DE3509247A1 - Relaismultiplexschaltung zum testen von schaltungen - Google Patents

Description

11759 Sch/Vu

USSN 589577 ν. 14.3.1984

USSN 589373 ν. 14.3.1984

TERADYNE, INC. Boston, Massachusetts (USA)

Relaismultiplexschaltung zum Testen von Schaltungen

Die Erfindung bezieht sich auf eine Relaismultiplexschaltung zur Herstellung von Kanälen eines Testgerätes zu einer großen Anzahl von Punkten einer zu testenden Schaltungskarte.

Eine gedruckte Schaltungskarte läßt sich mit einem Test-

"Ό gerät testen, wobei Schaltungspunkten der zu testenden Karte Testsignale zugeführt werden und die sich ergebenden Zustände an den Schaltungsknoten analysiert werden. Ein als sogenanntes In-Circuit-Testverfahren bezeichnetes Testverfahren benutzt Teststifte oder -sonden, mit denen die Schaltungspunkte der zu testenden Schaltungskarte berührt werden, ferner werden Signale an diese Schaltungspunkte gegeben, um die Zustände oder Bedingungen eines gegegebenen Elementes auf der Schaltungskarte zu beeinflussen (typischerweise sind es die mit den Anschlüssen des betreffenden Elementes verbundenen Schaltungspunkte), die resultierenden Signale werden analysiert, und danach wird ein anderes Element auf der Schaltungskarte getestet, indem Signale einer anderen Gruppe von Schaltungspunkten auf der zu prüfenden Schaltungskarte zugeführt werden, usw.

Aus Kostengründen wird typischerweise eine begrenzte Anzahl von Testkanälen mit einer großen Anzahl von Testsonden oder Prüfspitzen über eine Relaismultiplexschaltung verbunden, die so verdrahtet ist, daß jede Prüfspitze über

zwei Relais an einen oder zwei Testkanäle angeschlossen werden kann. Die Relais werden so betrieben, daß sie einen Testkanal zu einer Zeit immer nur mit einer Prüfspitze verbinden, und die gesamte Anzahl von Testkanälen sowie die Gesamtzahl von Prüfspitzen werden üblicherweise in Gruppen unterteilt.

Bei einer bekannten derartigen Relaismultiplexschaltung hat jede Gruppe zwei Testkanäle, die über 32 Relais mit allen 16 Prüfspitzen in der Gruppe verbunden werden können. Es können also nur zwei Prüfspitzen der Gruppe gleichzeitig angeschlossen werden, ohne sich zu stören. Bei diesem Multiplexer hat jede Gruppe einen einzigen (eigenen) Satz von zwei Testkanälen.

Die Möglichkeit gegenseitiger Störungen kann auch verringert werden durch Vergrößerung der Anzahl von Relais zur Vergrößerung der "Tiefe", also der Anzahl von Testkanälen, die mit jeder Prüfspitze verbindbar sind. Im Extremfall, wo jeder Kanal mit jeder Prüfspitze verbunden werden kann, würde man sämtliche Kanäle und beliebige Prüfspitzen ohne gegenseitige Störung benutzen können. Die Anzahl von Relais wäre jedoch gleich der Anzahl von Kanälen mal der Anzahl von Prüfspitzen, so daß man beispielsweise 100 000 Relais brauchte, um 100 Prüfkanäle mit 1000 Prüfspitzen verbinden zu können.

Der Erfinder hat herausgefunden, daß eine begrenzte Anzahl von Testkanälen über eine Relaismultiplexschaltung mit einer großen Anzahl von Prüfspitzen bei geringerer Störmöglichkeit verbunden werden kann, ohne daß die Anzahl von Relais pro Prüfspitze vergrößert werden müßte, wenn man jede Prüfspitze mit einer einzigen Kombination von Testkanälen innerhalb der Gruppe verbindbar macht.

Bei bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung sind zwei Kanäle pro Prüfspitze vorgesehen; mindestens einige der

Kanäle sind in mehr als einer Gruppe enthalten; P-Prüfspitzen und C-Kanäle innerhalb mindestens eines Teils einer Gruppe sind über Relais in voll kombinierbarer Weise angeschlossen, es wird also jede mögliche Kombination von C-Kanälen benutzt, und P = C'/D!(C-D)!, wobei D gleich der "Tiefe" ist; die Prüfspitzen sind einem bestimmten Element auf einer zu prüfenden Schaltungskarte zugeordnet, so daß jeder Kanal nicht mehr benutzt wird als die"Tiefe"und eine Prüfspitze einem Element zugeordnet ist, das nicht benutzt wird.

Die Anmelderin hat festgestellt, daß dann, wenn eine Gruppe von Testkanal-Schaltungspunkten, Prüfspitzenschaltungspunkten und Relais einer Relaismultiplexschaltung weniger als jede mögliche einzige Kombination von Kanalschaltungspunkten enthalten soll, indem man die Anzahl der mit jedem Kanalschaltungspunkt verbindbaren Prüfspitzenschaltungspunkte in der Gruppe im wesentlichen gleich macht, die Kanäle besser ausgenutzt werden und die Möglichkeit gegenseitiger Störungen geringer werden.

Bei bevorzugten Ausführungsformeη kann die Anzahl von Prüfspitzenschaltungspunkten, die mit jedem Kanalschaltungspunkt verbunden werden können, um nicht mehr als 1 variieren (es ist am meisten zu bevorzugen, wenn die Anzahl der Prüfspitzenschaltungspunkte pro Kanal gleich ist) und die Anzahl der Relais pro Kanal beträgt 2.

Nachfolgend seien Aufbau und Betriebsweise einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung näher erläutert. In den beiliegenden Zeichnungen zeigen:

Fig. 1 ein Funktionsblockschaltbild einer erfindungsgemäßen Relaismultiplexschaltung, die mit einer zu testenden gedruckten Schaltungskarte sowie Ansteuer- und Detektorschaltungen für die Testkanäle verbunden ist;

~Q —

Fig. 2 ein Funktionsblockschaltbild einer Kanalansteuer-

und Detektorschaltung;
Fig. 3 ein Verdrahtungsschema zur Veranschaulichung der Schaltung der Relais zwischen den Kanalschaltungspunkten und den Prüfspitzenschaltungspunkten in der

Relaismultiplexschaltung;
Fig. 4 eine schematische Darstellung eines Relais in der Relaismultiplexschaltung;

Fig. 5 eine schematische Seitenansicht einer im Test befindlichen Schaltungskarte, die durch Prüfspitzen kontaktiert wird, welche mit bestimmten Prüfspitzenschaltungsknoten der Relaismultiplexschaltung verbunden sind und

Fig. 6 ein Diagramm zur Veranschaulichung des Verfahrens der Zuordnung von Kanalkombinationen zu Testprüfspitzen und unter Test befindlichen Bauelementen.

Die in Fig. 1 dargestellte Relaismultiplexschaltung 10 hat 126 Prüfspitzenschaltungspunkte 12, die über 126 Prüf-Spitzenleitungen 15 mit einer zu prüfenden gedruckten Schaltungskarte 13 verbunden sind, und 12 Testkanal-Schaltungspunkte 14, die über Kanalleitungen 18 mit 12 Kanalansteuer- und Detektorschaltungen 16 für die Kanäle A bis L verbunden sind. Die Kanalschaltungspunkte 14 sind mit den Prüfspitzenschaltungspunkten 12 über Relais im Multiplexer 10 verbunden, die durch eine Relaissteuerschaltung 20 betätigt werden. Die Kanalansteuer- und Detektorschaltungen 16 und die Relaissteuerschaltung 20 sind über eine Sammelleitung 24 mit einem Teststeuergerät 22 verbunden.

Fig. 2 zeigt eine Kanalansteuer- und Detektorschaltung 16, die eine Ansteuerschaltung 26 und eine Detektorschaltung 28 enthält, welche parallel an einen Schalter 29 angeschlossen sind, der mit der Kanalleitung 18 verbunden ist. Ferner enthält sie einen Schalter 30 zum Verbinden der Leitung 18 mit einer Analogsignalleitung 31. Die Analogsignal-

-ΙΟΙ leitung 31, die Ansteuerschaltung 26 und der Detektor 28 sind alle mit der Sammelleitung 24 verbunden.

Aus Fig. 3, welche die Verdrahtung der Relaismultiplexschaltung 10 zeigt, sieht man, daß es zwei Gruppen 32, 34 von Prüfspitzenschaltungspunkten 12 und Kanalschaltungspunkten 14 gibt. Die Gruppe 32 enthält die mit 1 bis 66 bezeichneten PrüfSpitzenschaltungspunkte, und die Gruppe 24 enthält die mit 67 bis 126 bezeichneten Prüfspitzenschaltungspunkte. Innerhalb jeder Gruppe kann jeder Prüfspitzenschaltungspunkt 12 mit einer einzigen Kombination von zwei Kanalschaltungspunkten 14 über zwei Relais 36 (einfache Α-Relais) verbunden werden. Wie Fig. 4 zeigt, läßt sich über jedes Relais 36 ein Kanalschaltungspunkt 14 mit einem Prüfspitzenschaltungspunkt 12 über einen Arbeitskontakt 28 verbinden, welcher durch TTL-Signale von der Ansteuerschaltung 20 (über nicht veranschaulichte Mittel) betätigen läßt. In der Gruppe 32 oder der Gruppe 34 kann eine Verbindung zwischen irgend einem Prüfspitzenschaltungspunkt und irgend einem Kanalschaltungspunkt der Gruppe mit irgend einem anderen Prüfspitzenschaltungspunkt oder Kanalschaltungspunkt der Gruppe über mehrere oder auch ein einziges betätigtes Relais hergestellt werden. Beim typischen Betrieb wäre jedoch ,jeweils zu einer Zeit jeder Kanalschaltungspunkt mit nicht mehr als einem Prüfspitzenschaltungspunkt verbunden, und jeder Prüfspitzenschaltungspunkt wäre nichtmit mehr als einem Kanal schaltungspunkt verbunden.

In der Gruppe 3 2 sind die Kombinationen der Kanalschaltungspunkte 14 den Prüfspitzenschaltungspunkten 12 voll kombinierbar zugeordnet; Fig. 3 veranschaulicht also jegliche mögliche einzelne Kombination von zwei der zwölf Kanäle A bis L. Damit ist die Gesamtanzahl der Prüfspitzenschaltungspunkte (66) gleich C!/Di/(C-D)!, wobei C gleich der Kanalzahl (12) und D gleich der "Tiefe" (2) ist. In der Gruppe 32 kann jeder Kanal mit 11 Prüfspitzenschal-

-11-tungspunkten verbunden werden.

Die Zuordnung der einzigartigen Kombinationen von zwei Kanalschaltungspunkten für die Prüfspxtzenschaltungspunkte in der Gruppe 34 stimmt überein mit derjenigen in der Gruppe 32 mit der Ausnahme, daß es in der Gruppe 34 keine Kombinationen gibt, die denjenigen für die Prüfspxtzenschaltungspunkte 21, 25, 33, 38, 48 und 56 entsprechen (daher können die Kanalkombinationen in der Gruppe 34 nicht voll kombiniert werden). Diese sechs Kombinationen sind nicht verdoppelt worden, weil nur 126 (und nicht 132) Prüfspitzenschaltungspunkte in der Relaismultiplexschaltung 10 benutzt werden. Ein X in Fig. 3 deutet an, daß in der Gruppe 34 eine in der Gruppe 32 benutzte Kombination fehlt.

Diese Kombinationen wurden herausgenommen, weil jeder Kanal A bis L einmal repräsentiert ist, so daß in der' Gruppe 34 jedem der zwölf Kanäle A bis L zehn Prüfspitzenschaltungspunkte zugeordnet sind anstatt daß beispielsweise einem Kanal neun und einem anderen elf Prüfspitzenschaltungspunkte zugeordnet sind. Diese gleichmäßige Verteilung der Prüfspitzen auf die Kanäle reduziert gegenseitige Störungen wie es bei der Notwendigkeit, daß jeder Prüfspitzenschaltungspunkt in einer Gruppe mit einer einzigen Kombination von KanalSchaltungspunkten verbindbar sein soll, der Fall wäre, was nachstehend noch erläutert wird.

Aus Fig. 5 sieht man, daß die gerade geprüfte gedruckte Schaltungskarte 13 mehrere elektronische Elemente 40 enthält. Wie in Fig. 5 für ein einziges Element 40 etwas schematisch veranschaulicht ist, werden die Schaltungspunkt 42 an den Zuleitungen zum Element 40 von unter Federdruck stehenden Prüfspitzen 44 kontaktiert, die mit den angegebenen elf Prufspxtzenschaltungspunkten 12 (diejenigen mit den Nummern 1, 3, 6, 10, 15, 21, 28, 36, 45, 55, 66) verbunden sind. Ferner sieht man aus Fig. 3, daß die angegebenen elf Prüfspitzenschaltungspunkte und ein weiterer Prüfspitzenschaltungspunkt 12, der mit 56 bezeichnet ist,

so ausgewählt sind, daß jeder Kanal nicht mehr als zweimal benutzt worden ist; all diese Kanäle können zum Testen des Elementes 40 ohne gegenseitige Beeinflussung benutzt werden.

Es sei nun die Betriebsweise erläutert. Wenn die zu prüfende gedruckte Schaltungskarte 13 mehr als 40 Elemente und 42 Schaltungspunkte hat, die von den zwölf Kanälen A bis L angesteuert werden können, und 126 Prüfspitzen mit der Relaismultiplexschaltung 10 verbunden sind, dann werden zusätzliche Gruppen von zwölf Kanalansteuer- und Detektorschaltungen 16, Relaismultiplexschaltungen 10 und Relaissteuerschaltungen 20 vorgesehen und über eine Sammelleitung 24 mit dem Teststeuergerät 22 verbunden.

An einer Halterung sind Prüfspitzen 44 so angebracht, daß sie alle Schaltungspunkte 42 der zu prüfenden Schaltungskarte 13 kontaktieren. Bei der Verdrahtung der Prüfspitzen 44 mit den Prüfspitzenschaltungspunkten 12 sind letztere so zugeordnet, daß jeder Kanal nicht mehr als zweimal in den Kanalkombinationen benutzt wird, welche den mit einem einzigen Element 40 verbundenen Prüfspitzenschaltungspunkten zugeordnet sind. Ein dem Bauelement 40 zugeordneter Prüfspitzenschaltungspunkt wird anfänglich nicht verdrahtet, sondern bleibt in Reserve.

Für die Zuordnung der Prüfspitzenschaltungspunkte kann das Diagramm der Kombinationen nach Fig. 6 herangezogen werden. Ordnet man beispielsweise Prüfspitzenschaltungspunkte den in Fig. 5 verdrahtet gezeichneten Prüfspitzen 44 zu, dann nimmt man die Kanalkombinationsgruppe 46 heraus, um Kombinationen zu erhalten, bei denen jeder Kanal nur zweimal benutzt wird, und man bezieht sich auf Fig. 3 zur Identifizierung der Nummern der entsprechenden Prüfspitzenschaltungspunkte mit diesen Kombinationen. Eine nicht benutzte Kombination der Gruppe 46 ist die Kombination der Kanäle A und L, also die Kombination für den Prüf-

spitzenschaltungspunkt 56. Wenn man nur elf Prüfspitzen in einer Kanalkombinationsgruppe benutzt, dann kann man jeden Kanal freihalten zur Benutzung durch jegliche verbleibende Prüfspitze, um ohne gegenseitige Störungen spätere Änderungsanweisungen erfüllen zu können, welche die Schaltungspunkte 42 betreffen würden und ein Vorsehen einer weiteren Prüfspitze am Element 40 erforderlich machen würden.

Beim Verdrahten weiterer Prüfspitzenschaltungspunkte 12 mit Prüfspitzen 44 für weitere Elemente 40 kann man die Prüf spitzenschaltungspunkte, die den Kanalkombinationsgruppen 48 bis 54 (Fig. 6)zugeordnet sind, zur Identifizierung der Prüfspitzenschaltungspunkte benutzen, so daß für jedes Element 40 jeder Kanal mehr als zweimal benutzt wird.

Stellt man diese Verdrahtungsverbindungen zwischen Testspitze und Testspitzenschaltungspunkt her, dann bestehen weniger gegenseitige Störungsmöglichkeiten (daß also ein Kanal gleichzeitig mit mehr als einer Testspitze verbunden sein müßte), als bei bekannten Relaismultiplexschaltungen mit vergleichbarer Anzahl von Kanälen und Relais, weil die Prüfspitzenschaltungspunkte 12 innerhalb der Gruppe 32 oder 34 mit den einzigartigen oder speziellen Kombinationen der KanalSchaltungspunkte 14 verbindbar sind. Es besteht eine geringere Möglichkeit, daß beide Kanäle für einen Prüfspitzenschaltungspunkt 12 durch andere Prüfspitzenschaltungspunkte benutzt werden müßten als wenn beispielsweise 16 Prüfspitzenschaltungspunkte 12 alle mit denselben Zwei-Kanal-Schaltungspunkten 14 verbindbar wären.

Die verschiedenen Elemente 40 auf der zu prüfenden Schaltungskarte 13 werden getestet, indem man Eingangssignale an die Prüfspitzen 44 legt, welche in Kontakt mit denjenigen Schaltungspunkten 42 auf der Schaltungskarte 13 stehen, die elektrisch mit den Zuleitungen des betreffenden EIe-

mentes 40 verbunden sind, während andere Elemente 40 auf der Karte nicht benutzt werden, und bei Zuführung geeigneter Signale fühlt man die resultierenden Zustände an diesen Schaltungspunkten ab. Beim Testen einzelner Elemente 40 werden ausgewählte Kanäle A bis L mit ausgewählten Prüfspitzen 44 verbunden durch Aktivierung geeigneter Relais 36 über die Ansteuerschaltung 20, welche über die Sammelleitung 24 die Relaisansteuersignale liefert. Das Teststeuergerät 22 liefert auch Teststeuersignale über die Leitung 24 zur Betätigung der Kanalansteuerschaltungen 26, damit Testeingangssignale geliefert werden, und der Detektoren 28 zum Abfühlen der Testausgangssignale, wenn der Schalter 29 geschlossen und der Schalter 30 offen ist. Bei geschlossenem Schalter 30 werden den Prüfspitzen 44 Analogsignale zugeführt. Die Testausgangssignale werden dem Teststeuergerät 22 zugeführt und mit erwarteten Ausgangssignalen verglichen. Nachdem ein Element getestet worden ist, wird ein anderes Element 40 auf der Schaltungskarte getestet durch Aktivierung eines anderen Satzes von Prüfspitzen 44 usw.

Innerhalb des Bereichs der beiliegenden Ansprüche liegen auch andere Ausführungsformen der Erfindung. Wenn beispielsweise weniger als 60 Prüfspitzen in der Gruppe 34 benutzt werden, dann werden zusätzliche Kanalkombinationen herausgenommen, so daß die Anzahl der Prüfspitzen pro Kanal für alle Kanäle dieselbe ist. Wenn beispielsweise zwischen sieben und zwölf der 66 insgesamt möglichen Kombinationen nicht benutzt würden (wenn man also zwischen 54 und 59 Prüfspitzen haben möchte), dann würde jeder Kanal nicht mehr als zweimal in den Kombinationen repräsentiert, welcher aus dem in Gruppe 32 dargestellten voll kombinierbaren Satz entfernt sind. (In diesem Falle gäbe es für jeden Kanal zehn oder elf Prüfspitzen pro Kanal.) Würde man zwischen dreizehn und achtzehn der insgesamt 66 nicht benutzen, dann würde jeder Kanal nicht mehr als dreimal in den Kombinationen repräsentiert, welche aus dem voll

kombinierbaren Satz herausgenommen sind (in diesem Falle gäbe es pro Kanal neun oder zehn Prüfspitzen), usw. Diese im wesentlichen gleichförmige Anzahl von Prüfspitzen für jeden Kanal führt zu einer effizienten Ausnutzung der Kanäle und Relais unter Vermeidung gegenseitiger Beeinflussungen; wenn man beispielsweise Prüfspitzenschaltungspunkte mit den Nummern 1 bis 60 benutzt, würde der Kanal L nur mit fünf Prüfspitzen zu verbinden sein, während die anderen Kanäle mit elf oder zehn Prüfspitzen verbunden werden könnten, so daß der Kanal L nicht effizient ausgenutzt wird. Während in einigen Fällen die Prüfspitzen pro Kanal für jeden Kanal um mehr als eine variieren und dies noch akzeptierbar wäre, sollten vorzugsweise die Prüfspitzen pro Kanal für jeden Kanal einer Gruppe um nicht mehr als 1 unterschiedlich sein, und bevorzugterweise sollte für alle Kanäle die gleiche Anzahl benutzt werden.

Das Diagramm nach Fig. 6 läßt sich heranziehen zur Identifizierung von Kanalkombinationen, welche aus dem voll kombinierbaren Satz zu entfernen sind. In Fig. 6 sind die 66 speziellen Kanalkombinationen für zwölf Kanäle A bis L und "Tiefe" von 2 unterteilt in fünf Gruppen 46 bis 54 von zwölf Kanalkombinationen und eine Gruppe 56 von sechs Kanalkombinationen. In der Gruppe 56 wird jeder Kanal nur einmal repräsentiert, und in jeder der Gruppen 46 bis 54 wird jeder Kanal zweimal repräsentiert. Wenn man somit zwischen 60 und 65 Prüfspitzen benutzen will, könnte man die Kanalkombinationen der Gruppe 56 zur Entfernung auswählen (die sechs in der Gruppe 34 nicht benutzten Kombinationen sind unterschiedlich, jedoch äquivalent denjenigen in der Gruppe 56). Wollte man zwischen 54 und 59 Prüfspitzen benutzen, dann könnte man die Kombinationen jeder der Gruppen 46 bis 54 zur Herausnahme auswählen. Wollte man zwischen 48 und 53 Prüfspitzen benutzen, dann könnte man die Kombinationen der Gruppe 56 und irgend eine der Gruppen 46 bis 54 zur Herausnahme auswählen usw..

Auch wenn man eine zweite Gruppe benutzt, um zusätzliche Prüfspitzen an Kanäle anzuschließen, die bereits in einer ersten Gruppe mit einem voll kombinierbaren Satz von Kanalkombinationen enthalten sind, könnte man den neuen Prüfspitzen Kanäle zuordnen, so daß die Anzahl von Prüfspitzen pro Kanal in der zweiten Gruppe im wesentlichen gleichförmig ist. Auf diese Weise wären die Werte der Gesamtprüfspitzen pro Kanal im wesentlichen gleichförmig und man erhielte eine effiziente Kanalausnutzung und die Möglichkeit gegenseitiger Beeinflussungen würden verringert.

Die hier beschriebenen Grundsätze können auch auf "Tiefen" angewendet werden, die größer als 2 sind, und auf andere Anzahlen von Kanälen in einer Gruppe.

Claims (16)

PATENTANWÄLTE DR. DIETER V. BEZOLD DIPL. ING. PETER SCHÜTZ DIPL. ING. WOLFGANG HEUSLER MARIA-THERESIA-STRASSE 22 POSTFACH 86 02 60 D-8OOO MUENCHEN 86 ZUGELASSEN BEIM EUROPÄISCHEN PATENTAMT EUROPEAN PATENT ATTORNEYS MANDATAIRES EN BREVETS EUROPffNS TELEFON 089/4 70 60 06 TELEX 522 638 TELEGRAMM SOMBEZ 11759 Sch/Vu USSN 589577 v. 14.3.1984 USSN 589373 v. 14.3.1984 TERADYNE, INC. Boston, Massachusetts (USA) Relaismultiplexschaltung zum Testen von Schaltungen Patentansprüche 10 15

1) Relaismultiplexschaltung zur wahlweisen Verbindung von Kanälen eines Testgerätes mit ausgewählten Prüfspitzen, die elektrisch mit Schaltungspunkten einer zu prüfenden Schaltung verbunden sind und deren Anzahl größer als die Anzahl der Kanäle ist, wobei die Testschaltung Kanalschaltungspunkte zur Verbindung mit den Kanälen und Prüfspitzenschaltungspunkte zur Verbindung mit den Prüfspitzen und Relais enthält, welche so verdrahtet sind, daß wahlweise mindestens einige der Prüfspitzenschaltungspunkte mit mindestens zwei Kanälen verbunden werden können, dadurch gekennzeichnet , daß mindestens einige der Prüfspitzenschaltungspunkte, der Kanalschaltungspunkte und der Relais in einer Gruppe so organisiert sind, daß eine

POSTSCHECK MOMCHEM NB ΛΟΙ4Α.

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Verbindung zwischen irgend einem Prüfspitzenschaltungspunkt oder irgend einem Kanalschaltungspunkt der Gruppe mit irgend einem anderen Prüfspitzenschaltungspunkt oder Kanalschaltungspunkt der Gruppe über mehrere betätigte oder ein einziges betätigtes Relais möglich ist und daß jeder der Prüfspitzenschaltungspunkte der Gruppe mit einer besonderen Kombination der Kanalschaltungspunkte innerhalb der Gruppe verbindbar ist und daß die Anzahl der Prüfspitzenschaltungspunkte P in der Gruppe größer als die Anzahl der Kanalschaltungspunkte C in der Gruppe ist.

2) Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die speziellen Kombinationen der Kanalknotenpunkte in der Gruppe voll kombinierbar sind.

3) Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die speziellen Kombinationen der Kanalschaltungspunkte in der Gruppe weniger als den voll kombinierbaren Satz von Kombinationen enthalten.

4) Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zwei Kanäle pro Prüfspitze vorgesehen sind.

5) Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens einige der Kanäle mit mehr als einer Gruppe verb indbar s ind.

6) Testgerät mit einer Schaltung gemäß Anspruch 1 und Prüfspitzen, die an einer Halterung montiert und räumlich so angeordnet sind, daß sie Schaltungspunkte einer zu prüfenden gedruckten Schaltungskarte kontaktieren, und elektrisch mit den Prüfspitzenschaltungspunkten verbunden sind, daß die Prüfspitzenschaltungspunkte mit den Prüfspitzen für Schaltungspunkte für ein bestimmtes elektronisches Bauelement auf der integrierten Schaltungskarte verbunden sind, dem Kanalkombinationen zugeordnet sind, derart, daß jeder Kanal in jeder Gruppe in der zugehörigen Kombination

nicht öfter als die Anzahl der Relais pro Prüfspitze repräsentiert ist, und daß Kanäle in den zugehörigen Kombinationen in geringerer als der Anzahl von Relais pro Prüfspitze repräsentiert sind, um Konstruktionsänderungen der zu prüfenden Schaltung ohne gegenseitige Beeinflussungen zu ermöglichen.

7) Verfahren zum Testen gedruckter Schaltungskarten unter Verwendung einer Relaismultiplexschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Prüfspitzen an einer Halterung montiert und räumlich so angeordnet werden, daß sie Schaltungspunkte einer zu prüfenden gedruckten Schaltungskarte kontaktieren, daß die Prüfspitzen mit den Prüfspitzenschaltungspunkten verdrahtet werden, daß die Prüfspitzenschaltungspunkte mit den Prüfspitzen für Schaltungspunkte eines bestimmten elektronischen Bauelementes auf der gedruckten Schaltungskarte verbunden werden, dem Kanalkombinationen zugeordnet sind, derart, daß jeder Kanal in der Gruppe in zugehörigen Kombinationen nicht öfter repräsentiert werden als die Zahl der Relais pro Prüfspitze, und daß Kanäle in den zugehörigen Kombinationen in geringerer Anzahl als die Relais pro Prüfspitze repräsentiert werden, um Konstruktionsänderungen der zu prüfenden Schaltung ohne gegenseitige Beeinflussung zu ermöglichen.

8) Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die speziellen Kombinationen der Kanalschaltungspunkte in der Gruppe weniger als den voll kombinierbaren Satz von Kombinationen enthält und daß die Anzahl der mit jedem Kanal der Gruppe verbindbaren Prüfspitzen praktisch gleich ist, um die Kanäle effizienter auszunutzen und die Möglichkeit gegenseitiger Beeinflussungen zu verringern.

9) Schaltung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,

daß die Anzahl der an jeden Kanalschaltungspunkt anschließbaren Prüfspitzenschaltungspunkte innerhalb einer Gruppe um nicht mehr als 1 variiert.

10) Schaltung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Anzahl der an jedem Kanalschaltungspunkt anschließbaren Prüfspitzenschaltungspunkte gleich ist.

11) Schaltung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß zwei Kanäle pro Prüfspitze vorgesehen sind.

12) Relaismultiplexschaltung zur wahlweisen Verbindung von Kanälen eines Testgerätes mit ausgewählten Prüfspitzen, die mit Schaltungspunkten einer zu prüfenden Schaltung elektrisch verbunden sind, wobei die Anzahl der Prüfspitzen größer als die Anzahl der Kanäle ist, dadurch gekennzeichnet, daß die Testschaltung Kanalschaltungspunkte zur Verbindung mit den Kanälen und Prüfspitzenschaltungspunkte zur Verbindung mit den Prüfspitzen und so verdrahtete Relais aufweist, daß sie wahlweise mindestens einige der Prüfspitzenschaltungspunkte mit mindestens zwei Kanälen verbinden, und daß mindestens einige der Prüfspitzenschaltungspunkte, Kanalschaltungspunkte und Relais in einer ersten Gruppe derart organisiert sind, daß eine Verbindung zwischen irgend einem Prüfspitzenschaltungspunkt und irgend einem Kanalschaltungspunkt der ersten Gruppe mit irgend einem Prüfspitzenschaltungspunkt oder Kanalschaltungspunkt der ersten Gruppe über mehrere betätigte oder ein einziges betätigtes Relais möglich ist, und daß jeder Prüfspitzenschaltungspunkt der ersten Gruppe mit einer speziellen Kombination der Kanalschaltungspunkte innerhalb der ersten Gruppe verbindbar ist, wobei die Anzahl der Prüfspitzenschaltungspunkte P in der ersten Gruppe größer als die Anzahl der Kanalschaltungspunkte C in der ersten Gruppe ist, und daß mindestens einige der Prüfspitzenschaltungspunkte, Kanalschaltungspunkte und Relais in einer zweiten Gruppe organisiert sind, und die Anzahl der mit jedem Kanal in der zweiten Gruppe verbindbaren Prüfspitzen praktisch gleich ist, um die Kanäle im Sinne einer Reduzierung der Möglichkeit gegenseitiger Beeinflussungen effizienter auszunutzen.

13) Schaltung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß die speziellen Kombinationen der Kanalschaltungspunkte in der ersten Gruppe voll kombinierbar sind.

14) Schaltung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß die Anzahl der Prüfspxtzenschaltungspunkte in der zweiten Gruppe, die mit jedem Kanal der ersten Gruppe verbunden werden können, in der zweiten Gruppe um nicht mehr als 1 variiert.
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15) Schaltung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Anzahl der mit jedem Kanalschaltungspunkt der zweiten Gruppe verbindbaren Prüfspitzenschaltungspunkte der zweiten Gruppe die gleiche ist.

16) Schaltung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß pro Prüfspitze zwei Kanäle vorgesehen sind.