CN112083309B - 一种记忆板件智能测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及记忆板件智能测试系统及方法。包括：供电单元，基准信号输出单元，输出检测单元，板件插座，连接板件插座的第一、第二、第三和第四阵列开关，连接各阵列开关的控制单元，连接基准信号输出单元、输出检测单元和控制单元的通信单元，连接通信单元的显示单元；其中，显示单元显示与各阵列开关分别对应的虚拟节点，且显示单元在虚拟节点被触发时生成或清除虚拟节点之间的连线，控制单元在虚拟节点被触发时触发各阵列开关对应的连接节点连接或断开；显示单元控制基准信号输出单元输出基准信号并获取检测信号以得到待测板件的测试结果。实施本发明操作方便，能够大大减少记忆板件测试过程的工作量，保证记忆板件测试可靠。

Description

一种记忆板件智能测试系统及方法

技术领域

本发明涉及板件测试技术领域，更具体地说，涉及一种板件智能测试系统及方法。

背景技术

大亚湾、岭澳核电站每轮次大修校验板件的数量庞大，其中使用的记忆板件(ME板件)有35个针脚，在测试过程中，需要针对不同的性能测试，对其管脚进行不同的连线。繁琐的接线，不仅不直观和凌乱，同时还增加接线错误概率，尤其是在变更接线的过程中，其出错概率也会激增，测试结果不能保证为正确连线的测试结果，影响ME板件的最终测试结果的可靠性。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述部分技术缺陷，提供一种记忆板件智能测试系统及方法。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种记忆板件智能测试系统，包括：供电单元，基准信号输出单元，输出检测单元，与待测板件可插拔安装的板件插座，连接所述板件插座的第一属性管脚的第一阵列开关，连接所述板件插座的第二属性管脚与所述供电单元的第二阵列开关，连接所述板件插座的第三属性管脚与所述基准信号输出单元的第三阵列开关，连接所述板件插座的第四属性管脚与所述输出检测单元的第四阵列开关，分别连接所述第一阵列开关、所述第二阵列开关、所述第三阵列开关和所述第四阵列开关的控制单元，分别连接所述基准信号输出单元、所述输出检测单元和所述控制单元的通信单元，连接所述通信单元的显示单元；其中，

所述显示单元显示与所述第一阵列开关、所述第二阵列开关、所述第三阵列开关和所述第四阵列开关的连接节点分别对应的虚拟节点，且所述显示单元在所述虚拟节点被触发时生成或清除所述虚拟节点之间的连线，所述控制单元在所述虚拟节点被触发时触发所述第一阵列开关、所述第二阵列开关、所述第三阵列开关和/或所述第四阵列开关中对应的连接节点连接或断开；

所述显示单元还用于控制所述基准信号输出单元输出基准信号并通过所述输出检测单元获取与所述基准信号对应的检测信号，以根据所述检测信号得到所述待测板件的测试结果。

优选地，

所述供电单元包括用于提供第一供电电压的第一供电单元和用于提供第二供电电压的第二供电单元，所述第一供电单元和所述第二供电单元分别连接所述第二阵列开关的不同连接节点；和/或

所述输出检测单元包括用于获取所述待测板件的电压检测信号的输出电压检测单元和用于获取所述待测板件的电流检测信号的输出电流检测单元，所述输出电压检测单元和所述输出电流检测单元分别连接所述第四阵列开关的不同连接节点。

优选地，

所述基准信号输出单元包括用于生成第一基准电压的第一基准信号输出单元，用于输出第二基准电压生成第二基准信号输出单元和用于生成第三基准电压的第三基准信号输出单元；

所述第一基准信号输出单元、所述第二基准信号输出单元和所述第三基准信号输出单元分别连接所述第三阵列开关的不同连接节点。

优选地，

所述显示单元控制所述第一基准信号输出单元生成的所述第一基准电压为第一固定值；

所述显示单元控制所述第二基准信号输出单元生成的所述第二基准电压为第二固定值；

所述显示单元控制所述第三基准信号输出单元生成的所述第三基准电压满足一预设函数。

本发明还构造一种记忆板件智能测试方法，应用于如上面所述的记忆板件智能测试系统，包括：

S1、根据所述第一阵列开关、所述第二阵列开关、所述第三阵列开关和所述第四阵列开关在所述显示单元的显示界面生成与所述第一阵列开关、所述第二阵列开关、所述第三阵列开关和所述第四阵列开关的连接节点分别对应的虚拟节点；

S2、触发所述虚拟节点生成触发指令，以在所述显示界面生成或清除所述虚拟节点之间的连线，并根据所述触发指令控制所述第一阵列开关、所述第二阵列开关、所述第三阵列开关和/或所述第四阵列开关中对应的连接节点连接或断开；

S3、控制所述基准信号输出单元输出基准信号并通过所述输出检测单元获取与所述基准信号对应的检测信号；

S4、根据所述检测信号得到所述待测板件的测试结果。

优选地，本发明的一种记忆板件智能测试方法还包括：

A1、触发与所述第二阵列开关对应的虚拟节点，以使所述第二阵列开关中连接所述供电单元的连接节点分别与连接所述板件插座的第二十管脚和第四管脚的连接节点导通、连接所述板件插座的第十五管脚和第十六管脚的连接节点分别接地；

A2、触发与所述第四阵列开关对应的虚拟节点，以使所述第四阵列开关中连接所述板件插座的第二十四管脚的连接节点与连接所述输出电压检测单元的连接节点导通、连接所述板件插座的第十八管脚的连接节点与连接所述输出电流检测单元的连接节点导通；

A3、触发与所述第三阵列开关对应的虚拟节点，以使所述第三阵列开关中连接所述板件插座的第二十二管脚的连接节点与连接所述基准信号输出单元的连接节点导通；

A4、调整所述基准信号以获取对应的所述电压检测信号和所述电流检测信号，并确认所述电压检测信号和所述电流检测信号是否满足第一预设条件，若是，则判定所述待测板件的测试结果为合格，若否，则判定所述待测板件的测试结果为不合格。

优选地，本发明的一种记忆板件智能测试方法还包括：

A5、触发与所述第二阵列开关对应的虚拟节点，以使所述第二阵列开关中连接所述供电单元的连接节点与连接所述板件插座的第一管脚的连接节点瞬间导通；

A6、调整所述基准信号以获取对应的所述电压检测信号和所述电流检测信号，并确认所述电压检测信号和所述电流检测信号是否满足第二预设条件，若是，则判定所述待测板件的测试结果为合格，若否，则判定所述待测板件的测试结果为不合格。

优选地，本发明的一种记忆板件智能测试方法还包括：

B5、触发与所述第二阵列开关对应的虚拟节点，以使所述第二阵列开关中连接所述供电单元的连接节点与连接所述板件插座的第十管脚的连接节点导通；

B6、获取所述电压检测信号和所述电流检测信号，并确认所述电压检测信号和所述电流检测信号是否满足第三预设条件，若是，则判定所述待测板件的测试结果为合格，若否，则判定所述待测板件的测试结果为不合格。

优选地，本发明的一种记忆板件智能测试方法还包括：

C5、触发与所述第二阵列开关对应的虚拟节点，以使所述第二阵列开关中连接所述供电单元的连接节点与连接所述板件插座的第十二管脚的连接节点导通；

C6、获取所述电压检测信号和所述电流检测信号，并确认所述电压检测信号和所述电流检测信号是否满足第四预设条件，若是，则判定所述待测板件的测试结果为合格，若否，则判定所述待测板件的测试结果为不合格。

优选地，本发明的一种记忆板件智能测试方法还包括：

D5、触发与所述第二阵列开关对应的虚拟节点，以使所述第二阵列开关中连接所述供电单元的连接节点与连接所述板件插座的第四管脚的连接节点断开；

D6、调整所述基准信号以获取对应的所述电压检测信号和所述电流检测信号，并确认所述电压检测信号和所述电流检测信号是否满足第五预设条件，若是，则判定所述待测板件的测试结果为合格，若否，则判定所述待测板件的测试结果为不合格。

实施本发明的一种板件智能测试系统及方法，具有以下有益效果：操作方便，能够大大减少记忆板件测试过程的工作量，保证记忆板件测试可靠。

附图说明

下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明，附图中：

图1是本发明一种记忆板件智能测试系统一实施例的逻辑框图；

图2是本发明一种记忆板件智能测试系统另一实施例的逻辑框图；

图3是本发明显示单元显示界面一实施例的示意图；

图4是本发明一种记忆板件智能测试方法一实施例的流程图；

图5是本发明一种记忆板件智能测试方法一实施例的流程图；

图6是本发明一种记忆板件智能测试方法另一实施例的流程图；

图7是本发明一种记忆板件智能测试方法另一实施例的流程图；

图8是本发明一种记忆板件智能测试方法另一实施例的流程图。

具体实施方式

为了对本发明的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图详细说明本发明的具体实施方式。

如图1所示，在本发明的一种记忆板件智能测试系统第一实施例中，包括：供电单元121，基准信号输出单元122，输出检测单元123，与待测板件可插拔安装的板件插座110，连接板件插座110的第一属性管脚的第一阵列开关131，连接板件插座110的第二属性管脚与供电单元121的第二阵列开关132，连接板件插座110的第三属性管脚与基准信号输出单元122的第三阵列开关133，连接板件插座110的第四属性管脚与输出检测单元123的第四阵列开关134，分别连接第一阵列开关131、第二阵列开关132、第三阵列开关133和第四阵列开关134的控制单元140，分别连接基准信号输出单元122、输出检测单元123和控制单元140的通信单元140，连接通信单元140的显示单元160；其中，显示单元160显示与第一阵列开关131、第二阵列开关132、第三阵列开关133和第四阵列开关134的连接节点分别对应的虚拟节点161，且显示单元160在虚拟节点161被触发时生成或清除虚拟节点之间的连线，控制单元140在虚拟节点161被触发时触发第一阵列开关131、第二阵列开关132、第三阵列开关133和/或第四阵列开关134中对应的连接节点连接或断开；显示单元160还用于控制基准信号输出单元122输出基准信号并通过输出检测单元123获取与基准信号对应的检测信号，以根据检测信号得到待测板件的测试结果。具体的，在测试系统中，待测板件与板件插座110配合并与板件插座110可插拔安装，在对待测板件进行测试时，将待测板件置于板件插座110上以构成待测板件的测试电路。待测板件的测试电路包括供电单元121、基准信号输出单元122、输出检测单元123。其中供电单元121用于在待测板件测试时给待测板件及其他电路提供供电电源，基准信号输出单元122用来提供待测板件测试时需要的基准信号，输出检测单元123用于在待测板件测试过程中，基准信号输入时获取对应的输出信号。供电单元121通过第二阵列开关132连接板件插座110的供电管脚即第二属性管脚，其可以理解供电单元121通过第二阵列开关132控制其与待测板件的导通或关断。基准信号输出单元122通过第三阵列开关123连接板件插座110的基准信号输入管脚也即第三属性管脚，其可以理解为基准信号输出单元122通过第三阵列开关133控制其与待测板件的导通或关断。输出检测单元123通过第四阵列开关134连接板件插座110的测试信号输出管脚也即第四属性管脚，也可以理解为输出检测单元123通过第四阵列开关134控制其与待测板件的导通或关断。同时，在待测板件测试过程中，其部分管脚需要相互连接，即待测板件这些需要互相连接的管脚通过第一阵列开关131控制其之间的导通或关断，即第一阵列开关131连接板件插座110的第一属性管脚。由于板件插座110与待测板件之间关系是一一对应的，因此板件插座110的管脚属性由待测板件的需要连接的电路属性决定。在测试过程中，可以通过控制单元140控制第一阵列开关131、第二阵列开关132、第三阵列开关133和第四阵列开关134按照需要动作，显示单元160通过通信单元150控制基准信号输出单元122输出需要的基准信号，同时显示单元160通过通信单元150接收输出检测单元123获取的检测信号并对待测板件的测试结果进行确认。其可以通过各个阵列开关的中各开关节点的导通与关断的设置，形成待测板件的不同的电性连接关系。不同的电性连接关系对应待测板件的不同功能或指标的测试。控制单元140通过通信单元150连接显示单元160，显示单元160上显示有虚拟节点161，虚拟节点161与各个阵列开关的连接节点为一一对应的关系。阵列开关的连接节点理解为阵列开关用来外接电路的连接节点。当需要设置板件插座110、供电单元121、基准信号输出单元123和输出检测单元123的端点之间的某一连接关系时，其可以触发端点对应的阵列开关的连接节点对应的虚拟节点161，例如依次点击两个虚拟节点161，当该两个虚拟节点161之间为未连线状态时，则会在显示单元160上生成该两个虚拟节点161之间的连线。同时控制单元140在该虚拟节点161被触发时，并当该两个虚拟节点161之间为未连线状态时，触发阵列开关130中与连接节点对应的开关节点连接，这样就形成与显示单元160上虚拟节点161连线对应的实际的测试电路中的电性连接关系。当需要断开板件插座110、供电单元121、基准信号输出单元122和输出检测单元123端点之间的某一连接关系时，其可以依次触发端点对应的连接节点对应的虚拟节点161，例如依次点击两个虚拟节点161，当该两个虚拟节点161之间为已连线状态时，则会在显示单元160上清除该两个虚拟节点161之间的连线。同时控制单元140在该虚拟节点161被触发时，并当该两个虚拟节点161之间为已连线状态时，触发对应阵列开关中与连接节点对应的开关节点断开，这样就断开了与显示单元160上虚拟节点161连线对应的实际的测试电路中的电性连接关系。其可以理解，控制单元140和显示单元160在接收到虚拟节点161被触发的触发指令时，其均可以对当前的虚拟节点161之间是否已有连线进行判断，并根据判断结果分别触发实际阵列开关动作和在显示单元160上进行生成或者清除连线的动作，实现显示单元160的显示状态与实际的测试系统中电性连接关系的一致性。待测板件测试过程中，通过触发与第二阵列开关132对应的虚拟节点161，使得供电单元121对待测板件供电，触发与第三阵列开关133对应的虚拟节点161，对待测板件输入基准信号，通过触发与第四阵列开关134对应的虚拟节点161，使得输出检测单元123获取待测板件的输出信号，通过测试输出信号或者测试输出信号与基准信号的关系判定待测板件的性能指标。触发与第一阵列开关131对应的虚拟节点161，即可以实现待测板件内部工作管脚之间的连接或断开关系。各阵列开关与虚拟节点161的对应关系为上文描述虚拟节点161与阵列开关的连接节点对应。第一阵列开关131、第二阵列开关132、第三阵列开关133和第四阵列开关134可以根据需要进行选择性设置。

可选的，如图2和图3所示，供电单元121包括用于提供第一供电电压的第一供电单元1211和用于提供第二供电电压的第二供电单元1212，第一供电单元1211和第二供电单元1212分别连接第二阵列开关132的不同连接节点；具体的，供电单元121包括提供不同电压输出的不同单元模块，其第一供电单元1211提供30V左右的电压输出即第一供电电压，第二供电单元1212提供48V左右的电压输出即第二供电电压，第一供电单元1211和第二供电单元1212相互不影响，其可以对应第二阵列开关132不同的连接节点，其在显示单元160中对应不同虚拟节点161，例如分别对应虚拟节点P1和虚拟节点P2，由第二阵列开关132分别控制。同时为降低电源噪声，防止相互串扰，第一供电单元1211和第二供电单元1212可以采用工频变压器。另外，为了保障待测板件和供电单元121的安全，其供电单元均设有限流保护功能。

可选的，输出检测单元123包括用于获取待测板件的电压检测信号的输出电压检测单元1231和用于获取待测板件的电流检测信号的输出电流检测单元1232，输出电压检测单元1231和输出电流检测单元1231分别连接第四阵列开关134的不同连接节点。即，在待测板件测试过程中，其可以分别对电压检测信号和电流检测信号进行检测，以对待测板件的性能进行分析。可通过输出电压检测单元1231获取对应的电压检测信号和通过输出电流检测单元1232获取对应的电流检测信号。输出电压检测单元1231和输出电流检测单元1232分别对应第四阵列开关134的不同连接节点，其在显示单元中对应不同虚拟节点，例如对应分别对应虚拟节点C1和虚拟节点C2，其由第四阵列开关134分别控制。

在一实施例中，输出电压检测单元1231采用高稳定的基准和24位高精度模数转换芯片，对测量信号进行防高压误入保护，其最高允许60VDC，电压检测信号进入信号调理电路，调理电路通过高性能运放和金属箔电阻将电压检测信号调理到适合ADC测量芯片适合的电压后，再由ADC直接测量。测量速率可设置，最高采集速率100点/秒。输出电压检测单元内设有单片机控制电压检测信号获取过程。为了防止信号串扰，输出电压检测单元1231同通信单元150间也采用了光电隔离芯片进行数据通信。

在一实施例中，输出电流检测单元1232采用高稳定的基准和24位高精度模数转换芯片，对测量信电流信号先进行限流保护，即最大电流不超过<30mA，防止大电流对后继电路的破坏。同时通过250欧姆电阻将电流转换成电压后再后进入信号调理电路，调理电路采用高性能运放和金属箔电阻，将输入信号调理到适合ADC测量芯片适合的电压后，再由ADC直接测量。测量速率可设置，最高采集速率100点/秒。输出电流检测单元内设置单片机控制电流检测信号获取过程，为了防止信号串扰，输出电流检测单元1232同通信单元150间也采用了光电隔离芯片进行数据通信。

可选的，基准信号输出单元122包括用于生成第一基准电压的第一基准信号输出单元1221，用于输出第二基准电压生成第二基准信号输出单元1222和用于生成第三基准电压的第三基准信号输出单元1223；第一基准信号输出单元1221、第二基准信号输出单元1222和第三基准信号输出单元1223分别连接第三阵列开关133的不同连接节点。即，基准信号输出单元122包括采用独立供电的第一基准信号输出单元1221、第二基准信号输出单元1222和第三基准信号输出单元1223，分别用来提供三路不同的基准电压输出，对每一基准信号输出单元均设有输出短路保护功能，其内部采用高稳定、低温漂的电压基准和16位高精度数模转换芯片，将数模芯片输出信号进行信号调理，调理电路采用高性能运放和金属箔电阻，调理后输出电压再进行限流保护后输出，其允许输出电流不超过10mA。其可以通过各基准信号输出单元的输出端口获取其输出的基准电压。各基准信号输出单元内设有单片机控制各基准电压的输出过程，同时为了防止信号串扰，各基准信号输出单元同通信单元150间采用了光电隔离芯片进行数据通信。第一基准信号输出单元1221、第二基准信号输出单元1222和第三基准信号输出单元1223分别对应第三阵列开关133的不同连接节点，其在显示单元160中对应不同虚拟节点161，例如分别对应虚拟节点I1、虚拟节点I2和虚拟节点I3，其由第三阵列开关134分别控制。

可选的，显示单元160控制第一基准信号输出单元1221生成的第一基准电压为第一固定值；显示单元160控制第二基准信号输出单元1222生成的第二基准电压为第二固定值；显示单元160控制第三基准信号输出单元1223生成的第三基准电压满足一预设函数。其中第一基准电压和第二基准电压可以为固定值，其取值范围为0-6V。第三基准电压为函数电压，即第三基准信号输出单元1231可以在显示单元160的控制下实现斜坡电压输出，最高输出速率100点/秒。

另，如图4所示，本发明的一种记忆板件智能测试方法，应用于如上面的记忆板件智能测试系统，包括：

S1、根据第一阵列开关、第二阵列开关、第三阵列开关和第四阵列开关在显示单元的显示界面生成与第一阵列开关、第二阵列开关、第三阵列开关和第四阵列开关的连接节点分别对应的虚拟节点；

S2、触发虚拟节点生成触发指令，以在显示界面生成或清除虚拟节点之间的连线，以触发第一阵列开关、第二阵列开关、第三阵列开关和/或第四阵列开关中对应的连接节点连接或断开；

S3、控制基准信号输出单元输出基准信号并通过输出检测单元获取与基准信号对应的检测信号；

S4、根据检测信号得到待测板件的测试结果。

具体的，通过上面描述的记忆板件智能测试系统，其通过触发虚拟节点形成虚拟节点之间的连接关系，并生成对应的连线，同时与虚拟节点对应的各个阵列开关根据虚拟节点的触发指令动作，形成对应的连接节点之间的连接关系，形成最终的连接电路连接关系。在该电路连接关系下，控制基准信号输出单元输出基准信号并通过输出检测单元获取与基准信号对应的检测信号；根据检测信号得到待测板件的测试结果，完成对待测板件的测试。其具体还根据板件智能测试系统进行各种操作，以实现对不同的待测板件的测试。

可选的，如图5所示，本发明的一种记忆板件智能测试方法还包括：

A1、触发与第二阵列开关对应的虚拟节点，以使第二阵列开关中连接供电单元的连接节点分别与连接板件插座的第二十管脚和第四管脚的连接节点导通、连接板件插座的第十五管脚和第十六管脚的连接节点分别接地；

A2、触发与第四阵列开关对应的虚拟节点，以使第四阵列开关中连接板件插座的第二十四管脚的连接节点与连接输出电压检测单元的连接节点导通、连接板件插座的第十八管脚的连接节点与连接输出电流检测单元的连接节点导通；

A3、触发与第三阵列开关对应的虚拟节点，以使第三阵列开关中连接板件插座的第二十二管脚的连接节点与连接基准信号输出单元的连接节点导通；

A4、调整基准信号以获取对应的电压检测信号和电流检测信号，并确认电压检测信号和电流检测信号是否满足第一预设条件，若是，则判定待测板件的测试结果为合格，若否，则判定待测板件的测试结果为不合格。

具体的，可以通过以下过程对ME板件进行自动状态测试，通过触发虚拟节点实现ME板件的管脚T20和管脚T4与供电单元导通连接实现+28V电压输入，ME板件的管脚T15和管脚T16接地，ME板件的管脚T22与基准信号输出单元接收基准信号的输入，输出电压检测单元与ME板件的管脚T24导通连接实现电压检测信号的获取，输出电流检测单元与ME板件的管脚T18导通连接实现电流检测信号的获取。在测试过程中，调整基准信号输出单元使得基准信号按照一定规则变化，并获取对应的电流检测信号和电压检测信号，通过电流检测信号和电压检测信号确认ME板件的输出精度是否满足要求即电压检测信号和电流检测信号是否满足第一预设条件。当基准信号为为1～5V电压信号，电流检测信号和电压检测信号分别为1～5V电压和4～20mA电流信号。电压检测信号的精度要求为其偏差不超过为0.5％，电流检测信号的精度为其偏差不超过3％。具体的可以参照下表：

可选的，如图6所示，本发明的一种记忆板件智能测试方法还包括：

A5、触发与第二阵列开关对应的虚拟节点，以使第二阵列开关中连接供电单元的连接节点与连接板件插座的第一管脚的连接节点瞬间导通；

A6、调整基准信号以获取对应的电压检测信号和电流检测信号，并确认电压检测信号和电流检测信号是否满足第二预设条件，若是，则判定待测板件的测试结果为合格，若否，则判定待测板件的测试结果为不合格。

具体的，在上面的基础上通过以下过程对ME板件切换为手动状态测试，保持通过触发虚拟节点实现的ME板件的管脚T20和管脚T4与供电单元导通连接实现+28V电压输入，ME板件的管脚T15和管脚T16接地，ME板件的管脚T22与基准信号输出单元接收基准信号的输入，输出电压检测单元与ME板件的管脚T24导通连接实现电压检测信号的获取，输出电流检测单元与ME板件的管脚T18导通连接实现电流检测信号的获取。通过触发虚拟节点触发ME板件的管脚T1与供电单元进行瞬间导通，瞬间导通也可以理解为瞬时导通，即对ME板件的管脚T1进行快速上电触发后断开供电。在测试过程中，调整基准信号输出单元使得基准信号按照一定规则变化，并获取对应的电流检测信号和电压检测信号，通过电流检测信号和电压检测信号确认ME板件的输出是否满足要求即电压检测信号和电流检测信号是否满足第二预设条件。此时的电流检测信号和电压检测信应当不随基准信号的变化而变化，其为固定值。即当电流检测信号和电压检测信应当不随基准信号的变化而变化时，判定待测板件的测试结果为合格，若发生变化，则判定待测板件的测试结果为不合格。

可选的，如图6所示，本发明的一种记忆板件智能测试方法还包括：

B5、触发与第二阵列开关对应的虚拟节点，以使第二阵列开关中连接供电单元的连接节点与连接板件插座的第十管脚的连接节点导通；

B6、获取电压检测信号和电流检测信号，并确认电压检测信号和电流检测信号是否满足第三预设条件，若是，则判定待测板件的测试结果为合格，若否，则判定待测板件的测试结果为不合格。

具体的，在上面的基础上通过以下过程对ME板件切换为自动增加状态测试，保持通过触发虚拟节点实现的ME板件的管脚T20和管脚T4与供电单元导通连接实现+28V电压输入，ME板件的管脚T15和管脚T16接地，ME板件的管脚T22与基准信号输出单元接收基准信号的输入，输出电压检测单元与ME板件的管脚T24导通连接实现电压检测信号的获取，输出电流检测单元与ME板件的管脚T18导通连接实现电流检测信号的获取。通过触发虚拟节点实现ME板件的管脚T10与供电单元导通连接实现+28V电压输入，在测试过程中，基准信号输出单元使得基准信号为一固定输入，并获取对应的电流检测信号和电压检测信号，通过电流检测信号和电压检测信号确认ME板件的输出是否满足要求即电压检测信号和电流检测信号是否满足第三预设条件。此时的电流检测信号和电压检测信应当自动增加。即当电流检测信号和电压检测信应当自动增加时，判定待测板件的测试结果为合格，若不自动增加，则判定待测板件的测试结果为不合格。

可选的，如图7所示，本发明的一种记忆板件智能测试方法还包括：

C5、触发与第二阵列开关对应的虚拟节点，以使第二阵列开关中连接供电单元的连接节点与连接板件插座的第十二管脚的连接节点导通；

C6、获取电压检测信号和电流检测信号，并确认电压检测信号和电流检测信号是否满足第四预设条件，若是，则判定待测板件的测试结果为合格，若否，则判定待测板件的测试结果为不合格。

具体的，在上面的基础上通过以下过程对ME板件切换为自动减少状态测试。保持通过触发虚拟节点实现的ME板件的管脚T20和管脚T4与供电单元导通连接实现+28V电压输入，ME板件的管脚T15和管脚T16接地，ME板件的管脚T22与基准信号输出单元接收基准信号的输入，输出电压检测单元与ME板件的管脚T24导通连接实现电压检测信号的获取，输出电流检测单元与ME板件的管脚T18导通连接实现电流检测信号的获取。通过触发虚拟节点实现ME板件的管脚T12与供电单元导通连接实现+28V电压输入，在测试过程中，基准信号输出单元使得基准信号为一固定输入，并获取对应的电流检测信号和电压检测信号，通过电流检测信号和电压检测信号确认ME板件的输出是否满足要求即电压检测信号和电流检测信号是否满足第四预设条件。此时的电流检测信号和电压检测信应当自动减少。即当电流检测信号和电压检测信应当自动减少时，判定待测板件的测试结果为合格，若不自动减少，则判定待测板件的测试结果为不合格。

可选的，如图8所示，本发明的一种记忆板件智能测试方法还包括：

D5、触发与第二阵列开关对应的虚拟节点，以使第二阵列开关中连接供电单元的连接节点与连接板件插座的第四管脚的连接节点断开；

D6、调整基准信号以获取对应的电压检测信号和电流检测信号，并确认电压检测信号和电流检测信号是否满足第五预设条件，若是，则判定待测板件的测试结果为合格，若否，则判定待测板件的测试结果为不合格。

具体的，在上面的基础上通过以下过程对ME板件切换为自动与手动的状态切换测试。保持通过触发虚拟节点实现的ME板件的管脚T20与供电单元导通连接实现+28V电压输入的连接，ME板件的管脚T15和管脚T16接地，ME板件的管脚T22与基准信号输出单元接收基准信号的输入，输出电压检测单元与ME板件的管脚T24导通连接实现电压检测信号的获取，输出电流检测单元与ME板件的管脚T18导通连接实现电流检测信号的获取。通过触发虚拟节点实现ME板件的管脚T4与供电单元导通连接实现+28V电压输入的断开。在测试过程中，基准信号输出单元使得基准信号变化时，并获取对应的电流检测信号和电压检测信号，通过电流检测信号和电压检测信号确认ME板件的输出是否满足要求即电压检测信号和电流检测信号是否满足第五预设条件。此时的电流检测信号和电压检测信应当不发生变化。即当电流检测信号和电压检测信不发生变化时，判定待测板件的测试结果为合格，若发生变化时，则判定待测板件的测试结果为不合格。

还可以理解，在测试过程中对待测板件的测试结果判定为合格或不合格是对具体的测试项目的判断，其测试结果合格，为该项测试项目测试合格，当测试不合格，也理解为该测试项的测试结果不合格。

可以理解的，以上实施例仅表达了本发明的优选实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制；应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，可以对上述技术特点进行自由组合，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围；因此，凡跟本发明权利要求范围所做的等同变换与修饰，均应属于本发明权利要求的涵盖范围。

Claims (8)

1.一种记忆板件智能测试系统，其特征在于，包括：供电单元，基准信号输出单元，输出检测单元，与待测板件可插拔安装的板件插座，连接所述板件插座的第一属性管脚的第一阵列开关，连接所述板件插座的第二属性管脚与所述供电单元的第二阵列开关，连接所述板件插座的第三属性管脚与所述基准信号输出单元的第三阵列开关，连接所述板件插座的第四属性管脚与所述输出检测单元的第四阵列开关，分别连接所述第一阵列开关、所述第二阵列开关、所述第三阵列开关和所述第四阵列开关的控制单元，分别连接所述基准信号输出单元、所述输出检测单元和所述控制单元的通信单元，连接所述通信单元的显示单元；其中，

所述显示单元显示与所述第一阵列开关、所述第二阵列开关、所述第三阵列开关和所述第四阵列开关的连接节点分别对应的虚拟节点，且所述显示单元在所述虚拟节点被触发时对当前的虚拟节点之间是否已有连线进行判断以得到判断结果，并根据所述判断结果生成或清除所述虚拟节点之间的连线，所述控制单元在所述虚拟节点被触发时根据所述判断结果分别触发所述第一阵列开关、所述第二阵列开关、所述第三阵列开关和/或所述第四阵列开关中对应的连接节点连接或断开；

所述显示单元还用于控制所述基准信号输出单元输出基准信号并通过所述输出检测单元获取与所述基准信号对应的检测信号，以根据所述检测信号得到所述待测板件的测试结果；

其中，所述输出检测单元包括用于获取所述待测板件的电压检测信号的输出电压检测单元和用于获取所述待测板件的电流检测信号的输出电流检测单元，所述输出电压检测单元和所述输出电流检测单元分别连接所述第四阵列开关的不同连接节点；

所述基准信号输出单元包括用于生成第一基准电压的第一基准信号输出单元，用于输出第二基准电压生成第二基准信号输出单元和用于生成第三基准电压的第三基准信号输出单元；

所述第一基准信号输出单元、所述第二基准信号输出单元和所述第三基准信号输出单元分别连接所述第三阵列开关的不同连接节点；

所述显示单元控制所述第一基准信号输出单元生成的所述第一基准电压为第一固定值；

所述显示单元控制所述第二基准信号输出单元生成的所述第二基准电压为第二固定值；

所述显示单元控制所述第三基准信号输出单元生成的所述第三基准电压满足一预设函数。

2.根据权利要求1所述的记忆板件智能测试系统，其特征在于，

所述供电单元包括用于提供第一供电电压的第一供电单元和用于提供第二供电电压的第二供电单元，所述第一供电单元和所述第二供电单元分别连接所述第二阵列开关的不同连接节点。

3.一种记忆板件智能测试方法，其特征在于，应用于如权利要求1-2任意一项所述的记忆板件智能测试系统，包括：

S1、根据所述第一阵列开关、所述第二阵列开关、所述第三阵列开关和所述第四阵列开关在所述显示单元的显示界面生成与所述第一阵列开关、所述第二阵列开关、所述第三阵列开关和所述第四阵列开关的连接节点分别对应的虚拟节点；

S2、触发所述虚拟节点生成触发指令，对当前的虚拟节点之间是否已有连线进行判断以得到判断结果，并根据所述判断结果在所述显示界面生成或清除所述虚拟节点之间的连线，并根据所述触发指令及所述判断结果控制所述第一阵列开关、所述第二阵列开关、所述第三阵列开关和/或所述第四阵列开关中对应的连接节点连接或断开；

S3、控制所述基准信号输出单元输出基准信号并通过所述输出检测单元获取与所述基准信号对应的检测信号；

S4、根据所述检测信号得到所述待测板件的测试结果。

4.根据权利要求3所述的记忆板件智能测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

A1、触发与所述第二阵列开关对应的虚拟节点，以使所述第二阵列开关中连接所述供电单元的连接节点分别与连接所述板件插座的第二十管脚和第四管脚的连接节点导通、连接所述板件插座的第十五管脚和第十六管脚的连接节点分别接地；

A2、触发与所述第四阵列开关对应的虚拟节点，以使所述第四阵列开关中连接所述板件插座的第二十四管脚的连接节点与连接所述输出电压检测单元的连接节点导通、连接所述板件插座的第十八管脚的连接节点与连接所述输出电流检测单元的连接节点导通；

A3、触发与所述第三阵列开关对应的虚拟节点，以使所述第三阵列开关中连接所述板件插座的第二十二管脚的连接节点与连接所述基准信号输出单元的连接节点导通；

A4、调整所述基准信号以获取对应的所述电压检测信号和所述电流检测信号，并确认所述电压检测信号和所述电流检测信号是否满足第一预设条件，若是，则判定所述待测板件的测试结果为合格，若否，则判定所述待测板件的测试结果为不合格。

5.根据权利要求4所述的记忆板件智能测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

A5、触发与所述第二阵列开关对应的虚拟节点，以使所述第二阵列开关中连接所述供电单元的连接节点与连接所述板件插座的第一管脚的连接节点瞬间导通；

A6、调整所述基准信号以获取对应的所述电压检测信号和所述电流检测信号，并确认所述电压检测信号和所述电流检测信号是否满足第二预设条件，若是，则判定所述待测板件的测试结果为合格，若否，则判定所述待测板件的测试结果为不合格。

6.根据权利要求4所述的记忆板件智能测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

B5、触发与所述第二阵列开关对应的虚拟节点，以使所述第二阵列开关中连接所述供电单元的连接节点与连接所述板件插座的第十管脚的连接节点导通；

B6、获取所述电压检测信号和所述电流检测信号，并确认所述电压检测信号和所述电流检测信号是否满足第三预设条件，若是，则判定所述待测板件的测试结果为合格，若否，则判定所述待测板件的测试结果为不合格。

7.根据权利要求4所述的记忆板件智能测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

C5、触发与所述第二阵列开关对应的虚拟节点，以使所述第二阵列开关中连接所述供电单元的连接节点与连接所述板件插座的第十二管脚的连接节点导通；

C6、获取所述电压检测信号和所述电流检测信号，并确认所述电压检测信号和所述电流检测信号是否满足第四预设条件，若是，则判定所述待测板件的测试结果为合格，若否，则判定所述待测板件的测试结果为不合格。

8.根据权利要求4所述的记忆板件智能测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

D5、触发与所述第二阵列开关对应的虚拟节点，以使所述第二阵列开关中连接所述供电单元的连接节点与连接所述板件插座的第四管脚的连接节点断开；

D6、调整所述基准信号以获取对应的所述电压检测信号和所述电流检测信号，并确认所述电压检测信号和所述电流检测信号是否满足第五预设条件，若是，则判定所述待测板件的测试结果为合格，若否，则判定所述待测板件的测试结果为不合格。