DE3522703A1 - Leiterplatte mit keramischen chip-traeger-material - Google Patents
Leiterplatte mit keramischen chip-traeger-materialInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Leiterplatte nach dem Oberbegriff des
Anspruchs 1.
Im Rahmen des rasanten Wachstums der gesamten Mikroelektronikindustrie
steigt auch der Einsatz und somit der Bedarf an integrierten und
hochintegrierten Bauelementen. Zu den wichtigsten modernen Bauelelementen
zählen die integrierten Schaltungen, die sog. IC's. Sie finden
unter anderem in allen Mikroprozessoren als Steuer- und Speichereinheiten
Verwendung und garantieren dabei schnelle Steuer- und Schaltvorgänge.
Die Anwendungsformen von IC's sind sehr unterschiedlich. Allgemein
unterscheidet man die Dual-In-Line-Packages (DIP), die Pin-Grid-Arrayes
(PGA), die Tape-Automated Bondings (TAB) und die verschiedenen
Arten
der Leaded und Leadless Chip
Carriers (LCC). Bei der letzteren
Gruppe von
Bauelementen sind besonders die Leadless Ceramic Chip
Carrier (LCCC) von großer, stetig steigender Bedeutung.
Die Gründe für die wachsende Bedeutung der LCCC's liegen in ihrer
sehr hohen Zuverlässigkeit. Gegenüber den normalen Bauelementen aus
Plastik zeigen die LCCC's eine viel höhere Temperaturbeständigkeit, auch bei
starker Temperaturbelastung. Weiterhin sind schnellere Pulsübertragungen
möglich, da sehr kurze Verbindungswege vorhanden sind.
Außerdem garantiert eine geringe Impedanz beziehungsweise Kapazität
Übertragungen mit kleineren Verlusten.
Daher gewinnt der Einsatz von LCCC's in Schaltungen für höchste Ansprüche
mit höchster Zuverlässigkeit, wie zum Beispiel in der Luftfahrt
und in der Raumfahrt stetig an Bedeutung. Der Einsatz verlangt
aber auch einen produktionstechnisch hohen Aufwand bei gleichzeitiger
Anwendung modernster Technologie.
Ein verstärkter Einsatz der LCCC's speziell bei höheren Temperaturen
wirft jedoch ein Problem auf, nämlich die unterschiedlichen Temperaturausdehnungskoeffizienten
(α) des keramischen Chip-Trägermaterials
und der herkömmlichen Polymer-Glasfaserverbundwerkstoffe. Dies wird
durch die folgenden Werte verdeutlicht:
Diese Differenz in Temperaturausdehnungskoeffizienten zeigt bei
thermischer Belastung große Auswirkungen und führt oft zu Fehlern in den
Verbindungen zwischen den LCCC's und dem Substrat. Es wurden daher die
Anstrengungen in der modernen Leiterplattentechnik verstärkt, um die
Ausdehnung der Basismaterialien der Ausdehnung der LCCC's anzupassen.
Erste erfolgreiche Versuche waren der Einsatz keramischer Körper oder
prozellanisierten Invars als direkte Substrate für die Bestückung mit
LCCC's. Doch zeigten sich bald die Grenzen beider Techniken. Bei den
Keramikkörpern war dies ihre geringe Bruchfestigkeit und eine gewisse
Größenbeschränkung. Das porzellanisierte Invar hatte ein zu hohes
Gewicht und konnte daher vielen technischen Anforderungen nicht
gerecht werden.
Es sind drei unterschiedliche Verfahren zur Anpassung der
Temperaturausdehnungskoeffizienten bekannt geworden.
Bei einem Verfahren erfolgt eine Ausdehnungssteuerung durch
Gewerbevariationen. In den siebziger Jahren wurde die Aramid-Faser mit
ihrem in Längsrichtung negativen Temperaturausdehnungskoeffizienten
entdeckt. Durch den Einsatz im Verbund mit einem Polymer-Werkstoff ergibt
sich ein Gesamtausdehnungskoeffizient von ca. 6,3 · 10-6 K-1
und damit eine dem keramischen Chip-Trägermaterial angepaßte Ausdehnung.
Eine weitere Möglichkeit ergab die Einlagerung von Quarz-Fasern
in die üblichen Polymer-Werkstoffe. Das als Quarz bezeichnete Garn ist ein
nichtkristallines Glas mit einem linearen Ausdehnungskoeffizienten
von 0,54 · 10-6 K-1. Im Verbund mit Epoxid- oder Polyimid-Harz
ergibt sich ebenfalls eine dem keramischen Chip-Trägermaterial
angepaßte Ausdehnung. Beides sind Verbundwerkstoffe höchster Zuverlässigkeit
und geringen Gewichts, was einen vielfältigen technischen
Einsatz erlauben würde. Doch zeigten sich auch hier einige Besonderheiten,
die dem verstärkten Einsatz entgegenwirken:
Es ergab sich ein hoher Materialpreis (Faktor 10 gegenüber dem
normalen Epoxid-Glas-Verbundwerkstoff) und darüber hinaus auch eine
aufwendige Verarbeitung im Rahmen der Leiterplattenfertigung. Auch trat
die geringe Wärmeabfuhr des Polymer-Materials (λ = 0,004 W/cmK
nachteilig in Erscheinung.
Die Wärmeabfuhr ist in der modernen Mikroelektronik ein wichtiger
Punkt, dem immer mehr Bedeutung zugemessen wird. Steigende Packungsdichten
und Bauteile mit höheren Leistungswerten erzeugen eine große Menge
Verlustwärme, welche abgeführt werden muß.
Das zweite bekanntgewordene Verfahren in der Ausdehnungssteuerung
durch angepaßte Kernsubstrate. Bei dieser Technik wird vor allem
kupferplattiertes Invar als Kernmaterial eingesetzt. Es handelt
sich dabei um einen Schichtverbundwerkstoff, der durch die üblichen
Preßschweiß- oder Walzplattierverfahren hergestellt wird. Da Invar,
also FeNi 36, einen sehr geringen Temperaturausdehnungskoeffizienten
besitzt (α= 1,4 · 10-6 K-1) wird es auch sehr häufig
in Thermobimetallen als passive Komponente eingesetzt. Der Ausdehnungskoeffizient
des kupferplattierten Invars wird von der prozentualen Zusammensetzung
bestimmt. Abhängig vom Invargehalt kann der Schichtverbundwerkstoff dann dem
Ausdehnungskoeffizienten des keramischen Chip-Trägermaterials
angepaßt werden.
Der Ausdehnungskoeffizient des Gesamtverbunds, das heißt des Metallkerns
und der Polymer/Glas-Lagen, wird durch den Anteil des kupferplattierten Invars
an der Gesamtdicke bestimmt.
Es zeigte sich also, daß das Verhältnis der Metalldicken durch
den gewünschten Ausdehnungskoeffizienten bestimmt wird. Durch die
geringe Ausdehnung des Kernmaterials und die höhere Ausdehnung der Außenlage
ergibt sich ein nach außen steigender, gradieller Verlauf des
Temperaturausdehnungskoeffizienten. Die Einlagerung eines Kerns aus
Metall steigert gleichzeitig die mechanische Festigkeit des gesamten
Verbunds. Weitere Kernmaterialien sind z.B. Molybdän und weitere
Eisen-Nickel-Legierungen Auch bei diesen bekannten Verfahren beschränken
einige spezifische Eigenschaften und umfassenden
technischen Einsatz:
Je nach Ausführung ergibt sich ein um den Faktor 2,5 bis 10 höherer
Materialpreis gegenüber dem normalen Epoxid-Glasfaser-Verbundwerkstoff
und es sind bei der Fertigung auch einige besondere Verfahrensschritte
(z.B. Extrabohren oder Extraätzen mit FeCl3) erforderlich.
Ferner beschränkt ein hohes Gewicht den Einsatz bei vielen Projekten,
wie z.B. in der Raumfahrt oder in der Luftfahrt. Durch den nach außen
hin steigenden Temperaturausdehnungskoeffizienten ergibt sich eine
Lagenbeschränkung oder eine Beschränkung in der Dicke.
Bei diesen bekannten Verfahren liegt ein von der Mitte her steigender
Temperaturausdehnungskoeffizient vor, d.h. die Ausdehnung beschreibt
einen Gradienten. Dabei gilt allgemein:
a Mitte ≦ωτ α Außen
Bei dem dritten bekannten Verfahren gelangen Verbundwerkstoffe
mit spanungsabsorbierenden Zwischenschichten zur Anwendung. Bei diesem
bekannten Verfahren beruht die Anpassung der Ausdehnung nicht auf
Einsatz von Schicht mit
α α Keramik,
sondern auf dem Prinzip der Pufferung von lokal auftretenden Wärmespannungen.
Die dünnen Schichten des spannungsabsorbierenden Materials fangen
mit ihren hohen Schermodulwerten (G-Modul) örtlich auftretende
Spannungen ab und verhindern damit eine Spannungsübertragung in die
Nachbarschicht Bei diesem Verfahren liegt also keine Steuerung des
Temperaturausdehungskoeffizienten vor, sondern eine Anpassung durch
Pufferung über den hohen Schermodul der streßabsorbierenden Zwischenschichten.
Auch dieses bekannte Verfahren führt jedoch zu den Nachteilen
einer geringen Wärmeabfuhr durch die Polymer-Materialien (λ =
0,004 W/cmK) und es ist ferner auch kein Einsatz bei größeren Chip-
Trägermaterialien möglich (bis ca. 30 pins einsetzbar). Auch ist der
Preisfaktor noch fraglich, da bisher nur ein geringer Einsatz zu
verzeichnen ist. Ferner zeigen die elastomeren Zwischenschichten
gegenüber Atmosphärilien schlechte Beständigkeit, so daß dadurch eine
Alterung auftreten kann.
Der Erfindung liegt damit insbesondere die Aufgabe zugrunde, eine
Leiterplatte von der eingangs angegebenen Art derart weiterzubilden,
daß sie preisgünstig hergestellt werden kann, ein niedriges Gewicht
hat und eine vergleichsweise einfache Bearbeitung ermöglicht, wobei
insbesondere alle diese Teilaufgaben gleichzeitig gelöst werden sollen.
Ausgehend von der Leiterplatte von der eingangs genannten Art wird
diese Aufgabe erfindungsgemäß durch die Merkmale des kennzeichnenden
Teils des Anspruchs 1 gelöst.
Erfindungsgemäß wird somit die Verwendung von ausdehnungsgesteuerten
Außenlagen mit einem gut wärmeleitenden kern für die LCCC-Technik
kombiniert. Dadurch kann einerseits gezielt eine Steigerung der
Wärmeabfuhr erreicht werden.
Die Kernschicht soll auf jeden Fall eine bessere Wärmeleitfähigkeit
als übliche Polymermaterialien haben, also λ ≦λτ 0,004 W/cmK, daß der
Temperaturausdehnungskoeffizient außen, d.h. also an der Oberfläche
oder am Oberflächenbereich der Leiterplatte am geringsten ist und
allgemein nur zur Mitte hin zunimmt.
Dadurch ergeben sich folgende Vorteile:
Der Einsatz des teueren, kompliziert zu bearbeitenden ausdehnungsgesteuerten
Materials ist nur an der Obefläche oder am Oberflächenbereich der
Leiterplatte erforderlich, wo dieses Material benötigt wird. Durch
die Verwendung des wärmeleitenden Kerns wird eine ausgezeichnet
Wärmeabfuhr gewährleistet und es wird gleichzeitig die Festigkeit
und die Stabilität des gesamten Verbundes erhöht.
Da ferner erfindungsgemäß der Einsatz von Polymer-Verbundwerkkstoffen
möglich wird, kann auch ein niedriges Gewicht erreicht werden.
Durch die Erfindung ist keine Beschränkung in der Dicke der Leiterplatte
und da das teuere ausdehnungsgesteuerte Material nur sehr
begrenzt eingesetzt werden muß, kann ein relativ kleiner Preisfaktor
realisiert werden.
Durch die Erfindung können die Vorzüge der bisherigen Verfahren mit
völlig neuen Aspekten vereint werden und es kann dadurch der
verstärkte Einsatz der LCCC-Technologie gefördert werden.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Erfindung
ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Im folgenden wird die Erfindung anhand von Ausführungsbeispielen unter
Bezugnahme auf die Zeichnungen näher erläutert, deren
Fig. 1 ein Ausführungsbeispiel für eine im Schnitt dargestellte
Leiterplatte gemäß der Erfindung zeigt und deren
Fig. 2 eine Schnittdarstellung durch eine Leiterplatte mit den
Merkmalen der Erfindung zur Darstellung von deren thermisch
bedingter Längenänderung zeigt.
In Fig. 1 ist ein Beispiel für eine erfindungsgemäß aufgebaute
allgemein mit 1 bezeichnete Leiterplatte gezeigt. Die Leiterplatte 1
weist eine Kernschicht 2 aus einem gut wärmeleitenden Material auf, das bevorzugt
aus den im folgenden Materialien ausgewählt ist:
I. Metalle und Metallverbundungen bzw. Metallegierungen
I. Metalle und Metallverbundungen bzw. Metallegierungen
- 1. Metalle: z.B. Kupfer, Aluminium, Stahl
- 2. Metallverbunden: z.B. FeNi-Legierungen
- 3. Metallische Verbundwerkstoffe:
- z.B. Schichtverbundwerkstoffe, Faserverbundwerkstoffe, Teilchenverbundwerkstoffe, Durchdringungsverbundwerkstoffe
- 4. Metalloxide: z.B. BeO, Al2O3, keramische Massen
- 5. Metallnitride: z.B. Nitride von Elementen der III. Hauptgruppe des PSE
II. Wärmeleitende Polymere
- 1. Metallgefüllte Polymere
- 2. Kristalline Polymere
III. Generell alle Stoffe mit einer Wärmeleitfähigkeit über der
Wärmeleitfähigkeit der Polymer-Glasfaser-Verbundwerkstoffe
(
λ
≦λτ 0,004 W/cmK).
An die Kernschicht 2 schließt sich zu deren beiden Seiten jeweils
eine Verbindungsschicht 3 an. Diese Schicht kann aus Polymeren bzw.
allen zur adhäsiven Verbindung geeigneten Stoffen bestehen, wie z.B.
Prepregs (B-stage), Haftfolien (auch glasfaserverstärkt), Acrylate,
Epoxide, Polyimide, Epoxid-Polyimid-Mischungen, PTFE, FEP, Klebefolien,
Flüssigkleber, Thermoplaste).
An die Verbindungsschicht 3 schließt sich nach außen jeweils eine
Schicht 3 a aus einem Polymer-Glasfaser-Verbundwerkstoff, wie
z.B. Epoxide, Polyimide, modifizierte Epoxide, modifizierte Polyimide,
Epoxid-Polyimid-Mischungen, Thermoplaste, PES, PTFE oder einer
Metallfolie an.
Jeweils nach außen an die Schicht 3 a anschließend ist eine Schicht 4
aus einem thermisch ausdehnungsgesteuerten Material (Verbundwerkstoff
oder reines Substrat mit einem Ausdehnungskoeffizienten von 5 bis
10 · 10-6 · K-1 vorgesehen. Geeignete Materialien sind z.B.
Polymer-Quarz, Polymer-Polyaramid, keramische Stoffe.
In Fig. 2 ist wiederum die Leiterplatte allgemein mit 1 bezeichnet.
Sie enthält eine Kernschicht 2 aus einem gut wärmeleitenden Material,
wie beispielsweise aus Aluminium. An den Kern 2 schließen sich nach
beiden Flachseiten jeweils eine Schicht aus Polymer/Glas an, die
allgemein mit 3 bezeichnet ist. Schließlich folgt als Außenschicht
eine Polymer/
Polyaramid-Schicht, die allgemein mit 4 bezeichnet ist.
Bei der Ausführungsform läßt sich der Verlauf der Längsausdehnung
nach der folgenden Formel ermitteln:
∆ℓ = ℓo × ∆T × α
Hierin bedeuten
∆ℓ = Längenänderung,
ℓo = Ausgangslänge,
∆T = Temperaturdifferenz in °K, und
α = Längenausdehnungskoeffizient in 10-6 K-1.
∆ℓ = Längenänderung,
ℓo = Ausgangslänge,
∆T = Temperaturdifferenz in °K, und
α = Längenausdehnungskoeffizient in 10-6 K-1.
Aus Fig 2 ist deutlich ersichtlich, daß die größte thermisch
bedingte Längenänderung in der Kernschicht 2 auftritt. Zu den
Außenschichten hin nimmt die thermisch bedingte Längenänderung ab, um
schließlich ihren kleinsten Wert an der Außenseite der thermisch
ausdehnungsgesteuerten Polymer/Polyaramidschicht zu erreichen.
In der folgenden Vergleichstabelle werden die durch die vorliegende
Erfindung gegenüber den bekannten Verfahren erzielbaren Vorteile
verdeutlicht:
Claims (11)
1. Leiterplatte für keramisches Chip-Träger-Material für die
Applikation von integrierten Schaltungen (IC-Chips) nach der Leadless-Ceramic-
Chip-Carrier-(LCCC)-Technik, wobei die mehrschichtige Leiterplatte
thermisch ausdehnungsgesteuerte Werkstoffe aufweist,
dadurch gekennzeichnet,
- a) daß wenigstens eine Außenlage der Leiterplatte für keramisches Chip-Träger-Material einen thermisch ausdehnungsgesteuerten Werkstoff mit einem demjenigen des keramischen Chip-Träger-Materials wenigstens nahe kommenden Temperaturausdehnungskoeffizienten aufweist,
- b) daß die Leiterplatte wenigstens eine Kernschicht aus einem gut wärmeleitenden Material aufweist und
- c) daß gegebenenfalls zwischen der (den) einen thermisch ausdehnungsgesteuerten Werkstoff aufweisenden Außenlage(n) wenigstens eine weitere Schicht aus einem anderen Material vorgesehen ist.
2. Leiterplatte nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die Wärmeleitfähigkeit der Kernschicht(en) größer als 0,004 W/cmK ist,
zweckmäßig größer als 0,1 W/cmK, bevorzugt größer als 0,5 W/cmK ist.
3. Halbleiterbauelement nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die Kernschicht(en) aus Metall, wie z.B.
Kupfer, Aluminium oder Stahl besteht.
4. Leiterplatte nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Kernschicht(en) Metallegierungen, z.B. FeNi-Legierungen aufweist
bzw. aufweisen.
5. Leiterplatte nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß
die Kernschicht(en) metallische Verbundwerkstoffe, z.B.
Schichtverbundwerkstoffe, Faserverbundwerkstoffe, Teilchenverbundwerkstoffe,
Durchdringungsverbundwerkstoffe, aufweist bzw. aufweisen.
6. Leiterplatte nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß
die Kernschicht(en) Metallverbindungen wie Metalloxiden, z.B. BeO,
Al2O3, wie keramischen Massen, oder wie Metallnitriden, wie z.B.
Nitride von Elementen der III aufweist bzw. aufweisen.
7. Leiterplatte nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Kernschicht(en) wärmeleitende Polymere wie z.B. metallgefüllte
Polymere oder kristalline Polymere aufweist bzw. aufweisen.
8. Leiterplatte nach einem der vorgehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß die einen thermisch ausdehnungsgesteuerten Werkstoff
aufweisende(n) Außenlage(n) einen Temperaturausdehnungskoeffizienten
im Bereich von 5 bis 10×10-6K-1, vorzugsweise im Bereich von 6
bis 8 × 10-6K-1 aufweist.
9. Leiterplatte nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß die einen thermisch ausdehnungsgesteuerten
Werkstoff aufweisende(n) Außenlage(n) Verbundwerkstoffe, wie z.B. Polymer-Quarz,
Polymer-Polyaramid, keramische Stoffe oder reine Substrate aufweist
bzw. aufweisen.
10. Leiterplatte nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet,
daß zwischen der (den) einen thermisch ausdehnungsgesteuerten
Werkstoff aufweisenden Außenlage(n) und der (den) Kernschicht(en)
wenigstens eine Schicht aus einem kupferkaschierten Polymer-
Glasfaser-Verbundwerkstoff
oder einer Metallfolie vorgesehen ist.
11. Leiterplatte nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß zwischen der (den) einen thermischausdehnungsgesteuerten
Werkstoff aufweisenden Außenlage(n) und der (den) Kernschicht(en)
wenigstens eine weitere Schicht aus einem zu adhäsiven
Verbindungen geeigneten Werkstoff, insbesondere einem Polymeren, wie
z.B. Prepregs (B-stage), Haftfolien, auch glasfaserverstärkt,
Acrylate, Epoxide, Polyimide, Epoxid-Polyimid-Mischungen, PTFE, FEP,
Klebefolien, Flüssigkleber, Thermoplaste vorgesehen ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19853522703 DE3522703A1 (de) | 1985-06-25 | 1985-06-25 | Leiterplatte mit keramischen chip-traeger-material |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19853522703 DE3522703A1 (de) | 1985-06-25 | 1985-06-25 | Leiterplatte mit keramischen chip-traeger-material |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3522703A1 true DE3522703A1 (de) | 1987-01-08 |
DE3522703C2 DE3522703C2 (de) | 1991-01-24 |
Family
ID=6274145
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19853522703 Granted DE3522703A1 (de) | 1985-06-25 | 1985-06-25 | Leiterplatte mit keramischen chip-traeger-material |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3522703A1 (de) |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: LEITRON LEITERPLATTEN LT GMBH, 7070 SCHWAEBISCH GM |
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D2 | Grant after examination | ||
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Owner name: ANGSTENBERGER, ALBERT LORENZ, DR., 7070 SCHWAEBISC |
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8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |