiten Teil (7), der angeordnet ist zum Detektieren von
Licht, das durch das Gitter (5) in einem zweiten
Wellenlängenbereich dispergiert ist, der zumindest teilweise den ersten
Wellenlängenbereich überlappt, wobei das durch den zweiten Teil (7)
detektierte Licht eine Interferenz aufweist, die im Vergleich zu der
Ordnung der Interferenz des durch den ersten Teil (6) detektierten
Lichts eine unterschiedliche Ordnung hat, und dadurch, daß ein
Prozessor (8) vorgesehen ist zum Ermitteln des Durchschnitts von
Ausgangssignalen in Form eines Absorptionsspektrums von sowohl
dem ersten als auch dem zweiten Teil der Mehrkanal-Lichtdetektor-
Einlichtung (6, 7; 60).
2. Spektrophotometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
der erste Teil (6) und der zweite Teil (7) der
Mehrkanal-Lichtdetektor-Einrichtung (6, 7; 60) einstückig oder getrennt ausgebildet sind.
3. Spektrophotometer nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß der zweite Teil (7) der Mehrkanal-Lichtdetektor-Einrichtung
angeordnet ist zum Detektieren des Lichts in einem
Wellenlängenbereich, in dem die Lichtintensität der Lichtquelle (1) gering ist.
4. Spektrophotometer nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß der erste Teil (6) der Mehrkanal-Lichtdetektor-
Einrichtung die Interferenz erster Ordnung detektiert, und dadurch,
daß der zweite Teil (7) der Mehrkanal-Lichtdetektor-Einrichtung die
Interferenz zweiter Ordnung detektiert.
5. Spektrophotometer nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß die Lichtquelle (1) eine Deuteriumlampe ist, der
erste Teil (6) der Mehrkanal-Lichtdetektor-Einrichtung die Interferenz
erster Ordnung der ultravioletten und sichtbaren
Wellenlängenbereiche detektiert, und der zweite Teil (7) der Mehrkanal-Lichtdetektor-
Einrichtung die Interferenz des sichtbaren Wellenlängenbereichs
detektiert.
6. Spektrophotometer nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß
der erste Teil (6) der Mehrkanal-Lichtdetektor-Einrichtung das Licht
in einem Wellenlängenbereich von 200 - 600 nm detektiert und der
zweite Teil (7) der Mehrkanal-Lichtdetektor-Einrichtung das Licht in
einem Wellenlängenbereich von 400 - 600 nm detektiert.
7. Spektrophotometer nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch
gekennzeichnet, daß das Bilden des Durchschnitts der
Ausgangssignale in Form des Absorptionsspektrums der zwei Teile (6, 7) der
Mehrkanal-Lichtdetektor-Einrichtung gemäß folgender Formel erfolgt:
wobei j eine ganze Zahl ist; i = 0, 1, 2, ...; A(j) das Ausgangssignal
einer Photodiode des ersten Teils (6), das einen vorbestimmten
Wellenlängenbereich abdeckt, B(i + 1) und B(i + 2)
Ausgangssignale zweier benachbarter Photodioden des zweiten Teils (7) sind,
die zusammen den gleichen vorbestimmten Wellenlängenbereich
abdecken; und k&sub1;, k&sub2; Gewichtsfaktoren für die Ausgangssignale A(j)
und
sind.
8. Spektrophotometer nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch
gekennzeichnet, daß jeder der zwei Teile (6, 7) der
Mehrkanal-Lichtdetektor-Einrichtung eine identische Photodiodenanordnung ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59047048A JPS60192229A (ja) | 1984-03-14 | 1984-03-14 | 多波長同時測光光度計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3586211D1 DE3586211D1 (de) | 1992-07-23 |
DE3586211T2 true DE3586211T2 (de) | 1992-12-10 |
Family
ID=12764279
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE8585102785T Expired - Lifetime DE3586211T2 (de) | 1984-03-14 | 1985-03-12 | Spektrophotometer fuer mehrere wellenlaengen. |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4715712A (de) |
EP (1) | EP0156232B1 (de) |
JP (1) | JPS60192229A (de) |
DE (1) | DE3586211T2 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010049116A1 (de) * | 2008-10-31 | 2010-05-06 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Spektrometrische anordnung und verfahren zum ermitteln eines temperaturwerts für einen detektor eines spektrometers |
Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4616134A (en) * | 1984-07-17 | 1986-10-07 | Chevron Research Company | High resolution geologic sample scanning apparatus and process of scanning geologic samples |
EP0271602A1 (de) * | 1986-12-19 | 1988-06-22 | Shimadzu Corporation | Spektroskopische Messeinrichtung |
FI875236A (fi) * | 1987-11-27 | 1989-05-28 | Outokumpu Oy | Maetningsgivare foer baerbar analysator. |
DE3811922C2 (de) * | 1988-04-09 | 1994-09-15 | Bodenseewerk Perkin Elmer Co | Atomemissions-Spektrometer |
US5014216A (en) * | 1988-07-19 | 1991-05-07 | Beckman Instruments, Inc. | Concentration determination with multiple wavelength flash photometers |
DE3833602A1 (de) * | 1988-10-03 | 1990-02-15 | Krupp Gmbh | Spektrometer zur gleichzeitigen intensitaetsmessung in verschiedenen spektralbereichen |
JPH071206B2 (ja) * | 1989-08-12 | 1995-01-11 | 新技術事業団 | 高感度多波長分光装置 |
JP3102485B2 (ja) * | 1989-10-04 | 2000-10-23 | 株式会社日立製作所 | 分光光度計 |
US5144498A (en) * | 1990-02-14 | 1992-09-01 | Hewlett-Packard Company | Variable wavelength light filter and sensor system |
US5128549A (en) * | 1990-03-30 | 1992-07-07 | Beckman Instruments, Inc. | Stray radiation compensation |
JP3476958B2 (ja) * | 1995-04-12 | 2003-12-10 | アークレイ株式会社 | 分光測定におけるスペクトルの安定化法 |
DE19814660C1 (de) * | 1998-04-01 | 1999-10-21 | Karlsruhe Forschzent | Gitterspektrometer und Verfahren zur Messung spektraler Intensitäten von weißem Licht |
JP4372314B2 (ja) * | 2000-06-21 | 2009-11-25 | 大塚電子株式会社 | スペクトル測定装置 |
US6765669B1 (en) * | 2000-10-20 | 2004-07-20 | Cme Telemetrix Inc. | Signal enhancement of spectrometers |
GB2431232B (en) * | 2005-12-14 | 2007-10-10 | Zinir Ltd | Spectrophotometer |
EP2951544A4 (de) * | 2013-02-01 | 2016-11-16 | Tornado Spectral Systems Inc | Dispersives ultrabreitbandspektrometer mit multi-backend |
CN107101721A (zh) * | 2016-02-22 | 2017-08-29 | 深圳欧谱申光电科技有限公司 | 一种跨平台的无线采集可视化的便携式地物光纤光谱仪 |
CN106568509A (zh) * | 2016-10-20 | 2017-04-19 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 一种双光路大孔径静态干涉光谱仪 |
CN107402070B (zh) * | 2017-06-02 | 2019-05-14 | 皑高森德医疗技术(北京)有限责任公司 | 一种皮肤高光谱图像采集单元及标定方法 |
CN107238437A (zh) * | 2017-06-12 | 2017-10-10 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 一种自动对焦高光谱成像仪 |
CN107202636B (zh) * | 2017-06-22 | 2019-01-22 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 一种m-z短波红外成像光谱仪 |
CN107328475B (zh) * | 2017-07-28 | 2019-01-22 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 宽带滤光光谱成像仪以及自适应直接光谱分类方法 |
CN107462329B (zh) * | 2017-07-28 | 2019-02-22 | 合肥美亚光电技术股份有限公司 | 多光谱相机、多光谱成像装置及控制方法 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3962577A (en) * | 1975-01-10 | 1976-06-08 | Itek Corporation | Electro-optic system with expanded power range |
US3973849A (en) * | 1975-06-16 | 1976-08-10 | International Business Machines Corporation | Self-calibratable spectrum analyzer |
US4060327A (en) * | 1976-09-13 | 1977-11-29 | International Business Machines Corporation | Wide band grating spectrometer |
US4253765A (en) * | 1978-02-22 | 1981-03-03 | Hitachi, Ltd. | Multi-wavelength spectrophotometer |
US4330209A (en) * | 1978-08-28 | 1982-05-18 | Nippon Kogaku K.K. | Spectrophotometer receiving a variable quantity of light |
US4357673A (en) * | 1980-04-18 | 1982-11-02 | Hewlett-Packard Company | Apparatus for performing measurements and error analysis of the measurements |
JPS5737223A (en) * | 1980-08-15 | 1982-03-01 | Hitachi Ltd | Multiwavelength spectrophotometer |
JPS5760231A (en) * | 1980-09-29 | 1982-04-12 | Hitachi Ltd | Multi-wavelength spectrometer |
JPS57139647A (en) * | 1981-02-23 | 1982-08-28 | Shimadzu Corp | Chromatograph detecting device |
DE3224736A1 (de) * | 1982-07-02 | 1984-01-05 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co GmbH, 7770 Überlingen | Gitterspektrometer |
-
1984
- 1984-03-14 JP JP59047048A patent/JPS60192229A/ja active Granted
-
1985
- 1985-03-11 US US06/710,389 patent/US4715712A/en not_active Expired - Fee Related
- 1985-03-12 DE DE8585102785T patent/DE3586211T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1985-03-12 EP EP85102785A patent/EP0156232B1/de not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010049116A1 (de) * | 2008-10-31 | 2010-05-06 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Spektrometrische anordnung und verfahren zum ermitteln eines temperaturwerts für einen detektor eines spektrometers |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0462008B2 (de) | 1992-10-02 |
US4715712A (en) | 1987-12-29 |
JPS60192229A (ja) | 1985-09-30 |
EP0156232A3 (en) | 1988-01-27 |
DE3586211D1 (de) | 1992-07-23 |
EP0156232A2 (de) | 1985-10-02 |
EP0156232B1 (de) | 1992-06-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3586211T2 (de) | Spektrophotometer fuer mehrere wellenlaengen. | |
DE2739585C2 (de) | Spektrophotometer | |
EP1754032B1 (de) | Echelle-spektrometer mit verbesserter detektorausnutzung durch die verwendung zweier spektrometeranordnungen | |
DE2642170C2 (de) | Spektrophotometer | |
EP0098423B1 (de) | Gitterspektrometer | |
DE60129247T2 (de) | Optische sensoreinrichtung und verfahren zur spektralanalyse | |
DE2747387C2 (de) | Spektralphotometer | |
DE3878687T2 (de) | Spektrometer mit fotodiodenanordnung. | |
DE2408197A1 (de) | Spektrometer | |
DE2351490B2 (de) | Blutkörperchen-Analysator | |
DE2452500A1 (de) | Spektralphotometer | |
DE2344398A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur analyse einer mehrzahl von miteinander gemischten gasen | |
CH682846A5 (de) | Optischer Detektor für Kapillarchromatographie. | |
DE69105838T2 (de) | Dispersives Spektrometer mit Vielkanaldetektion. | |
DE3927768A1 (de) | Verfahren zur konzentrationsbestimmung mittels atomemissions-spektroskopie | |
DE2417427A1 (de) | Fluoreszenz-spektralphotometer | |
DE19509822A1 (de) | Ölkonzentrations-Meßgerät | |
DE3007453A1 (de) | Spektralphotometer fuer die doppelwellenlaengen-spektrophometrie | |
DE3539977A1 (de) | Spektrofluorophotometer | |
DE69107776T2 (de) | Monochromator mit speziell geformten Spalten. | |
DE4139368A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur messung der radioaktivitaetsverteilung auf einer flaechigen probe | |
DE4031423A1 (de) | Spektralphotometer | |
DE19815080C1 (de) | Anordnung zur Erhöhung der spektralen Ortsauflösung eines Spektrometers | |
EP1561089A1 (de) | Hochempfindliche spektrometeranordnung mit eintrittsspaltarray und detektorarray | |
DE3316334C2 (de) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |