DE2341951C2

DE2341951C2 - Einrichtung zum Prüfen logischer Schaltungen

Info

Publication number: DE2341951C2
Application number: DE2341951A
Authority: DE
Inventors: Randell Leland Austin Tex. James
Original assignee: International Business Machines Corp
Current assignee: International Business Machines Corp
Priority date: 1972-09-28
Filing date: 1973-08-20
Publication date: 1982-01-07
Also published as: JPS4973082A; BR7307535D0; CA986183A; NL7311289A; GB1416787A; US3789205A; IT1007532B; NL171201C; NL171201B; JPS5245620B2; DE2341951A1; SE384283B

Description

Die Erfindung betrifft eine Einrichtung für die selektive Prüfung von auf einer Schaltungskarte mit ihren Anschlußstiften fest angeschlossenen, jeweils mit einer großen Anzahl von integrierten logischen Schaltungen in MOSFET-Technik versehenen HaIbleiterschaltungsplät'chen, die jeweils zwischen den logischen Ausgangsschaltungen und den Eingängen des nächsten logischen Schaltungsplättchen hintereinandergeschaltet ein NOR-Glied und eine Inverterstufe aufweisen, durch elektrische Isolation des jeweils zu prüfenden Halbleiterschaltungsplättchens von den übrigen, auf der Schaltungskarte befestigten Halbleiterschaltungsplättchen und Anlegen der Prüfsignale an die Eingänge des zu prüfenden Halbleiterschaltungsplättchens und Abnahme der an den Ausgängen dieses Halbleiterschaltungsplättchens auftretenden Signale an den Anschlußstiften und Vergleich dieser Ausgangssignale mit vorgegebenen, zu erwartenden Ausgangssignalen in einer Prüfeinrichtung für logische Schaltungen.

Zum Stand der Technik ist beispielsweise aus der DE-AS 20 03 060 ein Verfahren zum Prüfen einer integrierten Großschaltung bekannt, bei der zwischen den einzelnen Schaltkreisen jeweils ein zusätzlicher Schalttransistor vorgesehen ist, der durch eine gesonderte Steuerleitung von außen ansteuerbar ist. Diese bekannte Anordnung ist für hochintegrierte Halbleiterschaltungsplättchen mit bis zu 600 oder mehr logischen Schaltkreisen schon deswegen nicht geeignet, weil allein der Raum für diese zusätzlichen Schalttransistoren fehlt und die Anzahl der Anschlußstifte, die beispielsweise 48 beträgt, viel zu klein ist. Auch die Verwendung von mechanischen Schaltern gemäß US-PS 29 61 607 führt

ι» nicht zum Ziel.

Mit dem Aufkommen der Metalloxid-Silicium-Feldeffekttransistor-Technik war es möglich, eine große Anzahl von logischen Schaltkreisen auf einem einzigen Halbleiterschaltungsplättchen unterzubringen. Nimmt man beispielsweise an, daß ein solches Halbleiterscha!- tungsplättchen 48 Anschlußstifte aufweist, von denen fünf zur Stromzufuhr benutzt werden, dann ist es heutzutage nichts Ungewöhnliches, wenn auf einem einzigen MOSFET-Halbleiterschaltungsplättchen bis zu

2i) 600 logische Schaltkreise untergebracht sind. Diese logischen Schaltkreise sind außerordentlich schwierig zu prüfei., und zwar deswegen, weil die einzelnen logischen Schaltkreise miteinander verbunden sind, so daß es unmöglich ist, jeden logischen Schaltkreis

?"> unabhängig Lr sich zu prüfen.

Das Prüfen dieser Art von Halbleiterschaltungsplättchen (im folgenden Plättchen genannt) umfaßt daher das Anlegen von Prüfimpulsmustern an die Eingangsstifte des Plättchens, während man gleichzeitig die Signalmu-

w ster beobachte?, die an den Ausgangsstiften des Plättchens auftreten. Auf diese Weise wird selbstverständlich nur das gesamte Plättchen geprüft und nicht etwa bestimmte einzelne Elemente auf dem Plättchen. Bei einer solchen Prüfung kann es erforderlich sein, bis

i> zu 3000 verschiedener Impulsmuster an die Eingangsstifte des Plättchens anzulegen, worauf dann die entsprechenden Ausgangsimpulsmuster überwacht werden müssen. Es ist nicht nur sehr schwierig, solche Programme für diese Prüfmuster /m erstellen, sondern

41) es ist auch die Anzahl der für eine genaue Prüfung erforderlicher. Prüfimp"ls'nuster außerordentlich hoch. Wenn man beispielsweise 3000 Prüfimpulsmuster an ein Plättchen anlegt, beträgt die Prüfbarkeit dieses Plättchens 95%. Eine derartige Prüfung ist beispielsweise aus

« der US-PS 36 14 608 bekannt.

Eine zweite Art der Prüfung besteht darin, daß man eine vollständige Schaltungskarte prüft, auf der eine Anzahl von beispielsweise 20 Plättchen befestigt ist, die Plättchen untereinander zur Bildung einer logischen

W Schaltung verbunden sind. Offensichtlich kann natürlich die Eingabe eines Prüfimpulsmusters an den Eingangsklemmen einer Schaltungskarte mit Überwachung der Ausgangssignale nicht eine Isolierung der einzelnen Plättchen ergeben für den Fall, daß ein Fehler in der

μ Arbeitsweise der ganzen Schaltungskarte festgestellt wurde. Es wird natürlich Fälle geben, bei denen man dasjenige Plättchen, das fehlerhafte Bauelemente enthält, durch typische Prüfverfahren für Schaltungskarten leicht feststellen kann, doch sind solche Fälle

μ ziemlich selten. Wenn man also normalerweise eine defekte Schaltungskarte prüft, dann muß man die einzelnen Plättchen elektrisch voneinander dadurch isolieren, daß man die Anschlußstellen von Plättchen zu Plättchen unterbricht und dann die Prüfimpulsmuster an

ti^r> jedes der Plättchen anlegt. Auf diese Weise läßt sich ein defektes Plättchen feststellen.

Da aber die Unterbrechung der Verbindungsleitungen zwischen den einzelnen Plättchen zur Zerstörung

der Schaltungskarte führen kann und außerdem ziemlich zeitaufwendig ist, ist es erwünscht, ein Prüfverfahren für die einzelnen Plättchen zu finden, bei dem eine mechanische Trennung zwischen den einzelnen Plättchen nicht mehr erforderlich ist.

Die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabe besteht also darin, eine Einrichtung der eingangs genannten Art in der Weise auszugestalten, daß damit alle auf einer Schaltungskarte fest eingebauten Halbleiter- Schaltungsplättchen, jedes für sich, d. h., wie es bei neuen, noch nicht eingebauten Plättchen üblich ist, geprüft werden können, ohne daß dabei störende Einflüsse von anderen auf der Schaltungskarte angeschlossenen Plättchen auftreten können. Dies wird erfindungsgemäß dadurch erreicht, daß an jedem NOR-Glied eine zusätzliche, nach außen herausgeführte Leitung vorgesehen ist, die selektiv über Schalter durch Anschaltung an eine Potentialquellc in der Weise ansteuerbar ist, daß mit Ausnahme des zu prüfenden Halblaiter-Schaltungspläuchens die Eingangsleitungen alle auf einem dem einen logischen Wert f-atspiechenden Potential liegen, während die Eingangsleitung des zu prüfenden Halbleiter-Schaltungsplättchens auf dem anderen logischen Potential gehalten ist, und daß die Prüfeinrichtung an die Eingangs- und Ausgangsleitungen der miteinander verbundenen Halbleiter-Schaltungsplättchen über gesonderte Anschlußleitungen anschaltbar ist.

Die am Ausgang des zu prüfenden Plättchens angeschlossenen NOR-Schaltungen erhalten kein externes Eingangssignal, während alle übrigen Plättchen durch Anlegen einer 1 an der Steuerleitung ihrer zugeordneten NOR-Schaltungen ausgangsseitig auf eine logische 1 gesteuert werden. Das bewirkt aber am Ausgang der NOR-Schaltungen eine logische Null, die durch die ausgangsseitige Inverterstufe des Plättchens invertiert wird und das Auftreten eines I-Impulses auf den Ausgangsleitungen aller Plättchen zur Folge hat, die gerade nicht geprüft werden. Die Prüfeinrichtung legt dann Prüfmuster an die Eingangsleitungen des zu prüfenden Plättchens in der Weise an, daß selektiv diejenigen Leitungen, die eine logische Null erfordern, geerdet werden. Gleichzeitig werden die Ausgangsleilungen des Plättchens überwacht, um festzustellen, ob die Schalungen auf dem Plättchen richtig arbeiten. Auf diese Weise kann jedes der Plättchen selektiv elektronisch isoliert und durch Anlegen all der Prüfmuster geprüft werden, die man ursprünglich vor der Befestigung und Zusammenschaltung der einzelnen Plättchen auf der Schaltungskarte benutzt hat. Damit kann jedjs Plättchen genauso wie im neuen Zustand geprüft werden, ohne daß eine physische Trennung von den übrigen Plättchen auf der Schaltungskarte erforderlich ist. Das defekte Plättchen kann damit leicht aufgefunden werden.

Die Erfindung wird nunmehr anhand von Ausführungsbeispielen näher beschrieben. Dabei zeigt

Fig. I eine Anordnung einer Schaltungskarte mit miteinander verbundenen Plättchen und Außenanschlüssen an eine Magnetkarteneinheit zum Lesen und Beschreiben von Magnetkarten, mit einer Tastatur mit Drucker und mit einer Anzeigevorrichtung,

Fig. 2 eine Anordnung logischer Schaltkreise auf einem Plättchen mit angeschlossener Prüfeinrichtung zum Anlegen möglicher Prüfimpulsmuster an den Eingangsstiften des PIiT₁ ichens.

Fig. 3 eine NOR-Schaltung, in MOSFET-Technik ausgeführt, zur Darstellung der Arbeitsweise der

NOR-Schaltungen, die an jeder der Ausgangsleitungen jedes Piättchens auf einer Schaltungskarte angescSilossen sind und

Fig.4 eine besondere Ausführungsform der Erfindung, bei der die NOR-Schaltungen und Inverterstufen in solcher Weise angeschlossen sind und gesteuet t werden, daß die einzelnen, auf einer Schaltungskarte befestigten und miteinander verbundenen Plättchen wie neu geprüft werden können, ohne daß sie physisch voneinander getrennt und isoliert werden müssen.

In Fig. 1 ist eine Schaltungskarte 1 gezeigt, auf der elektrisch miteinander verbundene Plättchen 2 bis 16 dargestellt sind. Während tatsächlich eine größere Anzahl von Leitungen zwischen den einzelnen Plättchen existieren, wird hier nur jeweils eine Leitung gezeigt. Dem Fachmann ist es ohne v/eiteres klar, daß eine große Anzahl von Verbindungsleitungen und Rückkopplungsleitungen zwischen den verschiedenen Plättchen auf der Schaltungsk-;rte bestehen. Die optimale Anordnung der Plättchen auf einer Schaltnngskarte ist eine der schwierigsten Ingenieuraufgaben in der Halbleiisrtechnik, da beispielsweise jedes Plättchen der augenblicklich verwendeten Technik 48 Anschlußstifte aufweist. Man sieht also, daß bei einer Anordnung von so vielen Anschlußstiften eine große Anzahl von Ausgangsleitungen von einem einzigen Plättchen nach anderen Plättchen führen kann. Es sollte ferner klar sein, daß, wahrend fünf Stifte von 48 Stiften für die Stromzufuhr zu dem Plättchen benutzt werden, die Anzahl der Anschlußstifte eines Plättchens nicht gleichmäßig zwischen Eingang und Ausgang aufgeteilt sein muß.

Weiterhin ist ein Drucker 23 dargestellt, der mit Leitungen 20 und 19 als Eingangs- und Ausgangsleitung für die Schaltungskp.rte an dieser angeschlossen ist. Die Leitung 20 ist mit der internen Leitung 17 verbunden, während die Leitung 19 mit der internen Leitung 18 verbunden ist. Die Leitungen 17 und 18 sind an dem Plättchen Nr. 12 angeschlossen. Für Zwecke der Beschreibung ist außerdem eine Magnetkarteneinheit 24 gezeigt, mit deren Hilfe Magnetkarten gelesen und beschrieben werden können und die über Leitung 21 mit der internen Eingangsleitung des Piättchens 14 verbunden ist. Ferner ist eine Anzeifeevorriciitung 25 vorgesehen, die über Leitung 22 mit der internen Eingangsleitung des Piättchens 16 verbunden ist. Obgleich hier wiederum nur zwei Eingabe/Ausgabeleitungen für den Drucker, eine einzige Eingangs/Ausgangsleitung für die Magnetkarteneinheit 24 und für die Anzeigevorrichtung 22 gezeigt sind, wird für Verwendung dieser Vorrichtungen steht eine große Anzahl von Eingangs- und Ausgangsleitungen vorhanden sein.

F i g. 2 zeigt die Anordnung der logischen Schaltkreise auf einem Plättchen in einer T.üansicht. Das Plättchen 12 möge 43 benutzbare An&chlußstifte haben. Die nach den Eingangsstiften führenden Eingangsleitungen seien die Leitungen 26 bis η und die Ausgangsleitungen seien 27 bL n. Jede der Eingangsleitungen sei mit einer Prüfeinrichtung 48 verbunden. Wie gezeigt, wird ein logisches Impulsmuster aus 0 und ⁽ an den Eingangsleitungen angelegt und, obgleich nicht gezeigt, werden die Ausgangsleitungen ebenfalls durch die Prüfeinrichtung überwacht, um sicherzustellen, daß die gewünschten logischen Ausgangssignale tatsächlich ausgangsseitig an dem Plättchen auftreten.

In F i g. 2 kann man ferner sehen, daß die Schaltkreise 28 bis 42, wie dies auch bei der Schaltungskarte der Fall war, logisch miteinander verbunden sind. Obgleich oft

nur einzelne Leitungen dargestellt sind, werden, abhängig von der ausgeführten oder dargestellten logischen Funktion, die logischen Schaltkreise durch mehr als eine Leitung miteinander verbunden scm. Mit logischen Schaltkreisen sind hier beispielsweise die Schaltungen UND, ODI-K. NOK, NAND und dergleichen gemeint. Diese logischen Schaltkreise sind zur ['Erfüllung der erforderlichen logischen l'unktion des Plänchcns miteinander verbunden, und jede Plättchen wird vor seiner Befestigung auf der Schaltungskarte in der in F-" i g. 2 gezeigten Weise geprüft. Ms wiirc natürlich sehr erwünscht, jeden der einzelnen logischen Schaltkreise für sich zu prüfen, um seine ordnungsgemäße Arbeitsweise festzustellen, doch ist es wegen der außerordentlich geringen Abmessungen dieser logischen Schaltkreise, wenn sie in einer Technik wie der für Meta Iloxid-Siliciiim-F-cldcffckt transistoren ausgeführt sind, und ihrer bei der Herstellung bereits gebildeten Schaltverbindungcn praktisch unmöglich, sie einzeln durchzuprüfen. Man wird daher an die Füngangsstifte eines Plättchens eine Anzahl von Prüfimpulsmuslern und Prüfsignalmiistcrn anlegen und die für jedes F-ingangsprüfmustcr auftretenden Ausgangssignalo überwachen. Auf diese Weise läßt sich eine Prüfbarkeit eines F'lättehens bis zu 95% erreichen. Ts wurde festgestellt, daß eine Prüfbarkeit von 95%. obgleich sie nicht vollständig zufriedenstellend ist. für die meisten Anwendungsfälle annehmbar ist. Das trifft insbesondere im Hinblick auf die Tatsache zu. daß es mehr Zeit und Aufwand erfordert, zusätzliche Prüfmuster aufzustellen, um die Prüfbarkeit eines Plättchens auf 98 oder 99% zu bringen, und es ist allgemein anerkannt, daß es unmöglich oder mindestens unpraktisch ist. eine 100%ige Zuverlässigkeit bei der Prüfung von Plättchen erreichen zu wollen.

Zum besseren Verständnis der in der vorliegenden Erfindung verwendeten NOR-Schaliung sei auf Tig. 3 verwiesen, in der eine solche NOR-Schaltung dargestellt ist. die in Metalloxid-Siliei-jm-Feldeffckttransistortcchnik ausgeführt ist. Der Fedlcffckttransistor 43 arbeitet als Lastwiderstand, während die übrigen drei Feldeffekttransistoren 45,46 und 47 die F'ingangstransistören der NOR-Schaltung darstellen. Jeder der Transistoren 45, 46 und 47 kann die Leitung 44 auf Erdpotential oder das logische Signal Null bringen, wenn der Transistor durch Anlegen des logischen Signals I oder eines positiven Signals am F.ingang A. B oder C eingeschaltet wird. Der Feldeffekttransistor 43 (die Last) bewirkt, daß auf der Ausgangslcitung 44 dann eine logische ! aufiritt, wenn an ke ncm der F.ingänge A. B oder Cdcr Transistoren 45,46 oder 47 eine logische I liegt.

In Fig.4 ist eine Schaltungskarte 1 gezeigt, die an einer Prüfeinrichtung 48 angeschlossen ist. Die Schaltungskarte t weist die Plättchen 50,67 und 68 auf. die auf der Schaltungskarte angebracht und untereinander elektrisch leitend verbunden sind. Der Einfachheit halber sind nur drei Plättchen auf der Schaltungskarte 1 dargestellt. Selbstverständlich können wesentlich mehr Plättchen auf der Schaltungskarte angebracht sein. Es ist nicht ungewöhnlich, daß ein logisches Plättchen bis zu 600 logische Schaltkreise enthält und daß auf einer Schaltungskarte bis zu 20 Plättchen angebracht sind. Der Eingang nach der Schaltungskarte 1 erfolgt über die Leitungen 49 bis π und der Ausgang erfoigi über die Leitungen 74 bis n.

Wenn das Plättchen 67 geprüft werden soll, nimmt es Eingangssignale von dem Plättchen 50 auf. könnte aber an sich auch Füngangssignalc son vielen anderen Plättchen auf der Schaltungskarte aufnehmen. |cdc der Aiisgiingslcilun<:en 54 und 54;/ des l'liitlchens 50 ist eingangsseitig an NOR-Schaltungen 52 bzw. 53 angeschlossen, die ihre Ausgangssignale über Leitungen 56 b/w. 56;» an die Invrterstufcn 57 b/w. 58 abgeben. Das Alisgangssignal der Invcrstufe 57 wird über Leitung 61 dem Eingang des Plättchens 67 zugeführt, und die Leitung 61 ist außerdem über Leitung 62 mit der Prüfeinrichtung 48 verbunden. Das Ausgangssignal der Invcrtei stufe 58 wird über die Leitung 59 dem Eingang des Plättchens 67 zugeführt und ist außerdem über die Leitung 60 mit der Prüfeinrichtung 48 verbunden. Zur Darstelley der gegenseitigen elektrischen Verbindung der einzelnen Plättchen ist ein Anschluß für das Plättchen 68 von der Li-itiing 59 über die Leitung 63 und durch gestrichelte Linien 71, 72 und 73 dargestellt. Da an jedem der Plättchen identische NOR-Schaltungen und Invertprstufcn angeschlossen sind, sollen die ausgangsseitig vorgesehenen NOR-Schaltungen und Invcrterstufen dei Plättchen 67 und 68. die als Blocks 69 und 70 dargestellt sind, nicht näher bcschner *n werden. Ihre Arbeitsweise ist absolut identisch mit der Arbeitsweise des Blocks 51, der mit dem Plättchen 50 verbunden ist und anschließend beschrieben wird.

Wie bereits angedeutet, gibt es beim Prüfen des i'lättchms 6/ kein Eingangssignal auf der Leitung 75. die eine Steucrleitung für die NOR-Schaltung im Block 69 des Plättchens 67 bildet, so daß das Ausgangssignal des Plättchens 67 durch die NOR-Sch.i'tungen nicht beeinflußt ist. Das heißt, der Schalter 65. der mit einer Klemme an einem positiven Potential von + 8 Volt liegt, ist geöffnet. Die Schalter 64 und 66 sind jedoch geschlossen, so daß ein positives logisches Potential über die Leitungen 76 und 77 an den NOR-Schaltungen in dem Block 70 des Plältehens 68 und Block 51 des Plättchens 50 liegt. Wenn weitere Plättchen vorhanden wären, würden alle Leitungen, die den zweiten Eingang der NOR-Schallungcn im Ausgangsblock aller nicht geprüften Plättchen bilden, ebenso ein Eingangssignal mit einem positiven logischen Potential erhalten. Betrachtet man den die logische Schaltung 50 zugeordneten Block 51. so sieht man. daß in Übereinstimmung mit der Beschreibung der MOSFET-NOR-Schaltung in Fig. 3 das Anlegen eines positiven logischen Potentials bewirkt, daß die Ausgangsleitung F'rdpotential oder das logische Potential Null annimmt, unabhängig vom Ausgangssignal des zugehörigen Plättchens. Das heißt aber, daß es unbeachtlich ist. ob ein Signal 0 oder 1 auf einer der Leitungen 54 od~r 54a liegt. Die einzige für die Prüfung wichtige Steuerung liegt in dem Anlegen der logischen Potentiale an den Leitungen 75, 76 und 77. Wenn die Ausgangssignale der NOR-Schaltungen 52 und 53 den Wert Null annehmen, dann liegt eine logische null über die Leitungen 56 und 56a am Eingang der Inverterstufen 57 bzw. 58. Damit liegen aber positive logische Potentiale an allen mit diesen Leitungen verbundenen Plättchen. Man sieht also, daß alle Ausgangsklemmen aller nichtgeprüfter Planchen durch Anlegen positiver logischer Potentiale an die NOR-Schaltungen an ihren Ausgängen ein Signal für eine logische 1 annehmen. Das einzige Plättchen, das nicht zwangsweise eine logische 1 auf den Ausgangsleitungen aufweist, ist das Plättchen 67, das geprüft werden soll. Siait dessen werden die Ausgangssignaic der NOR-Schaltungen und Inverterstufen. die mit dem Plättchen 67 verbunden sind, ausschließlich durch das Arbeiten des Plättchens selbst gesteuert, da die

zugehörigen NOR-Schaltiingen kein steuerndes Potential von außen aufnehmen.

Das Plättchen wird dann in der üblichen Weise geprüft. Das heißt, an den Eingangsklemmen des Plättchens 67 werden gemäß dem anzulegenden Prüfmuster ein Muster von logischen Nullen und Einsen i)ⁿ2elegt. Die Prüfeinrichtung bestimmt also, ob über die l.ei'ung 62 bzw. über die Leitung 60 eine logische 0 oder eine logische I am 1 ingang des Plättchens 67 angelegt werden soll. Aul diese Weise können !"¹Ie ursprünglichen Prüfmuster an das Plättchen 67 angelegt werden, die seinerzeit beim Zusammenbau der Schaltung angelegt worden waren, und das Plättchen kann wie im Neuzustand geprüft werden, indem man mit der Prüfeinrichtung die auf den am Ausgang des Blocks 69 angeschlossenen Ausgangsleitungen 71 und 72 auftretenden Signale überwacht. Diese Überwachung ist gL-naii die gleiche wie bei der ursprünglichen Prüfung der Plättchen vor dem Zusammenbau, so daß sich hier eine Prüfung wie beim Neuzustand erreichen läßt. |edes der übrigen Plättehen kann ebenso selektiv durch Betätigung der Schalter 64,65 oder 66 elektrisch isoliert werden, so daß alle Plättehen, die gerade nicht geprüft werden, kein Eingangssignal erhalten, während alle auf der .Schaltungsplatte verbleibenden Plättchen durch Anlegen eines positiven logischen Potentials an ihren NOR-Schultungen gezwungen werden, ausgangsseitig an ihren Blocks positive logische Potentiale anzugeben.

Auf diese Weise ist aber eine Prüfung der einzelnen ■"•if einer .Schaltungskarte befestigten Plättchen wie im Neuzustand möglich. |cdes der einzelnen auf der .Schaltungskarte befestigten Plättchen hat an jeder seiner Ausgangsleitungen eine NÜR-Schaltung und eine Invertcrstufe. Die Ausgangsleitungen der einzelnen Plättchen sind mit einer Prüfeinrichtung für Plättchen verbunden, die in üblicher Weise die Ausgangssignalc überwacht, um festzustellen, ob das cinganirsseitige Prüfsignalmuster die gewünschte Arbeitsweise des Plättchens anzeigt. Die mil dem Ausgang des zu prüfenden Plätichens verbundenen NOR-Schallungeii nehmen kein externes [Eingangssignal auf. während alle übrigen Plättchen durch Anlegen eines positiven logischen Potentials an ihren / !geordneten NORSchaltungen zwangszwc'se ausgangsseitig tuf eine logische Eins gesteuert weiden. Das bewirkt aber ausgangsseitig an den NOR-Schalluneen den Irdischen Ausgang Null, der invertiert wird, so daß an allen gerade nicht zu prüfenden Plättchen auf den Ausgar.gsleitungen eine logische Eins auftritt. Die Prüfeinric llung für Plättchen führt dann den Eingangsieitungen des zu prüfenden Plättchens ein Prüfimpulsmuster zu. in dem selektiv diejenigen Eingangsleitungen geerdet werden, bei denen das logische Signal Null angelegt werden soll. Es überwacht außerdem gleichzeitig die Ausgangsleitungen des Plättchens und stellt fest, ob das Plättchen richtig arbeitet. Auf diese W^ise kann jedes der Plättchen selektiv elektronisch isoliert und durch Anlegen aller Prüfmuster geprüft werden, die ursprünglich vor der Befestigung und Zusammenschaltung der Plättchen auf der Schaltungskarte verwendet wurden. Es kann somit jedes Plättchen wie im Neuzustand geprüft werden, ohne daß es auf der Schaltu' gskarle physisch von den übrigen Plättchen getrennt werden muß und ein defektes Plättchen läßt sich so leicht feststellen.

Hierzu 2 Blatt Zeichnungen

Claims

Patentanspruch:

Einrichtung für die selektive Prüfung von auf einer Schaltungskarte mit ihren Anschlußstiften fest angeschlossenen, jeweils mit einer großen Anzahl von integrierten logischen Schaltungen in MOSFET-Technik versehenen Halbleiterschaltungsplättchen, die jeweils zwischen den logischen Ausgangsschaltungen und den Eingängen des nächsten Halbleiterschaltungsplättchens hintereinandergeschaltet ein NOR-Glied und eine Inverterstufe aufweisen, durch elektrische Isolation des jeweils zu prüfenden Halbleiterschaltungsplättchens von den übrigen, auf der Schaltungskarte befestigten Halbleiterschallungsplättchen und Anlegen der Prüfsignale an die Eingänge des zu prüfenden Halbleiterschaltungsplättchens und Abnahme der an den Ausgängen dieses Halbleiterschaltungsplättchens auftretenden Signale an den Anschlußstiften und Vergleich dieser Ausgangssignale mit vorgegebenen, zu erwartenden Ausgangssignalen in einer Prüfeinrichtung für logische Schaltungen, dadurch gekennzeichnet,

daß auf jedem Halbleiterschaltungsplättchen (50,51; 67; 69; 68-70) an jedem NOR-Glied (52, 53) eine zusätzliche, nach außen herausgeführte Leitung (75, 76, 77) vorgesehen ist. die selektiv über Schalter (64, 65,66) durch Anschaltung an eine Potentialquelle in der Weise ansteuerbar sind,

daß mit Air.nahme des zu prüfenden Halbleiterschaltungsplättchens die Einringsleitungen (76, 77) alle auf einem dem einen logischen Wert entsprechenden Poten.ial liegen, während die Eingangsleitung (75) des zu prüfenden Halbleiterschaltungsplättchens (67—69) auf dem anderen logischen Potential gehalten ist, und

daß die Prüfeinrichtung (48) an die Eingangs- und Ausgangsleitungen der miteinander verbundenen Halbleiterschaltungsplättchen über gesonderte Anschlußleitungen (60,62; 71,72) anschaltbar ist.